JPH0718739B2

JPH0718739B2 - 高感度電子秤の自動校正方法

Info

Publication number: JPH0718739B2
Application number: JP62011191A
Authority: JP
Inventors: バウマンアーサ
Original assignee: メトラートレドアーゲー
Priority date: 1986-05-23
Filing date: 1987-01-19
Publication date: 1995-03-06
Anticipated expiration: 2010-03-06
Also published as: CH670508A5; JPS62280623A; DE3714540C2; US4858161A; DE3714540A1

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は、秤量機構に影響を及ぼすパラメータを繰り
返しチェックし、その際パラメータの変化量に応じて校
正の周期を最適に調整することによって、校正が必要で
あるかどうかを正確に決定できる高感度電子秤の自動校
正方法に関する。

〔従来の技術及びその問題点〕

高感度の秤の場合は、温度や気圧の変化、構成部品の劣
化などによって誤差を生じ、負荷重量と表示重量とが一
致しなくなる。したがって、秤は、周期的に校正するこ
とが絶対必要である。

高感度電子秤の誤差補償方法は公知であり、例えば、温
度や気圧等測定時の外乱に対する補償方法として、実際
の気圧の変化を検出し、その検出値を秤量値の電気量へ
の変換時に連続的に加えることによって誤差の補償を行
なうドイツ国特許公告公報第3106534号に記載されたも
のがある。

また、スイス国特許第624773号明細書には、構成備品の
劣化に対する補償を行なうものとして、測定結果に影響
を及ぼす複数の構成部品の経年変化に対する校正値を記
憶させたものが記載されている。しかも、このもので
は、温度係数と部品の経年変化による校正値とをコンピ
ュータが最終的に測定結果を算出する際に考慮すること
により、誤差を減少させるようになっている。この公知
の誤差補償方法では、測定結果の連続した校正値を測定
結果に作用させるファクターの変数値として使用してい
るため、特に、校正用のファクターを重量測定に使用し
たこのものでは、表示重量と測定重量とを一致させるこ
とができる。

一方、校正を周期的繰り返して行なう方法としては、ヨ
ーロッパ特許公報第44707号に、一定の時間が経過した
際、または秤量を所定回数行なった場合やそれぞれの風
袋の秤量後に、校正のトリガが行なわれるものが記載さ
れている。

しかしながら、上記のような固定周期による校正方法で
は、例えば外乱が短時間に加わり、校正の周期よりも外
乱の変化のスピードの方が速くなった場合、校正が追従
できずに測定結果に大きな誤差を生じる問題がある。ま
たこれを解決しようと校正周期を短く設定しておくと度
々行なわれる校正によって測定が中断される問題があ
る。

また、校正が必要でない場合、例えば秤に自動校正の許
容範囲を越えるような大きな外乱が加わった場合などに
も校正が行なわれることとなる。そのため、その外乱に
基づいて校正が行なわれた場合、校正に大きな誤差を生
じることとなり、その無用の校正によって秤量中にしば
しば測定精度の低下を来す問題がある。

即ち、これら従来の補償方法の問題は、秤量時に再校正
が必要であるか、その校正に有効性があるかの考慮なし
に補償が行なわれる点にある。

そこで、この発明の課題は、秤量時に再校正が必要であ
るか、その校正に有効性があるかの考慮を行なって補償
を行ない測定精度の向上を図ることのできる高感度電子
秤の自動校正方法を提供することである。

〔課題を解決するための手段〕

上記の課題を解決するため、この発明では、秤量機構の
評価回路またはマイクロプロセッサによって、秤の校正
を秤量結果に影響を及ぼすパラメータの変動を検出し、
その変動に基づいて行なう高感度電子秤の自動校正方法
において、上記パラメータの変化量に応じて校正の周期
を決定し、その決定される校正の周期ごとに秤量結果に
影響を及ぼす上記パラメータを監視すると共に、その監
視したパラメータの値をあらかじめ決められた限界値と
比較し、その限界値内にパラメータの値がある場合に、
秤の校正とその表示のいずれか一方あるいはその両方を
行なうプログラムを実行させることにより、秤の校正を
行なうという方法を採用したのである。

