JPS62280623A - 高感度電子秤の自動校正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 （産業上の利用分野） この発明は、秤量機構に影響を及ぼすパラメータの変化
を、秤量機構の評価回路またはマイクロプロセッサによ
って検出して処理する高感度電子秤の自動校正方法に関
するものである。

（従来の技術） 高感度性の秤の場合には、温度や空気圧力の変化、構成
部材の老化等によって、負荷重量が表示重量と一致しな
くなる。したがって秤は周期的に校正することが絶対必
要である。

高感度電子秤の誤差補償方法は公知であり、既に記述も
されている。

ドイツ国特許公告公報第３１０６５３４号によって、外
乱量として作用する実際の空気圧力を検出し、その検出
値を秤量値の電子評価時に連続的に加えることが公知と
なっている。

また測定器の補償方法として、測定結果に影響を及ぼす
可能性のある複数の構成要素の修正値を検出して記憶す
るものが、公知である（スイス国特許第６２４７７３号
明細書）が、これはさらに測定器の使用からの時間に関
する温度係数と老化による変動値とを検出して、コンピ
ュータによる最終的な測定値の算出時に考慮に入れてい
る。

この公知の誤差補償方法は、算出した測定結果を連続的
に修正するために、測定結果に影響を及ぼす因子の変動
値を利用している。

他の公知の方法（ヨーロッパ特許公報第４４７０７号）
は、自動的な新しい校正方法であるが一定の時間が経過
した際に、または秤量を所定回数行った場合に、あるい
はそれぞれの風袋の秤量後に、必ず引きはずされる方法
であり、このような融通のきかない仕組では、客観的；
こ全く必要でない場合にも校正が行われ、この結果秤量
時に無用の障害が生ずる。

（発明が解決しようとする問題点） これらのすべての方法は、手動あるいは備え付けのマイ
クロプロセッサによって、表示重量が負荷重量と合致す
るように秤量結果を校正する校正係数を計算している。

この公知の方法の欠点は、このような表示重量の検査が
行き当りぼったりにしか行われないという点である。

この発明の課題は、測定の経過と外乱量の時間別変化と
に応じて秤の校正を行うことができるようにする方法を
提供することである。

（問題点を解決するための手段） この発明によれば、外乱量の時間別変化に応じて調整さ
れる時間間隔をおいて、秤量結果に影響を及ぼす環境パ
ラメータを監視するとともに、それらのパラメータのお
のおのについて定められている限界値をチェックし、か
つそれらの限界値に未達の場合に校正を開始または表示
するプログラムを進行させることを特徴とする方法によ
って上記の課題は解決される。

（実施例） 次にこの発明を図示した実施例に基ついて説明する。

第１図においてブロック１には、校正に関係するたとえ
ば三つの環境の影響、すなわち温度Ｔと湿度Ｆと水平度
Ｎとの時間ｔに関する推移が記入されている。ブロック
２は時計であり、ブロック３は秤の測定経過を記憶する
不揮発性メモリーである。４は秤、５は表示器、６はコ
ンピューターである。時計（ブロック２）とメモリー（
ブロック３）は、最後の校正から経過した時間と測定の
経過とに従って校正するための引きはずし回路として働
き、ブロック１は、秤のデータが環境の影響によりもは
や信頼できないという警報をするための引きはずし回路
として機能する。

ブロック６のコンピューターは、供給される値を処理し
て、秤の校正を始めさせたり、それを光や音で周囲の昔
に知らせたりする。

コンヒユーターに記憶されて進行してい＜「自動校正」
のプログラムを示した流れ図（第２ａ図ないし＠２０図
）に基づいて、校正の詳細を説明する。なおＰ１〜ＰＩ
２は、流れ図の各ステップを示している。

主プログラムは、たとえば１秒ごとに、まず「自動校正
」の開始部分への飛越しを行う。Ｐｌではまず、自動校
正に切換えることができるスイッチが、どの位置に入っ
ているかを調べる。スイッチが「手動校市」の場合には
、表示器５に「非自動校旧」の文字が表示され、主プロ
グラムの最初の部分に復帰する。スイッチが「自動校正
」の場合には、表示器５に「自動校正」の文字が表示さ
れ、プログラムが先に進む。

Ｐ２ではタイマー１の設定時間が経過したかどうかを調
べる。時間Ｔ′ｌが経過していない場合には、主プログ
ラムの最初に戻る。時間Ｔ１が経過した場合には、プロ
グラムはＰ３に進む。

時間Ｔ１は、測定の経過、すなわち先行の校正の校正係
数によって定まる可変値である。たとえば最後の校正の
場合に１．００４という校正係数（読み）が得られ、新
たな測定では１．００６の校正係数が漏られた時、新旧
の校正係数の差（偏差）は、１．００６−１．　ＯＯ４
＝　０．　ＯＯ２＝ΔＫＦとなる。この差ΔＫＦが、次
の校正時間（データ）を決めるのに利用される。

