DE4419273C2 - Dünnschicht-Solarzelle - Google Patents
Dünnschicht-SolarzelleInfo
- Publication number
- DE4419273C2 DE4419273C2 DE19944419273 DE4419273A DE4419273C2 DE 4419273 C2 DE4419273 C2 DE 4419273C2 DE 19944419273 DE19944419273 DE 19944419273 DE 4419273 A DE4419273 A DE 4419273A DE 4419273 C2 DE4419273 C2 DE 4419273C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- layer
- buffer
- solar cell
- undoped
- cells
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 6
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 47
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 5
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 10
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 7
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 7
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 7
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010051246 Photodermatosis Diseases 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000008845 photoaging Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N zinc oxide Inorganic materials [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/075—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
- H01L31/076—Multiple junction or tandem solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/075—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Dünnschicht-Solarzelle auf der Basis
des amorphen, hydrierten Siliziums und/oder seiner Legierungen gemäß
dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Eine derartige Dünnschicht-
Solarzelle ist aus der japanischen Offenlegungsschrift 63-244 888
bekannt.
Dünnschicht-Solarzellen auf der Basis des amorphen hydrierten
Siliziums (a-Si : H) und seiner Legierungen werden in bekannter
Weise mit der Dotierungsfolge n-i-p oder p-i-n durch Schicht
abscheidung auf geeigneten opaken oder transparenten Substraten
hergestellt, auch als gestapelte Solarzellen in Kaskadenanordnung
(sog. Stapelzellen, z. B. p-i-n-p-i-n) mit identischer oder
unterschiedlicher Bandlücke der verwendeten Teilzellen.
Als Kontaktschichten dienen auf der Lichteintrittsseite in der
Regel transparente, leitfähige Oxidschichten (sog. TCO-Schichten,
wie z. B. ITO, SnO2, ZnO, TiO2), auf der licht-abgewandten Seite
ebenfalls transparente leitfähige Oxid- oder Metallschichten oder
eine Kombination aus beiden.
Der Lichteinfall erfolgt in vorteilhafter Weise von der p-
dotierten Seite her. Zur Verbesserung des Lichteintritts in die
für die Lichtumwandlung maßgebliche, undotierte i-Schicht und zur
elektrischen Verbesserung, wird die Bandlücke der p-dotierten
Schicht höher als die der i-Schicht gewählt. Dies kann z. B. mit
Hilfe von Legierungen des a-Si : H mit N, C oder O erreicht werden.
Der Wirkungsgrad y einer Solarzelle läßt sich als Produkt der
unter Sonnenlicht gemessenen Kenngrößen der Strom/Spannungs
kennlinie offene Klemmenspannung Voc, der Kurzschlußstromdichte
jsc und dem Füllfaktor FF, geteilt durch die Intensität des
Sonnenlichts Iss schreiben:
y = (Voc . jsc . FF)/Iss (1)
Von verschiedenen Autoren wurde beschrieben, daß sich vor allem
die offene Klemmenspannung Voc, aber auch jsc und FF von a-Si p-i-
n- bzw. n-i-p-Solarzellen durch die Einfügung einer zusätzlichen,
dünnen, sog. Pufferschicht (englisch: "buffer (layer)" oder "p-i
interface layer") in die p-i-Grenzfläche (d. h. zwischen p- und i-
Schicht) erhöhen lassen. Dadurch erreicht man einen insgesamt
deutlich höheren Wirkungsgrad (Fig. 1a).
In Stapel-Solarzellen, z. B. mit p-i-n-p-i-n-Struktur können in
mehreren oder sogar jeder Teilzelle Pufferschichten zum Einsatz
kommen (Fig. 1b).
Unter einer Pufferschicht versteht man eine Schicht mit höherer
Bandlücke als die nachfolgende i-Schicht, wobei die Pufferschicht
im Gegensatz zu der p-Schicht jedoch nominell undotiert ist. Die
höhere Bandlücke kann dabei, - wie bei der p-Schicht -, durch
legieren des a-Si : H mit beispielsweise N, C oder O, aber auch
durch Materialveränderung des amorphen Siliziums ohne Legierung
erreicht werden. Durch die erhöhte Bandlücke wird die
Rekombination im p-i-Grenzflächenbereich verringert und dadurch
die offene Klemmenspannung erhöht.
