JPS629907B2 - - Google Patents
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- JPS629907B2 JPS629907B2 JP53149206A JP14920678A JPS629907B2 JP S629907 B2 JPS629907 B2 JP S629907B2 JP 53149206 A JP53149206 A JP 53149206A JP 14920678 A JP14920678 A JP 14920678A JP S629907 B2 JPS629907 B2 JP S629907B2
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- temperature
- heater
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- signal
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 3
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000002470 thermal conductor Substances 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Fixing For Electrophotography (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は熱定着装置における異常検出方法に関
する。
する。
従来、この種の熱定着装置においては、ヒータ
に対する通電がONされた後、所定の設定温度に
達すると温度検出素子を含む温調回路によつて自
動的にその温度が一定レベル範囲内に保たれるべ
く制御されている。そしてこれに対する安全装置
としてヒータ温度が所定の高温度域を越えて上昇
した場合、あるいは上記設定温度に立上つた後通
電継続中に所定の低温度域より低下した場合に異
常を検出する等のことが考えられるが、これらの
手段はいずれもヒータが所定の温度に立上つた後
でないと異常の検出ができず、特にヒータに対す
る通電不良等によつて温度が上昇しない場合、電
子写真複写機においてはヒータが所定温度に達す
るまで複写動作ができないシステムを取つてお
り、正常時においても長い待時間を要するため、
ヒータ等の異常が判明するまできわめて長い時間
を必要とし、また定着部の異常によつて複写可能
信号がでないものであると判定するのはきわめて
困難であつた。
に対する通電がONされた後、所定の設定温度に
達すると温度検出素子を含む温調回路によつて自
動的にその温度が一定レベル範囲内に保たれるべ
く制御されている。そしてこれに対する安全装置
としてヒータ温度が所定の高温度域を越えて上昇
した場合、あるいは上記設定温度に立上つた後通
電継続中に所定の低温度域より低下した場合に異
常を検出する等のことが考えられるが、これらの
手段はいずれもヒータが所定の温度に立上つた後
でないと異常の検出ができず、特にヒータに対す
る通電不良等によつて温度が上昇しない場合、電
子写真複写機においてはヒータが所定温度に達す
るまで複写動作ができないシステムを取つてお
り、正常時においても長い待時間を要するため、
ヒータ等の異常が判明するまできわめて長い時間
を必要とし、また定着部の異常によつて複写可能
信号がでないものであると判定するのはきわめて
困難であつた。
本発明はこのような点に着目してなされたもの
で、熱定着装置の異常、特にヒータの立上り時の
温度上昇異常を速やかに検出できる異常検出方法
を提供することを目的とするものである。
で、熱定着装置の異常、特にヒータの立上り時の
温度上昇異常を速やかに検出できる異常検出方法
を提供することを目的とするものである。
以下、本発明の実施例を図面に従つて説明す
る。
る。
第1図は電子写真複写機のヒータにおける温度
変化の状態を示すグラフで、一般に、複写機に対
する通電が開始(電源スイツチON)されると、
ヒータには直ちに通電され、所定の適正温度t2に
なるまで供給電力のフルパワーが印加され、温度
t2まで立上つた後感温素子を含む温調回路等によ
つて位相制御された電力が供給され、温度はt2前
後に制御される。このような位相制御による温調
回路はそれ自体公知のものであるが、その一例を
