JPS62299701A - 実装部品外観検査方法 - Google Patents
実装部品外観検査方法Info
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- JPS62299701A JPS62299701A JP14409986A JP14409986A JPS62299701A JP S62299701 A JPS62299701 A JP S62299701A JP 14409986 A JP14409986 A JP 14409986A JP 14409986 A JP14409986 A JP 14409986A JP S62299701 A JPS62299701 A JP S62299701A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005802 health problem Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
(技術分野〕
本発明は、光切断法を用いITVカメラを使用して印刷
配線基板上の部品取付状態を外観より検査する方法に関
する。
配線基板上の部品取付状態を外観より検査する方法に関
する。
(背景技術)
印刷配線基板に使用される部品は、回路の高密度化要求
と表面実装技術の進歩により、リード足付部品からリー
ド足無し部品、いわゆる表面実装部品に移りかわってき
ている。こnらの部品は機械により高速に実装さ九てい
るが、印刷配線基板の位置決め方法や、装着ヘッドの部
品のつかみ方によう、実装位置ずれや欠品が発生するこ
とがある。
と表面実装技術の進歩により、リード足付部品からリー
ド足無し部品、いわゆる表面実装部品に移りかわってき
ている。こnらの部品は機械により高速に実装さ九てい
るが、印刷配線基板の位置決め方法や、装着ヘッドの部
品のつかみ方によう、実装位置ずれや欠品が発生するこ
とがある。
そのため、現在では半田付前に実装状態を人が目視によ
り検査して異常箇所の修正を行い、半田付後にも目視検
査と修正作業が行わnている。しかし、半田付後の修正
作業には手間がかかるため、半田付前に部品のチェック
が完全に行わn1位置ずnや欠品の修正はこの時点にシ
ーいて終了してしまうことが望まれている。
り検査して異常箇所の修正を行い、半田付後にも目視検
査と修正作業が行わnている。しかし、半田付後の修正
作業には手間がかかるため、半田付前に部品のチェック
が完全に行わn1位置ずnや欠品の修正はこの時点にシ
ーいて終了してしまうことが望まれている。
一部に、位置ずnや欠品の不良を外観よシ検査する機械
もあるが、部品や印刷配線基板の色によシ検査できない
場合があり、精成的に十分なものではなかった。また、
こnらの機械は大がかりでコストがかかり、複雑なもの
であるため実用的ではなかった。
もあるが、部品や印刷配線基板の色によシ検査できない
場合があり、精成的に十分なものではなかった。また、
こnらの機械は大がかりでコストがかかり、複雑なもの
であるため実用的ではなかった。
また、人手による検査では、見落としや検査に時間がか
かる等の問題があシ、更に検査対象が小さく閂を酷使す
る次め、作業者に健康上の問題が発生する等の欠点があ
った。
かる等の問題があシ、更に検査対象が小さく閂を酷使す
る次め、作業者に健康上の問題が発生する等の欠点があ
った。
(発明の目的)
本発明は上記の点に鑑み提案さnたものであり、その目
的とするところは、印刷配線基板上に実装された部品の
取付状態、すなわち、位置ずれ、傾き、欠品および部品
の高さの検査を、部品や印刷配線基板の色に彩管されず
罠、精度良く簡単かつ高速に行うことができる検査方法
を提供することにある。
的とするところは、印刷配線基板上に実装された部品の
取付状態、すなわち、位置ずれ、傾き、欠品および部品
の高さの検査を、部品や印刷配線基板の色に彩管されず
罠、精度良く簡単かつ高速に行うことができる検査方法
を提供することにある。
(発明の開示)
本発明の特徴とする点は、印刷配線基板および部品に対
して、斜めより部品を十分に含む幅のレーザスリット光
を照射し、部品上方からITvカメラにより撮像する画
像入力手段と、上記によシ入力される像を、輝線が像と
して得られるように2値化し、輝線のつながり具合より
位置ずntの大きなものや欠品の判定を行い、良品の場
合には、輝線端点の座標よフ部品高さと、部品位置とを
推定することにより、部品の位置ずれ、傾きを、1回の
画像入力により求める手段とにある。
して、斜めより部品を十分に含む幅のレーザスリット光
を照射し、部品上方からITvカメラにより撮像する画
像入力手段と、上記によシ入力される像を、輝線が像と
して得られるように2値化し、輝線のつながり具合より
位置ずntの大きなものや欠品の判定を行い、良品の場
合には、輝線端点の座標よフ部品高さと、部品位置とを
推定することにより、部品の位置ずれ、傾きを、1回の
画像入力により求める手段とにある。
以下、実施例を示す図面に沿って本発明を具体的に説明
する。
する。
第1図は本発明の実装部品外観検査方法を具体化し念−
実施例のブロック構成を示したものである。しかして、
レーデ光源5よυ発せられたレーザ光はスリット光発生
m4に入力されてレーデスリット光3とさn、印刷配線
基板に対し斜め上方より、かつ、部品1の取付方向に対
