JPS61175527A - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
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- JPS61175527A JPS61175527A JP1745785A JP1745785A JPS61175527A JP S61175527 A JPS61175527 A JP S61175527A JP 1745785 A JP1745785 A JP 1745785A JP 1745785 A JP1745785 A JP 1745785A JP S61175527 A JPS61175527 A JP S61175527A
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- Japan
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- span
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は電子天びんに関する。
〈従来の技術〉
一般に、電子天びんは、試料に働く重力の加速度による
力を、電磁力で平衡させたり、あるいは弾性体の歪や振
動弦等の振動数変化におきかえて検出し、その検出値を
質量に換算して表示している。この為、設置場所が変っ
て重力の加速度が変化すると、正しい質量を表示し得な
くなるから、換算する為の係数を更新する、いわゆるス
パン較正を行う必要がある。また、使用されている電子
パーツは、温度依存性や経年変化特性を有し、高精度な
ものになる程頻繁にスパン較正が必要となる。
力を、電磁力で平衡させたり、あるいは弾性体の歪や振
動弦等の振動数変化におきかえて検出し、その検出値を
質量に換算して表示している。この為、設置場所が変っ
て重力の加速度が変化すると、正しい質量を表示し得な
くなるから、換算する為の係数を更新する、いわゆるス
パン較正を行う必要がある。また、使用されている電子
パーツは、温度依存性や経年変化特性を有し、高精度な
ものになる程頻繁にスパン較正が必要となる。
スパン較正の仕方は、基準となる質量を有する分銅を皿
上に載せ、そのときの表示値がその分銅質量と一致する
よう、可変抵抗を調整したり、あるいはあらかじめスパ
ン較正用プログラムを内蔵しておき、スパン較正モード
にして基準分銅を載せることにより、換算係数を更新す
ることが行なわれる。
上に載せ、そのときの表示値がその分銅質量と一致する
よう、可変抵抗を調整したり、あるいはあらかじめスパ
ン較正用プログラムを内蔵しておき、スパン較正モード
にして基準分銅を載せることにより、換算係数を更新す
ることが行なわれる。
上述した、試料を載せることにより加わる力を検出する
検出部の出力は、力の大きさに対してできるだけ直線性
を有するような工夫や調整が行なわれるものの、完全な
直線性を有するもつではない。従って、従来の電子天び
んのスパン較正時において、検出部出力の直線性誤差の
為に、箒３図に示す如く軽い分銅を用いて較正すると、
本来あるべき較正直線Ａから進段した直線Ｂなる較正直
線を得てしまい、ひょう量値近傍においては誤差が拡大
されてしまう。その為、従来の電子天びんでは、当該電
子天びんのひょう量値に近い較正荷重で較正することが
一般的に行われている。
検出部の出力は、力の大きさに対してできるだけ直線性
を有するような工夫や調整が行なわれるものの、完全な
直線性を有するもつではない。従って、従来の電子天び
んのスパン較正時において、検出部出力の直線性誤差の
為に、箒３図に示す如く軽い分銅を用いて較正すると、
本来あるべき較正直線Ａから進段した直線Ｂなる較正直
線を得てしまい、ひょう量値近傍においては誤差が拡大
されてしまう。その為、従来の電子天びんでは、当該電
子天びんのひょう量値に近い較正荷重で較正することが
一般的に行われている。
〈発明が解決しようとする問題点〉
大ひょう量の電子天びんでは、従って、数ｋｇとか数十
ｋｇという大きなしかも正確な質量を有する較正用分銅
が必要となり、経済的にも労力的にも大きな負担となっ
ていた。
ｋｇという大きなしかも正確な質量を有する較正用分銅
が必要となり、経済的にも労力的にも大きな負担となっ
ていた。
ひょう量の数分の−の質量の較正用分銅と、拡大レバー
を内蔵し、スパン較正時にその較正用分銅を拡大レバー
を介して荷重検出部に負荷することにより、荷重検出部