このとき、上記プログラムが第１のステップP1におい
て、選択した校正方式（自動校正ONまたはOFF）を確認
し、自動校正に切り替わっていない場合はプログラムの
最初に復帰し、自動校正に切り替わっている場合には次
のステップP2に進むという方法、上記プログラムの次のステップP2において、タイマ手段
によって設定時間T1が経過しているかどうかを検出し、
経過している場合は、次のステップP3に進み、設定時間
T1が経過していない場合にはプログラムの最初に復帰
し、かつ設定時間T1が校正係数KFの関数、または最後の
２つの校正の校正係数KFの差の関数であるという方法、上記プログラムの次のステップP3において、タイマ手段
によって設定時間T1よりも大きい設定時間T2が経過して
いるかどうかを検出し、経過していない場合は、次のス
テップP4に進み、設定時間T2が経過している場合には、
校正ができない旨の表示を行なってプログラムの最初に
復帰するという方法、上記プログラムの次のステップP4において、タイマ手段
によって設定時間T3が経過しているかどうかを検出し、
経過していない場合はプログラムの最初に復帰し、設定
時間T3が経過している場合にはプログラムの次のステッ
プP5に進むという方法、上記プログラムの次のステップP5において、秤量結果に
影響を与えるパラメータをあらかじめ設定された限界値
と比較し、限界値に達しない場合は、プログラムが次の
ステップP6に進み、限界値を越えた場合には、プログラ
ムの最初に復帰する方法、上記次のステップPn＋１において、時間ｘの間に秤量が
行なわれるかどうかを検出することにより、次のｙ秒以
内に秤量が行なわれるか否かを判別し、次のｙ秒の間に
秤量が行なわれない場合には、校正を実行する方法、上記プログラムにより、校正ができたか否かを確認し、
校正が行われた場合は、校正係数KFの変化を算出し、校
正係数KFが所定の限界値以下の場合は、設定時間T1とT2
を再設定する方法、上記次の予想される校正周期と校正係数KFを記憶する方
法や上記校正係数KFの変化が所定値よりも大きい場合、プロ
グラムが最初に復帰し、その旨を表示するという方法を
採用することができる。

〔作用〕

このように構成される高感度電子秤の自動校正方法に係
る発明では、周期的に校正を行ない外乱の多少に係わら
ず校正を行うことができるので、例えば外乱があらかじ
め設定された値を越えた際に校正を行った場合に比べ、
設定された値に達する前に校正を行うことができるた
め、測定精度の向上を図ることができる。

また、秤量結果に影響を及ぼすパラメータの変動の変化
量に応じて校正の周期を決定するようにしたので、校正
の周期を外乱の状況に応じて調整することができる。こ
のため、校正周期が外乱の変化のスピードに応じてその
周期を変えることができるので、例えば外乱の変化が大
きく、外乱の変化のスピードが速くなった場合は、校正
周期を短く設定し、校正の頻度を多くして、測定精度の
向上を図ることができる。一方、外乱の変化が小さく外
乱の変化のスピードが遅い場合には、校正周期を長く設
定して校正の頻度を少なくし、必要の無い校正によって
測定が中断されるのを防ぐことができる。

さらに、その周期ごとに上記パラメータを監視し、その
監視したパラメータの値をあらかじめ決められた限界値
と比較することにより、その限界値内にパラメータの値
がある場合に校正を行なうので、その限界値を例えば、
秤が自動校正を正しく行なうことのできるパラメータの
変化量の上限値とすれば、自動校正を行なえる許容範囲
より大きな外乱が加わった場合に自動校正を行なわない
ように制御できる。また、パラメータの値を上限値と比
較するので、異状な外乱を検出して表示したり、秤の異
常を検出して表示することができる。

このとき、上記プログラムが第１のステップP1において
選択した校正方式を確認し、自動校正に切り替わってい
ない場合はプログラムの最初に復帰し、自動校正に切り
替わっている場合には、次のステップに進むことによ
り、自動校正の作動を制御する作動パラメータである作
動スイッチを監視してスイッチが自動校正OFFの場合
は、自動校正を行なわず、自動校正ONの場合には自動校
正を行なうようにできる。

以下、同じように、・上記プログラムが設定時間T1が経過している場合は次
のステップに進み、設定時間T1が経過していない場合に
はプログラムの最初に復帰することにより、このタイマ
作用によって設定時間T1を経過するまでは、次のステッ
プへ進んで自動校正が行なわれないようにして自動校正
の周期を決定することができる。その際、設定時間T1が
校正係数（KF）の関数、または最後の２つの校正の校正
係数（KF）の差の関数とすることにより、設定時間T1が
校正係数の値によって変化することになる。この校正係
数は外部要因によるパラメータの関数なので、パラメー
タの変動に応じて校正周期を制御できる。

