JPH03131072A - 光起電力素子 - Google Patents

光起電力素子

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JPH03131072A
JPH03131072A JP1268258A JP26825889A JPH03131072A JP H03131072 A JPH03131072 A JP H03131072A JP 1268258 A JP1268258 A JP 1268258A JP 26825889 A JP26825889 A JP 26825889A JP H03131072 A JPH03131072 A JP H03131072A
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恵志 斉藤
Tatsuyuki Aoike
達行 青池
Yasushi Fujioka
靖 藤岡
Masafumi Sano
政史 佐野
Mitsuyuki Niwa
光行 丹羽
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は太陽電池等の光起電力素子に関するものである
特にアモルファスシリコン(以下ra−3i:H」と略
記する)を用いた太陽電池等の光起電力素子に関するも
のである。
〔従来技術の説明〕
a−3t:Hを太陽電池等の光起電力素子に応用する研
究は、W、E、5pearとP、G、Le Combe
rによるドーピングの成功(Solid S tate
 Communication、  Vol、17. 
pp、(1)93−(1)96゜1975)を基礎にし
て、D、E、Carlsonによる太陽電池の発明(U
 S P 4,064,51)、(2))により始まっ
た。・ 近年a−3i:Hを用いた太陽電池は、時計、小型計算
機、外燈等に使用されている。しかしながら、電力用に
a−31:H太陽電池を用いるには、変換効率、劣化等
に問題がある。
近年、a−3i:H太陽電池の変換効率を向上するため
に種々の試みが行われている。
たとえば、光入射側の窓層として禁制帯幅の広いp型非
晶質炭化シリコン層を用いるもの(Y。
Tawada et、 al、  Japan、 J 
、Appl、 Phys、 20(1981) Sup
plement 20−2. 1)、(2)9)、また
は、光入射側の窓層として光吸収の少ないn型微結晶シ
リコンを用いるもの(Y、UchidaUS−Japa
n Joint Sem1nar、 Technolo
gicalApplications of Tetr
ahedral AmorphousSolids、 
Pa1o Alto 、 Ca1ifornia(19
82))、あるいは、窓層にp型の微結晶炭化シリコン
を用いるもの(Y、Hattori et、 al  
TechnicalDigest of the In
ternational PUSEC−3゜Tokyo
、  Japan+  1987  A−■a−3)等
がある。
またi層内でのキャリアの移動路H(carrierr
ange)を増加させるためにi層内にリン原子(P)
やホウ素原子(B)を10p四以下の微量添加すること
も試みられている。(W、 Kusian et、 a
lThe conference record of
 the n1neteenthI E E E  p
hotovoltaic 5pecialists c
onferencel  987、  P599.  
M、Kondo et、al、  theconfer
ence  rscord  of  the  n1
neteenth  I E E EphotovoH
aic 5pecialists conferenc
e−1987+P604) しかしながら、前記微結晶シリコン、微結晶炭化シリコ
ン(本発明において、微結晶は非晶質の範囲に入るもの
とする。)、非晶質炭化シリコン等を窓層に用いた太陽
電池では、窓層とi層との構造の違い、禁制帯幅の違い
、ドーピング量の違い等によってi層と窓層との界面に
界面準位、ノツチ、スパイク等の伝導帯、価電子帯の不
連続等が生じ、i層と窓層との界面近傍でのキャリアの
発生や、輸送に多大な影響を与えるという問題があった
これらの問題の一部、すなわち、キャリアの輸送でキャ
リアの寿命に関する部分は、前記のi層へのリン原子(
P)やホウ素原子(B)を微量添加することにより改善
された。しかしながら残された問題、すなわち、ノツチ
、スパイク等の伝導帯、価電子帯の不連続性に関する部
分については充分に改善されるには到っていないのが現
状である。
一部において、i層から窓層へ連続的に組成を変化させ
て前記不連続性を取り除く試みが行われているが(特開
昭55−(1)329号公報)、充分な改善を得るには
到っていない、その理由は、i層に最適な堆積条件と、
窓層に最適な堆積条件との間に大きな差があるためであ
ると考えられる。
〔発明の目的〕
本発明は、前記問題点を解決することを目的としている
すなわち、本発明の目的は、窓層であるp層またはn層
とi層との界面近傍に生じる伝導帯(conducti
on band)や価電子帯(valence ban
d)の不連続性を緩和し、前記界面近傍での光励起キャ
リアの走行性を向上させようとすることにある。
また、本発明の他の目的は、短波長での光励起キャリア
を有効に利用しようとすることにある。
更に、本発明のもう1つの目的は、開放電圧を大きくし
ようとすることにある。
また更に、本発明のもう1つの目的は、短絡電流を大き
くしようとすることにある。
加えて、本発明のもう1つの目的は、変換効率を大きく
しようとすることにある。
〔発明の構成・効果〕
本発明は、従来技術における問題点を解決し、上記目的
を達成すべく、本発明者らが鋭意研究を重ねた結果完成
に到ったものである。
本発明の光起電力素子は、導電性基板上に、n型、i型
およびp型でSi原子を含有する非単結晶層を積層して
成る光起電力素子において、前記i型層と、p型層また
はn型層との間に周期表第VA族元素と、周期表第II
IA族元素とを含有し、かつSl原子とC原子とを含有
する非単結晶材から成る中間層を有することを特徴とし
ている。
上記構成の、本発明の光起電力素子の具体的内容を以下
に説明する。
第1図は、本発明の光起電力素子の典型的1例を示す模
式的説明図である。
第1図に示す本発明の光起電力素子は、導電性基板10
1、n型層(またはp型層り102、i型層103、中
間層104、p型層(またはn型層)105、透明電極
106から構成されている。
第2図は、従来の光起電力素子の1例を示す模式的説明
図である。
第2図に示す従来の光起電力素子は、導電性基板201
、n型層(またはp型層)202、i型層2O3、p型
層(またはn型層)205、透明電極206から構成さ
れている。
本発明の光起電力素子は、従来の光起電力素子と比較し
て、中間層104を有していることが大きく違う点であ
る。i型層と、p型層またはn型層とを積層すると、界
面準位や伝導帯または/及び価電子帯のバンドの不連続
性が生じる。これらの界面準位や不連続性は、界面近傍
で光励起されたキャリアの移動を妨害する。
本発明者らは、このi型層とp型層またはn型層との界
面近傍の特性向上がl型層内でのキャリアの走行性の向
上よりも光起電力素子の特性向上に重要であることを見
い出した。
以下、本発明の光起電力素子を構成する各層について詳
しく説明する。
生圃1 本発明の光起電力素子における中間層は前記問題点を解
決するものである。