Auch Pufferschichten mit gradierter Bandlücke wurden beschrieben.
"Nominell undotiert" heißt, daß nicht aktiv dotiert wird, wenn
auch aufgrund von Dotierstoff-verschleppungen, z. B. von der p-
Deposition her, eine nach der p-Schicht in derselben
Reaktionskammer präparierte Pufferschicht geringfügig dotiert sein
kann. Auch eine beabsichtigte geringe Dotierung der Pufferschicht
ist bekannt. Literatur: R. R. Arya et al. beschreiben eine a-SiC-
Pufferschicht, bei der der Kohlenstoffgehalt von der p-dotierten
a-SiC Schicht zur undotierten a-Si i-Schicht hin abfallend
gradiert wird [1]. K. S. Lim et al. beschreiben dieselbe
Pufferstruktur, aber mit schwacher p-Typ Dotierung [2].
Die bisher besten Ergebnisse wurden mit Pufferschichten "hoher
Qualität" erreicht, bei denen das für den Puffer verwendete
Material nominell undotiert ist und eine Photoleitfähigkeit mit
Werten oberhalb von 1 . 10-6 (Ohm . cm) - 1 besitzt.
Aus T. Yoshida et al. ist ein Puffer aus a-SiC bekannt, wobei das
a-SiC Material eine hohe Photoleitfähigkeit aufweist. Es wurde
unter Verwendung einer hohen Wasserstoffverdünnung bei der Plasma-
Deposition präpariert [3]. Darüberhinaus ist aus S. Fujikake et
al. ein nominell undotierter a-SiO Puffer bekannt, wobei das a-SiO
Material hoch photoleitend ist und unter Verwendung von SiH4, CO2
und H2 präpariert wurde [4]. Ferner kommt neben diesen speziellen
Legierungen auch a-Si Material mit erhöhter Bandlücke als Puffer
"hoher Qualität" in Betracht.
Solche Pufferschichten, insbesondere solche mit "hoher Qualität",
werden mit Erfolg zur Wirkungsgraderhöhung von a-Si Solarzellen
eingesetzt. Es hat sich aber herausgestellt, daß durch die
Verwendung dieser Puffer eine verstärkte Alterung (Abnahme des
Wirkungsgrades unter langandauernder Lichteinstrahlung) induziert
werden kann.
Es ist in diesem Zusammenhang einerseits aus Y.-M . Li et al.
bekannt, daß bei Verwendung von undotierten Pufferschichten aus a-
SiC mit hoher Qualität keine zusätzliche Alterung gefunden wurde
[5].
Andererseits wurde beispielsweise von P. Lechner et al., aber auch
von C. Beneking et. al. eine deutliche Verstärkung der
Lichtalterung bei Zellen mit Pufferschichten hoher Qualität
gefunden [6, 7].
Der diesbezüglich beschriebene Stand der Technik ist in Fig. 2 zur
Verdeutlichung zusammengefaßt:
Setzt man den Anfangswirkungsgrad einer p-i-n-Solarzelle aus a-
Si : H gleich eins, so wird ein Anfangswirkungsgrad größer eins
(z. B. 1,1) durch die Einfügung der Pufferschicht erreicht.
Im Verlaufe der Lichtalterung kann dieser Vorteil erhalten bleiben
("gutes Ergebnis", obere Kurve), aber der Puffer kann auch eine so
starke zusätzliche Degradation bewirken, daß der Anfangsvorteil
mehr als verlorengeht.