・上記プログラムが次のステップP2において、設定時間
T1よりも大きな設定時間T2が経過していない場合は次の
ステップに進み、設定時間T2が経過している場合には、
プログラムの最初に復帰することにより、校正周期が設
定時間T1と設定時間T2に間る在るか、それとも設定時間
T2よりも大きいかを判別する。このとき、設定時間T2を
自動校正によって秤の測定精度を保証できる校正周期の
限界値に設定すれば、設定時間T2よりも校正周期が長く
なった場合、校正不能と判別できる。

・上記プログラムが設定時間T3が経過していない場合
に、プログラムの最初に復帰し、設定時間T3が経過して
いる場合には、プログラムを次のステップへ進めること
によりループを形成し、そのループによってプログラム
の実行を設定時間T3の間一時停止するように制御でき
る。このため、この待機時間によって例えば、外乱によ
って一時的に校正が行えない場合でも校正を一時停止
し、外乱の終息を計るようにすれば、校正を行なうこと
ができる。

・上記プログラムがパラメータの限界値を確認し、パラ
メータが限界値に達していない場合に、プログラムが次
のステップに進み、限界値を越えた場合には、プログラ
ムの最初に復帰することによって、パラメータと限界値
との比較を行い、限界値により自動校正を実行するか否
かの制御を行なうことができる。このとき、限界値を自
動校正を行なうことのできる外乱量の限界値とすれば、
自動校正が行なえるかを判別し、可能な場合は自動校正
が行なえるようにできる。

・上記プログラムが時間ｘの間秤量が行なわれるかどう
かを検出し、秤量が行なわれないと、今後ｙ秒の間に秤
量が行なわれないとして測定動作の有無を判別し、その
判別結果から秤量が行なわれる場合は、校正を行なわな
いように制御することによって、測定動作を中断しない
ようにできる。

・上記プログラムにより、校正が実施できた場合に校正
係数の変化、即ち、新旧の校正係数の差を算出し、その
差をあらかじめ設定した限界値と比較することによって
校正係数が外乱により、特異な値をとったものでないこ
とを判別し、特異なものでない場合、その値を用いて次
の校正周期を決定するように制御することができる。

・次の予想される校正時間と校正係数とを記憶させるこ
とにより、そのデータを読み出して例えば、一回の校正
で校正が行なえない場合、その読み出したデータを用い
て帰納法的推論から校正を行なうようにできる。

・校正係数の変化を所定値と比較し、所定値よりも校正
係数の変化が大きい場合、プログラムの最初に復帰する
ことにより、例えば所定値を限界値とすれば、大きな外
乱が加わったことが考えられるため、プログラムを最初
に復帰して校正を中止するように制御し、かつ、そのこ
とを表示して異常の報知もできる。

〔実施例〕

以下、この発明を図面に基づいて説明する。

第１図に、この発明に係る高感度電子秤のブロック図を
示す。符号２はクロックであり、符号３は秤４の測定結
果を記憶する不揮発性メモリ、５は表示器、６はコンピ
ュータである。符号１には、コンピュータ６にセットさ
れる秤４の校正に影響を与える三つの外部要因即ち、温
度Ｔ、湿度Ｆ、水平度Ｎの限界値を時間ｔに基づいて図
示したものを示す。

クロック２とメモリ３とは自動校正の際のトリガに用い
るためのもので、クロック２は先の校正からの経過時間
を測定するのに用いられ、メモリ３は、過去の測定結果
を記憶するのに用いられる。

コンピュータ６は、符号１にセットされた各パラメータ
等を処理し、秤４の校正を始めさせたり、それを光や音
により、測定者に報知する。

次に、本発明に係る自動校正の方法を、コンピュータ６
に記憶されて進行していく「自動校正」の副プログラム
を示した流れ図（第２図‖乃至第２図‖）に基づいて説
明する。なお、図中符号P1〜P12は、フローチャートの
各ステップを示す。

主プログラム（図示せず）は、例えば割り込み処理によ
り、１秒ごとに自動校正の副プログラムへのジャンプを
行なう。

副プログラムでは、ステップP1で、まず、自動校正と手
動校正との切り替えスイッチがどちらに切り替わってい
るかを調べる。このとき、スイッチが手動校正に切り替
えられている場合は、表示器６に「非自動校正」の文字
を表示し、主プログラムへ復帰する。スイッチが自動校
正の場合は、「自動校正」の文字を表示してプログラム
は次のステップへすすむ。