まず、前記界面近傍の界面準位については、該界面準位
は、i型層とp型層またはn型層の伝導帯や価電子帯の
不連続性の原因となるのみならず、前記界面近傍で光励
起されたキャリアの寿命を短くするという弊害がある。
このキャリアの寿命を短くするという問題に対しては、
本発明の光起電力素子の中間層は、周期表第VA族元素
及び周期表第1IIA族元素を含存し、これらの元素は
、伝導帯または価電子帯の近くにエネルギーレベルを作
るために光励起キャリアの寿命を長くする働きがある。
いわゆる増悪作用がある。
また前記i型層とp型層またはn型層の伝導帯や価電子
帯に生じるノツチ、スパイク等の不連続性については、
本発明では、周期表第VA族元業及び周期表第(1)1
A族元素を含有する中間層があるため、実質的にノツチ
、スパイク等によるキャリアの走行性の低下を防止する
ことができる。すなわち、中間層中の第VA族元素及び
第1IIA族元素がノツチ、スパイク等の中にエネルギ
ー準位を作り、該エネルギー準位を介してキャリアが移
動できるようになるために、光励起キャリアの前記界面
近傍での走行性が改善されるものと考えられる。
このように本発明の光起電力素子は、i型層とp型層ま
たはn型層との界面近傍の性質を著しく改善したもので
ある。
また更に上記効果を有効なものとするために中間層の電
気的な性質が限定される。すなわち、中間層での光励起
キャリアの輸送が容易になるように、中間層に電界が印
加される必要がある。そのために中間層は実質的にi型
である必要がある。
このような効果を有する中間層は、ある特殊な材料であ
り、鋭意研究した結果法のような条件が必要であること
を見い出した。
該中間層に通した材料としては、Si原子とC原子を含
有する非単結晶材料、たとえばアモルファス炭化シリコ
ン(微結晶炭化シリコン)が挙げられる。
中間層中に含有されるC原子量は、中間層とp型層また
はn型層の界面の状態に多大な影響を与える。
鋭意検討した結果、好ましいC含有量は3at%〜30
at%であり、最適には5at%〜20at%である。
このような炭素含有量の中間層を積層すると、開放電圧
がより一層増加する効果がある。
中間層の層厚は、前記界面近傍の特性改善を効果的に行
うために500Å以下が好ましい。最適には100Å以
上400Å以下である。
中間層の層厚が100人より小さいと、界面近傍の特性
改善の効果が表れない。また中間層の層厚が500人よ
り大きいと、i型層の特性を低下させる。
また中間層に含有される周期表第VA族元素及び周期表
第IIIA族元素の添加量は、キャリアの寿命を長くす
るということと、前記ノツチ、スパイク内の準位を形成
し伝導するという2つの効果を合わせもつように選択し
なければならない。
また多量に添加し過ぎてi層との整合性を阻害してはな
らない。
これらのことを総合的に考え研究を重ねた結果、最適な
添加量は、周期表第VA族元素と周期表第HA族元素の
各々について、(1)000pp以上、1%以下であつ
た。(1)000ppという量は、平均の添加元素間距
離が、電子のトンネル効果で移動できる距離と対応して
いるものと考えられる。
また更に、中間層に含有される水素量は、i型層と中間
層とをなめらかに接続する上で非常に重要である。中間
層における最適な水素含有量は、i型層中の水素含有量
に対して1.05倍以上1.5倍以下である。
土(1) 本発明において、i型層は、照射光に対してキャリアを
発生、輸送する重要な層である。i型層に適したシリコ
ン原子を含有する非単結晶材料としてはアモルファスシ
リコン(微結晶シリコン)が挙げられる。アモルファス
シリコンの中でも特に水素化アモルファスシリコン、水
素化/及びハロゲン化アモルファスシリコンが適してい
る。
またアモルファスシリコン中に含有される水素またはハ
ロゲンの含有量は、局在準位を減少させ電気的特性を高
品質に保つために非常に重要である。水素原子とシリコ
ン原子の結合状態は、シリコン原子に水素原子が1ヶ結
合した状態が好ましいものである。ハロゲン原子とシリ
コン原子の結合状態についても同様である。
また水素原子とハロゲン原子の含有量は、好ましくはl
at%〜40at%であり、最適には5at%〜20a
t%である。
また更にi型層の層厚は、本発明の光起電力素子の特性
を左右する重要なパラメーターである。
i型層の好ましい層厚は0.1μm〜1μmであり、最
適な層厚は0.2μm〜0.6μmである。
この層厚は、i型層の吸光係数や光源のスペクトルを考
慮し、上記範囲内で設計することが望ましいものである
また更に本発明において、i型層は、開放電圧を増加さ
せるためには、非単結晶材料としては、アモルファス炭
化シリコン(微結晶炭化シリコンを含む)が挙げられる
。特に水素化及びハロゲン化したアモルファス炭化シリ
コンが適している。
炭素原子の含有量は、好ましくは3at%〜30at%
であり、最適には5at%〜15at%である。
また水素原子とハロゲン原子の含有量は、好ましくはf
at%〜40at%であり、最適には5at%〜20a
t%である。
また更に、i型層の層厚は、本発明の光起電力素子の特
性を左右する重要なパラメーターである。
i型層の好ましい層厚は0.1μm〜1μmであり、最
適な層厚は0.2μm〜0.6μmである。
この層厚は、i型層の吸光係数や光源のスペクトルを考
慮し上記範囲内で設計することが望ましいものである。
1皿1 本発明において、p型層は、光起電力素子の起電力や光
電流を支配する重要な層である。
p型層の材料としては、シリコン含をの非単結晶半導体
が適し、特に水素化/及びハロゲン化アモルファスシリ
コン(微結晶シリコンを含む)が適するものである。ま
た更に限定すれば、アモルファスシリコンの中の微結晶
シリコンが最適である。微結晶シリコンの粒径は、好ま
しくは30人〜200人であり、最適には30人〜10
0人である。
また水素/及びハロゲン原子の含有量は、微結晶シリコ
ンの場合には好ましくはfat%〜10at%であり、
最適にはfat%〜7at%である。
水素/及びハロゲン原子の含有量は、アモルファスシリ
コンの場合には、好ましくはlat%〜40at%、最
適には5at%〜20at%である。
また更に、p型層に含有される添加物としては、周期表
第(1)1A族元素が適している。その中で特にホウ素
(B)、アルミニウム(/l)、ガリウム(Ga)が最
適である。
加えて、p型層に含有される添加物の含有量は、好まし
くはIat%〜20at%であり、最適には5at%〜
10at%である。
p型層の電気的特性としては、前記各条件内で活性化エ
ネルギーが0.2 e V以下のものが好ましく、O,
leV以下のものが最適である。また比抵抗としては、
10ΩC−以下が好ましく、1Ωc(1)が最適である
p型層の層厚は、好ましくは10人〜500人、最適に
は30人〜100人である。
更に1.p型層側から光照射を行う場合で、p型層での
光吸収をより少なくするためには、アモルファス炭化シ
リコン(微結晶炭化シリコンも含有する)を用いるのが
最適である。
アモルファス炭化シリコン中の炭素含有量は、好ましく
は5at%〜50at%、最適には10at%〜30a
t%である。他の条件は、前記アモルファスシリコンを
用いたp型層と同等にすることが望ましいものである。
ユ盟1 本発明において、n型層は光起電力素子の起電力や光電
流を支配する重要な層である。
n型層の材料としては、シリコン含有の非単結晶半導体
が適し、特に水素化/及びハロゲン化アモルファスシリ
コン(微結晶シリコンを含む)が適するものである。ま
た更に限定すれば、アモルファスシリコンの中の微結晶