Zusammengefaßt zeigte sich als Nachteil, daß das oben beschriebene
"gute Ergebnis" (Fig. 2) reproduzierbar mit der Struktur p-
Puffer(hohe Qualität)-i-n nicht erreicht werden kann.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Solarzelle zu schaffen,
bei der eine Erhöhung des Anfangswirkungsgrades bei gleichzeitiger
geringerer relativer Degradation erzielt wird und eine deutliche
Erhöhung des (langzeit-)stabilisierten Wirkungsgrades erreicht
wird. Es ist zudem Aufgabe der Erfindung ein Herstellungsverfahren
für solche Solarzellen zu schaffen.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Solarzelle gemäß der
Gesamtheit der Merkmale nach Anspruch 1.
Zur Lösung weist die Solarzelle der eingangs genannten Art
zwischen p- und Pufferschicht (- hoher Qualität -) eine zusätzliche,
relativ dünne, niedrig p-dotierte Schicht als Kompensationsschicht
auf (Fig. 3a). In Stapelzellen kann diese Maßnahme auch mehrfach
angewendet werden (Fig. 3b).
Die Dotierung soll klein gegenüber der Dotierung der p-Schicht
sein, damit diese Schicht nicht als Verlängerung der p-Schicht
wirkt.
Im Falle einer Stapelzelle kann die Kompensationsschicht auch
mehrfach vorgesehen sein (Fig. 3b).
Es wurde erkannt, daß bei p-i-n- und p-Puffer-i-n-Solarzellen
durch Lichteinstrahlung Ladungsträger in der i-Schicht der
Solarzelle generiert und durch das eingebaute elektrische Feld zur
p-, bzw n-Schicht transportiert werden. Die Effizienz der
Ladungsträgertrennung hängt dabei von der Stärke des eingebauten
elektrischen Feldes und der Defektdichte der i-Schicht ab.
Es wurde erkannt, daß Defektzustände im an die p-Schicht
grenzenden Teil der i- bzw. Pufferschicht oberhalb des
Ferminiveaus liegen und von Elektronen entleert werden. Besonders
im Falle der p-Puffer-i-n-Zellen sind viele Defektzustände
vorhanden. Es bildet sich eine positive Raumladungszone, die
zusammen mit der negativen Raumladung der Akzeptoren in der p-
Schicht eine elektrische Doppelschicht bildet, durch welche das
elektrische Feld in der i-Schicht abgebaut wird. Nach Degradation
reicht das Feld besonders bei Zellen mit Puffer nicht mehr für
eine gute Ladungstrennung aus, weshalb der Wirkungsgrad bei Zellen
mit Puffer zeitlich stark abnimmt.
Es wurde erkannt, daß durch Einfügung einer niedrig p-dotierten
Schicht zu Beginn des Puffers die positive Raumladung der
Defektzustände kompensiert wird (daher "Kompensationsschicht").
Dies verringert die Ausbildung der unerwünschten elektrischen
Doppelschicht und so auch den Feldabbau in der i-Schicht. Damit
bleibt auch nach Alterung von Zellen mit Puffer noch genügend Feld
in der i-Schicht, um die lichterzeugten Ladungsträger zu trennen.
Die lichtinduzierte Wirkungsgradabnahme ist dadurch geringer.