次のステップP2,P3,とP4では、過去の測定結果と自動校
正を行なうことのできなかった経過時間とから自動校正
の周期を決定する。この周期は、自動校正を行なってか
らの経過時間が設定時間T1またはT2とが一致するか、ま
た、T2よりも大きいかどうかを判別することによって決
定され、そして前記経過時間がタイマ設定時間T3と一致
するかどうかによって自動校正を行なうことができたか
どうかを判定する。

即ち、ステップP2では、自動校正を行なってから設定時
間T1が経過したかどうかを判別し、このとき、もし、設
定時間T1を経過していなければ校正周期に達していない
ので主プログラムへ復帰する。また、設定時間T1を経過
している場合には、校正周期に達したので次のステップ
P3へすすむ。

ここで、設定時間T1は過去の測定結果によって決められ
る可変値であり、特に、先の校正の際求めた値を逆比例
させることにより求めたものである。例えば、先の校正
の校正係数（測定値）が1.004と測定され、今回の測定
で1.006の校正係数が測定されたと仮定すると、古い校
正係数と新しい校正係数との差（偏差）は1.006−1.004
＝0.002＝ΔKFとなる。すなわち、自動校正を行なう周
期T1は T1＝Ｃ・1/ΔKF C:定数となり、この設定時間によって判別される。その結果、
校正係数の偏差が大きい場合は設定時間T1は短くなり、
自動校正の周期は短くなる。逆に、偏差が小さい場合に
は自動校正の周期は長くなる。このため、例えば外乱が
短時間に加わり、外乱の変化のスピードが速くなると、
校正周期が短くなり、校正の頻度が多くなって測定精度
の低下を防止し、測定精度の向上を図ることができる。
逆に、外乱の変化のスピードが遅く外乱の影響が少ない
場合は、校正周期が長くなって、校正の頻度を少なく
し、無用の校正によって測定が中断されるのを防いで測
定がスムーズに行なえるようにできる。なお、この偏差
（ΔKF）と設定時間T1の関係は例として述べたものに限
定されることなく、他の秤に応じて新たなものを決める
ことができる。また、同様に、設定時間T1も例えば、T1
＝（ΔKF）というような偏差（ΔKF）の関数を作ってそ
れから求めても良い。

ステップP3では、時間設定T2が経過したかどうかが判別
される。もし、このとき、設定時間T2が経過している
と、自動校正を行なう処理時間を超過しているので、例
えば秤に不都合が生じて自動校正が行なえない状態に陥
っていることが考えられるため、プログラムは再校正を
実行せず、表示器５に「校正して下さい」の文字を表示
し、主プログラムへ復帰する。

この表示がなされると、操作者が手動によって校正を行
なう。一方、設定時間T2がまだ経過していない場合は、
校正をプログラムによる自動校正によって行なうことが
できるので、プログラムはステップP4を実行する。

ここで、この設定時間T2は設定時間T1の関数であって、
最も簡単なケースとして式（１）に示すように、設定時
間T1に一定の時間Ｍを加えたものでも良い。

T2＝T1＋Ｍ …（１）また、設定時間T2はこの関数に限定されることはなく、
他の関数であっても良い。

ステップP4では、後のステップP11で述べる計時用のタ
イマにより、計数される校正ができなかった時点からの
経過時間が設定時間T3を越えたかどうかを判別する。も
し、設定時間T3を経過していない場合は、主プログラム
へ復帰することにより、校正のできない原因を取り除く
（ステップP11参照）。また、設定時間T3を経過した場
合には、プログラムを継続して次のステップP5へすす
む。

ステップP5は、装置の電源スイッチを入れてから、十分
なウォームアップ時間が経過したかどうかを確認する。
このとき、ウォームアップ時間が十分でない場合は、主
プログラムへ復帰し、ウォームアップ時間が十分経過し
ている場合には、プログラムを継続して次のステップP6
へすすむ。

ステップP6では、秤４の温度測定装置の温度勾配が少な
くとも設定された正負の方向の限界値よりも小さいかど
うかを判別する。このとき、もし、温度勾配が限界値を
越えているようであれば、プログラムは主プログラムへ
復帰する。そして、自動校正が大きな温度上昇または温
度低下がある間に行なわれないようにして大きな温度上
昇や低下による大きな偏差が校正の精度を低下させない
ようにする。