時間Ｔ１は、Ｔｌ＝１／ΔＫＦ−Ｃ（Ｃは定数）であら
れされる。したがって校正係数の偏差が大きい場合には
、時間Ｔ１は短くなり、偏差が小さい場合には長くなる
。

偏差（ΔＫＦ）と時間（Ｔ１）の間の関係は、例として
述べたものに限定されない。これは各種について新たに
決めることかできる。また時間Ｔ１も、たとえばＴ１＝
ｆ（ΔＫＦ）というような、偏差（ΔＫＦ）　に関する
任意の関数を作って、そこから求めてもよい。このＰ３
てはタイマー２をｍＭ忍する。

時間が経過している場合には、「校正して下さい」の文
字が表示され、主プログラムの最初に復帰する。時間Ｔ
２が経過していない場合には、プログラムはＰ４１こ進
む。

時間Ｔ２は時間ＴＩより大きい。

Ｔ１とＴ２の間にプログラムによって校正を行うことが
できる。プログラムによりこの時間内（ＴＩからＴ２ま
で）に校正をすることができない場合には、表示器によ
り、秤を手で校正することが必要となる（表示：「校正
をして下さい」）。時間Ｔ２は時間Ｔ１の函数である。

最も簡単な場合には、時間Ｔ１に一定の時間を付加して
もよい。すなわちＴ２　＝Ｔ１　＋Ｍ０ 別の函数も考えられる。

Ｐ４ではタイマーＴ３を確認する（タイマーＴ３の説明
についてはＰｌ＋の説明箇所を参照）。時間Ｔ３が経過
していない場合には、主プログラムの最初に戻る。

時間Ｔ３が経過した場合には、プログラムはＰ５に進む
。Ｐ５では、装置の電源スィッチを入れた後に十分に長
い最低限の加熱時間待ちがあったか否かを確認する。時
間が十分でない場合には、主プログラムのはじめに戻る
。条件が満足されている場合には、プログラムは、Ｐａ
に進む。

Ｐａでは、温度測定機構の正または負の方向の温度勾配
が、所定値（限界値）をこえているか否かが確認される
。これにより温度が上昇または降下しすぎているときに
校正を行うというような事態が回避される。こえていな
い場合には、プログラムはＰ７に進む。

Ｐ７およびｐａ　、　Ｐ９では、Ｐａ　（温度）と同じ
ように、校正に影響する種々の量（第１図のブロック１
参照）が、限界値との比較において吟味される。

これらのステップで校正への影響が大き過ぎる場合には
、主プログラムのはじめに戻る。すべての条件が満足し
ていると（測定値が限界値よりも小さい）、プログラム
はＰＩＧに進む。

Ｐｌｏでは、次のｙ秒（可変値）で秤量が行われる可能
性があるか否かを吟味する。この目的のために別のプロ
グラムで、最後のＸ分（可変値）の測定結果を監視する
。この最後のＸ分の間に秤が利用されなかったとき、す
なわち秤量皿について動きが全く認められなかった場合
には、次のｙ秒では秤量が行われないと見なすことがで
きる。

最後のＸ分で秤量皿が動いた場合には、主プログラムは
、最初に戻る。そうでない場合には校正工程が始まる。

ｐＨでは、校正を行うことができたか否かが吟味される
。校正ができなかった場合には、工程は中止され、調節
タイマＴ３がスタートする。続いて主プログラムが最初
に戻る。

タイマＴ３により、次のプログラム過程（自動校正）に
おいて直ちに校正工程が再スタートすることが回避され
る。タイマＴ３の設定時間（たとえば１０分間）が経過
して初めて、校正工程を再び行うことができる。校正を
実行できた場合には、プログラムはＰＩ２に進む。

ＰＩ２では、新旧の校正係数の差の値（ΔＫＦ）が所定
値（限界値）を越えていないか否かが吟味される。限界
値を越えている場合には、エラー表示「秤は校正されて
いない」がなされる。この後主プログラムのはじめに戻
る。

新旧の校正係数の差（ΔＫＦ）が限界値を上回っている
場合、それは、恐らく何らかの外乱量について、秤の自
動校正を不可能ならしめるような、許容できないほど大
きな変動があったことを暗示しているのであろうと思わ
れる。この後主プログラムの新たな進行により、この外
乱量を確認することができる。たとえば温度、湿度など
が時間的にあまりに急速に変動しすぎるため、信頼し得
る秤量データが得られると期待すべきでない、というこ
とを表示することもある場合には重要なことかも知れな
い。

偏差（ΔＫＦ）が所定の限界値よりも小さい場合には、
上述した規則によりタイマの時間Ｔｌ　、　Ｔ２を計算
する。次いでこの時間と最後の校正および予測される次
の校正の日付けが表示される。最後に校正係数とその池
の関連値（温度、温度勾配、湿度、水準、時間、日付は
等）が、不揮発性メモリー（ブロック３）に表にまとめ
た形で整理される。