Im folgenden ist die Erfindung an Hand von Ausführungsbeispielen
im einzelnen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1a Schematische Darstellung einer Solarzellenschichtstruktur
mit p-i-n-Struktur ohne Pufferschicht (i),
bzw. mit p-Puffer-i-n-Struktur mit Pufferschicht im p-i
-Übergangsbereich (ii) zur Wirkungsgraderhöhung;
Fig. 1b Schematische Darstellung einer Schichtstruktur einer
Stapelzelle mit p-i-n-p-i-n-Struktur ohne Pufferschicht
(i), bzw. mit p-Puffer 1-i-n-p-Puffer 2-i-n-Struktur mit
zusätzliche Pufferschichten (ii);
Fig. 2 Relativer Wirkungsgrad von a-Si : H-Solarzellen, normiert
auf den Anfangswirkungsgrad einer p-i-n-Zelle ohne
Pufferschicht als Funktion der Einstrahlungsdauer in
Stunden für eine p-i-n-Struktur ohne Pufferschicht (a),
für eine p-Puffer-i-n-Struktur ohne Induzierung
zusätzlicher Degradation durch die Pufferschicht("gutes
Ergebnis") (b) und für eine p-Puffer-i-n-Struktur mit
zusätzlicher Degradation durch die Pufferschicht
("schlechtes Ergebnis") (c);
Fig. 3 Schematische Darstellung einer Einfach- (a) und
Stapelsolarzelle (b) aus amorphen Silizium mit "p_"-
Kompensationsschicht zwischen p- und i-Schicht;
Fig. 4 Lichtalterung von Stapel-Solarzellen mit und ohne
Kompensationsschicht zwischen p- und Pufferschicht;
Es wurden folgende Solarzellen präpariert:
- a) p-i-n
- b) p-puffer-i-n
- c) p-Kompensationsschicht-Puffer-i-n
Die p-, i-, und n-Schichten wurden bei diesen drei Solarzellen
unter vergleichbaren Depositionsbedingungen abgeschieden. Die
Schichtdicken dieser Schichten wurden bei den drei Solarzellen
identisch gewählt (p: 10 nm, i: 500 nm, n: 25 nm). Die
Depositionsparameter und Schichtdicken der p-, Kompensations- und
Pufferschicht sind in Tabelle 1 angegeben.
In Tabelle 2 sind für jede Solarzelle zum Vergleich im
ungealterten (vor der Alterung) und im gealtertem (nach 300 h
Beleuchtung unter einem AM1.5-Spektrum, bei 50°C und offenen
Klemmen) Zustand
- - die gemessene Leerlaufspannung Voc in milli-Volt,
- - die Kurzschlußstromdichte jsc in milli-Ampere pro cm2,
- - der Füllfaktor FF in %, sowie
- - der Wirkungsgrad y in %
angegeben.
Die oben beschriebene Kompensationsschicht wurde ebenfalls bis
eingesetzt um den Wirkunggrad von Stapelzellen zu verbessern.
Der Schichtaufbau dieser Solarzelle ist p-Kompensationsschicht-
Puffer-i (60 nm)-n-p-Kompensationschicht-Puffer-i (330
nm)-n.
Die Vergleichssolarzelle ist ebenfalls in Stapelzellenstruktur
abgeschieden worden (p-puffer-i-n-p-puffer-i-n). Den Wirkungsgrad
beider Zellen als Funktion der Einstrahlungsdauer zeigt Fig. 4.
- 1. Die Wirkungsgraderhöhung im ungealterten Zustand durch die Einfügung einer Pufferschicht (Tabelle 2) von y = 8,0 auf y = 9,0.
- 2. Die verstärkte Degradation von p-Puffer-i-n Zellen ohne Kompensationschicht (Tabelle 2) von y = 9,1 auf y = 6,2.
- 3. Die deutliche Verbesserung der Stabilität bei gleichzeitig hohem Anfangswirkungsgrad durch Einfügung der Kompensations schicht, sowohl bei Einfach- wie auch bei Stapelzellen (Tabelle 2 und Fig. 4) von y = 9,0 zu y = 7,1 im Vergleich zu y = 9,1 zu y = 6,2, bzw. bei Stapelzellen von y = 10,3 zu y = 9,0 im Vergleich zu y = 9, 9 zu y = 7,5.
Literatur:
[1] R. R. Arya, A. Catalano, and R. S. Oswald, Appl. Phys. Lett. 49 (1986) 1089
[2] K. S. Lim et al., J. Appl. Phys. 56 (1984) 538
[3] T. Yoshida, K. Maruyama, O. Nabeta, Y. Ichikawa, H. Sakai, and Y. Uchida, proc. 19th
[1] R. R. Arya, A. Catalano, and R. S. Oswald, Appl. Phys. Lett. 49 (1986) 1089
[2] K. S. Lim et al., J. Appl. Phys. 56 (1984) 538
[3] T. Yoshida, K. Maruyama, O. Nabeta, Y. Ichikawa, H. Sakai, and Y. Uchida, proc. 19th
IEEE-PVSC, New Orleans, Louisana, 1987, p.