シリコンが最適である。
またn型層から光照射を行う場合で、n型層での光吸収
をより少なくするためには、アモルファス炭化シリコン
(微結晶炭化シリコンも含有する)を用いるのが最適で
ある。
微結晶シリコン及び微結晶炭化シリコンの粒径は、好ま
しくは30λ〜2QO人であり、最適には30人〜10
0人である。
また水素及びハロゲン原子の含有量は、微結晶シリコン
または微結晶炭化シリコンの場合には、好ましくはfa
t%〜1Qat%であり、最適にはlat%〜7at%
である。
アモルファスシリコン及びアモルファス炭化シリコンの
場合に水素及びハロゲン原子の含有量は、好ましくはl
at%〜40at%、最適には5at%〜20at%で
ある。
また更に、n型層に含有される添加物としては、周期表
第VA族元素が適している。その中で特にリン(P)、
窒素(N)、ひ素(As)、アンチモン(Sb)が最適
である。
加えて、p型層に含有される添加物の含有量は、好まし
くはfat%〜20at%であり、最適には5at%〜
10at%である。
n型層の電気的特性としては、前記各条件内で活性化エ
ネルギーが0.2 e V以下のものが好ましく、0.
1 e V以下のものが最適である。また比抵抗として
は10Ωchi以下が好ましく、1Ωc(1)以下が最
適である。
(1)且益仮 i電性基板は、導電性材料であってもよく、絶縁性材料
または導電性材料で支持体を形成し、その上に導電性処
理をしたものであっても良い、導電性支持体としては、
たとえば、NiCr、ステンレス、kl、Cr、Mo、
Au、Nb、Ta。
v、’ri、pt、pb等の金属またはこれらの合金が
挙げられる。
電気絶縁性支持体としては、ポリエステル、ポリエチレ
ン、ポリカーボネート、セルロースアセテート、ポリプ
ロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ
スチレン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルム、または
シート、ガラス、セラミックス、紙などが挙げられる。
これらの電気絶縁性支持体は、好適には少なくともその
一方の表面を導電処理し、該it処理された表面側に光
起電力層を設けるのが望ましい。
たとえばガラスであれば、その表面に、NiCrAl、
Cr、Mo、Au、I r、Nb、Ta、V。
Ti、P t、Pd、I nos 、ITO(IntO
i+Sn)等から成る薄膜を設けることによって導電性
を付与し、あるいはポリエステルフィルム等の合成樹脂
フィルムであれば、NiCr、AIA g +  P 
b +  Z n +  N i r  A u 、C
r 1M o 。
I r、 Nb、 ’ra、  V、 T(1).  
P を等の金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、ス
パッタリング等でその表面に設け、または前記金属でそ
の表面をラミネート処理して、その表面に導電性を付与
する。支持体の形状は平滑表面あるいは凹凸表面の板状
無端ベルト状または円筒状等であることができ、その厚
さは所望通りの光起電力素子を形成し得るように適宜決
定するが、光起電力素子としての可撓性が要求される場
合には、支持体としての機能が充分発揮される範囲内で
可能な限り薄くすることができる。しかしながら、支持
体の製造上および取り扱い上、機械的強度等の点から、
通常は10μm以上とされる。
盗更l盪 本発明において用いられる透明電極としては太陽や白色
蛍光灯等からの光を半導体層内に効率良く吸収させるた
めに光の透過率が85%以上であることが望ましく、さ
らに、電気的には光起電力素子の出力に対して抵抗成分
とならぬようにシート抵抗値は100Ω以下であること
が望ましい、このような特性を備えた材料としてSnu
g。
TntOs 、ZnO+−CdO,CdzSnOsrT
o(Inz03 +5nOt )などの金属酸化物や、
Au、AI、Cu等の金属を極めて薄く半透明状に成膜
した金属薄膜等が挙げられる。
これらの作成方法としては、抵抗加熱蒸着法、電子ビー
ム加熱蒸着法、スパッタリング法、スプレー法等を用い
ることができ所望に応じて適宜選択される。
本発明において、p型層、n型層、i型層、中間層は、
DCグロー放電分解法、RFFa−放電分解法、マイク
ロ波グロー放電分解法等で形成するのが適している。
前記グロー放電分解法に適した原料ガスとして次のもの
が挙げられる。
本発明において使用されるSi供給用の原料ガスとして
は、S iH4、Si2H6,5itHs 。
5itH+。等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅
素(シラン[)が有効に使用されるものとして挙げられ
、殊に、層作成作業の扱い易さ、Si供給効率の良さ等
の点でS i Ha 、5izH6が好ましいものとし
て挙げられる。
本発明において使用されるハロゲン原子導入用の原料ガ
スとして有効なのは、多くのハロゲン化合物が挙げられ
、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲン間化合
物、ハロゲンで置換されたシラン誘導体等のガス状態の
又はガス化し得るハロゲン化合物が好ましく挙げられる
又、更には、シリコン原子とハロゲン原子とを構成要素
とするガス状態の又はガス化し得る、ハロゲン原子を含
む硅素化合物も有効なものとして本発明においては挙げ
ることができる。
本発明において好適に使用し得るハロゲン化合物として
は、具体的にはフッ素、塩素、臭素、ヨウ素のハロゲン
ガス、B r F 、  CI F 、  CI F 
3 。
BrF5 、BrF5 、IFz 、IFt 、TCl
rBr等のハロゲン間化合物を挙げることができる。
ハロゲン原子を含む硅素化合物、いわゆる、ハロゲン原
子で置換されたシラン誘導体としては、具体的には例え
ばS i Fa 、  5izFa 、  S i C
l1a3iBra等のハロゲン化硅素が好ましいものと
して挙げることができる。
このようなハロゲン原子を含む硅素化合物を採用してグ
ロー放電法によって本発明の特徴的な堆積室中に導入し
て該ガスのプラズマ雰囲気を形成してやれば良い。
本発明においては、ハロゲン原子導入用の原料ガスとし
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅素
化合物が有効なものとして使用されるものであるが、そ
の他に、HF、HCl。
HBr、Hl等のハロゲン化水素、5jHzFzS I
HlII 、S 1H1cIlt 、S 1HC13。
S i H,Brt、  S i HBr5等のハロゲ
ン置換水素化硅素、等々のガス状態の或いはガス化し得
る、水素原子を構成要素の1つとするハロゲン化物も有
効な出発物質として挙げることができる。
これ等の水素原子を含むハロゲン化物は、層形成の際に
形成される層中にハロゲン原子の導入と同時に電気的或
いは光電的特性の制御に極めて有効な水素原子も導入さ
れるので、本発明においては好適なハロゲン導入用の原
料として使用される。
炭素原子導入用の原料となる炭素原子含有化合物として
は、例えば炭素数1〜4の飽和炭化水素、炭素数2〜4
のエチレン系炭化水素、炭素数2〜3のアセチレン系炭
化水素等が挙げられる。
具体的には、飽和炭化水素としては、メタン(CH,)
、エタン(cZH& )、 プロパン(C,He)。
n−ブタン(n  C4H+6) −ペンタン(CsH
+z)、エチレン系炭化水素としては、エチレン(C!