秤を一回で校正することができない場合には、不揮発性
メモリー（ブロック３）から測定の経過（ΔＫＦなど）
を読み取ることができる。この後この経過から結果につ
いて帰納的推理を行うことができる。

これ１こ続いて再び主プログラムのはじめに戻る。

（効果） この発明によって得られる利点は、プログラムの終了後
にマイクロプロセッサにおいて校正が実際に必要である
と見なされた場合や秤量が始まっていない場合に、修正
を要するパラメータの修正が校正のために利用されるこ
とにある。これにより秤量が行われていない場合に生ず
るたとえば振動作用や秤の傾斜などのような外乱量も考
慮できる。また特に測定結果の直接的な処理に不適当な
外乱量も考慮に入れることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はブロック線図、第２ａ図および第２ｂ図、第２
Ｃ図は流れ図である。 ２・・・時計、３・・メモリー、４・・秤、５・・表示
器、６　・コンピューター 特許出願人　　メトラー　インストルメンテアーゲー 同出願人　鎌　１）文　二

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）秤量機構の評価回路またはマイクロプロセッサによ
   つて、秤量結果に影響を及ぼすパラメータの変動を検出
   して処理する高感度電子秤の自動校正方法において、外
   乱量の時間別変化に応じて調整される時間間隔をおいて
   、秤量結果に影響を及ぼす環境パラメータを監視すると
   ともに、それらのパラメータのおのおのについて定めら
   れている限界値をチェックし、かつそれらの限界値に未
   達の場合に校正を開始および／または表示するプログラ
   ムを進行させることを特徴とする高感度電子秤の自動校
   正方法。 ２）プログラムが、第１のステップＰ＿１において、選
   択した校正方式（自動校正ＯＮまたはＯＦＦ）を確認し
   、自動校正に切換つていない場合にはプログラムの最初
   に復帰し、自動校正に切換つている場合には次のステッ
   プに進むことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   高感度電子秤の自動校正方法。 ３）プログラムの次のステップ（Ｐ＿２）においてタイ
   マー１を確認し、調節可能な時間（Ｔ１）が経過してい
   る場合には次のステップに進む一方、時間（Ｔ１）が経
   過していない場合にはプログラムの最初に復帰し、かつ
   時間（Ｔ１）が、校正係数（ＫＦ）の関数、または最後
   の２つの校正の校正係数（ＫＦ）の差の関数であること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の
   高感度電子秤の自動校正方法。 ４）プログラムの次のステップ（Ｐ＿３）においてタイ
   マ２を確認し、時間（Ｔ１）よりも大きい時間（Ｔ２）
   が経過していない場合には次のステップに進み、時間（
   Ｔ２）が経過している場合には校正のための記憶情報の
   読みを行うことを特徴とする特許請求の範囲第２項また
   は第３項記載の高感度電子秤の自動校正方法。 ５）プログラムの次のステップＰ＿４においてタイマ３
   を確認し、時間（Ｔ３）が経過していない場合にはプロ
   グラムの最初に復帰し、時間（Ｔ３）が経過している場
   合にはプログラムの次のステップに進むことを特徴とす
   る特許請求の範囲第４項記載の高感度電子秤の自動校正
   方法。 ６）プログラムの次のステップ（Ｐ＿５ないしＰ＿ｎ）
   において、所定の調節可能な環境パラメータの限界値を
   確認し、所定の限界値に未達の場合にはプログラムが次
   のステップに進み、限界値を越えた場合にプログラムの
   最初に復帰することを特徴とする特許請求の範囲第５項
   記載の高感度電子秤の自動校正方法。 ７）次のステップ（Ｐ＿ｎ＿＋＿１）において、最後の
   秤量からの時間ｘを決定の基礎として用いることにより
   、次のｙ秒以内に秤量が行われるか否かを確認し、次の
   ｙ秒の間に秤量が行われない場合には校正工程を実行す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第４項ないし第６項
   のいずれかに記載の高感度電子秤の自動校正方法。 ８）プログラムにより、校正工程が実施できたか否かを
   確認し、校正工程の実施の場合には、校正係数（ＫＦ）
   の変化を算出し、校正係数（ＫＦ）が所定の限界値以下
   の場合には、新しくタイマ１と２において時間（Ｔ１）
   と（Ｔ２）を調節することを特徴とする特許請求の範囲
   第３項記載の高感度電子秤の自動校正方法。 ９）次の予想校正時間と校正係数（ＫＦ）を記憶するこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第８項記載の高感度電子
   秤の自動校正方法。 １０）校正係数（ＫＦ）の変化が所定値よりも大きい場
   合に、プログラムが最初に復帰して表示することを特徴
   とする特許請求の範囲第８項記載の高感度電子秤の自動
   校正方法。