1095
[4] S. Fujikake et al., MRS Proc. Vol. 258 (1992) p. 875
[5] Y.-M. Li et al., Proc. MRS Spring Meeting, San Francisco, 1994, im Druck
[6] P. Lechner et al., MRS Proc. Vol. 149 (1989) p. 583
[7] C. Beneking et al., Proc. 12th
[4] S. Fujikake et al., MRS Proc. Vol. 258 (1992) p. 875
[5] Y.-M. Li et al., Proc. MRS Spring Meeting, San Francisco, 1994, im Druck
[6] P. Lechner et al., MRS Proc. Vol. 149 (1989) p. 583
[7] C. Beneking et al., Proc. 12th
EC-PVSEC,
Amsterdam, 1994, im Druck
Tabelle 1: Prozeßparameter für p-, Kompensations- und Pufferschicht
Tabelle 2: Kenngrößen der Testsolarzellen vor und nach der Alterung (300 h, 1 Sonne, 50°C,
offene Klemmen).
Claims (2)
1. Dünnschicht-Solarzelle auf der Basis des amorphen, hydrierten Siliziums
und/oder seiner Legierungen mit einer
- a) eine undotierte Schicht (i)
- b) eine dieser zur Lichteintrittsseite benachbarte und mit ihr verbundene Pufferschicht,
- c) eine dieser zur Lichteintrittsseite benachbarte und mit ihr verbundene, erste p-dotierte Schicht (p) und
- d) eine auf der anderen Seite der undotierten Schicht mit dieser verbundene, n-dotierte Schicht (n) aufweisenden Schichtenfolge (p-Puffer-i-n),
- a) die Pufferschicht nominell undotiert ist und eine im Vergleich zur undotierten Schicht (i) höhere Bandlücke aufweist, und
- b) zwischen der ersten p-dotierten Schicht und der Pufferschicht zur Kompensation der positiven Raumladung der im angrenzenden Bereich der Pufferschicht vorhandenen Defektzustände eine zusätzliche Schicht (p_) vorgesehen ist, die relativ zur ersten p-dotierten Schicht schwach p-dotiert und relativ dünn ausgebildet ist.
2. Dünnschichtsolarzelle nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
mehrere Schichtenfolgen (p-Puffer-i-n) mit einander
verbunden und eine oder mehrere Kompensationsschichten (p_)
vorgesehen sind.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944419273 DE4419273C2 (de) | 1994-06-01 | 1994-06-01 | Dünnschicht-Solarzelle |
PCT/DE1995/000725 WO1995033284A1 (de) | 1994-06-01 | 1995-05-27 | Dünnschicht-solarzelle und verfahren zu ihrer herstellung |
EP95920751A EP0763260A1 (de) | 1994-06-01 | 1995-05-27 | Dünnschicht-solarzelle und verfahren zu ihrer herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944419273 DE4419273C2 (de) | 1994-06-01 | 1994-06-01 | Dünnschicht-Solarzelle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4419273A1 DE4419273A1 (de) | 1996-02-01 |
DE4419273C2 true DE4419273C2 (de) | 1998-11-26 |
Family
ID=6519604
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944419273 Expired - Lifetime DE4419273C2 (de) | 1994-06-01 | 1994-06-01 | Dünnschicht-Solarzelle |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0763260A1 (de) |
DE (1) | DE4419273C2 (de) |
WO (1) | WO1995033284A1 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8293710B2 (en) | 2005-01-03 | 2012-10-23 | Blue Blood Biotech Corp. | Method for treating wounds using an EGF-like domain of thrombomodulin |
DE102008049374A1 (de) | 2008-09-27 | 2010-04-01 | JODLAUK, Jörg | Halbleiterfaserstrukturen als Energieerzeuger |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63244888A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-12 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 半導体装置 |
JPS63244889A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-12 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 半導体装置 |
JPH02106076A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-18 | Fuji Electric Co Ltd | 薄膜太陽電池 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6249672A (ja) * | 1985-08-29 | 1987-03-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | アモルフアス光起電力素子 |