H,、)。
プロピレン(C3H& )、ブテン−1(C4H(1)
) 。
ブテン−2(C,H# )、イソブチレン(CnHs)
ペンテン(CsH+。)、アセチレン系炭化水素として
は、アセチレン(C,H,)、メチルアセチレン(C3
H4)、ブチンCCaHh )等が挙げられる。
SiとCとHとを構成原子とする原料ガスとしては、5
i(CHs)a 、5i(CzH4)n等のケイ化アル
キルを挙げることができる。
第■族原子又は第■族原子の含有される層を形成するの
にグロー放電法を用いる場合、該層形成用の原料ガスと
なる出発物質は、前記したSi用の出発物質の中から適
宜選択したものに、第■族原子又は第■族原子導入用の
出発物質が加えられたものである。そのような第■族原
子又は第V族原子導入用の出発物質としては第■族原子
又は第■族原子を構成原子とするガス状態の物質又はガ
ス化し得る物質をガス化したものであれば、いずれのも
のであってもよい。
本発明において第■族原子導入用の出発物質として有効
に使用されるものとしては、具体的には硼素原子導入用
として、BzHh 、BaH+。、+3SH,。
B s H+ + 、 B 4 HIo 、  B h
 H+ z 、 B h HIa等の水素化硼素、BF
s 、BCls 、BBr+等のハロゲン化硼素等を挙
げることができるが、この他AlCl1s−GaC1s
 、I ncls 、TlICl5等も挙げることがで
きる。
本発明において第■族原子導入用の出発物質として有効
に使用されるのは、具体的には燐原子導入用としては、
PH3,PtHa等の水素他項、PH41,PFs 、
PFS 、PCl3 、PCIB 。
P Br++  P Br5.  P I 3等のハロ
ゲン他項が挙げられる。この他、AsH31A5F3 
+AsCj!3 。
A s B rs 、A s F s + S b H
3+ S b F 3 + S b F s 。
5bC1s 、5bCNs 、B I H3、B I 
CJs 。
B1Br5等も挙げることができる。
〔実験例〕
以下実験例により本発明を更に詳細に説明するが、本発
明はこれらによって限定されるものではない。
天1 マイクロ波(以下「μW」と略記する)グロー放電分解
法によって本発明の光起電力素子を形成した。
第3図に原料ガス供給装置1020と堆積装置1000
からなる、μWグロー放電分解法による光起電力素子の
製造装置を示す。
図中の1071.1072,1073.1074゜10
75.1076のガスボンベには、本発明の各々の層を
形成するための原料ガスが密封されており、1071は
SiH4ガス(純度99.99%)ボンベ、1072は
H2ガス(純度99.9999%)ボンベ、1073は
CHaガス(純度99.999%)ボンベ、1074は
G e Haガス(純度99.999%)ボンベ、10
75はH2ガスで10%希釈されたBzHbガス(純度
99.999%、以下「B□H6/H2」と略記する)
ボンベ、1076はH2ガスで10%希釈されたPHf
fガス(純度99.999%、以下rPHs/HtJと
略記する)ボンベである。
図中1004は基板であり、80ta角、厚さ1龍のス
テンレス製で、表面に鏡面加工を施し、基板1004表
面上にスパックリング法により、銀薄膜を0.1μm、
更にZn0l膜を1pm蒸着して下部電極を形成しであ
る。また、基板1004は加熱ヒーター1005により
280℃に加熱した。
まず、ガスボンベ1071〜1076のバルブ1051
〜1056、流入バルブ1031〜1036、堆積室1
001のリークバルブ1009が閉じられていることを
II L’lし、また、流出バルブ1041〜1046
、補助バルブ1008が開かれていることを確認して、
先ずコンダクタンスバルブ(バタフライ型)1007を
全開にして不図示の真空ポンプにより堆積室1001お
よびガス配管内を排気した。
次に、真空計1006の読みが約lXl0−’T or
rになった時点で補助バルブ1008、流出バルブ10
41〜1046を閉じた。
その後、ガスボンベ1071よりSiH4ガス、ガスボ
ンベ1072よりH2ガス、ガスボンベ1073よりC
H4ガス、ガスボンベ1074よりGeH,ガス、ガス
ボンベ1075よりBIH6/Htガス、ガスボンベ1
076よりPHx/Hzガスを、バルブ1051〜10
56を開けて導入し、圧力調整器1061〜1066に
より各ガス圧力を’l kg / cdに調整した。
次に流入バルブ1031〜1036を徐々に開けて、以
上の各ガスをマスフローコントローラー101)、(2
)〜1026内に導入した。
以上のようにして成膜の準備が完了した後、基板100
4上にn型層、i型層、中間層、p型層の成膜を行った
n型層を形成するには、流出バルブ1041゜1042
.1046および補助バルブ1008を徐々に開いて、
SiH4ガス、H2ガス、PH。
/H,ガスをガス導入管1003を通じて堆積室100
1内に流入させた。この時、S iHaガス流量が5 
sccm、H2ガス流量が5sccraSP H3/H
2ガス2It量が5 secmとなるように各々のマス
フローコントローラー101)、(2).1022.1
026で調整した。堆積室1001内の圧力は、10m
 T orrとなるように真空計1006を見ながらコ
ンダクタンスバルブ1007の開口を調整した。次に、
基板1004に直流電R10(1)により、堆積室10
01に対して一40Vの直流バイアスを印加した。その
後、不図示のμW電源の電力を0.1W/c+dに設定
し不図示の導波管、導波部1010および誘電体窓10
02を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し、μ
Wグロー放電を生起させ、基板1004上にn型層の形
成を開始し、層厚0.01μmのn型層を形成したとこ
ろでμWグロー放電を止め、直流電源10(1)の出力
を切り、又、流出バルブ1041,1042゜1046
および補助バルブ1008を閉じて、堆積室1001内
へのガス流入を止め、n型層の形成を終えた。
次に、i型層を形成するには、流出バルブ1041.1
042.1043および補助バルブ1008を徐々に開
いてSiH,ガス、H2ガス、CH,ガスをガス導入管
1003を通じて堆積室1001内に流入させた。この
時、S i H,ガス流量が50sccm、、Hzガス
流量が100scca+。
CH,ガス流量が2.55ccvxとなるように各々の