一方、このとき、条件が合えばプログラムは次のステッ
プP7,P8及びP9で、ステップP6（温度）の場合と同じよ
うに、校正に影響する種々のパラメータ（第１図のブロ
ック図の符号１参照）をそれぞれの限界値と比較し、そ
の値が限界値を越えていれば、主プログラムへ復帰す
る。また、全てのパラメータが限界値よりも小さな場合
は、プログラムを継続してステップP10へすすむ。

ステップP10では、別のプログラムで過去Ｘ分間の測定
結果を監視することにより、次のＹ秒間に測定が行なわ
れる見込みがないかどうかを判別する。この場合、Ｘ分
とＹ秒は可変される値であり、そのＹ秒の値は例えば、
10秒程度が好ましい。また、この判断を例えば、先のＸ
分間に測定皿の動きの無いことを検出することによっ
て、次のＹ秒間に秤量が行なわれないものと仮定する。
そして、プログラムは、校正を始める。一方、測定皿が
Ｘ分間に動かされた場合、次のＹ秒間に秤量が行なわれ
るものとしてプログラムは主プログラムへ復帰する。こ
のようにして測定が校正によって中断されないようにす
る。

ステップP11では、自動校正を行なうことができたかど
うかを判別する（例えば、自動校正を行なうことができ
なかった場合として、電源のトラブルや不要な振動など
の原因により、自動校正が実行できなかった場合があ
る）。もし、自動校正を実行できなかった場合は、処理
を中断して計時用のタイマをスタートさせて主プログラ
ムへ復帰する。この計時用のタイマは再校正できなかっ
た時点から設定時間T3までの時間を累積する。このた
め、ステップP4では、次のプログラムがすぐにスタート
して再校正処理が行なわれるのを防ぎ、タイマ設定時間
T3が経過するまで再校正が行なわれるのを遅らせること
ができる。そして、プログラムの開始を遅らせ、その間
に自動校正を行なえない外乱の終息を計り、自動校正が
できるようにする。この時の設定時間T3は例えば10分程
度が望ましい。一方、自動校正が実行可能であれば、プ
ログラムはステップP12へすすむ。

ステップP12では、新旧の校正係数（ΔKF）の差が設定
値よりも小さいかどうかが測定される。もし、新旧の校
正係数（ΔKF）の差が限界値を超えている場合、この点
において校正係数の一つが許可できない程大きく変化し
たのであり、それが秤の自動校正をできなくしたのであ
る（この校正係数の変化は、主プログラム（図示せず）
を新たに実行することにより、明らかにすることができ
る）。それ故、もし、校正係数の差が限界値を超えた場
合、表示器５に「秤は校正されていない」という旨のエ
ラー表示を行なって、プログラムは主プログラムへ復帰
する。一方、校正係数が設定された限界値よりも小さな
場合、設定時間T1,T2を上述した方法により算出し、そ
の算出した設定時間T1とT2とを新たな設定時間としてセ
ットする。同時に、先と次の校正の時間と日付とを表示
器５に表示し、最後に校正係数とその他重要なパラメー
タ（例えば温度、温度勾配、湿度、水平度、時間、日
付）等を表にして不揮発性メモリにファイルする。そし
て、もし、秤４が一回で校正を行なえない場合は、過去
の測定結果（ΔKF等）を不揮発性メモリから読出し、そ
の測定結果から帰納法的推理により、校正を行なえるよ
うにする。

これに続いて再び主プログラムのはじめに戻って繰り返
し校正の処理を行なう。

〔効果〕

本願発明は、以上のように構成し、秤の秤量結果に影響
を及ぼすパラメータの変化量に応じて校正の周期を決定
し、その決定される校正の周期ごとに秤量結果に影響を
及ぼすパラメータを監視することにより、外乱が自動校
正を行なうことのできる許容範囲内である場合にのみ校
正を実行し、それ以上の外乱が加わった場合にその外乱
に基づく校正が行なわれないようにして校正が必要であ
るか、またその校正に有効性があるかの判別を行ない、
校正を実際に必要な場合にのみ行うことができる。この
ため、秤の精度の低下を防止することができる。