し斜め方向よシ、このレーデスリット光3にて部品1を
照射し、部品面上と印刷配線基板上に輝線2を作る。そ
して、部品1の上方よりITVカメラ6により撮像し、
ITVカメラ6の出力を2値化処理部7にて輝線2が像
として得られるように2値化し、端点検出部8にて輝線
2の端点位置を測定し、演算部9にて部品1の位置ずれ
距離、傾き、高さを計算し、判定部10において部品の
取付状態の良否の判定を行い、最終の判定結果を出力す
るようになっている。なお、1iti各部を制御する制
御部である。
実施例のブロック構成を示したものである。しかして、
レーデ光源5よυ発せられたレーザ光はスリット光発生
m4に入力されてレーデスリット光3とさn、印刷配線
基板に対し斜め上方より、かつ、部品1の取付方向に対
し斜め方向よシ、このレーデスリット光3にて部品1を
照射し、部品面上と印刷配線基板上に輝線2を作る。そ
して、部品1の上方よりITVカメラ6により撮像し、
ITVカメラ6の出力を2値化処理部7にて輝線2が像
として得られるように2値化し、端点検出部8にて輝線
2の端点位置を測定し、演算部9にて部品1の位置ずれ
距離、傾き、高さを計算し、判定部10において部品の
取付状態の良否の判定を行い、最終の判定結果を出力す
るようになっている。なお、1iti各部を制御する制
御部である。
第2図は部品1の位置と輝線2の関係を示したものであ
る。第2図(A) t’1部品1が下方へ太きくずれた
場合、第2図(B)は部品1が正常な位置にある場合、
第2図(C)は部品1が上方へ大きくずれた場合、第2
図(D)は(C)の場合よフも更に上方へずれた場合を
示す。なお、欠品の場合には、球心は第2図(D)のよ
うになる。
る。第2図(A) t’1部品1が下方へ太きくずれた
場合、第2図(B)は部品1が正常な位置にある場合、
第2図(C)は部品1が上方へ大きくずれた場合、第2
図(D)は(C)の場合よフも更に上方へずれた場合を
示す。なお、欠品の場合には、球心は第2図(D)のよ
うになる。
また、第2図(A) t(c) l (D)はずれ距離
が大きく、このままの状態で不良と判定される場合であ
シ、第2図(B)は更に部品の位置ずれ、傾き、および
高さの測定が必要な場合である。
が大きく、このままの状態で不良と判定される場合であ
シ、第2図(B)は更に部品の位置ずれ、傾き、および
高さの測定が必要な場合である。
なわち、第2図において輝線2の始点12と終点13の
座標は既知であることより、始点12と終点13との間
にある端点の数とその座標を端点検出部8において求め
る。つまり、得らfL7’(端点の数により、端点が無
い時は(D)の場合、端点が2個の時は(C)の場合、
端点が4個の場合は(A)または(B)の場合と識別す
ることができる。
座標は既知であることより、始点12と終点13との間
にある端点の数とその座標を端点検出部8において求め
る。つまり、得らfL7’(端点の数により、端点が無
い時は(D)の場合、端点が2個の時は(C)の場合、
端点が4個の場合は(A)または(B)の場合と識別す
ることができる。
更に、第2図の(A)と(B)の場合を識別する方法に
ついて述べる。すなわち、第3図において、端点14
、16を通る直線18と端点15 、17を通る直線1
9との交点20において、直線18と直線1つのなす角
γが90°±δ以内に収っている時は第2図(B)の場
合であり、そn以外の時は(A)の場合であると識別す
る。なお、δは許容範囲を表わす。
ついて述べる。すなわち、第3図において、端点14
、16を通る直線18と端点15 、17を通る直線1
9との交点20において、直線18と直線1つのなす角
γが90°±δ以内に収っている時は第2図(B)の場
合であり、そn以外の時は(A)の場合であると識別す
る。なお、δは許容範囲を表わす。
次に第2図(B)の場合に、部品の位置ずれ。
傾き、および高さを求める方法について第4図を用いて
個別に説明する。
個別に説明する。
■部品の高さ
部品1上の輝線2の端点16 、17を結ぶ直線上の1
点から、端点14 、15を結ぶ直線におろし次垂線の
長さをt、とし、レーデスリット光3が印刷配線基板2
3となす角をαとすると、部品の高さt2は次の式(1
)によシ求められる。
点から、端点14 、15を結ぶ直線におろし次垂線の
長さをt、とし、レーデスリット光3が印刷配線基板2
3となす角をαとすると、部品の高さt2は次の式(1
)によシ求められる。
t2=t1tanα ・・・・・・・・・・・・(
1)■部品の傾き 端点15の座標なCx5 +y5)、端点17の座標を
(X 4 + 14 )とすると、部品の傾きθは式(
2)により求められる。
1)■部品の傾き 端点15の座標なCx5 +y5)、端点17の座標を
(X 4 + 14 )とすると、部品の傾きθは式(
2)により求められる。
■部品の位置ずれ
端点14の座標を(x1+y、)、端点16の座標を(
X2s)’2)とすると、第3回の直線18 、19を
表わす方程式は次の式(3) l (4)となる。
X2s)’2)とすると、第3回の直線18 、19を
表わす方程式は次の式(3) l (4)となる。
ここで3部品サイズは既知のため、長さをし、幅をWと
すると、直+tM18.19に平行に部品の中心を通る
直線の方程式は次の式(5) 、 (6)となる。