-
1994
- 1994-06-01 DE DE19944419273 patent/DE4419273C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-05-27 WO PCT/DE1995/000725 patent/WO1995033284A1/de active Application Filing
- 1995-05-27 EP EP95920751A patent/EP0763260A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63244888A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-12 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 半導体装置 |
JPS63244889A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-12 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 半導体装置 |
JPH02106076A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-18 | Fuji Electric Co Ltd | 薄膜太陽電池 |
Non-Patent Citations (7)
Title |
---|
US-B.: C. Beneking et al.: "Preparation and Light Stability of a-Si/a-Si Stacked Solar Cells", in: Proc. 12th EC-PVSEC, Amsterdam, 1994, 4 Seiten * |
US-B.: Mat. Res. Soc. Symp., Bd. 258, 1992, S. 875-880 * |
US-B.: MRS Proc., Bd. 149, 1989, S.583-588 * |
US-B.: Y.M. Li et al.: "A Study of a-SiH/a-SiGe:H Tandem Solar Cells and Modules", in: Proc. MRS Spring Meeting, San Francisco, 1994, 6 Seiten * |
US-B.:Proc. 19th IEEE-PVSC, New Orleans, Louisiana1987, S. 1095-1100 * |
US-Z.:Appl. Phys. Lett., Bd.49, 1986, S.1089-1091 * |
US-Z.:J. Appl. Phys., Bd.56, 1984, S. 538-542 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1995033284A1 (de) | 1995-12-07 |
DE4419273A1 (de) | 1996-02-01 |
EP0763260A1 (de) | 1997-03-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4025311C2 (de) | ||
EP0219763B1 (de) | Solarzelle | |
DE69926960T2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer photovoltaischen Vorrichtung | |
DE3244626C2 (de) | ||
EP0025872B1 (de) | Halbleiterbauelement für die Umsetzung solarer Strahlung in elektrische Energie | |
DE69330835T3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Tandemphotovoltaikvorrichtung mit verbessertem Wirkungsgrad und dadurch hergestellte Vorrichtung | |
DE102010017461B4 (de) | Solarzelle, Solarzellenherstellungsverfahren und Prüfverfahren | |
DE4408791B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Siliciumoxidhalbleiterfilms | |
DE10237515A1 (de) | Stapelförmiger photoelektrischer Wandler | |
DE3111828A1 (de) | Vorrichtung zur umsetzung elektromagnetischer strahlung in elektrische energie | |
DE3438477A1 (de) | Solarzelle und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE19727253A1 (de) | Photovoltaische Bauteile und Verfahren zum Herstellen derselben durch eine Oberflächenvorbereitung für beschleunigte Keimbildung mikrokristallinen Siliziums auf heterogenen Substraten | |
DE3709153A1 (de) | Mehrlagige duennfilmsolarzelle | |
DE102010006314A1 (de) | Photovoltaische Mehrfach-Dünnschichtsolarzelle | |
DE3135411C2 (de) | Fotoempfindliche Anordnung mit übereinanderliegenden pin-Schichten eines amorphen Siliciumlegierungsmaterials | |
WO1993015527A1 (de) | Integriert verschaltetes stapelzellensolarmodul | |
DE3732619C2 (de) | ||
DE3048381A1 (de) | "halbleiterbauelement" | |
DE3305030C2 (de) | ||
DE3408317C2 (de) | Solarzelle aus amorphem Silicium | |
DE4410220B4 (de) | Dünnschicht-Solarzelle | |
WO1991012632A1 (de) | Lichtalterungsstabiles halbleitermaterial auf der basis von amorphem germanium und verfahren zu seiner herstellung | |
DE3732617C2 (de) | Photoelement | |
DE102016116192B3 (de) | Photovoltaikmodul mit integriert serienverschalteten Stapel-Solarzellen und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE4419273C2 (de) | Dünnschicht-Solarzelle |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right | ||
R071 | Expiry of right |