JPS6249672A - アモルフアス光起電力素子 - Google Patents
アモルフアス光起電力素子Info
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- JPS6249672A JPS6249672A JP60190500A JP19050085A JPS6249672A JP S6249672 A JPS6249672 A JP S6249672A JP 60190500 A JP60190500 A JP 60190500A JP 19050085 A JP19050085 A JP 19050085A JP S6249672 A JPS6249672 A JP S6249672A
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- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 6
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 6
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 3
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 20
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 13
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 4
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 4
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 239000003085 diluting agent Substances 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001209 Low-carbon steel Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910007264 Si2H6 Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N disilane Chemical compound [SiH3][SiH3] PZPGRFITIJYNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N indium tin Chemical compound [In].[Sn] RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/075—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/036—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
- H01L31/0376—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including amorphous semiconductors
- H01L31/03762—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including amorphous semiconductors including only elements of Group IV of the Periodic Table
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
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- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はアモルファス光起電力素子、特にアモルファス
太陽電池に関する。更に詳しくいえば、pin型接合を
含む、電気特性の劣化がなく、高い信頼性と高い変換効
率とを有する太陽電池に関するものである。
太陽電池に関する。更に詳しくいえば、pin型接合を
含む、電気特性の劣化がなく、高い信頼性と高い変換効
率とを有する太陽電池に関するものである。
旦迷p退!
光起電力効果を利用した電子デバイスの代表的なものと
しては太陽電池を挙げることができる。
しては太陽電池を挙げることができる。
この太陽電池は、太陽エネルギー(0,3〜3μmの広
い範囲に亘るスペクトル分布を有する)あるいはその他
の光エネルギーを電気エネルギーに変換するものであり
、今後のエネルギ一対策の一環として注目される技術の
一つである。この太陽電池による光エネルギーの電気エ
ネルギーへの変換は半導体の各種接合、例えばヘテロ接
合、pnまたはpin接合あるいはショットキー接合な
どの最も基本的な性質である光起電力効果を利用するも
のであり、入射する光を吸収し、そこで電子・正孔対を
形成し、これが外部に取出されるといった機構により起
こる。
い範囲に亘るスペクトル分布を有する)あるいはその他
の光エネルギーを電気エネルギーに変換するものであり
、今後のエネルギ一対策の一環として注目される技術の
