JPS6259385B2 - - Google Patents
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- JPS6259385B2 JPS6259385B2 JP57173541A JP17354182A JPS6259385B2 JP S6259385 B2 JPS6259385 B2 JP S6259385B2 JP 57173541 A JP57173541 A JP 57173541A JP 17354182 A JP17354182 A JP 17354182A JP S6259385 B2 JPS6259385 B2 JP S6259385B2
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- circuit
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/58—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B5/596—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following on disks
- G11B5/59633—Servo formatting
- G11B5/59655—Sector, sample or burst servo format
Landscapes
- Rotational Drive Of Disk (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は磁気デイスク装置（以下デイスク装置
と略す）のトラツク半径方向のずれ量、即ちオフ
トラツク量と、デイスク１回転中のトラツク中心
からのずれ量、即ち偏芯量を測定する方法に関す
るものである。
と略す）のトラツク半径方向のずれ量、即ちオフ
トラツク量と、デイスク１回転中のトラツク中心
からのずれ量、即ち偏芯量を測定する方法に関す
るものである。
従来例とその問題点
従来、デイスク装置のオフトラツク量を測定す
る方法としては、キヤツツアイと称するアライメ
ントデイスク（以下CEデイスクと称す）が用い
られている。第１図は前記CEデイスクの記録デ
ータパターンをモデル的に示すものであり、通常
使用状態における中心点Ｐから多少ずれたP′を中
心とする２本の同心円状の連続したキヤツツアイ
トラツク０１，０２にデータが記録されている、
前記Ｐ点を中心とするトラツクセンター０３を軌
跡として再生ヘツドがイ−ロ−ハ−ニと移動した
場合の再生波形は第２図のイ〜ニのようになり、
デイスク１回転で丁度２つの猫の目に似た波形が
得られる。これら２つの波形の振幅比Ａ：Ｂが前
記中心点Ｐによるトラツク０３のオフトラツク量
に相当する。このCEデイスクを使用した場合の
デイスク装置トラツク位置の確認精度は、波形の
目視による場合±10μｍ〜±25μｍ程度とされ、
広く一般に用いられている方法である、しかしな
がらこの方法によると、デイスク１回転中に発生
するオフトラツク量を測定することは不可能であ
る。即ち、デイスク装置の何らかの原因でデイス
ク（キヤツツアイデイスク）に偏芯が生じ、１回
転中のいずれかの部分で所定トラツクから大きく
オフトラツクしていたとしても、第２図に示す波
形の振幅比は一定であり、これを発見できないと
いう欠点があつた。
る方法としては、キヤツツアイと称するアライメ
ントデイスク（以下CEデイスクと称す）が用い
られている。第１図は前記CEデイスクの記録デ
ータパターンをモデル的に示すものであり、通常
使用状態における中心点Ｐから多少ずれたP′を中
心とする２本の同心円状の連続したキヤツツアイ
トラツク０１，０２にデータが記録されている、
前記Ｐ点を中心とするトラツクセンター０３を軌
跡として再生ヘツドがイ−ロ−ハ−ニと移動した
場合の再生波形は第２図のイ〜ニのようになり、
デイスク１回転で丁度２つの猫の目に似た波形が
得られる。これら２つの波形の振幅比Ａ：Ｂが前
記中心点Ｐによるトラツク０３のオフトラツク量
に相当する。このCEデイスクを使用した場合の
デイスク装置トラツク位置の確認精度は、波形の