第2図に示し、第3図には熱定着装置としてヒー
トローラ1を示し、感温素子THとの関連を示
す。
変化の状態を示すグラフで、一般に、複写機に対
する通電が開始(電源スイツチON)されると、
ヒータには直ちに通電され、所定の適正温度t2に
なるまで供給電力のフルパワーが印加され、温度
t2まで立上つた後感温素子を含む温調回路等によ
つて位相制御された電力が供給され、温度はt2前
後に制御される。このような位相制御による温調
回路はそれ自体公知のものであるが、その一例を
第2図に示し、第3図には熱定着装置としてヒー
トローラ1を示し、感温素子THとの関連を示
す。
ヒートローラ1はシリンダ内にヒータHを有
し、これと対の押えローラ(図示せず)とで未定
着画像を有する複写紙(図示せず)を挾持搬送
し、トナー像を複写紙上に融着せしめるもので、
感温素子THは適宜熱良導体2上に固設され、ヒ
ートローラ表面に接触すべく設定される良導体2
を介してその温度変化を感知するもので、温度変
化に対応して感温素子THはその内部抵抗が変化
する。
し、これと対の押えローラ(図示せず)とで未定
着画像を有する複写紙(図示せず)を挾持搬送
し、トナー像を複写紙上に融着せしめるもので、
感温素子THは適宜熱良導体2上に固設され、ヒ
ートローラ表面に接触すべく設定される良導体2
を介してその温度変化を感知するもので、温度変
化に対応して感温素子THはその内部抵抗が変化
する。
温調回路TCは上述の感温素子THを含み以下
の如く構成を有する。
の如く構成を有する。
即ち、感温素子THと抵抗r1とによつて決まる
分圧は電流制御回路3に入力され、その分圧変化
に応じてコンデンサCへの充電速度が制御され
る。一方、交流電源ACに接続されたヒータHは
トライアツクTRCによる位相制御を受けるもの
であるが、トライアツクTRCはパルストランス
PTの2次側PT2に誘起される信号によつてトリ
ガされる。パルストランスの1次側PT1にはプ
ログラマブル・ユニジヤンクシヨン・トランジス
タ(PUT:以下単にPUTと書く。)のカソードが
接続され、PUTのアノードには前記コンデンサ
Cが接続され、PUTのゲートにはゼロ点スイツ
チング回路4が接続されると共に抵抗r2,r3によ
る分圧が接続されている。ゼロ点スイツチング回
路4は全波整流器RFに接続され、交流電源ACの
ゼロ位相時、PUTのゲート電圧をゼロにするた
めのものである。
分圧は電流制御回路3に入力され、その分圧変化
に応じてコンデンサCへの充電速度が制御され
る。一方、交流電源ACに接続されたヒータHは
トライアツクTRCによる位相制御を受けるもの
であるが、トライアツクTRCはパルストランス
PTの2次側PT2に誘起される信号によつてトリ
ガされる。パルストランスの1次側PT1にはプ
ログラマブル・ユニジヤンクシヨン・トランジス
タ(PUT:以下単にPUTと書く。)のカソードが
接続され、PUTのアノードには前記コンデンサ
Cが接続され、PUTのゲートにはゼロ点スイツ
チング回路4が接続されると共に抵抗r2,r3によ
る分圧が接続されている。ゼロ点スイツチング回
路4は全波整流器RFに接続され、交流電源ACの
ゼロ位相時、PUTのゲート電圧をゼロにするた
めのものである。
以上の温調回路TCにおいて、ヒートローラ1
の表面温度が設定温度t2より低い場合、コンデン
サCへの充電電流が多くなり、PUTのゲートに
印加される分圧よりアノードにかかる充電電圧が
高くなるタイミングが速くなり、従つてPUTが
カソードから放電し、パルストランスPTにより
トライアツクTRCがトリガされるタイミングが
速くなるため制御位相角は小さく、ヒータHへの
供給電力は多くなるよう制御され、逆にヒートロ
ーラ1の表面温度が高くなると制御位相角が大き
くなり、ヒータHへの供給電力が少くなるように
制御される。
の表面温度が設定温度t2より低い場合、コンデン
サCへの充電電流が多くなり、PUTのゲートに
印加される分圧よりアノードにかかる充電電圧が
高くなるタイミングが速くなり、従つてPUTが
カソードから放電し、パルストランスPTにより
トライアツクTRCがトリガされるタイミングが
速くなるため制御位相角は小さく、ヒータHへの
供給電力は多くなるよう制御され、逆にヒートロ
ーラ1の表面温度が高くなると制御位相角が大き
くなり、ヒータHへの供給電力が少くなるように
制御される。
また、適正温度t2に対し、上限温度t3、下限温
度t1を設定し、適正温度t2に立上つた後、ヒート