マスフローコントローラー101)、(2).1022
゜1023で調整した。堆積室toot内の圧力は、l
QmTorrとなるように真空計1006を見ながらコ
ンダクタンスバルブ1007の開口を調整した0次に基
板1004に直流電源10(1)により、堆積室100
1に対して一40Vの直流バイアスを印加した。
その後、不図示のμW電源の電力を0.75W/−に設
定し、不図示の導波管、導波部1010および誘電体窓
1002を通じて堆積室1001内にμW電力を導入し
、μWグロー放電を生起させ、n型層上にi型層の形成
を開始し、層厚0.4μmのi型層を形成したところで
μWグロー放電を止め、直流電源10(1)の出力を切
り、又流出バルブ1041.1042.1043および
補助バルブ1008を閉じて、堆積室1001内へのガ
スの流入を止め、i型層の形成を終えた。
次に、中間層を形成するには、流出バルブ1041.1
042.1043,1045.1046および補助バル
ブ1018を徐々に開いてS i Haガス、H2ガス
、CH,ガス、BzHb/Hzガス、PHs/Hzガス
をガス導入管1003を通じて堆積室1001内に流入
させた。この時、5IHaガス流量が10secI*、
 Hzガス流量が203CCII1% CHaガス流量
が0.5sccm、 BzHb/H8ガス流量が0.5
secm、 P H3/ H2ガス流量が0.5 se
cmとなるように各々のマスフローコントローラー10
1)、(2).1022,1023.10251026
で調整した。
堆積室1001内の圧力は、l Q m Torrとな
るように真空計1006を見ながらコンダクタンスバル
ブ1007の開口を調整した。次に、基板1004に直
流電源10(1)により、堆積室1001に対して一4
0Vの直流バイアスを印加した。その後不図示のμW1
i源の電力を0.15W/(Jlに設定し、不図示の導
波管、導波部1010および誘電体窓1002を通して
堆積室1001内にμWiit力を導入し、μWグロー
放電を生起させ、i型層の上に中間層の形成を開始し、
層厚0.02μmの中間層を形成したところでμWグロ
ー放電を止め、直流電源10(1)の出力を切り、また
、流出バルブ1041.1042.1043゜1045
.1046および補助バルブ1008を閉じて、堆積室
1001内へのガスの流入を止め、中間層の形成を終え
た。
次に、p型層を形成するには、流出バルブ1041.1
042.1043.1045および補助パルプ1008
を徐々に開いてS + Haガス、H2ガス、CH4ガ
ス、B t Hh / Htガスをガス導入管1003
を通じて堆積室1001内に流入させた。この時、5i
Hnガス流量が55ccysSHtガス流量が500s
ecm、CH4ガス流量が0.5SCC(1)% B 
z Hh/ Hzガス流量が55ec(1)となるよう
に各々のマスフローコントローラー101)、(2)゜
L 022. l 023.1025で調整した。堆積
室1001内の圧力は、20 m Torrとなるよう
に真空計1006を見ながらコンダクタンスパルプ10
07の開口を調整した0次に、基板1004に直流電源
10(1)により、堆積室1001に対して一40Vの
直流バイアスを印加した。その後、不図示のμW電源の
電力を1.5W/aJに設定し、不図示の導波管、導波
部1010および誘電体窓1002を通じて堆積室10
01内にμW電力を導入し、μWグロー放電を生起させ
、中間層上にp型層の形成を開始し、層厚o、 o o
 sμmのp型層を形成したところでμWグロー放電を
止め、直流tilltlo(1)の出力を切り、また流
出バルブ1041.1042,1043.1045およ
び補助バルブ1018を閉じて、堆積室1001内への
ガスの流入を止め、p型層の形成を終えた。
以上の、光起電力素子の作成条件を第1表に示す。
それぞれの層を形成する際に必要なガス以外の流出バル
ブは完全に閉じられていることは云うまでもなく、また
、それぞれのガスが堆積室1001内、流出バルブ10
41〜1046から堆積室1001に至る配管内に残留
することを避けるために、流出バルブ1041〜104
6を閉じ、補助パルプ1008を開き、さらにコンダク
タンスパルプ1007を全開にして系内を一旦高真空に
排気する操作を必要に応じて行う。
作成した光起電力素子のp型層上に、透明電極としてI
TO(Inio、+SnOg)を0.085.c+m蒸
着し、さらに集電電極としてAJを2μm蒸着して、光
起電力素子を作成した(素子隘実−1)。
ル較大狼斑上 中間層を形成するに際して、B z Hh / H!ガ
スとPHx/Hzガスを用いない以外は、実験例1と同
じ作成条件で光起電力素子を作成した。(素子阻止−1
) 実験例1 (嵐実−1)および比較実験例1 (磁比−
1)で作成した光起電力素子をA M 1.5(100
m W/ d)光照射下にて特性評価を行ったところ、
比較実験例1 (磁比−1)に対して、実験例1(丸実
−1)の光起電力素子は、開放電圧が1.06倍、短絡
電流が1.08倍、光電変換効率が1.1)、(2)倍
、AMl、5の光源から400 nmの干渉フィルター
を透過した光照射下での光電変換効率が1.27倍、A
Ml、5の光源から600nmの干渉フィルターを透過
した光照射下での光電変換効率が1.04倍となり、本
発明の光起電力素子が優れた特性を有することが判明し
た。
また、ステンレス製基板上に実験例1と同じ作成条件で
i型層を0.05μm、更に中間層を0.05μm成膜
して、組成分析用サンプルを作成し、SIMS(二次イ
オン質量分析装置力メカ製IMS−3F)により中間層
に含有されるホウ素原子(B)とリン原子(P)の量と
、i型層と中間層に含有される水素原子(H)の量を分
析したところ、ホウ素原子(B)は約4200原子pp
m、リン原子(P)は約3800原子ppm含存されて
いた。また、水素原子(H)の含有量は、中間層におい
てはi型層に対して1.22倍多く含有されていた。
更に7059ガラス基板上に、実験例1と同し作成条件
で中間層のみを0.5μm成膜して、物性測定用サンプ
ルを作成した1作成した中間層の光学的バンドギャップ
を分光光度計(日立製330型)を用いて測定し、高橋
清、小長井誠共著、アモルファス太陽電池(株式会社昭
晃堂出版)109ページ記載の方法により求めたところ
、約1.94eVであった0次に中間層上にクロム(C
r)のギャップ電極を厚さ0.1μm、ギヤツブ巾0.