目視による場合±10μｍ〜±25μｍ程度とされ、
広く一般に用いられている方法である、しかしな
がらこの方法によると、デイスク１回転中に発生
するオフトラツク量を測定することは不可能であ
る。即ち、デイスク装置の何らかの原因でデイス
ク（キヤツツアイデイスク）に偏芯が生じ、１回
転中のいずれかの部分で所定トラツクから大きく
オフトラツクしていたとしても、第２図に示す波
形の振幅比は一定であり、これを発見できないと
いう欠点があつた。
デイスク装置、特にデイスクカートリツジの交
換が可能な例えばフロツピーデイスク装置等は、
デイスクを中心位置に高精度で固定することと、
デイスクの回転軸であるスピンドルシヤフトの芯
振れ等を極力小さくすることが重要であり、これ
を検査したり調整するための高確度測定方法が望
まれていた。
換が可能な例えばフロツピーデイスク装置等は、
デイスクを中心位置に高精度で固定することと、
デイスクの回転軸であるスピンドルシヤフトの芯
振れ等を極力小さくすることが重要であり、これ
を検査したり調整するための高確度測定方法が望
まれていた。
発明の目的
本発明の目的は、前述のCEデイスクと同様に
トラツク半径方向のオフトラツク量を測定するこ
とと、同時にこのCEデイスクでは測定が不可能
であつたデイスク１回転中における中心位置の変
動即ち偏芯量をも正確に測定する手段を得ること
にある。
トラツク半径方向のオフトラツク量を測定するこ
とと、同時にこのCEデイスクでは測定が不可能
であつたデイスク１回転中における中心位置の変
動即ち偏芯量をも正確に測定する手段を得ること
にある。
発明の構成
上記目的を達成するための、本発明は、所定ト
ラツクのトラツクセンターを境にして、少なくと
も２磁束反転以上から成るバースト状のデータブ
ロツクをデイスクの内周及び外周方向にそれぞれ
交互にかつほぼ等間隔となるように記録されたデ
イスクを用い、このデイスクを装着されたデイス
ク装置の読み出しヘツドが前記デイスクの所定ト
ラツクにおけるデータブロツクを再生する時、
各々隣接するデータブロツクの相対レベル比とオ
フトラツク量とすることにある。
ラツクのトラツクセンターを境にして、少なくと
も２磁束反転以上から成るバースト状のデータブ
ロツクをデイスクの内周及び外周方向にそれぞれ
交互にかつほぼ等間隔となるように記録されたデ
イスクを用い、このデイスクを装着されたデイス
ク装置の読み出しヘツドが前記デイスクの所定ト
ラツクにおけるデータブロツクを再生する時、
各々隣接するデータブロツクの相対レベル比とオ
フトラツク量とすることにある。
実施例の説明
以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。第３図は本発明におけるデイスクの記録デー
タパターンをモデル的に示したものである。第３
図において、１１は前述の所定トラツクにおける
トラツク（ヘツド巾）のセンター位置の軌跡を示
しており、これを境いにしてトラツクの基点（イ
ンデツクス信号位置）１２から始まるデイスクの
内周及び外周方向にそれぞれ交互にかつほぼ等間
隔になるように記録されたデータブロツクをトラ
ツク１周にわたつてO1，E1，O1，E1……Ｏo，Ｅ
oの如く設ける。これらのデータブロツクのトラ
ツク１周における数は多くなるほど分解能が向上
するが、実用上問題とならない値は10以上であ
り、実際の実施例では読み出し波形をオシロスコ
ープ等で目視測定が可能な範囲として約100ブロ
ツクに設定している。又一つのデータブロツク内
における磁束反転数（データ数）は約320程度で
ある。もちろんこれらデータの書き込みに際して
は特別に用意された極めて高精度なデイスク装置
を用い、かつ温度，湿度等も厳重に管理された環
境下で行なわれることは云うまでもない。
る。第３図は本発明におけるデイスクの記録デー
タパターンをモデル的に示したものである。第３
図において、１１は前述の所定トラツクにおける
トラツク（ヘツド巾）のセンター位置の軌跡を示
しており、これを境いにしてトラツクの基点（イ
ンデツクス信号位置）１２から始まるデイスクの
内周及び外周方向にそれぞれ交互にかつほぼ等間
隔になるように記録されたデータブロツクをトラ
ツク１周にわたつてO1，E1，O1，E1……Ｏo，Ｅ
oの如く設ける。これらのデータブロツクのトラ
ツク１周における数は多くなるほど分解能が向上
するが、実用上問題とならない値は10以上であ
り、実際の実施例では読み出し波形をオシロスコ
ープ等で目視測定が可能な範囲として約100ブロ
ツクに設定している。又一つのデータブロツク内
における磁束反転数（データ数）は約320程度で
ある。もちろんこれらデータの書き込みに際して
は特別に用意された極めて高精度なデイスク装置
を用い、かつ温度，湿度等も厳重に管理された環
境下で行なわれることは云うまでもない。
第４図は前記デイスクとデイスク装置に装着
し、オフトラツクに対する再生波形との関係を説
明するために拡大的に示したモデル図である。第
４図１ａは再生ヘツドがトラツクセンター１１に
完全にオントラツクしている状態であり、又２ａ
は方向（外周方向）に約1/4ヘツド巾だけオフ
トラツクした状態を示している。１ａに対応する
読み出し波形は１ｂであり、２ａに対するそれは
２ｂである。オントラツク状態の１ａでは各々の
データブロツクに対して再生ヘツドがそれぞれ対
称に同じ量だけ接触するのでその再生波形１ｂの
各ブロツクに対応するレベルは全て同レベルとな
る。
し、オフトラツクに対する再生波形との関係を説
明するために拡大的に示したモデル図である。第
４図１ａは再生ヘツドがトラツクセンター１１に
完全にオントラツクしている状態であり、又２ａ
は方向（外周方向）に約1/4ヘツド巾だけオフ
トラツクした状態を示している。１ａに対応する
読み出し波形は１ｂであり、２ａに対するそれは
２ｂである。オントラツク状態の１ａでは各々の
データブロツクに対して再生ヘツドがそれぞれ対
称に同じ量だけ接触するのでその再生波形１ｂの
各ブロツクに対応するレベルは全て同レベルとな
る。
一方オフトラツク状態の２ａでは方向データ
ブロツクに対して方向のデータブロツクの接触
量が少ないことから、その再生波形２ｂは交互に
レベルが異なつたものとなる。もちろん方向に
オフトラツクした場合は逆の現象となり、方向
データブロツクに対応する再生レベルが方向の
それに対して大きくなることは容易に理解でき
る。
ブロツクに対して方向のデータブロツクの接触
量が少ないことから、その再生波形２ｂは交互に
レベルが異なつたものとなる。もちろん方向に
オフトラツクした場合は逆の現象となり、方向
データブロツクに対応する再生レベルが方向の
それに対して大きくなることは容易に理解でき
る。
第５図はオフトラツク量に対する前記奇数（
方向）及び偶数（方向）データブロツク再生レ
ベルの関係を示すものである。第５図からわかる
ようにオフトラツクに対する前記２つの再生レベ
ル特性はオントラツク位置を中心にして±1/2ヘ
ツド巾量の範囲内で対称かつ直線的なものとなつ
ている。又第６図は上記オフトラツク量に対する
両者の割合をパーセンテージで表わしたものであ
り、オントラツク位置を100％とした場合±1/2ヘ
ツド巾量までそれぞれ対称な双曲特性となつてい
る。
方向）及び偶数（方向）データブロツク再生レ
ベルの関係を示すものである。第５図からわかる
ようにオフトラツクに対する前記２つの再生レベ
ル特性はオントラツク位置を中心にして±1/2ヘ
ツド巾量の範囲内で対称かつ直線的なものとなつ
ている。又第６図は上記オフトラツク量に対する
両者の割合をパーセンテージで表わしたものであ
り、オントラツク位置を100％とした場合±1/2ヘ
ツド巾量までそれぞれ対称な双曲特性となつてい
る。
以上の説明からデイスク装置のオフトラツク量
及びその方向は前記デイスクからの再生ブロツク
波形相互の相対レベル比を測定することによつて
容易にかつ正確に求めることが出来ることが理解
される。
及びその方向は前記デイスクからの再生ブロツク
波形相互の相対レベル比を測定することによつて
容易にかつ正確に求めることが出来ることが理解
される。
デイスク装置におけるデイスク１回転中で発生
するオフトラツク、即ち偏芯よるリアルタイムな
オフトラツク量の測定もオシロスコープ等の目視
によつて不可能ではないが、電気的処理によるも
のの方が正確で効果的である。第７図に示す回路
ブロツク図はデイスク装置からの前述再生信号を