には実質的にひょう量値近傍の負荷が作用するよう較正
する方法もあるが、コストアップになるばかりでなく、
レバー比が経時的に狂いを生ずる等の欠点がある。
を内蔵し、スパン較正時にその較正用分銅を拡大レバー
を介して荷重検出部に負荷することにより、荷重検出部
には実質的にひょう量値近傍の負荷が作用するよう較正
する方法もあるが、コストアップになるばかりでなく、
レバー比が経時的に狂いを生ずる等の欠点がある。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、ひよう量の１／
２未満のあらかじめ設定された較正質量により、ひょう
量値質量を用いた場合と同等の正確なスパン較正を行な
うことができ、もってひよう量よりも大巾に軽い分銅を
用いてスパン較正を行うことのできる電子天びんの提供
を目的としている。
２未満のあらかじめ設定された較正質量により、ひょう
量値質量を用いた場合と同等の正確なスパン較正を行な
うことができ、もってひよう量よりも大巾に軽い分銅を
用いてスパン較正を行うことのできる電子天びんの提供
を目的としている。
く問題点を解決する為の手段〉
本発明の構成を、第１図に示す機能ブロック図に基づい
て説明する。
て説明する。
荷重検出部は皿上荷重に対応した電気信号を出力する。
通常の測定値においては、その出力を質量換算手段によ
り換算°係数を用いて質量に換算し、計量値として表示
する。スパン較正手段は、当該電子天びんのひょう量の
１／２未満の較正質量を荷重検出部に負荷したときに、
当該較正質量と荷重検出部出力に基づいて、換算係数を
算出してその値を更新するが、この算出時には、荷重検
出部出力を直線性誤差量記憶手段の内容で補正した値が
用いられる。この直線性誤差量記憶手段には、当該電子
天びんの出荷時等において求められた、荷重検出部出力
の較正直線Ａに対する上述ψ較正質量負荷時における誤
差量δが格納されている。
り換算°係数を用いて質量に換算し、計量値として表示
する。スパン較正手段は、当該電子天びんのひょう量の
１／２未満の較正質量を荷重検出部に負荷したときに、
当該較正質量と荷重検出部出力に基づいて、換算係数を
算出してその値を更新するが、この算出時には、荷重検
出部出力を直線性誤差量記憶手段の内容で補正した値が
用いられる。この直線性誤差量記憶手段には、当該電子
天びんの出荷時等において求められた、荷重検出部出力
の較正直線Ａに対する上述ψ較正質量負荷時における誤
差量δが格納されている。
〈作用〉
以上の構成になる本発明の作用を、第３図に示すグラフ
を参照しつつ説明する。出荷時等においてひょう量値近
傍質量によってスパン較正を行い、較正直線Ａを得て、
次に、ひょう量の１／２未満のあらかじめ設定した較正
質量を負荷し、そのときの荷重検出部出力の較正直線Ａ
に対する誤差量δを求め、その値を直線性誤差量記憶手
段に格納しておく。以後のスパン較正時においては、較
正質量を負荷したときの荷重検出部出力から、上述の誤
差量δを減算した値と、その較正質量値とを用いて換算
係数（較正直線の傾き）を求めることにより、ひょう量
値近傍の質量を用いて較正した場合と同等の正確さで較
正を行うことができる。
を参照しつつ説明する。出荷時等においてひょう量値近
傍質量によってスパン較正を行い、較正直線Ａを得て、
次に、ひょう量の１／２未満のあらかじめ設定した較正
質量を負荷し、そのときの荷重検出部出力の較正直線Ａ
に対する誤差量δを求め、その値を直線性誤差量記憶手
段に格納しておく。以後のスパン較正時においては、較
正質量を負荷したときの荷重検出部出力から、上述の誤
差量δを減算した値と、その較正質量値とを用いて換算
係数（較正直線の傾き）を求めることにより、ひょう量
値近傍の質量を用いて較正した場合と同等の正確さで較
正を行うことができる。
〈実施例〉
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第２図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
荷重検出部１は皿ｌａ上に載せられた荷重に対応する電
気信号を出力し、そのデジタル変換データは制御部２に
取り込まれる。制御部２はマイクロコンピュータによっ
て構成され、各種演算やプログラムの実行、および各周
辺機器の制御を行うＣＰＵ２１、測定プログラムやスパ
ン較正プログラムが書き込まれたＲＯＭ２２、後述する
換算係数にや誤差量δを記憶する為の不揮発性ＲＡＭ２