1 m、ギャップ長51mの大きさに蒸着し、暗導電率
の温度特性を測定し、前記文献108ページ記載の方法
により活性化エネルギーを求めたところ、約0、96 
e Vであり、中間層の導電型が実質的に真性であるこ
とが判明した。
更に、ステンレス製基板上に実験例1と同じ作成条件で
中間層を0.02μm、更にp型層をo、 o o s
μm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成し、R)(
EED (日本電子製JEM−1003X)によりp型
層の結晶性を評価したところ、リング状でアモルファス
(マイクロクリスタルを含む)であることが判った。
大鼓五l 中間層を形成するに際して、B z Hb / Htガ
スとPHs/Hzガスの流量を第2表に示した値に変え
た以外は、実験例1と同じ作成条件で、光起電力素子を
作成した(素子嵐実2−1〜3)。
また実験例1と同様に、ステンレス基板上にl型層0.
05μmと、第2表に示した条件での中間層O,OSμ
mを成膜して、組成分析用サンプルを作成した。更に実
験例1と同様に、7059ガラス基板上に第2表に示し
た条件で中間層0.5μmを成膜し、物性測定用サンプ
ルを作成した。
ル較大胆■又 中間層を形成するに際して、BzHh/HzガスとPH
3/H!ガスの流量を第3表に示した値とした以外は、
実験例2と同じ作成条件で、光起電力素子(素子阻止2
−1〜2)、組成分析用サンプルおよび物性測定用サン
プルを作成した。
止較叉慧■1 中間層を形成せずに、i型層の層厚を0.42μmとし
た以外は、実験例1と同じ作成条件で、光起電力素子(
素子阻止−3)を作成した。
実験例2(陽実2−1〜3)、比較実験例2(陽圧2−
1〜2)および比較実験例3 (阻止3)で作成した光
起電力素子、組成分析用サンプルおよび物性測定用サン
プルを実験例1と同様な方法で、特性評価、組成分析、
導電型測定を行った。
光起電力素子の特性と、中間層に含有されるホウ素原子
(B)とリン原子(P)の量を第4図に示す。尚、実験
例2および比較実験例2の組成分析用サンプルにおける
中間層に含有される水素原子(H)の量は、いずれもi
型層に含有される水素原子(H)Iに対して1.15〜
1.35倍の範囲であった。又、実験例2および比較実
験例2の物性測定用サンプルにおける中間層の活性化エ
ネルギーは、いずれも光学的バンドギャップの約半分で
あり、導電型が実質的に真性であることが判明した。第
4図から判る通り、本発明の光起電力素子(魚実−1、
実2−1〜3)が比較実験例の光起電力素子(陽圧2−
1〜2、比−3)に対して優れた特性を有することが判
明し、本発明の効果が実証された。
大版■主 高周波(以下rRFJと略記する)グロー放電分解法に
よって本発明の光起電力素子を形成した。
第5図に実験例1で使用した原料ガス供給装置1020
と本実験例用の堆積装置(1)00からなる、RFグロ
ー放電分解法による光起電力素子の製造装置を示す。
図中、(1)04は実験例1と同様の基板であり、実験
例1と同様に下部電極を形成しである。
また、基板(1)04は加熱ヒーター(1)05により
250℃に加熱した。
図中の1071〜1076の各ガスボンベには、実験例
1と同じ原料ガスが密封されており、実験例1と同様の
操作手順により各ガスをマスフローコントローラー10
1)、(2)〜1026内に導入した。
以上のようにして成膜の準備が完了した後、基板(1)
04上にn型層、i型層、中間層、p型層の成膜を行っ
た。
n型層を形成するには、流出バルブ1041゜1042
.1046および補助バルブ1008を徐々に開いて、
5iHaガス、H!ガス、PH3/ Hzガスをガス導
入管(1)03を通じて堆積室(1)01内に流入させ
た。この時、5iHnガス流量がl sccm、 Ht
ガス2i!Lffiが50secm、PH,/HzH4
ガス流量 secwとなるように各々のマスフローコン
トローラー101)、(2).1022.1026で調
整した。堆積室(1)01内の圧力は、ITorrとな
るように真空計(1)06を見ながらコンダクタンスバ
ルブ(1)07の開口を調整した。その後、不図示のR
Ft源の電力を5mW/−に設定し高周波マツチングボ
ックス(1)12を通じてカソード(1)02にRF電
力を導入し、RFグロー放電を生起させ、基板(1)0
4上にn型層の形成を開始し、層厚0.01μmのn型
層を形成したところでRFグロー放電を止め、又、流出
バルブ1041.1042.1046および補助バルブ
1008を閉じて、堆積室(1)01内へのガス流入を
止め、n型層の形成を終えた。
次に、i型層を形成するには、流出バルブ1041.1
042.1043および補助バルブ100Bを徐々に開
いてSiH,ガス、H2ガス、CH4ガスをガス導入管
(1)03を通じて堆積室(1)01内に流入させた。
この時、SiH4ガス流量が4 sccmSH2ガス流
量が50sec+w、 CHaH4ガス流量 sccw
lとなるように各々のマスフローコントローラー101
)、(2).1022.1023で調整した。堆積室(
1)01内の圧力は、l’l’orrとなるように真空
計(1)06を見ながらコンダクタンスバルブ(1)0
7の開口を調整した。
その後、不図示のRF電源の電力を16mW/−に設定
し、高周波マノチングポフクス(1)12を通してカソ
ード】102にRF電力を導入し、RFグロー放電を生
起させ、n型層上にi型層の形成を開始し、層厚0.4
μmのi型層を形成したところでRFグロー放電を止め
、又流出バルブ1041.1042.1043および補
助バルブ1008を閉じて、堆積室(1)01内へのガ
スの流入を止め、i型層の形成を終えた。
次に、中間層を形成するには、流出バルブ1041.1
042,1043,1045.1046および補助バル
ブ1008を徐々に開いてSiH4ガス、H,ガス、C
H,ガス、BtHb/Hzガス、PH3/Hzガスをガ
ス導入管(1)03を通じて堆積室(1)01内に流入
させた。この時、S i Haガス流量が2 sccm
、 Hzガス流量が50secm、 CHaガス流量が
0.5sccm、 BzHb /HtH4ガス流量、 
1 secm、 P Hs/ Hzガス流量が0.1s
ecmとなるように各々のマスフローコントローラー1
01)、(2).1022,1023.1025102
6で調整した。
堆積室(1)01内の圧力は、ITorrとなるように
真空計(1)06を見ながらコンダクタンスバルブ(1
)07の開口を調整した。その後、不図示のRFiii
Jの電力を8 m W / cdに設定し、高周波マツ
チングボックス(1)12を通じてカソード(1)02
にRF電力を導入し、RFグロー放電を生起させ、i型
層の上に中間層の形成を開始し、層厚0.03μmの中
間層を形成したところでRFグロー放電を止め、また、
流出バルブ1041゜1042.1043.1045.