電気的に処理し、最終的な出力としてデイスク１
回転中のオフトラツクの推移（偏芯量）をも容易
に観測出来るようにした実施例である。第７図に
おいて１はデイスク装置のヘツド再生回路系で、
再生ヘツド１Ａ，増幅器１Ｂ，ローパスフイルタ
１Ｃ等よりなつている。２は外部信号によつて利
得をコントロールされるAGC増幅器、３は交流
の再生信号を直流に変換するためのAC−DC変換
回路、４及び５はそれぞれ奇数及び偶数データブ
ロツクのレベル値を一定期間保持するためのサン
プルホールド回路、６は前記両者のレベル差を出
力するための誤差増幅器である。９及び１０は逆
に前記両者のレベル値を加算し、その結果によつ
てAGC増幅器２の利得をコントロールするため
の加算器及びローパスフイルタである。７及び８
はトラツク基点信号（インデツクス信号）とブロ
ツクデータの有無によつて前記サンプルホールド
回路４，５のサンプリングタイミングを与えるた
めのブロツク立上り検出回路及びサンプリングタ
イミング回路である。
するオフトラツク、即ち偏芯よるリアルタイムな
オフトラツク量の測定もオシロスコープ等の目視
によつて不可能ではないが、電気的処理によるも
のの方が正確で効果的である。第７図に示す回路
ブロツク図はデイスク装置からの前述再生信号を
電気的に処理し、最終的な出力としてデイスク１
回転中のオフトラツクの推移（偏芯量）をも容易
に観測出来るようにした実施例である。第７図に
おいて１はデイスク装置のヘツド再生回路系で、
再生ヘツド１Ａ，増幅器１Ｂ，ローパスフイルタ
１Ｃ等よりなつている。２は外部信号によつて利
得をコントロールされるAGC増幅器、３は交流
の再生信号を直流に変換するためのAC−DC変換
回路、４及び５はそれぞれ奇数及び偶数データブ
ロツクのレベル値を一定期間保持するためのサン
プルホールド回路、６は前記両者のレベル差を出
力するための誤差増幅器である。９及び１０は逆
に前記両者のレベル値を加算し、その結果によつ
てAGC増幅器２の利得をコントロールするため
の加算器及びローパスフイルタである。７及び８
はトラツク基点信号（インデツクス信号）とブロ
ツクデータの有無によつて前記サンプルホールド
回路４，５のサンプリングタイミングを与えるた
めのブロツク立上り検出回路及びサンプリングタ
イミング回路である。
第８図はデイスク装置に偏芯が認められる場合
の前記第７図の各回路ブロツクごとの出力波形を
示すものであり、ａは前記AGC増幅器２の出
力、ｂはAC−DC変換回路３の出力、ｃは奇数ブ
ロツクサンプルホールド回路４の出力、ｄは偶数
ブロツクサンプルホールド回路５の出力、ｅは誤
差増幅器の出力である。又ｆはトラツク基点信
号、ｇとｈはサンプリングタイミング回路８の出
力で、それぞれ奇数ブロツクのサンプリング信
号、偶数ブロツクのサンプリング信号を示してい
る。
の前記第７図の各回路ブロツクごとの出力波形を
示すものであり、ａは前記AGC増幅器２の出
力、ｂはAC−DC変換回路３の出力、ｃは奇数ブ
ロツクサンプルホールド回路４の出力、ｄは偶数
ブロツクサンプルホールド回路５の出力、ｅは誤
差増幅器の出力である。又ｆはトラツク基点信
号、ｇとｈはサンプリングタイミング回路８の出
力で、それぞれ奇数ブロツクのサンプリング信
号、偶数ブロツクのサンプリング信号を示してい
る。
以下、上記回路の動作を順を追つて詳細に説明
する。デイスク装置ヘツド再生回路系１におい
て、再生ヘツド１Ａによりデイスクから拾つた微
弱なヘツド再生信号は増幅器１Ｂによつて適正な
レベルまで増幅され、次段のローパスフイルタ１
Ｃによつて不要な高周波ノイズが除去される。ヘ
ツド再生回路系１としてのこの後の処理として、
微分回路によるピークデイテクタ、ゼロクロスコ
ンパレータ等が行なわれ、最終的にデイジタル信
号として出力されるが、アナログ信号が必要な場
合、一般的に前記ローパスフイルタ１Ｃからの出
力が利用される。AGC増幅器２はこの入力信号
のゆるやかなレベル変動のみに対して動作し、後
述する理由により所定のレベルを保つ役目を果た
す。デイスク装置に偏芯が発生している場合の上
記回路の出力波形は第８図ａのようになり、デイ
スク１回転中のオフトラツク量の個々に応じた奇
数及び偶数ブロツクのアンバランスレベルとな