一つである。この太陽電池による光エネルギーの電気エ
ネルギーへの変換は半導体の各種接合、例えばヘテロ接
合、pnまたはpin接合あるいはショットキー接合な
どの最も基本的な性質である光起電力効果を利用するも
のであり、入射する光を吸収し、そこで電子・正孔対を
形成し、これが外部に取出されるといった機構により起
こる。
ところで、最近薄膜化・大面積化が可能であり、また組
成の大きな自由度を有し、電気的並びに光学的特性を広
い範囲で制御できるなどの興味ある各種利点を有するこ
とから、アモルファスシリコン(a−3i:H)などの
アモルファス半導体薄膜太陽電池材料として注目されて
おり、これは、太陽エネルギー分布のピーク(500n
m)近傍の光に帯する吸収係数が結晶Siに比較して1
桁程大きく、成膜温度が低く、更に原料からグロー放電
分解によって直接膜形成でき、接合形成も容易である等
の興味深い特性を有している。
成の大きな自由度を有し、電気的並びに光学的特性を広
い範囲で制御できるなどの興味ある各種利点を有するこ
とから、アモルファスシリコン(a−3i:H)などの
アモルファス半導体薄膜太陽電池材料として注目されて
おり、これは、太陽エネルギー分布のピーク(500n
m)近傍の光に帯する吸収係数が結晶Siに比較して1
桁程大きく、成膜温度が低く、更に原料からグロー放電
分解によって直接膜形成でき、接合形成も容易である等
の興味深い特性を有している。
太陽電池を設計、製作し、実用化し得るまでにするため
には、光電変換効率を高めることが最も重要である。そ
こで、pin/pin・・・・あるいはnip/nip
・・・・という多層型構造とすることにより、n層とp
層とが直接々触している部分での再結合を利用して非対
称の起電力を得る構造のものが知られており、これによ
れば実質的に多数の太陽電池を直列に接続したことにな
り、大きな起電力を得ることができる。
には、光電変換効率を高めることが最も重要である。そ
こで、pin/pin・・・・あるいはnip/nip
・・・・という多層型構造とすることにより、n層とp
層とが直接々触している部分での再結合を利用して非対
称の起電力を得る構造のものが知られており、これによ
れば実質的に多数の太陽電池を直列に接続したことにな
り、大きな起電力を得ることができる。
また、変換効率の向上のためには広いスペクトル分布を
有する太陽エネルギーの全域に渡り、良好な吸収効率を
達成し得る構造、材料の選択を行うことが好ましい。こ
のために、a −3i : Hに他の元素をモディファ
イアとして添加し、a −3i : Hの禁止帯幅に変
化をもたせる検討が行われており、通常モディファイア
としてはシリコンと4配位結合し易い■族元素が使用さ
れている。
有する太陽エネルギーの全域に渡り、良好な吸収効率を
達成し得る構造、材料の選択を行うことが好ましい。こ
のために、a −3i : Hに他の元素をモディファ
イアとして添加し、a −3i : Hの禁止帯幅に変
化をもたせる検討が行われており、通常モディファイア
としてはシリコンと4配位結合し易い■族元素が使用さ
れている。
例えば、モディファイアとして炭素を用いると禁止帯幅
が広くなるので、これを太陽電池のp型層として光の入
射側に用いることにより、一層短波長光の有効利用が可
能となり、光電変換効率の向上を図ることが可能となる
。また、モディファイアトシてGe (アモルファスシ
リコンゲルマニウム: a −5iGe : H) 、
5nSPb等の元素を用いると逆に禁止帯幅が小さくな
り、これをi型層として使用することにより太陽電池は
長波長光を吸収し易くなり、その有効利用が可能となる
。
が広くなるので、これを太陽電池のp型層として光の入
射側に用いることにより、一層短波長光の有効利用が可
能となり、光電変換効率の向上を図ることが可能となる
。また、モディファイアトシてGe (アモルファスシ
リコンゲルマニウム: a −5iGe : H) 、
5nSPb等の元素を用いると逆に禁止帯幅が小さくな
り、これをi型層として使用することにより太陽電池は
長波長光を吸収し易くなり、その有効利用が可能となる
。
一般には光の入射面から順に禁止帯幅が順次狭くなって
いくような構成、材料とすることにより広範囲の波長域
に亘る太陽エネルギーの有効利用が可能となる。
いくような構成、材料とすることにより広範囲の波長域
に亘る太陽エネルギーの有効利用が可能となる。
高効率、低価格の薄膜太陽電池材料として前記a −3
i : Hのi型層をキャリア発生源に持つアモルファ
スシリコン(a −3i )太陽電池は、長波長感度を
有するがために極めて有望視されているが、ガラス/透
明電極/pin/金属電極構造のアモルファス太陽電池
を形成する際に、pおよびn型層をa −8i : H
膜で形成し、また1型層をa −3iGe:H膜で形成
したpln構造では太陽電池特性が低く、従ってこのよ
うな構成の太陽電池を実用化し得るものとするためには
、その特性改善を図る必要があった。
i : Hのi型層をキャリア発生源に持つアモルファ
スシリコン(a −3i )太陽電池は、長波長感度を
有するがために極めて有望視されているが、ガラス/透
明電極/pin/金属電極構造のアモルファス太陽電池
を形成する際に、pおよびn型層をa −8i : H
膜で形成し、また1型層をa −3iGe:H膜で形成
したpln構造では太陽電池特性が低く、従ってこのよ
うな構成の太陽電池を実用化し得るものとするためには
、その特性改善を図る必要があった。
発明が 決しようとする問題点
従来の上記のような型の太陽電池は例えば第2図に示し
たようにガラス基板lと、その上に順次設けられた透明
電極2、アモルファス層3(p型層4、i型層5および
n型層6とで構成される)および金属電極7からなって
いる。このような構成では、即ちp型層としてのa −
3i : 8層に続いてa −3iGe : Hの1型
層を有する構造では、p型層中に添加された不純物とし
ての硼素(B)などが、成膜操作中に1型層内に拡散し
たり、あるいは成膜室から混入して、i型層のp型層化
を生じ、その結果l型層内の内部電界が弱まり、出力特
性の低下をもたらす。また、Geが添加されたi型層と
添加されていないp型層との界面で格子不整合が生じる
。これらの理由から、出力電流、曲線因子等が大巾に低
下し、太陽電池の出力特性も低下する。即ち、出力電流
、開放電圧、曲線因子のいずれも低くなる。
たようにガラス基板lと、その上に順次設けられた透明
電極2、アモルファス層3(p型層4、i型層5および
n型層6とで構成される)および金属電極7からなって
いる。このような構成では、即ちp型層としてのa −
3i : 8層に続いてa −3iGe : Hの1型
層を有する構造では、p型層中に添加された不純物とし
ての硼素(B)などが、成膜操作中に1型層内に拡散し
たり、あるいは成膜室から混入して、i型層のp型層化
を生じ、その結果l型層内の内部電界が弱まり、出力特
性の低下をもたらす。また、Geが添加されたi型層と
添加されていないp型層との界面で格子不整合が生じる
。これらの理由から、出力電流、曲線因子等が大巾に低
下し、太陽電池の出力特性も低下する。即ち、出力電流
、開放電圧、曲線因子のいずれも低くなる。
更に、p型層はi型層により多くの光を導入する役割と
電極の役割とを果す層であるが、特にp/1界面近傍で
1型層の形成中にi型層中のゲルマニウムがp型層中に
拡散して、p型層のバンドギャップエネルギーの低下を
きたし、p型層として本来あるべき膜特性が劣化するた
めに、光導入機能を果さなくなる。その結果、i型層に
到達する光量が低下し、太陽電池の出力電流の低下を招
く。
電極の役割とを果す層であるが、特にp/1界面近傍で
1型層の形成中にi型層中のゲルマニウムがp型層中に
拡散して、p型層のバンドギャップエネルギーの低下を
きたし、p型層として本来あるべき膜特性が劣化するた
めに、光導入機能を果さなくなる。その結果、i型層に
到達する光量が低下し、太陽電池の出力電流の低下を招
く。
また、バンドギャップエネルギーの低下は開放電圧と関
連する拡散電位の低下につながり、結果として開放電圧
の低下をもたらす。
連する拡散電位の低下につながり、結果として開放電圧
の低下をもたらす。
硼素Bの1型層からp型層への拡散、pZ1層界面にお
ける格子不整合による電気的接合損失並びにp/j層界
面近傍におけるGe原子の拡散などの現象は上記のよう
に成膜操作中ばかりでなく、太陽電池の使用中にも生じ
、出力特性の劣化をきたす。
ける格子不整合による電気的接合損失並びにp/j層界
面近傍におけるGe原子の拡散などの現象は上記のよう
に成膜操作中ばかりでなく、太陽電池の使用中にも生じ
、出力特性の劣化をきたす。
このような従来法により得られるアモルファス多層膜型
太陽電池にみられる諸欠点を克服し、高い信頼性と高い
変換効率を達成し得るアモルファス太陽電池を開発する
ことが強く要望されており、これは太陽電池の実用化を
促進する上でも極めて大きな意義を有する。
太陽電池にみられる諸欠点を克服し、高い信頼性と高い
変換効率を達成し得るアモルファス太陽電池を開発する
ことが強く要望されており、これは太陽電池の実用化を
促進する上でも極めて大きな意義を有する。
そこで、本発明の目的は上記従来の太陽電池の有する各
種問題点を解決することのできる新しい構成の多層膜ア
モルファス太陽電池を提供することにあり、従って高い
変換効率を与え、使用中の電池の劣化も示すことのない
信頼性の高いアモルファス太陽電池を提供するものであ
る。
種問題点を解決することのできる新しい構成の多層膜ア
モルファス太陽電池を提供することにあり、従って高い
変換効率を与え、使用中の電池の劣化も示すことのない
信頼性の高いアモルファス太陽電池を提供するものであ
る。
問題点を解決するための手段
本発明者等は従来のa −3iGe : H膜をi型層
として有し、またa−3i:H(不純物を含む)膜をp
型層として有するpin構造のアモルファス太陽電池の
各種欠点が、p−1層間の添加元素のBおよび/または
Geなどの拡散等によるものであるという認識の下に、
この点を解決すべく種々検討した結果、p型層と型層と
の間にバッファー層を設けることが有利であるとの見解
に達し、本発明を完成するに至った。
として有し、またa−3i:H(不純物を含む)膜をp
型層として有するpin構造のアモルファス太陽電池の
各種欠点が、p−1層間の添加元素のBおよび/または
Geなどの拡散等によるものであるという認識の下に、
この点を解決すべく種々検討した結果、p型層と型層と
の間にバッファー層を設けることが有利であるとの見解
に達し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明のアモルファス光起電力素子は、p型アモ
ルファスシリコン層と、i型アモルファスシリコンゲル
マニウム層を含むpln構造の光起電力素子であって、
その特徴は上記p型層とi型層との間に設けられた、i
型アモルファスシリコンバッファー層を有することにあ
る。
ルファスシリコン層と、i型アモルファスシリコンゲル
マニウム層を含むpln構造の光起電力素子であって、
その特徴は上記p型層とi型層との間に設けられた、i
型アモルファスシリコンバッファー層を有することにあ
る。
本発明のアモルファス光起電力素子において、pslq
n型層は夫々水素および/またはフッ素を含有する。こ
れはアモルファス層が一般にグロー放電法、水銀堆感光
CVD法、直接励起光CVD法等により3iHs、Ge
H,等から形成されるが、この際に生成する水素ラジカ
ルの不足のために未結合手(タングリングボンド)が残
留し、これが膜の欠陥を構成することから、HまたはF
を用いてダングリングボンドと結合させて、これをター
ミネータとして機能させていることに基づき含まれるも
のである。
n型層は夫々水素および/またはフッ素を含有する。こ
れはアモルファス層が一般にグロー放電法、水銀堆感光
CVD法、直接励起光CVD法等により3iHs、Ge
H,等から形成されるが、この際に生成する水素ラジカ
ルの不足のために未結合手(タングリングボンド)が残
留し、これが膜の欠陥を構成することから、HまたはF
を用いてダングリングボンドと結合させて、これをター
ミネータとして機能させていることに基づき含まれるも
のである。
本発明の特徴であるバッファー層は100〜500人の
厚さを有する。これは本発明において臨界的な条件であ
って、100人に満たない場合にはバッファー層として
の機能、即ちp/i層間での不純物等の拡散が十分に阻
止できず、一方500人を越える場合には拡散防止効果
は十分であるが、下層に到達する光量を減じてしまうな
どの負の効果をもたらすために、上記範囲内とするここ
とが好ましい。
厚さを有する。これは本発明において臨界的な条件であ
って、100人に満たない場合にはバッファー層として
の機能、即ちp/i層間での不純物等の拡散が十分に阻
止できず、一方500人を越える場合には拡散防止効果
は十分であるが、下層に到達する光量を減じてしまうな
どの負の効果をもたらすために、上記範囲内とするここ
とが好ましい。
また、i型層は通常幾分n型となっており、これを真性
化する目的で■族元素、例えばB原子が添加されている
。その量は0.2〜3ppmの範囲であり、これも本発
明においては臨界的な条件となる。即ち、0.2ppm
未満では添加効果はなく、また3 ppmを越える場合
にはp型となり好ましくない。
化する目的で■族元素、例えばB原子が添加されている
。その量は0.2〜3ppmの範囲であり、これも本発
明においては臨界的な条件となる。即ち、0.2ppm
未満では添加効果はなく、また3 ppmを越える場合
にはp型となり好ましくない。
更に、前記バッファー層の1型層側は50〜150人の
膜厚範囲内でi型層方向にGe原子の添加量が漸増する
ようにすることが好ましい。
膜厚範囲内でi型層方向にGe原子の添加量が漸増する
ようにすることが好ましい。
本発明のアモルファス光起電力素子は、例えば第1図に
示したように、光入射側から透明基板1、透明電極2、
アモルファス層3′および金属電極7から構成され、ア
モルファス層は更にn型層4(a Si: H) 、
バッファー層10 (a −3i : H)、l型層5
(a −3iGe : H)およびn型層6(a−3
i:H)の4層で構成される。この例ではアモルファス
層として1組のpin接合のみを有するものを示したが
、本発明はこれに限られず、2組もしくはそれ以上のp
in接合を含んでいてもよく、その場合1型層としてa
−3iGe : H膜をもつアモルファス層のpZ1
層間にバッファー層を設けることが有利である。
示したように、光入射側から透明基板1、透明電極2、
アモルファス層3′および金属電極7から構成され、ア
モルファス層は更にn型層4(a Si: H) 、
バッファー層10 (a −3i : H)、l型層5
(a −3iGe : H)およびn型層6(a−3
i:H)の4層で構成される。この例ではアモルファス
層として1組のpin接合のみを有するものを示したが
、本発明はこれに限られず、2組もしくはそれ以上のp
in接合を含んでいてもよく、その場合1型層としてa
−3iGe : H膜をもつアモルファス層のpZ1
層間にバッファー層を設けることが有利である。
まず、基板としては約1 mmの厚さのものが一般的で
あり、ガラス、セラミックス、プラスチック、軟鋼、A
1、Cu等の金属あるいは合金、ステンレス鋼、モリブ
デン等いずれも使用可能である。更に、電極層はITO
(インジウムスズ酸化物: IndiumTin 0x
ide ) 、SnO2等の透明導電膜、A1等の金属
など公知のものを挙げることができる。
あり、ガラス、セラミックス、プラスチック、軟鋼、A
1、Cu等の金属あるいは合金、ステンレス鋼、モリブ
デン等いずれも使用可能である。更に、電極層はITO
(インジウムスズ酸化物: IndiumTin 0x
ide ) 、SnO2等の透明導電膜、A1等の金属
など公知のものを挙げることができる。
これら基板と電極とは光起電力素子の形状によって変化
し、第1図のような構成(基板が透明材料であり、基板
側から光が入射する型)の他、基板を不透明材料で形成
し、電極7を透明材料で形成して、光を電極7側から入
射するような構成とすることも可能である。更に、基板
1を導電性材料で形成し、これに光電流・充電圧取出し
用電極としての機能をも併せもたせることもまた可能で
ある。
し、第1図のような構成(基板が透明材料であり、基板
側から光が入射する型)の他、基板を不透明材料で形成
し、電極7を透明材料で形成して、光を電極7側から入
射するような構成とすることも可能である。更に、基板
1を導電性材料で形成し、これに光電流・充電圧取出し
用電極としての機能をも併せもたせることもまた可能で
ある。
電極層は一般に約5.000人(透明電極は約1μm程
度)であり、その形成はCVD法、蒸着法などの公知の
任意の方法で実施することができ、またそのパターン化
が必要な場合にはフォトリソグラフィーなどの常法が利
用できる。
度)であり、その形成はCVD法、蒸着法などの公知の
任意の方法で実施することができ、またそのパターン化
が必要な場合にはフォトリソグラフィーなどの常法が利
用できる。
各アモルファス層は上記のような材料で構成され、プラ
ズマCVD法、光CVD法、スパッタ法などにより形成
できる。例えばプラズマCVD法で形成する場合、n型
層は5IH4,5i2H,、SiF。
ズマCVD法、光CVD法、スパッタ法などにより形成
できる。例えばプラズマCVD法で形成する場合、n型
層は5IH4,5i2H,、SiF。
などを主原料とし、希釈ガスとしてのN2およびドーピ
ングガスとしてのPH3、ASH3,5b(CHs)*
、Bi (CH−) −などを使用する。
ングガスとしてのPH3、ASH3,5b(CHs)*
、Bi (CH−) −などを使用する。
また、l型層の形成はSi源としてSiH,,5i2H
s、SiF*を、またGe源としてGeH,、GeF<
を、更にn層と同様に希釈ガスとしてN2を用いる。バ
ッファー層の形成には主原料としてSiH,,5izH
s、5IF4などを希釈ガスのN2などと共に使用して
実施され、1型層側の部分では経時的にGe源の濃度を
変化させてGeの濃度勾配(i型層側が濃度穴となるよ
うに)を与えてグレイデッド層としてもよい。この場合
Ge源としては上記と同様にGeH,、GeF<などを
使用する。Ge添加部分の厚さは50〜150人、好ま
しくは70〜120人の範囲であり、50人未満では効
果がなく、150八を越える場合にはバッファー効果を
期待できず、いずれも好ましくない。最後にp型層の形
成には、Si源としてSiH4、Si2H6、SiF、
などが、希釈ガスとしてのN2と共に使用され、またド
ーピングガスとしてはB 2 Hsなどが有効である。
s、SiF*を、またGe源としてGeH,、GeF<
を、更にn層と同様に希釈ガスとしてN2を用いる。バ
ッファー層の形成には主原料としてSiH,,5izH
s、5IF4などを希釈ガスのN2などと共に使用して
実施され、1型層側の部分では経時的にGe源の濃度を
変化させてGeの濃度勾配(i型層側が濃度穴となるよ
うに)を与えてグレイデッド層としてもよい。この場合
Ge源としては上記と同様にGeH,、GeF<などを
使用する。Ge添加部分の厚さは50〜150人、好ま
しくは70〜120人の範囲であり、50人未満では効
果がなく、150八を越える場合にはバッファー効果を
期待できず、いずれも好ましくない。最後にp型層の形
成には、Si源としてSiH4、Si2H6、SiF、
などが、希釈ガスとしてのN2と共に使用され、またド
ーピングガスとしてはB 2 Hsなどが有効である。
第1図には基板上にp−b−i−n (b :バッファ
ー層)なる順序で積層した例を示したが、これは逆の順
序即ちn−1−b−pなる順序で基板側から積層するこ
ともできる。また、光入射側に反射防止コーティングを
施して、光の吸収効率の改善を図ることができ、この場
合ITOは反射防止コーティングとしての機能も有して
いるので光入射側の電極をITOで形成し、電極と反射
防止膜の機能とを併せ持たせることができる。この反射
防止コーティング材料としては上記ITOの他に、5i
nSSin、、ZrO2、ZnS、Si、N1、Ta2
05、Al2O3,5IhOs、TlO2など、あるい
は’ra2os/S IO2などの多層構造も利用でき
る。これらは選ばれた材料の特性に応じて、例えば真空
蒸着法、スパッタ法、プラズマCVD法等、公知の各種
の成膜法から最適のものを選択し、形成することができ
る。
ー層)なる順序で積層した例を示したが、これは逆の順
序即ちn−1−b−pなる順序で基板側から積層するこ
ともできる。また、光入射側に反射防止コーティングを
施して、光の吸収効率の改善を図ることができ、この場
合ITOは反射防止コーティングとしての機能も有して
いるので光入射側の電極をITOで形成し、電極と反射
防止膜の機能とを併せ持たせることができる。この反射
防止コーティング材料としては上記ITOの他に、5i
nSSin、、ZrO2、ZnS、Si、N1、Ta2
05、Al2O3,5IhOs、TlO2など、あるい
は’ra2os/S IO2などの多層構造も利用でき
る。これらは選ばれた材料の特性に応じて、例えば真空
蒸着法、スパッタ法、プラズマCVD法等、公知の各種
の成膜法から最適のものを選択し、形成することができ
る。
−立回
光起電力素子、あるいはその代表的な素子としての太陽
電池などにおいては、これを実用化するためには光電変
換効率(Err) 、開放電圧(■。。)短絡電流(J
Se)、曲線因子(FF)などの膜特性の改善を図るこ
とが重要である。しかしながら、従来の特に多層型アモ
ルファス太陽電池にあっては、使用する薄膜材料に問題
があったために良好な特性を有する製品が得られなかっ
た。
電池などにおいては、これを実用化するためには光電変
換効率(Err) 、開放電圧(■。。)短絡電流(J
Se)、曲線因子(FF)などの膜特性の改善を図るこ
とが重要である。しかしながら、従来の特に多層型アモ
ルファス太陽電池にあっては、使用する薄膜材料に問題
があったために良好な特性を有する製品が得られなかっ
た。
上記特性劣化の原因としては、p/i界面を横切って各
p層およびi層のドーパントあるいは添加元素が相互に
拡散したり、あるいは成膜操作中に混入すること、更に
p/i層界面での格子不整合に基く電気的接合ロスが生
じることなどが主なものであり、これらはp型層のバン
ドギャップエネルギーの低下をもたらし、これは順次拡
散電位を低下し、これと関連する開放電圧を低下する。
p層およびi層のドーパントあるいは添加元素が相互に
拡散したり、あるいは成膜操作中に混入すること、更に
p/i層界面での格子不整合に基く電気的接合ロスが生
じることなどが主なものであり、これらはp型層のバン
ドギャップエネルギーの低下をもたらし、これは順次拡
散電位を低下し、これと関連する開放電圧を低下する。
更に、i型層に達すべき光量を低下させ、太陽電池の出
力(変換効率)を大巾に低下させる。上記の特性劣化を
きたす現象は太陽電池の使用中にも発生し、寿命の低下
を招いていた。
力(変換効率)を大巾に低下させる。上記の特性劣化を
きたす現象は太陽電池の使用中にも発生し、寿命の低下
を招いていた。
ところで、本発明のアモルファス光起電力素子によれば
、ドーパント、添加元素などの拡散を生、するpZi層
界面に、a −3i : Hからなるバッファー層を設
け、太陽電池の各種特性の劣化につながる要因を排除し
た。即ち、Geを添加してないa−3i : H層(バ
ッファー層)がドーパント(p層中のBなど)および/
または添加元素(l型層中のGeなど)のp型層、i型
層相互間の拡散に対するバリヤ一層あるいはバッファー
層として機能し、夫々の膜特性の変性を有効に防止し、
本来の膜特性を維持することを可能にした。従って、G
eの拡散・侵入に基くp型層のバンドギャップエネルギ
ーの低下並びにi型層への光量の低下を生じることがな
く、i型層により多くの光を導入し、また電極として十
分に機能するというp型層本来の特性を十分に発揮させ
ることができる。
、ドーパント、添加元素などの拡散を生、するpZi層
界面に、a −3i : Hからなるバッファー層を設
け、太陽電池の各種特性の劣化につながる要因を排除し
た。即ち、Geを添加してないa−3i : H層(バ
ッファー層)がドーパント(p層中のBなど)および/
または添加元素(l型層中のGeなど)のp型層、i型
層相互間の拡散に対するバリヤ一層あるいはバッファー
層として機能し、夫々の膜特性の変性を有効に防止し、
本来の膜特性を維持することを可能にした。従って、G
eの拡散・侵入に基くp型層のバンドギャップエネルギ
ーの低下並びにi型層への光量の低下を生じることがな
く、i型層により多くの光を導入し、また電極として十
分に機能するというp型層本来の特性を十分に発揮させ
ることができる。
一方、i型層についてみても、p型層中のBが拡散・侵
入することによりp型層化することがなく、従ってi型
層は十分な強度の内部電界を維持し、結果として太陽電
池の出力特性、即ち出力電流、開放電圧、曲線因子いず
れの特性においても優れた値を与える。
入することによりp型層化することがなく、従ってi型
層は十分な強度の内部電界を維持し、結果として太陽電
池の出力特性、即ち出力電流、開放電圧、曲線因子いず
れの特性においても優れた値を与える。
a −5iGe : H膜はGeの添加量の調節により
、i型層の禁止帯幅を変えることができ、従ってこのよ
うな膜をi型層として用いたアモルファスシリコン太陽
電池は高い長波長感度を有するために有効とされている
ので、上記のような構成としてi型層並びにp型層の安
定性を保証することにより、著しく優れた長波長感度を
有する、ひいては光電変換効率の高い太陽電池、光起電
力素子を得ることが可能となる。
、i型層の禁止帯幅を変えることができ、従ってこのよ
うな膜をi型層として用いたアモルファスシリコン太陽
電池は高い長波長感度を有するために有効とされている
ので、上記のような構成としてi型層並びにp型層の安
定性を保証することにより、著しく優れた長波長感度を
有する、ひいては光電変換効率の高い太陽電池、光起電
力素子を得ることが可能となる。
本発明のアモルファス光起電力素子において、バッファ
ー層はi型層側の50〜150人の膜厚に相当する部分
にGe原子を、濃度勾配を有するように添加することが
できる。これはi型層からのGeの拡散を一層よく抑制
し、l型層、p型層の特性維持のために有効である。そ
のため、i型層に近い程Ges度が高くなるように濃度
勾配を与える。
ー層はi型層側の50〜150人の膜厚に相当する部分
にGe原子を、濃度勾配を有するように添加することが
できる。これはi型層からのGeの拡散を一層よく抑制
し、l型層、p型層の特性維持のために有効である。そ
のため、i型層に近い程Ges度が高くなるように濃度
勾配を与える。
また、本発明のアモルファス光起電力素子の構造は、従
来のものについてみられたように、使用中にGe、 B
等の拡散を生じ、特性劣化を生ずることもない。即ち、
極めて耐用寿命の長い、高信頼度の製品が提供できるこ
とになる。
来のものについてみられたように、使用中にGe、 B
等の拡散を生じ、特性劣化を生ずることもない。即ち、
極めて耐用寿命の長い、高信頼度の製品が提供できるこ
とになる。
更に、本発明の光起電力素子では従来の製品と同様に反
射防止コーティングを光入射側に施して、光の吸収効率
を高め、光起電力素子の変換効率を一層良好なものとす
ることができる。その態様としては所定の波長域に対す
る単一の反射防止膜を設けても、また屈折率の異る材料
の膜を2層以上組合せてより広い波長範囲に亘る光に対
して有効な積層膜とすることもできる。
射防止コーティングを光入射側に施して、光の吸収効率
を高め、光起電力素子の変換効率を一層良好なものとす
ることができる。その態様としては所定の波長域に対す
る単一の反射防止膜を設けても、また屈折率の異る材料
の膜を2層以上組合せてより広い波長範囲に亘る光に対
して有効な積層膜とすることもできる。
本発明による構成は、l型層としてa −3iGe :
H膜を用いた各種の光起電力素子に対して有効であり、
また本発明の構造を有する光起電力素子と他の光起電力
素子とを組合せて直列に接合したタンデム型太陽電池あ
るいはマルチカラー太陽電池などの構成要素として使用
することもできる。
H膜を用いた各種の光起電力素子に対して有効であり、
また本発明の構造を有する光起電力素子と他の光起電力
素子とを組合せて直列に接合したタンデム型太陽電池あ
るいはマルチカラー太陽電池などの構成要素として使用
することもできる。
ス1男
以下、実施例、比較例、参考例により本発明の光起電力
素子の奏する効果を実証する。ただし、本発明の範囲は
以下の実施例により何隻制限されない。
素子の奏する効果を実証する。ただし、本発明の範囲は
以下の実施例により何隻制限されない。
基板として厚さ1mmのガラス(禁止帯幅Bg = 5
.0eV)を用い、透明電極としてはCVD法によりS
nowを1μmの厚さで該基板上に形成しく8μm4.
0eV)、次いで夫々p型層(a−3i:H;ドーパン
トB;8g = 1.8eV)、バッファー層(a −
3i : H; 8μm1.8eV)、i型層(a −
3iGe : H;8μm1.6 eV ; Bを2
ppm含有)およびn型層(a −3i : H; 8
μm1.8eV ;ドーパン)P含有)を夫々プラズマ
CVD法により同一の条件で下表に示す厚さで形成した
。更に、得られた各物品上に金属電極としての八tを蒸
着法により5.000人の厚さで堆積させ、第1図およ
び第2図に示したような構成のpln接合を1組含む太
陽電池を作製し、得られた各サンプルにつき出力特性を
測定した。結果を以下の表に示す。
.0eV)を用い、透明電極としてはCVD法によりS
nowを1μmの厚さで該基板上に形成しく8μm4.
0eV)、次いで夫々p型層(a−3i:H;ドーパン
トB;8g = 1.8eV)、バッファー層(a −
3i : H; 8μm1.8eV)、i型層(a −
3iGe : H;8μm1.6 eV ; Bを2
ppm含有)およびn型層(a −3i : H; 8
μm1.8eV ;ドーパン)P含有)を夫々プラズマ
CVD法により同一の条件で下表に示す厚さで形成した
。更に、得られた各物品上に金属電極としての八tを蒸
着法により5.000人の厚さで堆積させ、第1図およ
び第2図に示したような構成のpln接合を1組含む太
陽電池を作製し、得られた各サンプルにつき出力特性を
測定した。結果を以下の表に示す。
かくして、本発明に従ってp型層とi型層との間に所定
の膜厚のa −3i : H膜からなるバッファー層を
設けることにより各出力特性(Jlc、V o C%F
F)がいずれも改善され、それによって変換効率(E、
、)も向上することがわかる。尚、比較例1および2の
結果は■。0については本発明のものと匹敵する値を与
えるものの、J、cSFFにおいて劣り、結果としてE
r rも低いことを示しており、バッファー層の厚さ
を上記範囲、即ち100〜500人の範囲内に制限する
ことが有利であることを示している。
の膜厚のa −3i : H膜からなるバッファー層を
設けることにより各出力特性(Jlc、V o C%F
F)がいずれも改善され、それによって変換効率(E、
、)も向上することがわかる。尚、比較例1および2の
結果は■。0については本発明のものと匹敵する値を与
えるものの、J、cSFFにおいて劣り、結果としてE
r rも低いことを示しており、バッファー層の厚さ
を上記範囲、即ち100〜500人の範囲内に制限する
ことが有利であることを示している。
更に、実施例3の太陽電池および従来例の太陽電池につ
き500時間に亘る連続光照射テストを実施した。この
テストはAMl、5.100mW/c++fの光源を使
用し、開放状態で連続光照射することにより実施した。
き500時間に亘る連続光照射テストを実施した。この
テストはAMl、5.100mW/c++fの光源を使
用し、開放状態で連続光照射することにより実施した。
得られた結果を第3図に示した。第3図にふいて縦軸は
初期の変換効率(E=:’)で、各光照射時間に対する
変換効率(Err)を割ることにより規格化した変換効
率を表すものである。
初期の変換効率(E=:’)で、各光照射時間に対する
変換効率(Err)を割ることにより規格化した変換効
率を表すものである。
第3図の結果から、本発明に従ってバッファー層を設け
ることにより、変換効率の低下が抑えられ、光照射に対
してより安定化されることがわかる。
ることにより、変換効率の低下が抑えられ、光照射に対
してより安定化されることがわかる。
発明の効果
以上詳しく述べたように、本発明に従ってpln接合を