３゜および荷重検出部１がらのデジタル変換データや各
種演算結果等を記憶するエリアを備えたＲＡＭ２４等を
有し、これらは互いにパスラインによって接続されてい
る。制御部２には、ＣＰＵ２１がらの指令に基づいて計
量値を表示する表示器３が接続されている。
気信号を出力し、そのデジタル変換データは制御部２に
取り込まれる。制御部２はマイクロコンピュータによっ
て構成され、各種演算やプログラムの実行、および各周
辺機器の制御を行うＣＰＵ２１、測定プログラムやスパ
ン較正プログラムが書き込まれたＲＯＭ２２、後述する
換算係数にや誤差量δを記憶する為の不揮発性ＲＡＭ２
３゜および荷重検出部１がらのデジタル変換データや各
種演算結果等を記憶するエリアを備えたＲＡＭ２４等を
有し、これらは互いにパスラインによって接続されてい
る。制御部２には、ＣＰＵ２１がらの指令に基づいて計
量値を表示する表示器３が接続されている。
通常の測定時には測定プログラムが実行されるが、この
プログラムにおいては、荷重検出部１からのデジタル変
換データＷ＾を、次の（１）式によって質、量Ｗｅに換
算して表示器３に表示する。
プログラムにおいては、荷重検出部１からのデジタル変
換データＷ＾を、次の（１）式によって質、量Ｗｅに換
算して表示器３に表示する。
Ｗｅ＝Ｗ＾×Ｋ ・・・（１）
ここでＫは換算係数であって、設置場所の変更に伴う重
力加速度の変化時や、雰囲気温度の相違や各部パーツの
経年変化に対応して、以下に述べるスパン較正プログラ
ムの実行により、更新される。
ここでＫは換算係数であって、設置場所の変更に伴う重
力加速度の変化時や、雰囲気温度の相違や各部パーツの
経年変化に対応して、以下に述べるスパン較正プログラ
ムの実行により、更新される。
スパン較正プログラムは、この電子天びんのひょう量の
１／２未満の、あらかじめ設定された較正質量を持つ分
銅等を皿ｌａ上に載せ、当該プログラムの選択を指定す
ることによって実行される。
１／２未満の、あらかじめ設定された較正質量を持つ分
銅等を皿ｌａ上に載せ、当該プログラムの選択を指定す
ることによって実行される。
ひょう量５００ｇの電子天びんにおいては、例えば較正
質量ｗｅｓを１００．ＯＯｇに設定しておく。そして、
その質量を持つ分銅を負荷したときの荷重検出部１の出
力がＷＡｓであるとき、次の（２）式により換算係数Ｋ
を算出し、不揮発性ＲＡＭ２３内の換算係数の値を更新
する。
質量ｗｅｓを１００．ＯＯｇに設定しておく。そして、
その質量を持つ分銅を負荷したときの荷重検出部１の出
力がＷＡｓであるとき、次の（２）式により換算係数Ｋ
を算出し、不揮発性ＲＡＭ２３内の換算係数の値を更新
する。
δは第３図に示す如く、荷重検出部１の出力の、較正質
量ＷＢｓ負荷時における直線性誤差量である。この値は
、例えば製造段階や出荷時において、この電子天びんの
ひょう量に相当する質量を負荷したときの出力ＷＡＦｓ
と、その１／Ｎに相当する較正質量を負荷したときの出
力ｗＡｓを求め、次の（３）式によって算出することが
できる。
量ＷＢｓ負荷時における直線性誤差量である。この値は
、例えば製造段階や出荷時において、この電子天びんの
ひょう量に相当する質量を負荷したときの出力ＷＡＦｓ
と、その１／Ｎに相当する較正質量を負荷したときの出
力ｗＡｓを求め、次の（３）式によって算出することが
できる。
得られた誤差量δは、不揮発性ＲＡＭ２３に格納してお
く。
く。
以上の（２）式によって算出された換算係数には、第３
図において、ひよう量に相当する質量を用いて得た較正
直線Ａの傾きと、全く同等の値となる。
図において、ひよう量に相当する質量を用いて得た較正
直線Ａの傾きと、全く同等の値となる。
ちなみに、従来の電子天びんにおいてひょう量の１／Ｎ
の質量を用いて換算係数を求めると、その値は同図Ｂに
示す値となり、ひょう量近傍の表示値に大きな誤差を生
ずることになる。
の質量を用いて換算係数を求めると、その値は同図Ｂに
示す値となり、ひょう量近傍の表示値に大きな誤差を生
ずることになる。
なお、以上の実施例において、ＲＯＭ２２に直線性誤差
量算出プログラムを書き込んでおき、出荷時にこのプロ
グラムを選択することにより、（３）式の演算とδの格
納を自動化することもできる。
量算出プログラムを書き込んでおき、出荷時にこのプロ
グラムを選択することにより、（３）式の演算とδの格
納を自動化することもできる。
更に、以上の較正質量ＷＡｓを用いたスパン較正に加え
、ひょう量質量を用いたスパン較正も行えるようにし、