ローラ1の温度が上限、下限の設定温度t3,t1の
範囲外へ出たとき、それを検知することも、例え
ば第2図回路の感温素子THと抵抗r1とを含むブ
リツジを設け、その平衡温度がt3あるいはt1とな
るように設定することにより達成できる。
度t1を設定し、適正温度t2に立上つた後、ヒート
ローラ1の温度が上限、下限の設定温度t3,t1の
範囲外へ出たとき、それを検知することも、例え
ば第2図回路の感温素子THと抵抗r1とを含むブ
リツジを設け、その平衡温度がt3あるいはt1とな
るように設定することにより達成できる。
しかしながら、上述した如く、このような温調
回路TCのみでは、ヒータHに対する通電不良等
によるヒータHの異常は検出できず、検出しよう
とすると、第4図に示す如く、所定温度tAに対
し、この温度に達するに要する時間TAに設定さ
れたタイマを用い、タイマのタイムアツプ時、温
度がtA以下の場合に異常信号を出すような構成
が考えられるが、この場合、周囲温度により温度
の立上りは影響を受けるため、TAをきわめて大
きく取る必要があり、異常検出に時間がかかり過
ぎ実用的ではない。
回路TCのみでは、ヒータHに対する通電不良等
によるヒータHの異常は検出できず、検出しよう
とすると、第4図に示す如く、所定温度tAに対
し、この温度に達するに要する時間TAに設定さ
れたタイマを用い、タイマのタイムアツプ時、温
度がtA以下の場合に異常信号を出すような構成
が考えられるが、この場合、周囲温度により温度
の立上りは影響を受けるため、TAをきわめて大
きく取る必要があり、異常検出に時間がかかり過
ぎ実用的ではない。
これに対し本発明は、上記温調回路TCに用い
られる感温素子THにより、ヒータHの立上り時
の温度を検知し、所定の時間内での温度の増加率
を測定し、この増加率が所定値以下であると異常
と判定するようになしたものである。具体的に
は、感温素子TH出力あるいは感温素子THと抵
抗r1とによる分圧あるいは電流制御回路3による
制御電流等の変化を適宜に温度の変化と対応づ
け、それによつて得られた信号を、第6図に示す
如く、アナログデジタル変換器A/Dを介してマ
イクロコンピユータMCのインターフエイスI/
Oに入力せしめ、この入力信号により上記温度の
増加率等を測定し、異常を判定する。
られる感温素子THにより、ヒータHの立上り時
の温度を検知し、所定の時間内での温度の増加率
を測定し、この増加率が所定値以下であると異常
と判定するようになしたものである。具体的に
は、感温素子TH出力あるいは感温素子THと抵
抗r1とによる分圧あるいは電流制御回路3による
制御電流等の変化を適宜に温度の変化と対応づ
け、それによつて得られた信号を、第6図に示す
如く、アナログデジタル変換器A/Dを介してマ
イクロコンピユータMCのインターフエイスI/
Oに入力せしめ、この入力信号により上記温度の
増加率等を測定し、異常を判定する。
このことを、第5図のフローチヤートを参照し
てさらに詳しく説明する。
てさらに詳しく説明する。
ヒータHに通電が開始されると共にマイクロコ
ンピユータMCのタイマが時間Taに設定され、時
間Ta経過した時点で温度測定の信号がCPUから
出力される。この信号の出力時、上記アナログデ
ジタル変換器A/Dを介してインターフエイス
I/Oに入力されている温度信号がCPU内のア
キユムレータACCに入力され、ランダムアクセ
スメモリRAMにストアされ、再びタイマが時間
Taに設定される。その後マイクロコンピユータ
MCはタイマが再び時間Ta経過による信号を出す
まで他の処理を含めルーチンをくり返し、時間
Ta経過した時点で2回目の温度測定信号を出
す。この信号の出力により上記同様デジタル変換
された温度信号がRAMにストアされ、以後同様
な動作をくり返す。
ンピユータMCのタイマが時間Taに設定され、時
間Ta経過した時点で温度測定の信号がCPUから
出力される。この信号の出力時、上記アナログデ
ジタル変換器A/Dを介してインターフエイス
I/Oに入力されている温度信号がCPU内のア
キユムレータACCに入力され、ランダムアクセ
スメモリRAMにストアされ、再びタイマが時間
Taに設定される。その後マイクロコンピユータ
MCはタイマが再び時間Ta経過による信号を出す
まで他の処理を含めルーチンをくり返し、時間
Ta経過した時点で2回目の温度測定信号を出
す。この信号の出力により上記同様デジタル変換
された温度信号がRAMにストアされ、以後同様
な動作をくり返す。
2回目の温度信号が取り込まれると、RAMに
ストアされている2つの温度信号が取り出され、
演算論理ユニツトALUでランダムアクセスメモ
リRAMに記憶された演算式 (tb−ta)/Ta→△t1(degree/sec.) に沿つて温度の増加率△t1が算出される。ただ
し、ta,tbはそれぞれ第1回目、第2回目の温
度信号値である。
ストアされている2つの温度信号が取り出され、
演算論理ユニツトALUでランダムアクセスメモ
リRAMに記憶された演算式 (tb−ta)/Ta→△t1(degree/sec.) に沿つて温度の増加率△t1が算出される。ただ
し、ta,tbはそれぞれ第1回目、第2回目の温
度信号値である。
このようにして算出された△t1はアキユムレー
タACCにシフトされ、ROMに設定されている基
準増加率△tpと比較され、△t1<△t0のとき、異
常処理ルーチンに入るよう設定し、△t1≧△t0で
あれば適正温度t2に適するまで正常なルーチンを
くり返す。
タACCにシフトされ、ROMに設定されている基
準増加率△tpと比較され、△t1<△t0のとき、異
常処理ルーチンに入るよう設定し、△t1≧△t0で
あれば適正温度t2に適するまで正常なルーチンを
くり返す。
適正温度に達した後は上述した位相制御による
温調が働き、さらには温度が上限、下限の温度
t3,t1の範囲外に出たときの検知もブリツジ等の
電気回路を用いて可能であるが、マイクロコンピ
ユータMCに温度信号を入力させているのである
かこれを利用し、適正温度t2に達した後、複写機
を複写可能状態に設定すると共に、ルーチン内に
温度t1,t3との比較を設定し、温度信号がt1,t3に
なると異常処理ルーチンに入るよう設定しても良
い。
温調が働き、さらには温度が上限、下限の温度
t3,t1の範囲外に出たときの検知もブリツジ等の
電気回路を用いて可能であるが、マイクロコンピ
ユータMCに温度信号を入力させているのである
かこれを利用し、適正温度t2に達した後、複写機
を複写可能状態に設定すると共に、ルーチン内に
温度t1,t3との比較を設定し、温度信号がt1,t3に
なると異常処理ルーチンに入るよう設定しても良
い。
なお、上述したマイクロコンピユータMCは、
その内部構成は説明に必要なもののみを示した
が、信号の扱い方等に関しては適宜変更は可能で
あり、アナログデジタル変換器A/D、インター
フエイスI/O等を内部構成として有しているも
のでも良く、実施例図面に示したものに限定され
ない。
その内部構成は説明に必要なもののみを示した
が、信号の扱い方等に関しては適宜変更は可能で
あり、アナログデジタル変換器A/D、インター
フエイスI/O等を内部構成として有しているも
のでも良く、実施例図面に示したものに限定され
ない。
また、温度の増加率の測定に関してはマイクロ
コンピユータMCを用いると、他の判定、処理等
の動作が、回路構成自体を複雑にすることなく達
成できる利点はあるが、他のIC回路等を用いて
も温度の増加率の測定及び基準値との比較等は達
成できる。
コンピユータMCを用いると、他の判定、処理等
の動作が、回路構成自体を複雑にすることなく達
成できる利点はあるが、他のIC回路等を用いて
も温度の増加率の測定及び基準値との比較等は達
成できる。
以上説明した如く本発明は、ヒータの立上り時
におけるヒータ温度の増加率を測定し、測定され
た温度増加率とあらかじめ設定された基準温度増
加率とを比較することにより装置の異常を検出す
る異常検出方法であるから、定着装置の異常が適
正温度になるであろう所定時間経過以前のきわめ
て短時間経過時に検出でき、しかも定着装置を備
えた複写機等において複写可能となるまでの予備
時間中に定着装置に異常が発生すればそれを表示
することができ、実用上きわめて有効なものであ
る。
におけるヒータ温度の増加率を測定し、測定され
た温度増加率とあらかじめ設定された基準温度増
加率とを比較することにより装置の異常を検出す
る異常検出方法であるから、定着装置の異常が適
正温度になるであろう所定時間経過以前のきわめ
て短時間経過時に検出でき、しかも定着装置を備
えた複写機等において複写可能となるまでの予備
時間中に定着装置に異常が発生すればそれを表示
することができ、実用上きわめて有効なものであ
る。
第1図はヒータの温度変化の状態を示す図、第
2図は温調回路の一例を示す図、第3図はヒート
ローラ及び感温素子を示す図、第4図は従来の、
タイマによる適正温度立上りチエツクの動作を説
明するための図、第5図は本発明方法を達成する
フローチヤートの一例を示す図、第6図はマイク
ロコンピユータの構成の一例を示す図である。 1……ヒートローラ、TH……感温素子、H…
…ヒータ、TC……温調回路、A/D……アナロ
グデジタル変換器、MC……マイクロコンピユー
タ、ACC……アキユムレータ、ALU……演算論
理ユニツト、RAM……ランダムアクセスメモ
リ、ROM……リードオンリーメモリ、t2……適
正温度、t1……下限温度、t3……上限温度、Ta,
Tb……タイマ設定時間、ta,tb……検知温度
(信号値)、△t1……測定増加率、△t0……基準
値。
2図は温調回路の一例を示す図、第3図はヒート
ローラ及び感温素子を示す図、第4図は従来の、
タイマによる適正温度立上りチエツクの動作を説
明するための図、第5図は本発明方法を達成する
フローチヤートの一例を示す図、第6図はマイク
ロコンピユータの構成の一例を示す図である。 1……ヒートローラ、TH……感温素子、H…
…ヒータ、TC……温調回路、A/D……アナロ
グデジタル変換器、MC……マイクロコンピユー
タ、ACC……アキユムレータ、ALU……演算論
理ユニツト、RAM……ランダムアクセスメモ
リ、ROM……リードオンリーメモリ、t2……適
正温度、t1……下限温度、t3……上限温度、Ta,
Tb……タイマ設定時間、ta,tb……検知温度
(信号値)、△t1……測定増加率、△t0……基準
値。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ヒータの立上り時におけるヒータ温度の増加
率を測定し、測定された温度増加率とあらかじめ
設定された基準温度増加率とを比較することによ
り装置の異常を検出することを特徴とする熱定着
装置における異常検出方法。 2 温度増加率があらかじめ設定された基準温度
増加率よりも低いときに装置の異常を検出するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の熱定
着装置における異常検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14920678A JPS5576371A (en) | 1978-12-01 | 1978-12-01 | Failure detecting method in heat fixing device of electrophotographic copier |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14920678A JPS5576371A (en) | 1978-12-01 | 1978-12-01 | Failure detecting method in heat fixing device of electrophotographic copier |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5576371A JPS5576371A (en) | 1980-06-09 |
JPS629907B2 true JPS629907B2 (ja) | 1987-03-03 |
Family
ID=15470138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14920678A Granted JPS5576371A (en) | 1978-12-01 | 1978-12-01 | Failure detecting method in heat fixing device of electrophotographic copier |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5576371A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2021199429A1 (ja) * | 2020-04-03 | 2021-10-07 |
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-
1978
- 1978-12-01 JP JP14920678A patent/JPS5576371A/ja active Granted
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