また、そのとき、校正周期の時間をパラメータの変化の
スピードに応じて変えることにより、外乱の変化のスピ
ードが速くなると、校正を行なう頻度を多くして測定精
度の低下を防止し、測定精度の向上を図ることができる
と同時に、外乱の変化のスピードが遅い時は、校正周期
を長く設定して校正を行なう頻度を少なくし、無用な校
正により、測定が中断されるのを防いで測定がスムーズ
に行なえるようにできる。

したがって、校正が必要であるか、その校正に有効性が
あるかの判断を行ないかつ、測定精度の向上を図ること
のできる高感度電子秤の自動校正方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はブロック線図、第２図（ａ）、（ｂ）及び
（ｃ）は流れ図である。２……クロック、３……メモリ、４……秤、５……表示器、６……コンピュータ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】秤量機構の評価回路またはマイクロプロセ
ッサ６によって、秤４の校正を秤量結果に影響を及ぼす
パラメータの変動を検出し、その変動に基づいて行なう
高感度電子秤の自動校正方法において、上記パラメータの変化量に応じて校正の周期を決定し、
その決定される校正の周期ごとに秤量結果に影響を及ぼ
す上記パラメータを監視すると共に、その監視したパラ
メータの値をあらかじめ決められた限界値と比較し、そ
の限界値内にパラメータの値がある場合に、秤４の校正
とその表示のいずれか一方あるいはその両方を行なうプ
ログラムを実行させることにより、秤４の校正を行なう
高感度電子秤の自動校正方法。
【請求項２】プログラムが第１のステップP1において、
選択した校正方式（自動校正ONまたはOFF）を確認し、
自動校正に切り替わっていない場合はプログラムの最初
に復帰し、自動校正に切り替わっている場合には次のス
テップP2に進むことを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の高感度電子秤の自動校正方法。
【請求項３】プログラムの次のステップP2において、タ
イマ手段によって設定時間T1が経過しているかどうかを
検出し、経過している場合は、次のステップP3に進み、
設定時間T1が経過していない場合にはプログラムの最初
に復帰し、かつ設定時間T1が校正係数KFの関数、または
最後の２つの校正の校正係数KFの差の関数であることを
特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の高
感度電子秤の自動校正方法。
【請求項４】プログラムの次のステップP3において、タ
イマ手段によって設定時間T1よりも大きい設定時間T2が
経過しているかどうかを検出し、経過していない場合
は、次のステップP4に進み、設定時間T2が経過している
場合には、校正ができない旨の表示を行なってプログラ
ムの最初に復帰することを特徴とする特許請求の範囲第
２項または第３項記載の高感度電子秤の自動校正方法。
【請求項５】プログラムの次のステップP4において、タ
イマ手段によって設定時間T3が経過しているかどうかを
検出し、経過していない場合はプログラムの最初に復帰
し、設定時間T3が経過している場合にはプログラムの次
のステップP5に進むことを特徴とする特許請求の範囲第
４項記載の高感度電子秤の自動校正方法。
【請求項６】プログラムの次のステップP5において、秤
量結果に影響を与えるパラメータをあらかじめ設定され
た限界値と比較し、限界値に達しない場合は、プログラ
ムが次のステップP6に進み、限界値を越えた場合には、
プログラムの最初に復帰することを特徴とする特許請求
の範囲第５項記載の高感度電子秤の自動校正方法。
【請求項７】次のステップPn＋１において、時間ｘの間
に秤量が行なわれるかどうかを検出することにより、次
のｙ秒以内に秤量が行なわれるか否かを判別し、次のｙ
秒の間に秤量が行なわれない場合には、校正を実行する
ことを特徴とする特許請求の範囲第４項乃至第６項のい
ずれかに記載の高感度電子秤の自動校正方法。
【請求項８】プログラムにより、校正が行なわれたかど
うかを確認し、校正が行なわれた場合は、校正係数KFの
変化を算出し、その算出した校正係数KFが所定の限界値
以下の場合には、設定時間T1とT2を再設定することを特
徴とする特許請求の範囲第３項記載の高感度電子秤の自
動校正方法。
【請求項９】次の予想される校正周期と校正係数KFを記
憶することを特徴とする特許請求の範囲第８項記載の高
感度電子秤の自動校正方法。
【請求項１０】校正係数KFの変化が所定値よりも大きい
場合、プログラムが最初に復帰し、その旨を表示するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第８項記載の高感度電子
秤の自動校正方法。