切替回路又はプログラムにより、任意のものを選択し得
るよう構成することも可能である。また、スパン較正プ
ログラムを選択して、このいずれかの質量を負荷したと
き、荷重検出部１の出力の大きさに基づいて、自動的に
どちらの質量による較正であるかを判断し、較正を実行
するよう構成することもできる。
、ひょう量質量を用いたスパン較正も行えるようにし、
切替回路又はプログラムにより、任意のものを選択し得
るよう構成することも可能である。また、スパン較正プ
ログラムを選択して、このいずれかの質量を負荷したと
き、荷重検出部１の出力の大きさに基づいて、自動的に
どちらの質量による較正であるかを判断し、較正を実行
するよう構成することもできる。
なお、較正用分銅を内蔵する電子天びんに本発明を通用
する場合、その分銅の質量は当然、上述の較正質量ＷＢ
ｓを有するものとすることは云うまでもない。
する場合、その分銅の質量は当然、上述の較正質量ＷＢ
ｓを有するものとすることは云うまでもない。
また、スパン較正プログラムにおいては、較正質量負荷
時の荷重検出部１の出力を多数回読み取り、その平均値
でもってｗＡｓとすることにより、実質的に天びんの分
解能を向上させ、得られた換算係数にはより正確な値と
なる。
時の荷重検出部１の出力を多数回読み取り、その平均値
でもってｗＡｓとすることにより、実質的に天びんの分
解能を向上させ、得られた換算係数にはより正確な値と
なる。
く効果〉
以上説明したように、本発明によれば、天びんのひょう
量よりも大巾に軽い質量を用いて、ひょう貴信近傍の質
量を用いた場合と同等の正確なスパン較正を行うことが
できるから、大質量でしかも精密な較正用分銅をユーザ
ー等において用意する必要がなく、特に大ひょう量の電
子天びんにおいて、その経済的労力的効果は大である。
量よりも大巾に軽い質量を用いて、ひょう貴信近傍の質
量を用いた場合と同等の正確なスパン較正を行うことが
できるから、大質量でしかも精密な較正用分銅をユーザ
ー等において用意する必要がなく、特に大ひょう量の電
子天びんにおいて、その経済的労力的効果は大である。
また、較正用分銅を内蔵する形式の電子天びんに本発明
を適用する場合においては、電子天びんのコストを低減
することができる。
を適用する場合においては、電子天びんのコストを低減
することができる。
第１図は本発明の構成を示す機能ブロック図、第２図は
本発明実施例の構成を示すブロック図、第３図は本発明
の詳細な説明するグラフである。 １・・・荷重検出部 ２・・・制御部 ３・・−表示器 ２１・・・ＣＰＵ ２２・・・ＲＯＭ ２３・・・不揮発性ＲＡＭ ２４・・・ＲＡＭ 特許出願人 株式会社島津製作所 代 理 人 弁理士 西１） 新 第１図
本発明実施例の構成を示すブロック図、第３図は本発明
の詳細な説明するグラフである。 １・・・荷重検出部 ２・・・制御部 ３・・−表示器 ２１・・・ＣＰＵ ２２・・・ＲＯＭ ２３・・・不揮発性ＲＡＭ ２４・・・ＲＡＭ 特許出願人 株式会社島津製作所 代 理 人 弁理士 西１） 新 第１図
Claims (3)
- （１）皿上荷重に応じた電気信号を発生する荷重検出部
の出力を、係数を用いて質量に換算して計量値として表
示するよう構成された天びんにおいて、当該天びんのひ
ょう量の１／２未満のあらかじめ設定された較正質量を
負荷したときにおける上記荷重検出部の直線性誤差量を
記憶する手段と、上記較正質量の負荷時に当該質量と上
記荷重検出部出力に基づいて上記係数を算出して更新す
るスパン較正手段とを備え、そのスパン較正手段による
上記係数の算出時に、上記荷重検出部出力を上記直線性
誤差量で補正した値を用いるよう構成したことを特徴と
する電子天びん。 - （２）上記較正質量を有する分銅を内蔵したことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載の電子天びん。 - （３）上記スパン較正手段による上記係数の算出が、上
記較正質量の負荷時又は当該天びんのひょう量の負荷時
に選択的に実行可能であって、当該天びんのひょう量の
負荷による上記係数の算出に当たっては、上記補正は実
行しないよう構成したことを特徴とする特許請求の範囲
第１項又は第２項記載の電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1745785A JPH0640017B2 (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1745785A JPH0640017B2 (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61175527A true JPS61175527A (ja) | 1986-08-07 |