すると、直+tM18.19に平行に部品の中心を通る
直線の方程式は次の式(5) 、 (6)となる。
・・・・・・・・・(5)
・・・・・・・・・(6)
この式(5) I (6)において次の式(7)のよう
に変数を置きかえると、部品の中心22の座標(X (
! T ’/ c)は(8)式のように求まる。
に変数を置きかえると、部品の中心22の座標(X (
! T ’/ c)は(8)式のように求まる。
しかして、正常に実装された場合の部品の中心座標と式
(8)で求めた座標との差よυ位置ずれ距離を求めるこ
とができる。
(8)で求めた座標との差よυ位置ずれ距離を求めるこ
とができる。
(発明の効果)
以上のように本発明にあっては、印刷配線基板上に実装
された部品を、印刷配線基板および部品に対し斜めにレ
ーデスリット光を照射し、部品の上方よりITVカメラ
にて撮像し輝線の2値化像を得、輝線のつながり具合お
よび輝線端点の位置を測定することにより、部品の取付
状態、すなわち、欠品1部品位置ずれ9部品の傾きと部
品の高さの良・不良の判定を行うようにしているので、 (イ)輝線はレーデスリット光を用いているため高輝度
であるので、部品や印刷配線基板の色、または、そnら
の上に書かnた文字やマークに影静されることがない。
された部品を、印刷配線基板および部品に対し斜めにレ
ーデスリット光を照射し、部品の上方よりITVカメラ
にて撮像し輝線の2値化像を得、輝線のつながり具合お
よび輝線端点の位置を測定することにより、部品の取付
状態、すなわち、欠品1部品位置ずれ9部品の傾きと部
品の高さの良・不良の判定を行うようにしているので、 (イ)輝線はレーデスリット光を用いているため高輝度
であるので、部品や印刷配線基板の色、または、そnら
の上に書かnた文字やマークに影静されることがない。
(ロ) アルゴリズムがシンプルであるため、高速に検
査を行うことができる。
査を行うことができる。
eS) 装置構成がノンプルであるため、部品実装機
に搭載して、視覚センサとして用いることも可能である
。
に搭載して、視覚センサとして用いることも可能である
。
等の効果がある。
第1図は本発明の実装部品外観検査方法を具体化した検
査装置の一実施例を示すブロック図、第2図は部品の位
置とその時の輝線の状態を示す図、第3図は第2図(B
)の場合を詳細に説明した図、第4図は第3図(B)に
おけるxy平面およびXZ平面上の部品と輝線との関係
を示した説明図である。 1・・・部品、2・・・輝線、3・・・レーザスリット
光、4・・・スリット光発生部、5・・・レーデ光諒、
6・・・ITVカメラ、7・・・2値化処理部、8・・
・端点検出部、9・・・演算部、IO・・・判定部、1
1・・・制御部、12・・・輝線の始点、13・・・輝
線の終点、14 、15 、16 。 17・・・輝線の端点、18 、19・・・端点な結ぶ
直線、20・・・端点な結ぶ直線より得られる交点、2
1・・・部品の外形、22・・・部品の中心、23・・
・印刷配線基板。 It!1 図 第2図 (A) (B) (C)
CD)第3図 94図 手わ℃ネ市正書(方式) %式% 3、補正を7る者 串イ′1との関gF、 特訂出鞘人 名 称 C583)松下電工株式会社4、代 理
人 〒′160 住 所 東京v6新宿区西新宿7丁目5番1()
号第2ミゾタビルディング7階 5、補正命令の日付 昭和61年8月G日 (発送日 昭相ら1年8月215
日)6、補正のス・j象
査装置の一実施例を示すブロック図、第2図は部品の位
置とその時の輝線の状態を示す図、第3図は第2図(B
)の場合を詳細に説明した図、第4図は第3図(B)に
おけるxy平面およびXZ平面上の部品と輝線との関係
を示した説明図である。 1・・・部品、2・・・輝線、3・・・レーザスリット
光、4・・・スリット光発生部、5・・・レーデ光諒、
6・・・ITVカメラ、7・・・2値化処理部、8・・
・端点検出部、9・・・演算部、IO・・・判定部、1
1・・・制御部、12・・・輝線の始点、13・・・輝
線の終点、14 、15 、16 。 17・・・輝線の端点、18 、19・・・端点な結ぶ
直線、20・・・端点な結ぶ直線より得られる交点、2
1・・・部品の外形、22・・・部品の中心、23・・
・印刷配線基板。 It!1 図 第2図 (A) (B) (C)
CD)第3図 94図 手わ℃ネ市正書(方式) %式% 3、補正を7る者 串イ′1との関gF、 特訂出鞘人 名 称 C583)松下電工株式会社4、代 理
人 〒′160 住 所 東京v6新宿区西新宿7丁目5番1()
号第2ミゾタビルディング7階 5、補正命令の日付 昭和61年8月G日 (発送日 昭相ら1年8月215
日)6、補正のス・j象
Claims (1)
- 印刷配線基板上の実装部品の外観検査方法において、印
刷配線基板面および部品の取付方向の各々に対し斜め方
向より部品を十分に含む幅のレーザスリット光を照射し
て部品上面および印刷配線基板上に輝線を作成する手段
と、印刷配線基板上方よりITVカメラにより撮像して
得られた画像情報から輝線のつながり具合および輝線端
点の位置を検出し部品の位置を測定する手段とを備え、
部品の有無、印刷配線基板平面上での位置ずれ、傾き、
高さ等の部品取付状態の検査を行うことを特徴とする実