1046および補助バルブ1008を閉じて、堆積室(
1)o1内へのガスの流入を止め、中間層の形成を終え
た。
次に、p型層を形成するには、流出バルブ1(141,
1042,1043,1045および補助バルブ100
8を徐々に開いてS I Haガス、H2ガス、CH,
ガス、B、Hh/Htガスをガス導入管(1)03を通
じて堆積室(1)01内に流入させた。この時、5iH
nガス流量が15ccIIl、 Htガス流量が150
sccm、 CH4ガス流量が0.1scc+w、Bz
Hh/Hzガス流量が15ccvaとなるように各々の
マスフローコントローラー101)、(2)゜1022
.1023.1025で調整した。堆積室(1)01内
の圧力は、1.5 Torrとなるように真空計(1)
06を見ながらコンダクタンスパルプ(1)07の開口
を調整した。その後、不図示のRF’taの電力を13
0mW/adに設定し、高周波マツチングボックス(1
)12を通じてカソード(1)02にRF電力を導入し
、RFグロー放電を生起させ、中間層上にp型層の形成
を開始し、層厚o、oosμmのp型層を形成したとこ
ろでRFグロー放電を止め、また流出バルブ1041゜
1042.1043.1045および補助バルブ100
8を閉じて、堆積室1tot内へのガスの流入を止め、
p型層の形成を終えた。
以上の、光起電力素子の作成条件を第4表に示す。
それぞれの層を形成する際に必要なガス以外の流出バル
ブは完全に閉じられていることは云うまでもなく、また
、それぞれのガスが堆積室(1)01内、流出バルブ1
041〜104Gから堆積室(1)01に至る配管内に
残留することを避けるために、流出バルブ1041〜1
046を閉じ、補助バルブ1008を開き、さらにコン
ダクタンスパルプ(1)07を全開にして系内を一旦高
真空に排気する操作を必要に応じて行う。
更にp型層上に、実験例1と同様に透明電極と集電電極
を蒸着して、光起電力素子を作成した(素子忠実−3)
また、実験例1と同様にステンレス基板上に実験例3と
同じ条件で、i型層0.05μmと中間層O,OSμm
成膜して、組成分析用サンプルを作成した。更に、実験
例1と同様に7059ガラス基板上に、実験例3と同じ
条件で中間層0.5μmを成膜し、物性測定用サンプル
を作成した。更に、実験例1と同様にステンレス基板上
に実験例3と同じ条件で中間層0.03μmとp型層o
、oosμm成膜して、結晶性分析用サンプルを作成し
た。
止較大狼■土 中間層を形成するに際して、BzHa/HzガスとPH
s/H□ガスを用いない以外は、実験例3と同じ作成条
件で光起電力素子を作成した(素子阻止−4)。
実験例3 (NFL実−3)および比較実験例4(陽圧
−4)で作成した光起電力素子を実験例1と同様に特性
評価したところ、比較実験例4(陽圧−4)に対して、
実験例3(隘実−1)の光起電力素子は、開放電圧が1
.05倍、短絡電流が1.07倍、光電変換効率がAM
l、5で1.19倍、40゜nm光で1.24倍、60
0nm光で1.04倍となり、本発明の光起電力素子が
優れた特性を有することが判明した。
また、実験例3の組成分析用サンプルと物性測定用サン
プルを実験例1と同様な方法で組成分析、物性測定およ
び結晶性分析をしたところ、中間層に含有されるホウ素
原子(B)は約5400原子ρps 、リン原子(P)
は約4400原子pp+*であり、水素原子(H)はi
型層より中間層のほうが1.1)、(2)倍多く含有さ
れていた。又、中間層の導電型は実質的に真性であった
。さらにp型層の結晶性はアモルファス(マイクロクリ
スタルを含む)であった。
4および r5 中間層を形成するに際して、中間層の層厚を第6図に示
す値とした以外は、実験例1と同じ作成条件で光起電力
素子(素子忠実4−1〜3、比5−1〜2)を作成し、
実験例1と同様に400nm光照射下での光電変換効率
を測定した。その結果を第6図に示す、第6図から判る
通り、中間層の層厚が0.01〜0.05μm、特には
0.01〜0.04μmの範囲で本発明の光起電力素子
が優れた特性を有することが判明した。
5および r−6 中間層を作成するに際して、作成条件を第5表に示した
条件とした以外は、実験例1と同じ作成条件で光起電力
素子(素子磁実5−1〜4、比6−1〜2)、組成分析
用サンプル、物性測定用サンプルを作成し、実験例1と
同様に400nm光照射下での光電変換効率、ホウ素原
子(B)、リン原子(P)、水素原子(H)の組成分析
および中間層の導電型を測定した。400nm光照射下
での光電変換効率およびi型層と中間層の水素原子(H
)含有量の比の結果を第7図に示す、尚、ホウ素原子(
B)およびリン原子(P)の含有量は、いずれも320
0〜5600原子ppI(1)の範囲であり、導電型は
いずれも実質的に真性であった。
第7図から判る通り、中間層の水素原子(H)含有量が
、i型層の水素原子(H)含有量に対して約1.05〜
1.5倍の範囲で本発明の光起電力素子が優れた特性を
有することが判明した。
〔実施例〕
以下実施例により本発明を更に詳細に説明するが、本発
明はこれらによって限定され為ものではない。
スm 実験例1と同し作成条件で10枚の光起電力素子を作成
し、これらを用いて太陽電池モジュールを作成し、第8
図に示すような回路構成の夜間照明灯を作った。第8図
において太陽電池モジュール801で発生した電力は、
逆流防止グイオード803を経て、2次電池804に充
電される。
802は、過充電防止用ダイオードである。2次電池8
04に充電された電力は、スイッチ805を閉じること
により、ランプ806に流れ、ランプ806が点灯する
止較斑土 比較実験例3と同じ作成条件で10枚の光起電力素子を
作成し、これらを用いて実施例1と同様な夜間照明灯を
作った。
実施例1と比較例1で製作した夜間照明灯を屋外に設置
し、昼間は太陽電池モジュール801で発生した電力を
2次電池804に充電し、夜間は2次電池804に充電
された電力によりランプ806を点灯さセる操作を繰り
返したところ、実施例1の夜間照明灯の方が、比較例1
の夜間照明灯よりも約1.18倍長くランプ806を点
灯させることができ、本発明による光起電力素子の効果
が実証された。