る。次段のAC−DC変換回路３は一種の包絡線検
波器であり、前記交流ブロツクデータを直流に変
換するものであるが、各々のブロツク波形のピー
ク値に対して正確に追従するよう十分に応答が早
いことが要求される。実施例では高速ピークホー
ルド回路とそのリセツト回路及び高速サンプリン
グ回路（いずれも図示せず）を組み合せ、巧みに
これらのタイミングをコントロールすることによ
り、その高速応答特性を得ており、第８図ｂはそ
の出力波形を示している。
する。デイスク装置ヘツド再生回路系１におい
て、再生ヘツド１Ａによりデイスクから拾つた微
弱なヘツド再生信号は増幅器１Ｂによつて適正な
レベルまで増幅され、次段のローパスフイルタ１
Ｃによつて不要な高周波ノイズが除去される。ヘ
ツド再生回路系１としてのこの後の処理として、
微分回路によるピークデイテクタ、ゼロクロスコ
ンパレータ等が行なわれ、最終的にデイジタル信
号として出力されるが、アナログ信号が必要な場
合、一般的に前記ローパスフイルタ１Ｃからの出
力が利用される。AGC増幅器２はこの入力信号
のゆるやかなレベル変動のみに対して動作し、後
述する理由により所定のレベルを保つ役目を果た
す。デイスク装置に偏芯が発生している場合の上
記回路の出力波形は第８図ａのようになり、デイ
スク１回転中のオフトラツク量の個々に応じた奇
数及び偶数ブロツクのアンバランスレベルとな
る。次段のAC−DC変換回路３は一種の包絡線検
波器であり、前記交流ブロツクデータを直流に変
換するものであるが、各々のブロツク波形のピー
ク値に対して正確に追従するよう十分に応答が早
いことが要求される。実施例では高速ピークホー
ルド回路とそのリセツト回路及び高速サンプリン
グ回路（いずれも図示せず）を組み合せ、巧みに
これらのタイミングをコントロールすることによ
り、その高速応答特性を得ており、第８図ｂはそ
の出力波形を示している。
サンプルホールド回路４，５は奇数，偶数各々
のDCブロツクデータのピーク値をサンプルし、
これらをつなぎ合せる役目を果たしている。これ
らのサンプリングタイミングは第８図ｆのトラツ
ク基点信号にトラツク１周中１回だけ同期し、そ
の後は第８図ｇ及びｈのサンプリング信号に示す
如く、ブロツク立上り検出回路７からの信号によ
つて行なわれる。即ち、デイスクに記録されてい
るブロツクデータのうち最初のデータ（第８図ａ
のO1）はトラツク基点信号ｆが入力された直後の
ものであることから、再生タイミングとしてはこ
のトラツク基点信号を受け、さらに最初のブロツ
クデータの立上りを検出した後、奇数ブロツクサ
ンプルホールド回路４に対して適当なデイレー時
間を経たのちそのサンプリング信号ｇを与えれば
良いことになる。又その後のサンプリングは偶
数，奇数の順で相互に行なれば、結果として第８
図ｃ及びｄのような出力が得られる。
のDCブロツクデータのピーク値をサンプルし、
これらをつなぎ合せる役目を果たしている。これ
らのサンプリングタイミングは第８図ｆのトラツ
ク基点信号にトラツク１周中１回だけ同期し、そ
の後は第８図ｇ及びｈのサンプリング信号に示す
如く、ブロツク立上り検出回路７からの信号によ
つて行なわれる。即ち、デイスクに記録されてい
るブロツクデータのうち最初のデータ（第８図ａ
のO1）はトラツク基点信号ｆが入力された直後の
ものであることから、再生タイミングとしてはこ
のトラツク基点信号を受け、さらに最初のブロツ
クデータの立上りを検出した後、奇数ブロツクサ
ンプルホールド回路４に対して適当なデイレー時
間を経たのちそのサンプリング信号ｇを与えれば
良いことになる。又その後のサンプリングは偶
数，奇数の順で相互に行なれば、結果として第８
図ｃ及びｄのような出力が得られる。
誤差増幅器６はこれら２つの信号ｃ，ｄの差を
得るための差動増幅器であり、その出力は第８図
ｅに示されている。この出力波形ｅはそのレベル
そのものがトラツク１周中のオフトラツク量を表
わしており、方向はデイスクの外周側へ、又
方向は内周側へオフトラツクしていることを示
す。デイスク装置に偏芯が全く無く、かつ完全に
オントラツクしている場合は、この出力は０レベ
ルとなる。もちろん偏芯は全く無いがトラツク方
向にはずれが生じているという場合には、直流的
なレベルとして表われることは云うまでもない。
得るための差動増幅器であり、その出力は第８図
ｅに示されている。この出力波形ｅはそのレベル
そのものがトラツク１周中のオフトラツク量を表
わしており、方向はデイスクの外周側へ、又
方向は内周側へオフトラツクしていることを示
す。デイスク装置に偏芯が全く無く、かつ完全に
オントラツクしている場合は、この出力は０レベ
ルとなる。もちろん偏芯は全く無いがトラツク方
向にはずれが生じているという場合には、直流的
なレベルとして表われることは云うまでもない。
加算器９は前記サンプルホールド回路４，５の
サンプルホールド出力信号ｃ，ｄを加算するため
のもので、この２つのサンプルホールド出力レベ
ルの和が常に所定レベルの値になるように前記
AGC増幅器２に作用する。又、その途中に挿入
されているローパスフイルタ１０はサンプリング
時に発生するリプル成分（レベル段差）を除去す
る目的で設けられており、実施例におけるカツト
オフ周波数は約10Hz前後に設定されている。又前
述所定レベルに固定する理由は、例えばデイスク
装置内における増幅器１Ｂの利得が変化したり、
デイスク上に記録されているブロツクデータのト
ラツクが複数トラツクであつたりして、再生レベ
ルそのものの絶対レベルが変化した場合、結果と
してのオフトラツク出力レベルと実際の物理的オ
フトラツク量との相換が取れなくなることにあ
る。即ち本回路方式においては奇数及び偶数ブロ
ツクデータのレベル差分を直接オフトラツク量と
していることに対してAGC回路の必要性があ
り、仮に前記奇数及び偶数ブロツクデータの相対
レベル比を出力する回路（除算回路）を差動増幅
器に置き換えた場合、その出力特性は前記第６図
のようになり、AGC回路を設ける必要はなくな
る。
サンプルホールド出力信号ｃ，ｄを加算するため
のもので、この２つのサンプルホールド出力レベ
ルの和が常に所定レベルの値になるように前記
AGC増幅器２に作用する。又、その途中に挿入
されているローパスフイルタ１０はサンプリング
時に発生するリプル成分（レベル段差）を除去す
る目的で設けられており、実施例におけるカツト
オフ周波数は約10Hz前後に設定されている。又前
述所定レベルに固定する理由は、例えばデイスク
装置内における増幅器１Ｂの利得が変化したり、
デイスク上に記録されているブロツクデータのト
ラツクが複数トラツクであつたりして、再生レベ
ルそのものの絶対レベルが変化した場合、結果と
してのオフトラツク出力レベルと実際の物理的オ
フトラツク量との相換が取れなくなることにあ
る。即ち本回路方式においては奇数及び偶数ブロ
ツクデータのレベル差分を直接オフトラツク量と
していることに対してAGC回路の必要性があ
り、仮に前記奇数及び偶数ブロツクデータの相対
レベル比を出力する回路（除算回路）を差動増幅
器に置き換えた場合、その出力特性は前記第６図
のようになり、AGC回路を設ける必要はなくな
る。
発明の効果
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、従来のCEデイスクでは測定が不可能であつ
たデイスク装置の偏芯によるデイスク１回転中の
オフトラツク量をも測定が可能であり、さらには
偏芯とトラツク方向のずれ、即ち偏芯を伴なつた
オフトラツク量の測定がより高精度に実現出来る
ものである。
ば、従来のCEデイスクでは測定が不可能であつ
たデイスク装置の偏芯によるデイスク１回転中の
オフトラツク量をも測定が可能であり、さらには
偏芯とトラツク方向のずれ、即ち偏芯を伴なつた
オフトラツク量の測定がより高精度に実現出来る
ものである。
又実際の使用においてもCEデイスクと同様、
オシロスコープによる目視測定も十分可能であ
り、デイスク装置の製造時におけるトラツク位置
調整及び完成品のオフトラツク検査、さらにはユ
ーザに対する保守点検等において極めて有力な手
段となり得るものである。
オシロスコープによる目視測定も十分可能であ
り、デイスク装置の製造時におけるトラツク位置
調整及び完成品のオフトラツク検査、さらにはユ
ーザに対する保守点検等において極めて有力な手
段となり得るものである。
第１図はCEデイスクの原理を示すモデル図、
第２図は第１図のCEデイスクの読み出し波形
図、第３図は所定トラツクのトラツクセンターを
境にしてバースト状のデータブロツクを交互に記
録した本発明によるモデル図、第４図１ａ，１ｂ
及び２ａ，２ｂは第３図のデータブロツクと再生
ヘツドが完全にオントラツクしている状態の再生
波形図及び方向にオフトラツクした場合の再生
波形図、第５図は再生ヘツドのオフトラツク量と
奇数並びに偶数データブロツクの再生レベルとの
関係を示す特性図、第６図は同じくオフトラツク
量に対する奇数データブロツクと偶数ブロツクと
の再生レベルの比を百分率で表わした特性図、第
７図はデータブロツクの再生信号から回路処理的
手段によつて最終的にオフトラツク出力信号を得
るための回路ブロツク図、第８図は第７図の各部
における出力波形図である。 ０１，０２……中心点がP′によるキヤツツアイ
トラツク、０３……中心点Ｐによる通常使用状態
における所定トラツクセンター、O1〜Ｏo……奇
数ブロツクデータ、E1Eo……偶数ブロツクデー
タ、１……デイスク装置のヘツド再生回路系、２
……AGC増幅器、３……AC−DC変換回路、
４，５……奇数ブロツク及び偶数ブロツクサンプ
ルホールド回路、６……誤差増幅器、８……サン
プリングタイミング回路、９……加算器、１１…
…所定トラツクにおけるトラツクセンター、１２
……所定トラツク上におけるブロツクデータの基
点（インデツクス位置）。
第２図は第１図のCEデイスクの読み出し波形
図、第３図は所定トラツクのトラツクセンターを
境にしてバースト状のデータブロツクを交互に記
録した本発明によるモデル図、第４図１ａ，１ｂ
及び２ａ，２ｂは第３図のデータブロツクと再生
ヘツドが完全にオントラツクしている状態の再生
波形図及び方向にオフトラツクした場合の再生
波形図、第５図は再生ヘツドのオフトラツク量と
奇数並びに偶数データブロツクの再生レベルとの
関係を示す特性図、第６図は同じくオフトラツク
量に対する奇数データブロツクと偶数ブロツクと
の再生レベルの比を百分率で表わした特性図、第
７図はデータブロツクの再生信号から回路処理的
手段によつて最終的にオフトラツク出力信号を得
るための回路ブロツク図、第８図は第７図の各部
における出力波形図である。 ０１，０２……中心点がP′によるキヤツツアイ
トラツク、０３……中心点Ｐによる通常使用状態
における所定トラツクセンター、O1〜Ｏo……奇
数ブロツクデータ、E1Eo……偶数ブロツクデー
タ、１……デイスク装置のヘツド再生回路系、２
……AGC増幅器、３……AC−DC変換回路、
４，５……奇数ブロツク及び偶数ブロツクサンプ
ルホールド回路、６……誤差増幅器、８……サン
プリングタイミング回路、９……加算器、１１…
…所定トラツクにおけるトラツクセンター、１２
……所定トラツク上におけるブロツクデータの基
点（インデツクス位置）。
Claims (1)
- １ 所定トラツクのトラツクセンターを境にし
て、少なくとも２磁束反転以上から成るバースト
状のデータブロツクをデイスクの内周及び外周方
向にそれぞれ交互に、かつほぼ等間隔となるよう
に記録されたデイスクを用い、このデイスクを装
着された磁気デイスク装置の読み出しヘツドが前
記デイスクの所定のトラツクにおけるデータブロ
ツクを再生する時、各々隣接するデータブロツク
の相対レベル比をオフトラツク量とすることを特
徴とする磁気デイスク装置におけるオフトラツク
量測定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17354182A JPS5963062A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | 磁気デイスク装置におけるオフトラツク量測定方法 |
| US06/536,459 US4542428A (en) | 1982-10-01 | 1983-09-28 | Disk for measuring off-track quantity of magnetic head, and measuring apparatus using the disk |
| DE19833335560 DE3335560A1 (de) | 1982-10-01 | 1983-09-30 | Scheibe zur messung des betrages der aussenspurlage eines magnetkopfes und die scheibe verwendendes messgeraet |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17354182A JPS5963062A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | 磁気デイスク装置におけるオフトラツク量測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5963062A JPS5963062A (ja) | 1984-04-10 |
| JPS6259385B2 true JPS6259385B2 (ja) | 1987-12-10 |
Family
ID=15962440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17354182A Granted JPS5963062A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | 磁気デイスク装置におけるオフトラツク量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5963062A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0410469Y2 (ja) * | 1986-03-12 | 1992-03-16 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5215968A (en) * | 1975-07-24 | 1977-02-05 | Int Harvester Co | Hydraulic control device |
| US4136365A (en) * | 1976-07-06 | 1979-01-23 | Data Recording Instrument Co. Ltd. | Magnetic disc storage devices having compensation for dimensional changes |
| JPS5786910A (en) * | 1980-09-24 | 1982-05-31 | Kuuontaa Corp | Data transducer position control system |
-
1982
- 1982-10-01 JP JP17354182A patent/JPS5963062A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5215968A (en) * | 1975-07-24 | 1977-02-05 | Int Harvester Co | Hydraulic control device |
| US4136365A (en) * | 1976-07-06 | 1979-01-23 | Data Recording Instrument Co. Ltd. | Magnetic disc storage devices having compensation for dimensional changes |
| JPS5786910A (en) * | 1980-09-24 | 1982-05-31 | Kuuontaa Corp | Data transducer position control system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0410469Y2 (ja) * | 1986-03-12 | 1992-03-16 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5963062A (ja) | 1984-04-10 |
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