装部品外観検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61144099A JPH07104132B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 実装部品外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61144099A JPH07104132B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 実装部品外観検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62299701A true JPS62299701A (ja) | 1987-12-26 |
JPH07104132B2 JPH07104132B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=15354170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61144099A Expired - Fee Related JPH07104132B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 実装部品外観検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07104132B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04148816A (ja) * | 1990-10-12 | 1992-05-21 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 形鋼材の形状寸法測定方法 |
JPH08136217A (ja) * | 1994-11-04 | 1996-05-31 | Daihatsu Motor Co Ltd | 位置検出装置 |
JP2008080349A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 被加工物の加工装置 |
WO2009075025A1 (ja) | 2007-12-11 | 2009-06-18 | Phonic Co., Ltd. | 段ボールフルートの不良検出装置 |
JP2012229946A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Nippon Avionics Co Ltd | 封止容器の検査方法及び検査装置 |
JP2015122420A (ja) * | 2013-12-24 | 2015-07-02 | 株式会社レクザム | 部品の傾き検査装置 |
JP2019524602A (ja) * | 2016-08-04 | 2019-09-05 | オペックス コーポレーション | 寸法閾値を超えて延在しているアイテムを検出する検出器を有する自動格納及び取得システム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5536730A (en) * | 1978-09-06 | 1980-03-14 | Toshiba Corp | Displaced position detector |
JPS6176903A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-19 | Fujitsu Ltd | 部品検査装置 |
JPS61130805A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-18 | Fujitsu Ltd | パツド位置検出装置 |
-
1986
- 1986-06-20 JP JP61144099A patent/JPH07104132B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US8593649B2 (en) | 2007-12-11 | 2013-11-26 | Phonic Co., Ltd. | Defect detector for corrugated cardboard flutes |
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JP2021098610A (ja) * | 2016-08-04 | 2021-07-01 | オペックス コーポレーション | 寸法閾値を超えて延在しているアイテムを検出する検出器を有する自動格納及び取得システム |
US11319149B2 (en) | 2016-08-04 | 2022-05-03 | Opex Corporation | Automated storage and retrieval system with detector for detecting items extending beyond dimensional threshold |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07104132B2 (ja) | 1995-11-13 |
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