| JPH0640017B2 JPH0640017B2 (ja) | 1994-05-25 |
Family
ID=11944548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1745785A Expired - Fee Related JPH0640017B2 (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0640017B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03205518A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-09 | Shimadzu Corp | 校正分銅内蔵形電子天びん |
| WO2007038148A3 (en) * | 2005-09-27 | 2007-11-22 | Mettler Toledo Inc | Method for weighing apparatus calibration management |
| JP2007322262A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Yamato Scale Co Ltd | 計量装置 |
| JP2008039633A (ja) * | 2006-08-08 | 2008-02-21 | Yamato Scale Co Ltd | 計量装置 |
| JP2011191088A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Omron Healthcare Co Ltd | 荷重計 |
-
1985
- 1985-01-30 JP JP1745785A patent/JPH0640017B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03205518A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-09 | Shimadzu Corp | 校正分銅内蔵形電子天びん |
| JPH071195B2 (ja) * | 1989-12-29 | 1995-01-11 | 株式会社島津製作所 | 校正分銅内蔵形電子天びん |
| WO2007038148A3 (en) * | 2005-09-27 | 2007-11-22 | Mettler Toledo Inc | Method for weighing apparatus calibration management |
| US7441436B2 (en) * | 2005-09-27 | 2008-10-28 | Mettler-Toledo, Inc. | Method for weighing apparatus calibration management |
| AU2006295043B2 (en) * | 2005-09-27 | 2010-04-29 | Mettler-Toledo, LLC | Method for weighing apparatus calibration management |
| JP2007322262A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Yamato Scale Co Ltd | 計量装置 |
| JP2008039633A (ja) * | 2006-08-08 | 2008-02-21 | Yamato Scale Co Ltd | 計量装置 |
| JP2011191088A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Omron Healthcare Co Ltd | 荷重計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0640017B2 (ja) | 1994-05-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |