JPH0621813B2 - クリ−プ補償型秤量装置及びクリ−プ用出力修正方法 - Google Patents
クリ−プ補償型秤量装置及びクリ−プ用出力修正方法Info
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- JPH0621813B2 JPH0621813B2 JP60154370A JP15437085A JPH0621813B2 JP H0621813 B2 JPH0621813 B2 JP H0621813B2 JP 60154370 A JP60154370 A JP 60154370A JP 15437085 A JP15437085 A JP 15437085A JP H0621813 B2 JPH0621813 B2 JP H0621813B2
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Description
本発明はスケールのごとき力測定装置に関し、特にクリ
ープ誤差に対して補償が施された秤量装置及び方法に関
する。
ープ誤差に対して補償が施された秤量装置及び方法に関
する。
荷重セルのごとき力測定装置において遭遇するクリープ
として知られる現象は、付与された荷重下の時間に関す
る荷重セルの出力において、増加または減少のいずれか
の変動として示される。荷重が除去されたとき、出力中
の累積変動、即ち、クリープ誤差が残る。荷重のクリー
プ効果が消失するにつれて荷重セルの出力は、ゼロに向
かって徐々に動く。又、異なった荷重が異なった期間及
び異なった間隔で付与されるのと対応して、クリープは
それに従って変動するものである。 クリープ現象は十分に理解されていないが、２つの主な
原因があると信じられている。第１の原因は、反力を有
する粒子構造における変化である。理論上、このクリー
プの原因は、格子内の最小エネルギーの位置を求める荷
重セルの反力を有する結晶性粒子構造中の可動原子に起
因する。反力に付与された応力は、エネルギーのパター
ンを変え、可動原子に新しい位置を求めさせることとも
なる。そのような移動は格子の寸法を変え、且つ歪ゲー
ジによって検知される歪を変える。応力が荷重セルから
除去された時、原子は最初の位置に戻る方向に移動し、
荷重セルの出力は読み取り目盛り上初期の、即ち、ゼロ
の均衡点に徐々に戻る。クリープ現象により導入される
荷重表示中の誤差は、荷重の大きさと、それを付加また
は除去してから経過した時間との双方に対する関数であ
る。 クリープの第２の原因は、反力と歪ゲージとの間、およ
び、またはゲージの格子とゲージの裏張りとの間の接着
用の帯の弛緩である。 前述の２つの原因（反力粒子構造および接着用の帯）は
しばしば互いにキャンセルし合う傾向がある。歪ゲージ
は、通常、ゲージが取り付けられるであろう所の反力中
のクリープに対し、多かれ少なかれ補償を行なう異なる
幾何学的配置の構成に関して役立つものである。ゲージ
は、クリープを最小にするために、反力と釣合わしめら
れる。そのような方法は、荷重セル出力における固有の
クリープ効果を大いに減少せしめるとは言っても、更
に、高精度な応力のためには、依然として修正が必要と
される。 最近まで、重量精度におけるクリープ効果に対して電子
工学的に補償を行なうための努力はほとんど行なわれな
かった。１９８３年１０月２５日に、Ｆｅｉｎｌａｎｄ
ｅｔ ａｌ に発表された米国特許Ｎｏ．４，４１
２，２９８において、ディジタル秤量スケールにおける
クリープのための補償に対して、ある方法が提案されて
いる。その特許では、荷重の付与に先だって、ディジタ
ル秤量スケールの自重が格納される。荷重が付与され、
そして、スケールの動きが止まった後に、重量読みとり
が間隔をおいて行なわれる。もし、読みとり中に、累積
された差分が、予め決められた合計値を越えた場合に
は、真自重が、荷重を除去した後に維持されるように、
格納された自重に差分が加えられる。
として知られる現象は、付与された荷重下の時間に関す
る荷重セルの出力において、増加または減少のいずれか
の変動として示される。荷重が除去されたとき、出力中
の累積変動、即ち、クリープ誤差が残る。荷重のクリー
プ効果が消失するにつれて荷重セルの出力は、ゼロに向
かって徐々に動く。又、異なった荷重が異なった期間及
び異なった間隔で付与されるのと対応して、クリープは
それに従って変動するものである。 クリープ現象は十分に理解されていないが、２つの主な
原因があると信じられている。第１の原因は、反力を有
する粒子構造における変化である。理論上、このクリー
プの原因は、格子内の最小エネルギーの位置を求める荷
重セルの反力を有する結晶性粒子構造中の可動原子に起
因する。反力に付与された応力は、エネルギーのパター
ンを変え、可動原子に新しい位置を求めさせることとも
なる。そのような移動は格子の寸法を変え、且つ歪ゲー
ジによって検知される歪を変える。応力が荷重セルから
除去された時、原子は最初の位置に戻る方向に移動し、
荷重セルの出力は読み取り目盛り上初期の、即ち、ゼロ
の均衡点に徐々に戻る。クリープ現象により導入される
荷重表示中の誤差は、荷重の大きさと、それを付加また
は除去してから経過した時間との双方に対する関数であ
る。 クリープの第２の原因は、反力と歪ゲージとの間、およ
び、またはゲージの格子とゲージの裏張りとの間の接着
用の帯の弛緩である。 前述の２つの原因（反力粒子構造および接着用の帯）は
しばしば互いにキャンセルし合う傾向がある。歪ゲージ
は、通常、ゲージが取り付けられるであろう所の反力中
のクリープに対し、多かれ少なかれ補償を行なう異なる
幾何学的配置の構成に関して役立つものである。ゲージ
は、クリープを最小にするために、反力と釣合わしめら
れる。そのような方法は、荷重セル出力における固有の
クリープ効果を大いに減少せしめるとは言っても、更
に、高精度な応力のためには、依然として修正が必要と
される。 最近まで、重量精度におけるクリープ効果に対して電子
工学的に補償を行なうための努力はほとんど行なわれな
かった。１９８３年１０月２５日に、Ｆｅｉｎｌａｎｄ
ｅｔ ａｌ に発表された米国特許Ｎｏ．４，４１
２，２９８において、ディジタル秤量スケールにおける
クリープのための補償に対して、ある方法が提案されて
いる。その特許では、荷重の付与に先だって、ディジタ
ル秤量スケールの自重が格納される。荷重が付与され、
そして、スケールの動きが止まった後に、重量読みとり
が間隔をおいて行なわれる。もし、読みとり中に、累積
された差分が、予め決められた合計値を越えた場合に
は、真自重が、荷重を除去した後に維持されるように、
格納された自重に差分が加えられる。
従来、荷重セル等の力測定装置により見出されるクリー
プ現象については、その変動によるクリープ誤差を修正
する装置及び出力修正方法は、満足のいくものが提案さ
れておらず、特に、クリープ効果に対する電子工学的補
償は十分実用に耐えるものは存在しなかった。
プ現象については、その変動によるクリープ誤差を修正
する装置及び出力修正方法は、満足のいくものが提案さ
れておらず、特に、クリープ効果に対する電子工学的補
償は十分実用に耐えるものは存在しなかった。
本発明は上記した問題に鑑みてなされ、新規なクリープ
補償型秤量装置及びクリープ用出力修正方法を提供する
ものである。即ち、秤量機構と、該秤量機構のクリープ
状態を記憶する手段と、該秤量機構の重量データを得る
ための手段と、前述の重量データと記憶されたクリープ
状態の関数としてクリープ増分を計算するための数式を
記憶する手段と、前述の数式を用いてほぼ等間隔を置い
てクリープ増分と記憶されたクリープ状態とを組み合わ
せて当該時点のクリープ状態を決定する手段と、各々の
当該時点のクリープ状態とそれに対応する重量データを
組み合わせて、クリープの影響に関して補償された重量
を前述の秤量機構上に表示するための手段と、各々のそ
の時点のクリープ状態を新たに記憶されるクリープ状態
として記憶するための手段からなるクリープ補償型秤量
装置を請求項１とするものであり、 そして、上記重量データと記憶されたクリープ状態の関
数としてのクリープ増分を計算するための数式は、少な
くとも、個々の秤量機構のために決定された値を有する
１つの定数を包含していること、 上記クリープ状態は（ＭＣＰ×ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ−
１））×（１＋ＷＧＴ×Ｄ）×ＡＴ＋ＤＣＰ（Ｔ−１）
の式から計算され、ここで、ＷＧＴは重量表示、ＤＣＰ
（Ｔ−１）は従前のクリープ状態、ＭＣＰ，Ｄ及びＡＴ
は定数であること、 上記クリープ状態は［（ＭＣＰＡ×ＷＧＴ−ＤＣＰＡ
（Ｔ−１））×ＡＡＦ＋（ＭＣＰＢ×ＷＧＴ−ＤＣＰＢ
（Ｔ−１））×ＢＢＦ］×（１＋ＷＧＴ×Ｄ）＋ＤＣＰ
Ａ（Ｔ−１）＋ＤＣＰＢ（Ｔ−１）の式から計算され、
ここで、ＷＧＴは重量表示、ＤＣＰＡ（Ｔ−１）及びＤ
ＣＰＢ（Ｔ−１）は、従前のクリープ状態の成分、ＭＣ
ＰＡ，ＡＡＦ，ＭＣＰＢ，ＢＢＦ及びＤは予め決定され
た定数であることを、請求項２，３及び４とするもので
ある。 更に、秤量機構のクリープ状態を記憶するステップと、
秤量機構の重量データを得るためのステップと、上記重
量データと記憶されたクリープ状態の関係としてクリー
プ増分を計算するための数式を記憶するステップと、上
記数式を用いてほぼ等間隔をおいてクリープ増分と記憶
されたクリープ状態とを組み合わせて当該時点のクリー
プ状態を決定するステップと、各々の当該時点のクーリ
ープ状態とそれに対応する重量データを組み合わせてク
リープの影響に関して補償された重量を上記秤量機構上
に表示するためのステップと、各々その時点のクリープ
状態を新たに記憶されるクリープ状態として記憶するた
めのステーツプと、 からなるクリープ用出力修正方法を請求項５とするもの
である。
補償型秤量装置及びクリープ用出力修正方法を提供する
ものである。即ち、秤量機構と、該秤量機構のクリープ
状態を記憶する手段と、該秤量機構の重量データを得る
ための手段と、前述の重量データと記憶されたクリープ
状態の関数としてクリープ増分を計算するための数式を
記憶する手段と、前述の数式を用いてほぼ等間隔を置い
てクリープ増分と記憶されたクリープ状態とを組み合わ
せて当該時点のクリープ状態を決定する手段と、各々の
当該時点のクリープ状態とそれに対応する重量データを
組み合わせて、クリープの影響に関して補償された重量
を前述の秤量機構上に表示するための手段と、各々のそ
の時点のクリープ状態を新たに記憶されるクリープ状態
として記憶するための手段からなるクリープ補償型秤量
装置を請求項１とするものであり、 そして、上記重量データと記憶されたクリープ状態の関
数としてのクリープ増分を計算するための数式は、少な
くとも、個々の秤量機構のために決定された値を有する
１つの定数を包含していること、 上記クリープ状態は（ＭＣＰ×ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ−
１））×（１＋ＷＧＴ×Ｄ）×ＡＴ＋ＤＣＰ（Ｔ−１）
の式から計算され、ここで、ＷＧＴは重量表示、ＤＣＰ
（Ｔ−１）は従前のクリープ状態、ＭＣＰ，Ｄ及びＡＴ
は定数であること、 上記クリープ状態は［（ＭＣＰＡ×ＷＧＴ−ＤＣＰＡ
（Ｔ−１））×ＡＡＦ＋（ＭＣＰＢ×ＷＧＴ−ＤＣＰＢ
（Ｔ−１））×ＢＢＦ］×（１＋ＷＧＴ×Ｄ）＋ＤＣＰ
Ａ（Ｔ−１）＋ＤＣＰＢ（Ｔ−１）の式から計算され、
ここで、ＷＧＴは重量表示、ＤＣＰＡ（Ｔ−１）及びＤ
ＣＰＢ（Ｔ−１）は、従前のクリープ状態の成分、ＭＣ
ＰＡ，ＡＡＦ，ＭＣＰＢ，ＢＢＦ及びＤは予め決定され
た定数であることを、請求項２，３及び４とするもので
ある。 更に、秤量機構のクリープ状態を記憶するステップと、
秤量機構の重量データを得るためのステップと、上記重
量データと記憶されたクリープ状態の関係としてクリー
プ増分を計算するための数式を記憶するステップと、上
記数式を用いてほぼ等間隔をおいてクリープ増分と記憶
されたクリープ状態とを組み合わせて当該時点のクリー
プ状態を決定するステップと、各々の当該時点のクーリ
ープ状態とそれに対応する重量データを組み合わせてク
リープの影響に関して補償された重量を上記秤量機構上
に表示するためのステップと、各々その時点のクリープ
状態を新たに記憶されるクリープ状態として記憶するた
めのステーツプと、 からなるクリープ用出力修正方法を請求項５とするもの
である。
次に本発明を図面に従って詳述する。 ここで、図面を参照すれば、そして、初めに第１図を参
照すれば、クリープの影響下にある典型的な力測定機構
は、図に示されるマイクロコンピュータによって制御さ
れる秤量スケールである。第１図のスケールは、おもり
受け入れパン１１、荷重セル１２および歪ゲージ用ブリ
ッジ１４を包含する秤量機構を備えている。パン１１上
に置かれた荷重は、荷重セル１２において、荷重セル１
２の歪ゲージおよび不均衡ブリッジ１４により検出され
る歪みを生む。そのブリッジは、アナログ重量信号を、
Ａ／Ｄ（アナログからディジタルへの）変換器１７に供
給する。アナログ重量信号は、マイクロコンピュータ１
９の制御下で、変換器１７によってディジタル形式に変
換され、このディジタル形式に変換された信号は、処理
のためにマイクロコンピュータに供給され、そしてディ
スプレー装置２１上に表示される。電子メモリ２３は、
マイクロコンピュータと結合せしめられており、ＲＡＭ
（ランダムアクセスメモリ）およびＲＯＭ（リードオン
メモリ）の双方を内蔵し得る。 第２図は、ブリッジ１４から出力されるアナログ重量信
号によるクリープ効果を図解している。第２図は曲線３
１に見られるように、秤量装置は、かなり迅速にＴ点に
おいて真の重量表示を与える。その重量表示が、クリー
プＣからＴを差引いた値を真の重量値に含むように、そ
の重量表示は、殆ど直ちに、クリープの影響から変化を
開始するとともに、他方において、Ｃの値に到達するた
めのより長い時間的な周期を超え始める。重量がパン１
１から除かれると、重量表示は直ちに、ゼロに復帰せず
にＣからＴを差引いた値へと復帰し、そして徐々にゼロ
に向って動く。スケールパン１１に置かれた別の対象物
の表示された重量は、以前の重量から生ずるクリープに
より影響を受けるであろう。 第２図のより大きな曲線３１と、より小さな曲線３２と
の間の差分によって表示される通り、クリープの総量
は、付与された荷重の大きさと付与された時間との双方
に依存する。典型的に商業的な用途に使用される秤量ス
ケールのような力測定装置は、短い間隔において、種々
の継続時間に対して、本装置に付与される実質的に異な
った大きさの重量値を有することになる。その秤量機構
が「クリープアウト」となる時間、換言すれば、その秤
量機構が第２図にて示すＣ−Ｔの間隔によって表現され
る付与された荷重のための実質的に最大クリープ値に到
達する時間は、３０分と似通った値、或いはそれより大
きなものとなる。 従って、スケール機構は、通常は、一つのおもりがスケ
ールから除かれる時点から、別のおもりがスケールに付
与される時点にかけて”クリープアウト”されることに
はならないであろう。新たに適用される荷重から生ずる
クリープは、その大きさとそして新たに適用される荷重
の適用の継続時間とともに新たな荷重が適用される時点
における秤量機構の「クリープ状態」に依存する。 この効果は、フルスケール荷重の適用を表現している曲
線３５が示された第３図中に図解されている。曲線３７
から曲線４１までの諸曲線３７に関して言えばセロか
ら、曲線４１に関して言えばフルスケールに極めて接近
した荷重にまで及ぶ荷重範囲においてフルスケール荷重
の置きかえによって生ずるクリープを図示している。各
々新しく付与された荷重の表示された重量読込値におけ
るクリープ誤差は、初めに、予め付与された荷重下にあ
る秤量機構の「クリープ状態」と等しくなり、そしてそ
れから新しく付与された荷重の最大クリープ値に向かっ
て除々に動くこととなる。第３図における曲線３７から
４１に至る諸曲線のそれぞれは、指示重量読みとり値の
減少を生ずる、というのも、曲線３５は、秤量機構が実
質的に”クリープアウト”されるような継続時間に付与
されるフル荷重を表現しているからである。より大きな
荷重の付与によって求められるより短い継続時間に対し
て付与されるより小さな初期の荷重に関して言えば、曲
線３７から曲線４１までの各々と類似するクリープ曲線
は、正の勾配を持つこととなるということが理解される
であろう。 要するに、第２図及び第３図は、秤量機構中のクリープ
による誤差が、付与された一連の荷重及びそれらの継続
時間とともに変化していく機構（秤量機構）のクリープ
状態に依存していることを図示している。定期的か、或
いは新たな荷重の適用のごとき指定された事象の発生時
のいずれか一方において、この「クリープ状態」の計算
は、クリープ誤差を修正することを許容している。 本発明に示すように、クリープ状態は、クリープ誤差に
対する測定及び補償を行なうためのスケールの最も新し
い荷重履歴から計算されるものである。計算と補償と
は、マイクロコンピュータ１９によってディジタル的に
行なわれる。 クリープ状態を測定するための一つの研究方法は、増分
クリープ、換言すれば、期間内のクリープの変動を定期
的に計算し、かつクリープ誤差と等しい最も新しいクリ
ープ状態を得るための期間の始まりにおけるクリープ状
態と、増分クリープとを結合することにある。かように
して、最も新しいクリープ状態は、スケールの操作にお
いて生じたすべてのクリープ変動の累積的な結果となる
のである。この研究方法においては、そのシステムが”
クリープアウト”したような極めて長い時間周期にわた
る最大増分クリープは、下記のようにして算定され得
る。 ここで、ＭＣは、最大増分クリープであり、またＭＣＰ
は生じ得る最大可能なクリープ、換言すれば、「クリー
プアウト」された荷重が負荷されたシステムにフル荷重
が付加されたときに観察されるであろうクリープなので
ある。ＷＧＴは、通常、計数値で表現される表示された
重量値である。ＤＣＰは、ＷＧＴと同じ単位で表現され
るシステムのクリープの初期状態であり、そして、ＳＰ
は、全範囲、即ち、フル荷重表示値から非荷重表示値を
差引いた値である。 クリープ状態が「クリープアウト」した荷重が負荷され
ていないスケールシステムのためにゼロと等しくなるで
あろうこと、及びフル荷重の適用によって「クリープア
ウト」しているシステムのために、クリープ状態が、最
大可能なクリープ値と等しくなるであろうことを、更
に、考察されたい。クリープ状態は、第１の値から、お
もりがシステムに加えられるに従って第２の値へと変動
する。 長い時間的な周期が経過した後は、単にクリープを表現
しているに過ぎないが故に、上記の式（１）は、如何な
る時間変数をも含まないのである。より短い周期に対す
る新しいクリープ状態の予測は、式（１）に対して時間
関連項を導入し、且つ、下記の式におけるように増分ク
リープに対してより以前のクリープ状態を加算すること
によって行われ得る。 ここでＤＣＰ（Ｔ）は、クリープの新たな状態であり、
ＤＣＰ（Ｔ−１）は、クリープの前段階的状態であり、
ＡＡは、前段階的クリープ測定と新たな測定との間の時
間間隔を表現している。 一定の時間的間隔で重量指標が読まれる装置に対して
は、ＡＡは、定数である。もし、読込み相互間の間隔が
一定でない場合には、ＡＡは最後の読込み以後、時間と
共に変化する。例えば、重量読込みの時間が、Ａ／Ｄ変
換器を使用している第１図にて示すごときマイクロコン
ピュータによって制御されるスケールにおいて生じ得る
荷重付与の関数であるときには、ＡＡは、変数である。
Ａ−Ｄ変換器の変換時間は、荷重の大きさと共に変動す
るであろう。このようなタイプの状態では、ＡＡは、次
のように展開され得る。つまり、 ＡＡ＝Ａ＊ＴＭＩＮ＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）（３） である。 ここで、ＴＭＩＮは、無負荷での荷重読込みの時間間隔
であり、Ａはクリープ発生速度にかかわるものであり、
Ｄは、 ＴＭＩＮ＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）の項が、ゼロではない荷
重に対する重量読込みの時間間隔を表現しているような
定数である。Ｄは次のように求められる。 ここでＴＭＡＸは、フル荷重における重量読込みのため
の時間間隔である。 式（２）はここで次のようになる。 定数Ａおよび定数ＴＭＩＮは、より単純な形式を得るた
めに結合され得る。 ここで、ＡＴ＝Ａ＊ＴＭＩＮである。 ここで、ＭＣＰは正規化される。換言すれば、ＭＣＰの
値は、ＭＣＰ／ＳＰの値により、置き換えられる。そし
て、式は、次のようになる。 ＤＣＰ（Ｔ）＝ＤＣＰ（Ｔ−１） ＋（ＭＣＰ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ−１）） ＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＡＴ（６） ここで、ＭＣＰは正規化された生じ得るであろう最大ク
リープなのである。それらの定数ＭＣＰ，ＤおよびＡＴ
は個々の特殊な力測定装置または秤量システムに対して
若干ながら相違する。これらの定数値は、スケールシス
テムの立上りの間に測定され得るものであり、これらの
測定された定数値は、メモリ中に格納される。 式（６）の形式に対する一連の補正表現を用いてクリー
プ状態を計算することにより、クリープ誤差は、更に減
少され得ることがわかった。補正表現のある部分は、短
期間のクリープ効果を予測するのに役立ち、そして一
方、他の補正表現は、より長期の効果を予測するのに役
立つものである。ＡおよびＢの構成要素を有するこのよ
うな一連の補正表現は、下記のように表わされる。 ＤＣＰ（Ｔ）＝ＤＣＰＡ（Ｔ−１）＋（ＭＣＰＡ＊ＷＧ
Ｔ−ＤＣＰＡ（Ｔ−１））＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＡＡ
Ｆ＋ＤＣＰＢ（Ｔ−１）＋（ＭＣＰＢ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ
Ｂ（Ｔ−１））＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＢＢＦ （７） ここで、例えば、ＭＣＰＢ項およびＢＢＦ項を含む表現
は、最初の数秒内に生じ、そして数分間のうちに最大値
となるようなクリープ誤差に対して補正を行なうのに役
立つ。ＭＣＰＡ項およびＡＡＦ項を含む表現は、最初の
補正項が最大値に達した後に生ずるクリープ誤差に対し
て補正を行なうのに役立つ。もし、なお、一層、補正が
必要とされるならば、上記と同様に、より多くの項が付
加されることとなるであろう。 これら定数は、個々の特殊な力測定装置即ち、秤量シス
テムに対して、若干ながら相違する。これらの定数値
は、スケールシステムの立上りの間に測定され得るもの
であり、これら測定された定数値は、メモリ内に格納さ
れる。 その測定は、定数用サンプル値の選択、クリープの計
算、そしてそれから荷重適用後に数秒から約１５分に至
る例えば１０ないし１５の時間間隔で荷重を読取ること
により得られる実際のクリープデータと、上記計算結果
とを比較するという反復プロセスを通じて行われ得る。 計算されたクリープは、測定されたクリープと比較さ
れ、選択された定数値は、比較を考慮して修正され、そ
して、このようなプロセスは、その定数値が所定の精度
で測定されるまでの間、繰り返される。 こうした方法論が以下詳細に説明されるのである。 ここで、第４図を参照すると、本発明が包含されている
秤量装置の好ましい態様は、「ホスト」即ち、スケール
システムマイクロコンピュータ６２と結合された、一般
に「ディジタル荷重セル」と称される装置６０を含む。
他の機能に加えて、マイクロコンピュータ６２は、ディ
スプレー６４及びプリンタ６５を制御するとともに、キ
ーボード６７を通して与えられるオペレータ情報を受信
する。第４図にて示す秤量システムは、元来、Ａ／Ｄ変
換器、荷重セル専用のマイクロプロセッサ及び付加メモ
リが備えられている同一印刷回路基板上において結合せ
しめられた各種の電子回路において、第１図のより典型
的な装置とは異なっている。その結果、装置それ自体と
して較正され、補償され、修正されるとともに、マイク
ロコンピュータによって制御される種々のスケールシス
テムに組込まれ得るディジタル荷重セルが得られたもの
である。そのように組込まれたときには、ディジタル荷
重セルは、第４図にて示すマイクロコンピュータ６２の
ように、スケール或いはホストマイクロコンピュータと
結合される。 第４図に示される態様において、ディジタル荷重セル６
０は、前置増幅器７３から、フィルタ７５及び電子スィ
ッチ７７を通してＡ／Ｄ変換器８０にアナログ重量信号
を供給する歪ゲージ用ブリッジ７０を内蔵する。Ａ／Ｄ
変換器は、望ましくは、三重傾斜統合タイプのものがよ
い。ディジタル荷重セルの操作は、プログラムが内蔵さ
れているマイクロプロセッサ９０及び連動される無電源
保持形のＲＡＭメモリー９２により制御される。マイク
ロプロセッサ９０は、望ましくはインテル社（アメリカ
合衆国法人の名称）のモデル８０４９〔ＩＮＴＥＬ Ｍ
ＯＤＥＬ ８０４９：商品名〕がよい。 ディジタル荷重セル６０の操作の制御に加えて、ＲＡＭ
９２を備えたマイクロプロセッサ９０は、Ａ／Ｄ変換器
８０から出力される重量データを本発明のとおりに、ク
リープの影響を補償するために補正する。マイクロプロ
セッサは、また、ホストマイクロコンピュータ６２と通
信を行ない、それに加えてホストマイクロコンピュータ
においてさらに処理されるとともにディスプレー装置６
４上に表示され得るであろう重量データを送信する。 マイクロプロセッサ９０の制御下の、第４図にて示すデ
ィジタル荷重セル６０は、第５図及び第６図のフローチ
ャートで図解され、これに関して提出資料Ａとして添付
されたプログラムリストで詳細に定義されるように、動
作する。マイクロプロセッサ９０は、較正モード或いは
応用モードのいずれか一方のモードにモード設定されて
いるホストマイクロコンピュータ６２との間で通信する
ことができる。較正モードにおける操作は、ディジタル
荷重セルに対してクリープの計算された定数値を入力す
るために行われるものであろう。その説明の次に来る説
明は、応用モードの記述であろう。 第５図及び第６図を参照すると、ブロック１００におけ
るＳＴＡＲＴ後、そのシステムは、そのシステムの各部
の全てをそれらの初期条件にリセットするために、ブロ
ック１０２において初期化される。それから、重量デー
タを得るためのＡ／Ｄ変換は、「ＡＤＣＯＮＶ」と称さ
れるサブルーチンを通してブロック１０４において実行
される。Ａ／Ｄ変換を行なうことによって生じた読込み
重量データは、ブロック１０５において、「ＷＧＴ」レ
ジスタに移動される。ブロック１０７において、「ＷＧ
Ｔ」レジスタに格納された上記読込重量データは、第６
図にて図示されるとともに、以下に記述される［ＡＤＪ
ＦＩＮ」と称されるプログラムサブルーチンによってク
リープのために修正される。次に、ブロック１０８にお
いて、差分は、上記クリープを考慮して修正された「Ｗ
ＧＴ」レジスタに格納されている値と、本質的には従前
のＡ／Ｄ変換から得られた最終的な修正が施された重量
値である「ＦＩＬＴＷＴ」値との間で計算される。 それから、ブロック１０８において計算された上記差分
（ＤＩＦＦ）の範囲を決定し、そしてそれからＷＧＴレ
ジスタに格納されている値を上記差分と一致するように
操作するために、そのプログラムは、ブロック１１０と
ブロック１１２において、試験を実行する。もしブロッ
ク１１０において、その差分が８単位より小さく、且つ
ブロック１１２において、ゼロより大きければ、そこ
で、そのプログラムは、ブロック１１４に至るメインル
ープに引き続きとどまる。そのブロック１１４と、該ブ
ロック１１４の次のブロック１１６とにおいて、平滑作
用又は濾過作用は、上記差分を２分割し、その結果とし
て生じた商の示された整数値を貯えること及び上記商
を、「ＷＧＴ」の値の修正値に加えることによって実行
される。それからブロック１１９において、上記「ＷＧ
Ｔ」の値は、「ＦＩＬＴＷＴ」レジスタに移送される。
しかしながら、もし、ブロック１１０において、「ＷＧ
Ｔ」の値と「ＦＩＬＴＷＴ」の値との間の差分が８単位
より大きいと決定されると、そのプログラムは、ブロッ
ク１１４及びブロック１１６における平滑作用をバイパ
スし、ポイント１２０を通してブロック１１９へと進行
する。かようにして、最も新しい重量表示が記述されて
いる２つの事例のいずれかにおいて、次のプログラムサ
イクルのために、「ＷＧＴ」の値は、「ＦＩＬＴＷＴ」
の値となる。 ブロック１１０及びブロック１１２における試験での、
残存しており且つ最終的な選択の対象となるものは、
「ＦＩＬＴＷＴＧ」の値が、「ＷＧＴ」の値と等しくな
るように、差分値を０にすることである。その場合にお
いて、そのプログラムは、余分なものとしてブロック１
１４，ブロック１１５及びブロック１１９をバイパス
し、そして、ポイント１２２において再度メインループ
に入る。 ブロック１２５において、そのプログラムは、ＲＡＭ９
２内に格納されているクリープ修正用のサブルーチンで
ある「ＡＤＪＦＩＮ」において用いられるクリープ定数
値の有効性を試験する。もし、そのクリープ定数値が無
効であると決定された場合には、そのプログラムは、無
効データを示すフラグをセットすべく「ＷＧＴ」レジス
タに「不可能な」値が転送されるブロックであるブロッ
ク１２９に、ポイント１２７を通して進行する。それか
ら、そのプログラムは、ポイント１３１において前記メ
インループを通してブロック１３３に進行する。そのブ
ロック１３３において、「ＸＤＡＴＡ」として識別され
るサブルーチンによって、そのディジタル荷重セルデー
タは、ホストマイクロコンピュータ６２に伝送される。
それから、そのプログラムは、エントリーポイント１３
５を通してブロック１０４においてメインループに復帰
する。 再び、ブロック１２５に戻り、もしそこで（ブロック１
２５において）、そのクリープ定数値が有効であると決
定されたとすれば、ブロック１０４において得られたよ
り後に修正されるものとしての重量読込値が、Ａ／Ｄ変
換器８０の正領域内にあるかどうかを決定するためにチ
ェックが行われるブロック１４０に、そのプログラムは
断続する。もし、その重量データが有効であると決定さ
れるならば、そのプログラムは上述したように、ポイン
ト１３１に進行し、そしてポイント１３１からブロック
１３３に進行する。もし、その重量データがブロック１
４０において無効であると決定されたとすれば、「不可
能」な値「ブロック１２９におけるそれ、即ち、「不可
能」な値とは相違する）が、無効データを示すフラグを
設定するために「ＷＧＴ」レジスタに転送されるブロッ
クであるブロック１４２に、そのプログラムは継続す
る。 そのプログラムは、上述したようにポイント１３１を通
してブロック１３３へ進行する。 最新のクリープ状態の計算及び重量読込値の修正のため
の手順は、第６図に示される。計算目的のために、上記
の式（７）は、以下に示すように、いくつかの項に分け
られる。 ＤＣＰ（Ｔ）＝ＤＣＰＡ（Ｔ）＋ＤＣＰＢ（Ｔ） ＤＣＰＡ（Ｔ）＝ＤＣＰＡ（Ｔ−１）＋Ａ ここで、増分クリープの一成分は、 Ａ＝（ＭＣＰＡ＊ＷＧＴ−ＤＣＰＡ（Ｔ−１）） ＊ＡＡＦ＊Ｃ ＤＣＰＢ（Ｔ）＝ＤＣＰＢ（Ｔ−１）＋Ｂであり、ここ
で、増分クリープのもう一つの成分 Ｂ＝（ＭＣＰＢ＊ＷＧＴ−ＤＣＰＢ（Ｔ−１））＊ＢＢ
Ｆ＊Ｃであり、そして Ｃ＝１＋ＷＧＴ＊Ｄであり、 最後にクリープ補償重量値＝ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ）であ
る。 ここで、第６図を参照すれば、クリープ補償のサブルー
チンであるＡＤＪＦＩＮは、ポイント１４０から入れら
れる。それから、ブロック１４１において、ホストマイ
クロコンピュータ６２が較正システムであるかどうかを
決定するためにチェックが行われる。もしそうであれ
ば、クリープ計算は行われず、そのプログラムは、クリ
ープ計算及びクリープ補償で費やされようとした時間を
使うために、メインループに復帰する以前にブロック１
４２において遅延する。もしブロック１４１において、
ホストマイクロコンピュータ６２が応用システムである
と決定されたとすれば、そのプログラムは、ポイント１
４３において、クリープ調整手順へと進行する。 クリープ定数は、ブロック１４５において、ＲＡＭ９２
から読込まれる。それから、ブロック１４６において、
前記格納された定数値が前述したように転送されてから
現在に至るまでの間に変化していないことを確認するた
めに、チェックが行われる。もしどんな定数値も無効で
あると判断されると、そのプログラムはメインループに
復帰する。もしすべての定数値が有効であるならば、ク
リープの計算のためのＣ項は、ブロック１４８において
計算され、そして格納される。それからブロック１４９
及び１５０において、Ａ項、つまり最初の項即ち、増分
クリープのＡ成分が計算される。それから、Ａ項に起因
すると考えられるクリープの最新の状態の成分は、Ａ成
分のためのクリープの状態が蓄積されている存在である
ＤＣＰＡ（Ｔ−１）の項に、Ａ項を加えることによっ
て、ブロック１５１において、計算される。 その結果として得られる値であるＤＣＰＡ（Ｔ）の値
は、次の重量値を読込むためのＤＣＰ（Ｔ−１）の値と
して使うための格納される。 ブロック１５４及び１５５においてＢ項つまり第二番目
のもの即ち、増分クリープのＢ成分が計算される。それ
からＢ項に起因すると考えられるクリープの最新の状態
の成分は、Ｂ成分のためのクリープの状態が蓄積されて
いる存在であるＤＣＰＢ（Ｔ−１）の項に、Ｂ項を加え
ることによって、ブロック１５７において計算される。 その結果として得られる値であるＤＣＰＢ（Ｔ）の値
は、次の重量値を読込むためのＤＣＰ（Ｔ−１）の値と
して使うために格納される。 最後に、ブロック１６０において、最も新しいクリープ
の状態の二つの成分、即ち、ＤＣＰＡ（Ｔ）の値とＤＣ
ＰＢ（Ｔ）の値とは、合計され、そして最新の重量読込
値であるＷＧＴの値から減算され、それから、そのプロ
グラムは、メインループに復帰する。 上述したように、定数値ＭＣＰＡ，ＭＣＰＢ，ＡＡＦ，
ＢＢＦ，Ｄは、各々の荷重セル装置６０のために予め決
定され、クリープ補償において使用するために格納され
る。定数Ｄは、クリープ補償のためにプログラム化され
たマイクロプロセッサの関数であり、上述の（４）から
決定され、永久にマイクロプロセッサメモリに格納され
得る。第７図及び第８図のフローチャートは、他の定数
を計算するための反復的なプロセスを図示している。付
録Ｂとして、個々に添付されたコンピュータプログラム
は、計算過程の完全な手段である。そのプログラムは、
他の多くのコンピュータにおいてのみならず、ディジタ
ル・エクイップメント・コーポレーション〔Ｄｉｇｉｔ
ａｌ Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ
： アメリカ合衆国法人の名称〕のどんな”ＶＡＸ”
（商品名）コンピュータにおいても走らせることができ
るであろう。 定数計算に先立って、実際のクリープ測定量は、試験荷
重の付与後、１０，３０，４５及び６０秒ごと及び２，
３，４，５，６，７，８，１０，１２及び１５分毎に定
数の決定が行なわれるべき、荷重セル装置６０から得ら
れる。それらクリープの測定量は、これらの時刻毎に指
示された荷重値の読取りと、クリープを測定するための
他の値の各々から最初に読込んだ値を減算することと、
１０秒刻みのクリープの原因を示すための最初の読込値
と最後の読込値との間の差分の部分（例えば２０％）を
各々の結果に加算することとによって得られるものであ
る。それらのクリープの測定量は、以下に記述されるよ
うに、定数計算において比較を行なう目的のために用い
られる。 ここで、第７図と第８図とを参照すれば、ブロック２０
０において、定数値のための初期の「最良の推測」が、
入れられる。 その定数は或る装置から他の装置にまたがって大きく変
動することはないし、そして、適当な、「最良の推測」
は、 ＭＣＰＡ＝−，０００１３，ＭＣＰＢ＝−，０００１
７， ＡＡＦ＝．０００８，ＢＢＦ＝．０１１であるというこ
とが分かった。それから、ブロック２０２において、一
つの定数、この例においては、ＡＡＦの値は、計算され
たクリープと測定されたクリープとの間で「最良の適
合」が発見されるまで、変動せしめられる。第８図は、
Ｓ値が１と等しくなるように設定することにより、ブロ
ック２０５において開始するこのフロセスを図示してい
る。それから、最も新しいクリープ状態（クリープ誤
差）は、ブロック２０６において、その定数値のための
初期の最良の推測を用いる式（７）から計算される。ブ
ロック２０８において、最小自乗誤差は、測定されたク
リープ誤差と計算されたクリープ誤差との間で計算され
る。それからブロック２１０において、ＡＡＦの初期値
が、Ｓ値に依存して増加又は減少され、その最小自乗誤
差は、ブロック２１２において再び計算される。ブロッ
ク２１４及びブロック２１７において、最も後に決定さ
れた誤差は、最良の適合が得られたかどうかを決定する
ためにあらかじめ決定された誤差と比較される。もし、
最良の適合が得られたのであれば、そのプログラムは、
ブロック２２０において、メインループ（第７図にて示
す）に復帰する。もし、最良の適合が得られなかったの
であれば、その試験は、最も新しく決定された誤差が直
前の誤差よりも小さいかどうかを決定するために、ブロ
ック２２２において実行される。もしそうであるなら
ば、それから、そのプログラムは、ブロック２１０に復
帰し、ＡＡＦの値は、再び増加せしめられ、先の試験が
繰返される。もしそうでないならば、Ｓの表示がブロッ
ク２２３において変更され、ＡＡＦの値は、ブロック２
１０において減じられ、プログラムステップは、最良の
適合がブロック２１７において作られ、そしてそのプロ
グラムがブロック２２２においてメインループ（第７図
にて示す）に復帰するまで、繰返される。ブロック２２
０において、定数値ＭＣＰＡは、最良の適合を得るため
に、第８図中に示したステップに従って変更される。そ
れからブロック２２６において、最良の適合がＡＡＦの
値及びＭＣＰＡの値の双方に対して作られたかどうかを
決定するために、チェックが行われる。もし作られてい
ないならば、ＡＡＦの値とそしてそれからＭＣＰＡの値
とは、ブロック２２６において、ＡＡＦの値とＭＣＰＡ
の値の双方に対して最良の適合が決定されるまで最良の
適合を得るために、第８図において示したように、再び
個々に変更せしめられる。それからブロック２２９にお
いて、定数ＢＢＦは、その定数の値が、計算されたクリ
ープ誤差と測定されたクリープ誤差との間で最良の適合
を生ずるまで、第８図にて示した手順に従って変更せし
められる。それから、定数値ＭＣＰＢは、最良の適合が
得られるまで、第８図にて示されるやり方で、ブロック
２３１において変更せしめられる。それから、ＢＢＦの
値とＭＣＰＢの値の双方のために最良の適合が得られた
かどうかを決定するために、ブロック２３３において、
チェックが行われる。もし得られていないならば、その
プログラムは、ブロック２２９に復帰し、ＢＢＦの値と
そしてそれからＭＣＰＢの値とは、ブロック２３３にお
いて双方の定数値に対して最良の適合が得られるまでの
間、第８図にて示したように、個別的に再び変更せしめ
られる。 この点において、すべての定数の値は、計算されたクリ
ープ誤差と測定されたクリープ誤差との間の最良の適合
をもたらすために試みられた異なった値から選ばれた。
ブロック２３５において、定数の値における変化の増分
は、減じられ、そして、ブロック２３８において、望ま
しい回数、つまり、その定数値に対していよいよ小さな
値の増分となる望ましい数、例えば７で、全体のプロセ
スが、繰返されたかどうかを決めるために、試験が行わ
れる。もし望ましい回数で全体のプロセスが繰返された
のでなければ、プログラムは、プロック２０２に復帰
し、全体のプロセスが定数値において、新しい、そして
より小さい増分と共に繰返される。そのプロセスが、望
ましい回数（この場合は７）繰返された時、定数に対す
る最終値は、秤量装置が使用されている間、クリープ予
測に用いるために無電源保持形ＲＡＭ９２（第５図にて
図示）（あるいは第１図にて図示したメモリ２３）に記
録される。 以上の説明から明らかなように、変動する増加或はクリ
ープ誤差における変化は、秤量上に現われた重量が変化
したかどうかを実質的に等間隔で記憶された数式より計
算することができる。更に、現存するクリープ誤差或は
クリープ状態を新しくすることができる。従って、クリ
ープ誤差を極めて正確に追跡することができるという、
この種クリープ補償型はかりにおいて極めて大きな効果
を得ることができる。
照すれば、クリープの影響下にある典型的な力測定機構
は、図に示されるマイクロコンピュータによって制御さ
れる秤量スケールである。第１図のスケールは、おもり
受け入れパン１１、荷重セル１２および歪ゲージ用ブリ
ッジ１４を包含する秤量機構を備えている。パン１１上
に置かれた荷重は、荷重セル１２において、荷重セル１
２の歪ゲージおよび不均衡ブリッジ１４により検出され
る歪みを生む。そのブリッジは、アナログ重量信号を、
Ａ／Ｄ（アナログからディジタルへの）変換器１７に供
給する。アナログ重量信号は、マイクロコンピュータ１
９の制御下で、変換器１７によってディジタル形式に変
換され、このディジタル形式に変換された信号は、処理
のためにマイクロコンピュータに供給され、そしてディ
スプレー装置２１上に表示される。電子メモリ２３は、
マイクロコンピュータと結合せしめられており、ＲＡＭ
（ランダムアクセスメモリ）およびＲＯＭ（リードオン
メモリ）の双方を内蔵し得る。 第２図は、ブリッジ１４から出力されるアナログ重量信
号によるクリープ効果を図解している。第２図は曲線３
１に見られるように、秤量装置は、かなり迅速にＴ点に
おいて真の重量表示を与える。その重量表示が、クリー
プＣからＴを差引いた値を真の重量値に含むように、そ
の重量表示は、殆ど直ちに、クリープの影響から変化を
開始するとともに、他方において、Ｃの値に到達するた
めのより長い時間的な周期を超え始める。重量がパン１
１から除かれると、重量表示は直ちに、ゼロに復帰せず
にＣからＴを差引いた値へと復帰し、そして徐々にゼロ
に向って動く。スケールパン１１に置かれた別の対象物
の表示された重量は、以前の重量から生ずるクリープに
より影響を受けるであろう。 第２図のより大きな曲線３１と、より小さな曲線３２と
の間の差分によって表示される通り、クリープの総量
は、付与された荷重の大きさと付与された時間との双方
に依存する。典型的に商業的な用途に使用される秤量ス
ケールのような力測定装置は、短い間隔において、種々
の継続時間に対して、本装置に付与される実質的に異な
った大きさの重量値を有することになる。その秤量機構
が「クリープアウト」となる時間、換言すれば、その秤
量機構が第２図にて示すＣ−Ｔの間隔によって表現され
る付与された荷重のための実質的に最大クリープ値に到
達する時間は、３０分と似通った値、或いはそれより大
きなものとなる。 従って、スケール機構は、通常は、一つのおもりがスケ
ールから除かれる時点から、別のおもりがスケールに付
与される時点にかけて”クリープアウト”されることに
はならないであろう。新たに適用される荷重から生ずる
クリープは、その大きさとそして新たに適用される荷重
の適用の継続時間とともに新たな荷重が適用される時点
における秤量機構の「クリープ状態」に依存する。 この効果は、フルスケール荷重の適用を表現している曲
線３５が示された第３図中に図解されている。曲線３７
から曲線４１までの諸曲線３７に関して言えばセロか
ら、曲線４１に関して言えばフルスケールに極めて接近
した荷重にまで及ぶ荷重範囲においてフルスケール荷重
の置きかえによって生ずるクリープを図示している。各
々新しく付与された荷重の表示された重量読込値におけ
るクリープ誤差は、初めに、予め付与された荷重下にあ
る秤量機構の「クリープ状態」と等しくなり、そしてそ
れから新しく付与された荷重の最大クリープ値に向かっ
て除々に動くこととなる。第３図における曲線３７から
４１に至る諸曲線のそれぞれは、指示重量読みとり値の
減少を生ずる、というのも、曲線３５は、秤量機構が実
質的に”クリープアウト”されるような継続時間に付与
されるフル荷重を表現しているからである。より大きな
荷重の付与によって求められるより短い継続時間に対し
て付与されるより小さな初期の荷重に関して言えば、曲
線３７から曲線４１までの各々と類似するクリープ曲線
は、正の勾配を持つこととなるということが理解される
であろう。 要するに、第２図及び第３図は、秤量機構中のクリープ
による誤差が、付与された一連の荷重及びそれらの継続
時間とともに変化していく機構（秤量機構）のクリープ
状態に依存していることを図示している。定期的か、或
いは新たな荷重の適用のごとき指定された事象の発生時
のいずれか一方において、この「クリープ状態」の計算
は、クリープ誤差を修正することを許容している。 本発明に示すように、クリープ状態は、クリープ誤差に
対する測定及び補償を行なうためのスケールの最も新し
い荷重履歴から計算されるものである。計算と補償と
は、マイクロコンピュータ１９によってディジタル的に
行なわれる。 クリープ状態を測定するための一つの研究方法は、増分
クリープ、換言すれば、期間内のクリープの変動を定期
的に計算し、かつクリープ誤差と等しい最も新しいクリ
ープ状態を得るための期間の始まりにおけるクリープ状
態と、増分クリープとを結合することにある。かように
して、最も新しいクリープ状態は、スケールの操作にお
いて生じたすべてのクリープ変動の累積的な結果となる
のである。この研究方法においては、そのシステムが”
クリープアウト”したような極めて長い時間周期にわた
る最大増分クリープは、下記のようにして算定され得
る。 ここで、ＭＣは、最大増分クリープであり、またＭＣＰ
は生じ得る最大可能なクリープ、換言すれば、「クリー
プアウト」された荷重が負荷されたシステムにフル荷重
が付加されたときに観察されるであろうクリープなので
ある。ＷＧＴは、通常、計数値で表現される表示された
重量値である。ＤＣＰは、ＷＧＴと同じ単位で表現され
るシステムのクリープの初期状態であり、そして、ＳＰ
は、全範囲、即ち、フル荷重表示値から非荷重表示値を
差引いた値である。 クリープ状態が「クリープアウト」した荷重が負荷され
ていないスケールシステムのためにゼロと等しくなるで
あろうこと、及びフル荷重の適用によって「クリープア
ウト」しているシステムのために、クリープ状態が、最
大可能なクリープ値と等しくなるであろうことを、更
に、考察されたい。クリープ状態は、第１の値から、お
もりがシステムに加えられるに従って第２の値へと変動
する。 長い時間的な周期が経過した後は、単にクリープを表現
しているに過ぎないが故に、上記の式（１）は、如何な
る時間変数をも含まないのである。より短い周期に対す
る新しいクリープ状態の予測は、式（１）に対して時間
関連項を導入し、且つ、下記の式におけるように増分ク
リープに対してより以前のクリープ状態を加算すること
によって行われ得る。 ここでＤＣＰ（Ｔ）は、クリープの新たな状態であり、
ＤＣＰ（Ｔ−１）は、クリープの前段階的状態であり、
ＡＡは、前段階的クリープ測定と新たな測定との間の時
間間隔を表現している。 一定の時間的間隔で重量指標が読まれる装置に対して
は、ＡＡは、定数である。もし、読込み相互間の間隔が
一定でない場合には、ＡＡは最後の読込み以後、時間と
共に変化する。例えば、重量読込みの時間が、Ａ／Ｄ変
換器を使用している第１図にて示すごときマイクロコン
ピュータによって制御されるスケールにおいて生じ得る
荷重付与の関数であるときには、ＡＡは、変数である。
Ａ−Ｄ変換器の変換時間は、荷重の大きさと共に変動す
るであろう。このようなタイプの状態では、ＡＡは、次
のように展開され得る。つまり、 ＡＡ＝Ａ＊ＴＭＩＮ＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）（３） である。 ここで、ＴＭＩＮは、無負荷での荷重読込みの時間間隔
であり、Ａはクリープ発生速度にかかわるものであり、
Ｄは、 ＴＭＩＮ＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）の項が、ゼロではない荷
重に対する重量読込みの時間間隔を表現しているような
定数である。Ｄは次のように求められる。 ここでＴＭＡＸは、フル荷重における重量読込みのため
の時間間隔である。 式（２）はここで次のようになる。 定数Ａおよび定数ＴＭＩＮは、より単純な形式を得るた
めに結合され得る。 ここで、ＡＴ＝Ａ＊ＴＭＩＮである。 ここで、ＭＣＰは正規化される。換言すれば、ＭＣＰの
値は、ＭＣＰ／ＳＰの値により、置き換えられる。そし
て、式は、次のようになる。 ＤＣＰ（Ｔ）＝ＤＣＰ（Ｔ−１） ＋（ＭＣＰ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ−１）） ＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＡＴ（６） ここで、ＭＣＰは正規化された生じ得るであろう最大ク
リープなのである。それらの定数ＭＣＰ，ＤおよびＡＴ
は個々の特殊な力測定装置または秤量システムに対して
若干ながら相違する。これらの定数値は、スケールシス
テムの立上りの間に測定され得るものであり、これらの
測定された定数値は、メモリ中に格納される。 式（６）の形式に対する一連の補正表現を用いてクリー
プ状態を計算することにより、クリープ誤差は、更に減
少され得ることがわかった。補正表現のある部分は、短
期間のクリープ効果を予測するのに役立ち、そして一
方、他の補正表現は、より長期の効果を予測するのに役
立つものである。ＡおよびＢの構成要素を有するこのよ
うな一連の補正表現は、下記のように表わされる。 ＤＣＰ（Ｔ）＝ＤＣＰＡ（Ｔ−１）＋（ＭＣＰＡ＊ＷＧ
Ｔ−ＤＣＰＡ（Ｔ−１））＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＡＡ
Ｆ＋ＤＣＰＢ（Ｔ−１）＋（ＭＣＰＢ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ
Ｂ（Ｔ−１））＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＢＢＦ （７） ここで、例えば、ＭＣＰＢ項およびＢＢＦ項を含む表現
は、最初の数秒内に生じ、そして数分間のうちに最大値
となるようなクリープ誤差に対して補正を行なうのに役
立つ。ＭＣＰＡ項およびＡＡＦ項を含む表現は、最初の
補正項が最大値に達した後に生ずるクリープ誤差に対し
て補正を行なうのに役立つ。もし、なお、一層、補正が
必要とされるならば、上記と同様に、より多くの項が付
加されることとなるであろう。 これら定数は、個々の特殊な力測定装置即ち、秤量シス
テムに対して、若干ながら相違する。これらの定数値
は、スケールシステムの立上りの間に測定され得るもの
であり、これら測定された定数値は、メモリ内に格納さ
れる。 その測定は、定数用サンプル値の選択、クリープの計
算、そしてそれから荷重適用後に数秒から約１５分に至
る例えば１０ないし１５の時間間隔で荷重を読取ること
により得られる実際のクリープデータと、上記計算結果
とを比較するという反復プロセスを通じて行われ得る。 計算されたクリープは、測定されたクリープと比較さ
れ、選択された定数値は、比較を考慮して修正され、そ
して、このようなプロセスは、その定数値が所定の精度
で測定されるまでの間、繰り返される。 こうした方法論が以下詳細に説明されるのである。 ここで、第４図を参照すると、本発明が包含されている
秤量装置の好ましい態様は、「ホスト」即ち、スケール
システムマイクロコンピュータ６２と結合された、一般
に「ディジタル荷重セル」と称される装置６０を含む。
他の機能に加えて、マイクロコンピュータ６２は、ディ
スプレー６４及びプリンタ６５を制御するとともに、キ
ーボード６７を通して与えられるオペレータ情報を受信
する。第４図にて示す秤量システムは、元来、Ａ／Ｄ変
換器、荷重セル専用のマイクロプロセッサ及び付加メモ
リが備えられている同一印刷回路基板上において結合せ
しめられた各種の電子回路において、第１図のより典型
的な装置とは異なっている。その結果、装置それ自体と
して較正され、補償され、修正されるとともに、マイク
ロコンピュータによって制御される種々のスケールシス
テムに組込まれ得るディジタル荷重セルが得られたもの
である。そのように組込まれたときには、ディジタル荷
重セルは、第４図にて示すマイクロコンピュータ６２の
ように、スケール或いはホストマイクロコンピュータと
結合される。 第４図に示される態様において、ディジタル荷重セル６
０は、前置増幅器７３から、フィルタ７５及び電子スィ
ッチ７７を通してＡ／Ｄ変換器８０にアナログ重量信号
を供給する歪ゲージ用ブリッジ７０を内蔵する。Ａ／Ｄ
変換器は、望ましくは、三重傾斜統合タイプのものがよ
い。ディジタル荷重セルの操作は、プログラムが内蔵さ
れているマイクロプロセッサ９０及び連動される無電源
保持形のＲＡＭメモリー９２により制御される。マイク
ロプロセッサ９０は、望ましくはインテル社（アメリカ
合衆国法人の名称）のモデル８０４９〔ＩＮＴＥＬ Ｍ
ＯＤＥＬ ８０４９：商品名〕がよい。 ディジタル荷重セル６０の操作の制御に加えて、ＲＡＭ
９２を備えたマイクロプロセッサ９０は、Ａ／Ｄ変換器
８０から出力される重量データを本発明のとおりに、ク
リープの影響を補償するために補正する。マイクロプロ
セッサは、また、ホストマイクロコンピュータ６２と通
信を行ない、それに加えてホストマイクロコンピュータ
においてさらに処理されるとともにディスプレー装置６
４上に表示され得るであろう重量データを送信する。 マイクロプロセッサ９０の制御下の、第４図にて示すデ
ィジタル荷重セル６０は、第５図及び第６図のフローチ
ャートで図解され、これに関して提出資料Ａとして添付
されたプログラムリストで詳細に定義されるように、動
作する。マイクロプロセッサ９０は、較正モード或いは
応用モードのいずれか一方のモードにモード設定されて
いるホストマイクロコンピュータ６２との間で通信する
ことができる。較正モードにおける操作は、ディジタル
荷重セルに対してクリープの計算された定数値を入力す
るために行われるものであろう。その説明の次に来る説
明は、応用モードの記述であろう。 第５図及び第６図を参照すると、ブロック１００におけ
るＳＴＡＲＴ後、そのシステムは、そのシステムの各部
の全てをそれらの初期条件にリセットするために、ブロ
ック１０２において初期化される。それから、重量デー
タを得るためのＡ／Ｄ変換は、「ＡＤＣＯＮＶ」と称さ
れるサブルーチンを通してブロック１０４において実行
される。Ａ／Ｄ変換を行なうことによって生じた読込み
重量データは、ブロック１０５において、「ＷＧＴ」レ
ジスタに移動される。ブロック１０７において、「ＷＧ
Ｔ」レジスタに格納された上記読込重量データは、第６
図にて図示されるとともに、以下に記述される［ＡＤＪ
ＦＩＮ」と称されるプログラムサブルーチンによってク
リープのために修正される。次に、ブロック１０８にお
いて、差分は、上記クリープを考慮して修正された「Ｗ
ＧＴ」レジスタに格納されている値と、本質的には従前
のＡ／Ｄ変換から得られた最終的な修正が施された重量
値である「ＦＩＬＴＷＴ」値との間で計算される。 それから、ブロック１０８において計算された上記差分
（ＤＩＦＦ）の範囲を決定し、そしてそれからＷＧＴレ
ジスタに格納されている値を上記差分と一致するように
操作するために、そのプログラムは、ブロック１１０と
ブロック１１２において、試験を実行する。もしブロッ
ク１１０において、その差分が８単位より小さく、且つ
ブロック１１２において、ゼロより大きければ、そこ
で、そのプログラムは、ブロック１１４に至るメインル
ープに引き続きとどまる。そのブロック１１４と、該ブ
ロック１１４の次のブロック１１６とにおいて、平滑作
用又は濾過作用は、上記差分を２分割し、その結果とし
て生じた商の示された整数値を貯えること及び上記商
を、「ＷＧＴ」の値の修正値に加えることによって実行
される。それからブロック１１９において、上記「ＷＧ
Ｔ」の値は、「ＦＩＬＴＷＴ」レジスタに移送される。
しかしながら、もし、ブロック１１０において、「ＷＧ
Ｔ」の値と「ＦＩＬＴＷＴ」の値との間の差分が８単位
より大きいと決定されると、そのプログラムは、ブロッ
ク１１４及びブロック１１６における平滑作用をバイパ
スし、ポイント１２０を通してブロック１１９へと進行
する。かようにして、最も新しい重量表示が記述されて
いる２つの事例のいずれかにおいて、次のプログラムサ
イクルのために、「ＷＧＴ」の値は、「ＦＩＬＴＷＴ」
の値となる。 ブロック１１０及びブロック１１２における試験での、
残存しており且つ最終的な選択の対象となるものは、
「ＦＩＬＴＷＴＧ」の値が、「ＷＧＴ」の値と等しくな
るように、差分値を０にすることである。その場合にお
いて、そのプログラムは、余分なものとしてブロック１
１４，ブロック１１５及びブロック１１９をバイパス
し、そして、ポイント１２２において再度メインループ
に入る。 ブロック１２５において、そのプログラムは、ＲＡＭ９
２内に格納されているクリープ修正用のサブルーチンで
ある「ＡＤＪＦＩＮ」において用いられるクリープ定数
値の有効性を試験する。もし、そのクリープ定数値が無
効であると決定された場合には、そのプログラムは、無
効データを示すフラグをセットすべく「ＷＧＴ」レジス
タに「不可能な」値が転送されるブロックであるブロッ
ク１２９に、ポイント１２７を通して進行する。それか
ら、そのプログラムは、ポイント１３１において前記メ
インループを通してブロック１３３に進行する。そのブ
ロック１３３において、「ＸＤＡＴＡ」として識別され
るサブルーチンによって、そのディジタル荷重セルデー
タは、ホストマイクロコンピュータ６２に伝送される。
それから、そのプログラムは、エントリーポイント１３
５を通してブロック１０４においてメインループに復帰
する。 再び、ブロック１２５に戻り、もしそこで（ブロック１
２５において）、そのクリープ定数値が有効であると決
定されたとすれば、ブロック１０４において得られたよ
り後に修正されるものとしての重量読込値が、Ａ／Ｄ変
換器８０の正領域内にあるかどうかを決定するためにチ
ェックが行われるブロック１４０に、そのプログラムは
断続する。もし、その重量データが有効であると決定さ
れるならば、そのプログラムは上述したように、ポイン
ト１３１に進行し、そしてポイント１３１からブロック
１３３に進行する。もし、その重量データがブロック１
４０において無効であると決定されたとすれば、「不可
能」な値「ブロック１２９におけるそれ、即ち、「不可
能」な値とは相違する）が、無効データを示すフラグを
設定するために「ＷＧＴ」レジスタに転送されるブロッ
クであるブロック１４２に、そのプログラムは継続す
る。 そのプログラムは、上述したようにポイント１３１を通
してブロック１３３へ進行する。 最新のクリープ状態の計算及び重量読込値の修正のため
の手順は、第６図に示される。計算目的のために、上記
の式（７）は、以下に示すように、いくつかの項に分け
られる。 ＤＣＰ（Ｔ）＝ＤＣＰＡ（Ｔ）＋ＤＣＰＢ（Ｔ） ＤＣＰＡ（Ｔ）＝ＤＣＰＡ（Ｔ−１）＋Ａ ここで、増分クリープの一成分は、 Ａ＝（ＭＣＰＡ＊ＷＧＴ−ＤＣＰＡ（Ｔ−１）） ＊ＡＡＦ＊Ｃ ＤＣＰＢ（Ｔ）＝ＤＣＰＢ（Ｔ−１）＋Ｂであり、ここ
で、増分クリープのもう一つの成分 Ｂ＝（ＭＣＰＢ＊ＷＧＴ−ＤＣＰＢ（Ｔ−１））＊ＢＢ
Ｆ＊Ｃであり、そして Ｃ＝１＋ＷＧＴ＊Ｄであり、 最後にクリープ補償重量値＝ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ）であ
る。 ここで、第６図を参照すれば、クリープ補償のサブルー
チンであるＡＤＪＦＩＮは、ポイント１４０から入れら
れる。それから、ブロック１４１において、ホストマイ
クロコンピュータ６２が較正システムであるかどうかを
決定するためにチェックが行われる。もしそうであれ
ば、クリープ計算は行われず、そのプログラムは、クリ
ープ計算及びクリープ補償で費やされようとした時間を
使うために、メインループに復帰する以前にブロック１
４２において遅延する。もしブロック１４１において、
ホストマイクロコンピュータ６２が応用システムである
と決定されたとすれば、そのプログラムは、ポイント１
４３において、クリープ調整手順へと進行する。 クリープ定数は、ブロック１４５において、ＲＡＭ９２
から読込まれる。それから、ブロック１４６において、
前記格納された定数値が前述したように転送されてから
現在に至るまでの間に変化していないことを確認するた
めに、チェックが行われる。もしどんな定数値も無効で
あると判断されると、そのプログラムはメインループに
復帰する。もしすべての定数値が有効であるならば、ク
リープの計算のためのＣ項は、ブロック１４８において
計算され、そして格納される。それからブロック１４９
及び１５０において、Ａ項、つまり最初の項即ち、増分
クリープのＡ成分が計算される。それから、Ａ項に起因
すると考えられるクリープの最新の状態の成分は、Ａ成
分のためのクリープの状態が蓄積されている存在である
ＤＣＰＡ（Ｔ−１）の項に、Ａ項を加えることによっ
て、ブロック１５１において、計算される。 その結果として得られる値であるＤＣＰＡ（Ｔ）の値
は、次の重量値を読込むためのＤＣＰ（Ｔ−１）の値と
して使うための格納される。 ブロック１５４及び１５５においてＢ項つまり第二番目
のもの即ち、増分クリープのＢ成分が計算される。それ
からＢ項に起因すると考えられるクリープの最新の状態
の成分は、Ｂ成分のためのクリープの状態が蓄積されて
いる存在であるＤＣＰＢ（Ｔ−１）の項に、Ｂ項を加え
ることによって、ブロック１５７において計算される。 その結果として得られる値であるＤＣＰＢ（Ｔ）の値
は、次の重量値を読込むためのＤＣＰ（Ｔ−１）の値と
して使うために格納される。 最後に、ブロック１６０において、最も新しいクリープ
の状態の二つの成分、即ち、ＤＣＰＡ（Ｔ）の値とＤＣ
ＰＢ（Ｔ）の値とは、合計され、そして最新の重量読込
値であるＷＧＴの値から減算され、それから、そのプロ
グラムは、メインループに復帰する。 上述したように、定数値ＭＣＰＡ，ＭＣＰＢ，ＡＡＦ，
ＢＢＦ，Ｄは、各々の荷重セル装置６０のために予め決
定され、クリープ補償において使用するために格納され
る。定数Ｄは、クリープ補償のためにプログラム化され
たマイクロプロセッサの関数であり、上述の（４）から
決定され、永久にマイクロプロセッサメモリに格納され
得る。第７図及び第８図のフローチャートは、他の定数
を計算するための反復的なプロセスを図示している。付
録Ｂとして、個々に添付されたコンピュータプログラム
は、計算過程の完全な手段である。そのプログラムは、
他の多くのコンピュータにおいてのみならず、ディジタ
ル・エクイップメント・コーポレーション〔Ｄｉｇｉｔ
ａｌ Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ
： アメリカ合衆国法人の名称〕のどんな”ＶＡＸ”
（商品名）コンピュータにおいても走らせることができ
るであろう。 定数計算に先立って、実際のクリープ測定量は、試験荷
重の付与後、１０，３０，４５及び６０秒ごと及び２，
３，４，５，６，７，８，１０，１２及び１５分毎に定
数の決定が行なわれるべき、荷重セル装置６０から得ら
れる。それらクリープの測定量は、これらの時刻毎に指
示された荷重値の読取りと、クリープを測定するための
他の値の各々から最初に読込んだ値を減算することと、
１０秒刻みのクリープの原因を示すための最初の読込値
と最後の読込値との間の差分の部分（例えば２０％）を
各々の結果に加算することとによって得られるものであ
る。それらのクリープの測定量は、以下に記述されるよ
うに、定数計算において比較を行なう目的のために用い
られる。 ここで、第７図と第８図とを参照すれば、ブロック２０
０において、定数値のための初期の「最良の推測」が、
入れられる。 その定数は或る装置から他の装置にまたがって大きく変
動することはないし、そして、適当な、「最良の推測」
は、 ＭＣＰＡ＝−，０００１３，ＭＣＰＢ＝−，０００１
７， ＡＡＦ＝．０００８，ＢＢＦ＝．０１１であるというこ
とが分かった。それから、ブロック２０２において、一
つの定数、この例においては、ＡＡＦの値は、計算され
たクリープと測定されたクリープとの間で「最良の適
合」が発見されるまで、変動せしめられる。第８図は、
Ｓ値が１と等しくなるように設定することにより、ブロ
ック２０５において開始するこのフロセスを図示してい
る。それから、最も新しいクリープ状態（クリープ誤
差）は、ブロック２０６において、その定数値のための
初期の最良の推測を用いる式（７）から計算される。ブ
ロック２０８において、最小自乗誤差は、測定されたク
リープ誤差と計算されたクリープ誤差との間で計算され
る。それからブロック２１０において、ＡＡＦの初期値
が、Ｓ値に依存して増加又は減少され、その最小自乗誤
差は、ブロック２１２において再び計算される。ブロッ
ク２１４及びブロック２１７において、最も後に決定さ
れた誤差は、最良の適合が得られたかどうかを決定する
ためにあらかじめ決定された誤差と比較される。もし、
最良の適合が得られたのであれば、そのプログラムは、
ブロック２２０において、メインループ（第７図にて示
す）に復帰する。もし、最良の適合が得られなかったの
であれば、その試験は、最も新しく決定された誤差が直
前の誤差よりも小さいかどうかを決定するために、ブロ
ック２２２において実行される。もしそうであるなら
ば、それから、そのプログラムは、ブロック２１０に復
帰し、ＡＡＦの値は、再び増加せしめられ、先の試験が
繰返される。もしそうでないならば、Ｓの表示がブロッ
ク２２３において変更され、ＡＡＦの値は、ブロック２
１０において減じられ、プログラムステップは、最良の
適合がブロック２１７において作られ、そしてそのプロ
グラムがブロック２２２においてメインループ（第７図
にて示す）に復帰するまで、繰返される。ブロック２２
０において、定数値ＭＣＰＡは、最良の適合を得るため
に、第８図中に示したステップに従って変更される。そ
れからブロック２２６において、最良の適合がＡＡＦの
値及びＭＣＰＡの値の双方に対して作られたかどうかを
決定するために、チェックが行われる。もし作られてい
ないならば、ＡＡＦの値とそしてそれからＭＣＰＡの値
とは、ブロック２２６において、ＡＡＦの値とＭＣＰＡ
の値の双方に対して最良の適合が決定されるまで最良の
適合を得るために、第８図において示したように、再び
個々に変更せしめられる。それからブロック２２９にお
いて、定数ＢＢＦは、その定数の値が、計算されたクリ
ープ誤差と測定されたクリープ誤差との間で最良の適合
を生ずるまで、第８図にて示した手順に従って変更せし
められる。それから、定数値ＭＣＰＢは、最良の適合が
得られるまで、第８図にて示されるやり方で、ブロック
２３１において変更せしめられる。それから、ＢＢＦの
値とＭＣＰＢの値の双方のために最良の適合が得られた
かどうかを決定するために、ブロック２３３において、
チェックが行われる。もし得られていないならば、その
プログラムは、ブロック２２９に復帰し、ＢＢＦの値と
そしてそれからＭＣＰＢの値とは、ブロック２３３にお
いて双方の定数値に対して最良の適合が得られるまでの
間、第８図にて示したように、個別的に再び変更せしめ
られる。 この点において、すべての定数の値は、計算されたクリ
ープ誤差と測定されたクリープ誤差との間の最良の適合
をもたらすために試みられた異なった値から選ばれた。
ブロック２３５において、定数の値における変化の増分
は、減じられ、そして、ブロック２３８において、望ま
しい回数、つまり、その定数値に対していよいよ小さな
値の増分となる望ましい数、例えば７で、全体のプロセ
スが、繰返されたかどうかを決めるために、試験が行わ
れる。もし望ましい回数で全体のプロセスが繰返された
のでなければ、プログラムは、プロック２０２に復帰
し、全体のプロセスが定数値において、新しい、そして
より小さい増分と共に繰返される。そのプロセスが、望
ましい回数（この場合は７）繰返された時、定数に対す
る最終値は、秤量装置が使用されている間、クリープ予
測に用いるために無電源保持形ＲＡＭ９２（第５図にて
図示）（あるいは第１図にて図示したメモリ２３）に記
録される。 以上の説明から明らかなように、変動する増加或はクリ
ープ誤差における変化は、秤量上に現われた重量が変化
したかどうかを実質的に等間隔で記憶された数式より計
算することができる。更に、現存するクリープ誤差或は
クリープ状態を新しくすることができる。従って、クリ
ープ誤差を極めて正確に追跡することができるという、
この種クリープ補償型はかりにおいて極めて大きな効果
を得ることができる。
第１図はクリープ効果にかかわり、本発明が包含されて
いるマイクロコンピュータによって制御される秤量装置
のブロックダイヤグラム、第２図はアナログ重量信号へ
のクリープの影響を図示したプロット図、第３図は秤量
装置での荷重の大きさの変動から生ずるクリープを示す
プロット図、第４図は、本発明が包含されている、秤量
装置の好ましい態様について、第１図のブロックダイヤ
グラムよりより詳細に記述したブロックダイヤグラム、
第５図は本発明が包含されている秤量装置の動作を示す
フローチャート、第６図は第５図にて示したフローチャ
ートのクリープ補正サブルーチンに係るフローチャー
ト、第７図及び第８図は本発明が包含されている特殊な
秤量装置についてのクリープ計算定数を確定するための
プログラムのフローチャートである。 １１……おもり受入れパン １２……荷重セル １４……歪ゲージ用ブリッジ １７……Ａ／Ｄ変換器 １９……マイコン ２１……ディスプレー装置 ２３……電子メモリ
いるマイクロコンピュータによって制御される秤量装置
のブロックダイヤグラム、第２図はアナログ重量信号へ
のクリープの影響を図示したプロット図、第３図は秤量
装置での荷重の大きさの変動から生ずるクリープを示す
プロット図、第４図は、本発明が包含されている、秤量
装置の好ましい態様について、第１図のブロックダイヤ
グラムよりより詳細に記述したブロックダイヤグラム、
第５図は本発明が包含されている秤量装置の動作を示す
フローチャート、第６図は第５図にて示したフローチャ
ートのクリープ補正サブルーチンに係るフローチャー
ト、第７図及び第８図は本発明が包含されている特殊な
秤量装置についてのクリープ計算定数を確定するための
プログラムのフローチャートである。 １１……おもり受入れパン １２……荷重セル １４……歪ゲージ用ブリッジ １７……Ａ／Ｄ変換器 １９……マイコン ２１……ディスプレー装置 ２３……電子メモリ
Claims (5)
- 【請求項１】秤量機構と、該秤量機構のクリープ状態を
記憶する手段と、該秤量機構の重量データを得るための
手段と、前述の重量データと記憶されたクリープ状態の
関数としてクリープ増分を計算するための数式を記憶す
る手段と、前述の数式を用いてほぼ等間隔をおいてクリ
ープ増分と記憶されたクリープ状態とを組み合わせて当
該時点のクリープ状態を決定する手段と、各々の当該時
点のクリープ状態とそれに対応する重量データを組み合
わせて、クリープの影響に関して補償された重量を前述
の秤量機構上に表示するための手段と、各々のその時点
のクリープ状態を新たに記憶されるクリープ状態として
記憶するための手段と、 を備えたことを特徴とするクリープ補償型秤量装置。 - 【請求項２】重量データと記憶されたクリープ状態の関
数としてクリープ増分を計算するための数式は、少なく
とも、個々の秤量機構のために決定された値を有する１
つの定数を包含していることを特徴とする請求項１記載
のクリープ補償型秤量装置。 - 【請求項３】クリープ状態は（ＭＣＰ×ＷＧＴ−ＤＣＰ
（Ｔ−１））×（１＋ＷＧＴ×Ｄ）×ＡＴ＋ＤＣＰ（Ｔ
−１）の式から計算され、ここで、ＷＧＴは重量表示、
ＤＣＰ（Ｔ−１）は従前のクリープ状態、ＭＣＰ，Ｄ及
びＡＴは定数であることを特徴とする請求項１記載のク
リープ補償型秤量装置。 - 【請求項４】クリープ状態は［（ＭＣＰＡ×ＷＧＴ−Ｄ
ＣＰＡ（Ｔ−１））×ＡＡＦ＋（ＭＣＰＢ×ＷＧＴ−Ｄ
ＣＰＢ（Ｔ−１））×ＢＢＦ］×（１＋ＷＧＴ×Ｄ）＋
ＤＣＰＡ（Ｔ−１）＋ＤＣＰＢ（Ｔ−１）の式から計算
され、ここで、ＷＧＴは重量表示、ＤＣＰＡ（Ｔ−１）
及びＤＣＰＢ（Ｔ−１）は、従前のクリープ状態の成
分、ＭＣＰＡ，ＡＡＦ，ＭＣＰＢ，ＢＢＦ及びＤは予め
決定された定数であることを特徴とする請求項１記載の
クリープ補償型秤量装置。 - 【請求項５】秤量機構のクリープ状態を記憶するステッ
プと、秤量機構の重量データを得るためのステップと、
上記重量データと記憶されたクリープ状態の関係として
クリープ増分を計算するための数式を記憶するステップ
と、上記数式を用いてほぼ等間隔をおいてクリープ増分
と記憶されたクリープ状態とを組み合わせて当該時点の
クリープ状態を決定するステップと、各々の当該時点の
クリープ状態とそれに対応する重量データを組み合わせ
てクリープの影響に関して補償された重量を上記秤量機
構上に表示するためのステップと、各々その時点のクリ
ープ状態を新たに記憶されるクリープ状態として記憶す
るためのステップと、 からなるクリープ用出力修正方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/638,272 US4691290A (en) | 1984-08-06 | 1984-08-06 | Creep-compensated weighing apparatus |
| US638,272 | 1984-08-06 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6145932A JPS6145932A (ja) | 1986-03-06 |
| JPH0621813B2 true JPH0621813B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=24559343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60154370A Expired - Fee Related JPH0621813B2 (ja) | 1984-08-06 | 1985-07-15 | クリ−プ補償型秤量装置及びクリ−プ用出力修正方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4691290A (ja) |
| EP (1) | EP0171237B2 (ja) |
| JP (1) | JPH0621813B2 (ja) |
| AU (1) | AU574800B2 (ja) |
| BR (1) | BR8503675A (ja) |
| CA (1) | CA1249307A (ja) |
| DE (1) | DE3573653D1 (ja) |
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