含むアモルファス光起電力素子におけるp型層と1型層
との間にGeの添加のないa −3i : 8層をバッ
ファー層として設けることにより、i型層中へのp型層
中のB原子が拡散・侵入することを効果的に防止し、か
つp型層中へのi型層中のGe原子が拡散・侵入するこ
とをも有効に防止して、p/i界面での欠陥形成や、p
型層の膜質劣化が防止されるので、開放電圧(■。C)
、短絡電流(Jsc)、曲線因子(FF)並びに変換効
率(Err)などの太陽電池の出力特性が大巾に改善さ
れる。
含むアモルファス光起電力素子におけるp型層と1型層
との間にGeの添加のないa −3i : 8層をバッ
ファー層として設けることにより、i型層中へのp型層
中のB原子が拡散・侵入することを効果的に防止し、か
つp型層中へのi型層中のGe原子が拡散・侵入するこ
とをも有効に防止して、p/i界面での欠陥形成や、p
型層の膜質劣化が防止されるので、開放電圧(■。C)
、短絡電流(Jsc)、曲線因子(FF)並びに変換効
率(Err)などの太陽電池の出力特性が大巾に改善さ
れる。
また、長期間の使用によっても、太陽電池特性の劣化が
みられず、従って本発明の構造は太陽電池等の光起電力
素子に高い信頼性を付与することを可能とし、より実用
性に富む製品を提供することができる。
みられず、従って本発明の構造は太陽電池等の光起電力
素子に高い信頼性を付与することを可能とし、より実用
性に富む製品を提供することができる。
第1図は本発明による光起電力素子の好ましい一態様を
概略的に示した断面図であり、第2図は従来の光起電力
素子の構成を説明するため概略的な断面図であり、 第3図は本発明のおよび従来法の太陽電池について連続
光照射テストを行った結果をプロットしたグラフである
。 (主な参照番号) 1・・基板、 2・・透明電極、 3.3゛ ・・アモルファス層、 4・・p型層、5
・・1型層、 6・・n型層、
概略的に示した断面図であり、第2図は従来の光起電力
素子の構成を説明するため概略的な断面図であり、 第3図は本発明のおよび従来法の太陽電池について連続
光照射テストを行った結果をプロットしたグラフである
。 (主な参照番号) 1・・基板、 2・・透明電極、 3.3゛ ・・アモルファス層、 4・・p型層、5
・・1型層、 6・・n型層、
Claims (7)
- (1)p型アモルファスシリコン層と、i型アモルファ
スシリコンゲルマニウム層とを含むpin型構造の光起
電力素子であって、 上記p型層とi型層との間にi型アモルファスシリコン
バッファー層を有することを特徴とする上記pin型光
起電力素子。 - (2)上記p型層、i型層、n型層およびバッファー層
が水素および/またはフッ素を含むことを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の光起電力素子。 - (3)前記バッファー層の膜厚が100〜500Åの範
囲内である特許請求の範囲第1項または第2項記載の光
起電力素子。 - (4)上記バッファー層がそのi型層側部分において、
50〜150Åの膜厚に亘りゲルマニウムが添加されて
おり、i型層に近ずくにつれてゲルマニウム濃度が高く
なる濃度勾配を有していることを特徴とする特許請求の
範囲第1〜3項のいずれか1項に記載の光起電力素子。 - (5)上記バッファー層のゲルマニウム添加部分の膜厚
が70〜120Åの範囲内である特許請求の範囲第4項
記載の光起電力素子。 - (6)前記i型層が0.2〜3ppmのIII族元素を含
むことを特徴とする特許請求の範囲第1〜5項のいずれ
か1項に記載の光起電力素子。 - (7)光入射側に反射防止コーティングを有することを
特徴とする特許請求の範囲第6項記載の光起電力素子。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP60190500A JPS6249672A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | アモルフアス光起電力素子 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP60190500A JPS6249672A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | アモルフアス光起電力素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPS6249672A true JPS6249672A (ja) | 1987-03-04 |
Family
ID=16259123
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP60190500A Pending JPS6249672A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | アモルフアス光起電力素子 |
Country Status (4)
Country | Link |
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US (1) | US4728370A (ja) |
EP (1) | EP0213622B1 (ja) |
JP (1) | JPS6249672A (ja) |
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