実施■I BlH&/H□ガスボンベ1075をH8ガスで10%
希釈されたBF3ガス(純度99.999%、以下rB
F3/H!Jと略記する)ボンベに変え、n型層、i型
層、中間層、p型層を第6表に示す作成条件とした以外
は、実験例1と同様な方法で光起電力素子10枚を作成
し、これらを用いて実施例1と同様な夜間照明灯を作り
、実施例1と同様に使用したところ、実施例1とほぼ同
じ時間ランプ806を点灯させることができ、本発明に
よる光起電力素子の効果が実証された。
大血班ユ p型層、i型層、中間層、n型層を第7表に示す作成条
件とした以外は、実験例1と同様な方法で光起電力素子
10枚を作成し、これらを用いて実施例1と同様な夜間
照明灯を作り、実施例1と同様に使用したところ、実施
例1とほぼ同じ時間ランプ806を点灯させることがで
き、本発明による光起電力素子の効果が実証された。
実施阻生 CH,ガスボンベ1073をCt Hzガス(純度99
.9995%)に変え、n型層、i型層、中間層、p型
層を第8表に示す作成条件とした以外は、実験例1と同
様な方法で光起電力素子10枚を作成し、これらを用い
て実施例1と同様な夜間照明灯を作り、実施例1と同様
に使用したところ、実施例1とほぼ同じ時間ランプ80
6を点灯させることができ、本発明による光起電力素子
の効果が実証された。
大旌史l B t H& / Hzガスボンベ1075を、不図示
のHeガスによるB(CH3)3のバブリング装!に変
え、n型層、i型層、中間層、p型層を第9表に示す作
成条件とした以外は、実験例1と同様な方法で光起電力
素子10枚を作成し、これらを用いて実施例1と同様な
夜間照明灯を作り、実施例1と同様に使用したところ、
実施例1とほぼ同じ時間ランプ806を点灯させること
ができ、本発明による光起電力素子の効果が実証された
(以下余白) 第 ■ 表 第 表 第 表 第 表 第 表 第 6 表 第 表 第 表 第 表 〔発明の効果の概要〕 本発明の光起電力素子においては、開放電圧の向上、短
絡電流の向上、形状因子の向上環の効果、また更に短波
長光に対して特に光電流を増加される効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光起電力素子の層構成を説明するため
の模式的構成図、第2図は従来の光起電力素子の層構成
を説明するための模式的構成図、第3図は本発明の光起
電力素子を作成するための装置の一例でμWを用いたグ
ロー放電法による製造装置の模式的説明図、第4図は本
発明の光起電力素子の中間層に含有されるホウ素原子と
リン原子の含有量と光起電力素子の特性との関係を示す
説明図、第5図は本発明の光起電力素子を作成するため
の装置の一例でRFを用いたグロー放電法による製造装
置の模式的説明図、第6図は本発明の光起電力素子の中
間層の層厚と光起電力素子の特性との関係を示す説明図
、第7図は本発明の光起電力素子の中間層とi型層に含
有される水素原子の含有量の比率と光起電力素子の特性
との関係を示す説明図、第8図は、本発明の光起電力素
子を用いた夜間照明灯の電気回路間である。 第1図において、101・・・導電性基板、102・・
・n型層(またはp型層)、103・・・i型層、10
4・・・中間層、105・・・p型層(またはn型層)
106・・・透明電極。 第2図において、201・・・導電性基板、202・・
・n型層(またはp型層)、203・・・i型層、20
5・・・p型層(またはn型層)、206・・・透明電
極。 第3図において、1000・・・μWグロー放電分解法
による堆積装置、1001・・・堆積室、1002・・
・誘電体窓、1003・・・ガス導入管、1004・・
・基板、1005・・・加熱ヒーター1006・・・真
空計、1007・・・コンダクタンスバルブ、1008
・・・補助バルブ、1009・・・リークバルブ、10
10・・・導波部、10(1)・・・直流電源、102
0・・・原料ガス供給装置、 101)、(2)〜1026・・・マスフローコントロ
ーラー1031〜1036・・・ガス流入バルブ、10
41〜1046・・・ガス流出バルブ、1051〜10
56・・・原料ガスボンベのバルブ、1061〜106
6・・・圧力調整器、1071〜1076・・・原料ガ
スボンベ。 第5図において、(1)00・・・RFグロー放電分解
法による堆積装置、(1)01・・・堆積室、(1)0
2・・・カソード、(1)03・・・ガス導入管、(1
)04・・・基板、(1)05・・・加熱ヒーター(1
)06・・・真空計、(1)07・・・コンダクタンス
バルブ、(1)09・・・リークバルブ、(1)12・
・・高周波マツチングボックス、1008・・・補助バ
ルブ、1020・・・原料ガス供給装置、 101)、(2)〜1027・・・マスフローコントロ
ーラー1031〜1037・・・ガス流入バルブ、10
41〜1047・・・ガス流出バルブ、1051〜10
57・・・原料ガスボンベのバルブ、1061〜106
7・・・圧力調整器、1071〜1077・・・原料ガ
スボンベ。 第 図 第 図 400nm光照射下での光電変換効率 第 図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電性基板上に、n型、i型およびp型で、Si
    原子を含有する非単結晶層を積層して成る光起電力素子
    において、前記i型層と、p型層またはn型層との間に
    、周期表第VA族元素と周期表第IIIA族元素とを含有
    し、かつSi原子とC原子を含有する非単結晶材から成
    る中間層を有することを特徴とする光起電力素子。
  2. (2)前記中間層に含有される周期表第VA族元素と周
    期表第IIIA族元素の含有量が各々1000ppm以上
    である請求項(1)に記載の光起電力素子。
  3. (3)前記中間層の導電型が実質的に1型である請求項
    (1)または(2)に記載の光起電力素子。
  4. (4)前記中間層の水素含有量がi型層よりも多い請求
    項(1)、(2)および(3)のいずれかに記載の光起
    電力素子。
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