JPS6145932A - クリ−プ補償型秤量装置及びクリ−プ用出力修正方法 - Google Patents
クリ−プ補償型秤量装置及びクリ−プ用出力修正方法Info
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- JPS6145932A JPS6145932A JP60154370A JP15437085A JPS6145932A JP S6145932 A JPS6145932 A JP S6145932A JP 60154370 A JP60154370 A JP 60154370A JP 15437085 A JP15437085 A JP 15437085A JP S6145932 A JPS6145932 A JP S6145932A
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- G01G23/00—Auxiliary devices for weighing apparatus
- G01G23/01—Testing or calibrating of weighing apparatus
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01G23/18—Indicating devices, e.g. for remote indication; Recording devices; Scales, e.g. graduated
- G01G23/36—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells
- G01G23/37—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting
- G01G23/3707—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting using a microprocessor
- G01G23/3714—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting using a microprocessor with feedback means
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- G01G3/00—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances
- G01G3/12—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances wherein the weighing element is in the form of a solid body stressed by pressure or tension during weighing
- G01G3/14—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances wherein the weighing element is in the form of a solid body stressed by pressure or tension during weighing measuring variations of electrical resistance
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はいわゆる秤量スケールである力測定装置に関し
、特にクリープ誤差を取シ除くためのクリープ補償型秤
量装置及びクリープ用出力修正方法に関する。
、特にクリープ誤差を取シ除くためのクリープ補償型秤
量装置及びクリープ用出力修正方法に関する。
従来の技術
荷重セルのごとき力測定装置によシ見出されるクリープ
として知られる現象は、付与された荷重下の時間による
荷重セルの出力において、増加または減少のいずれかの
変動として表わされる。荷重が除去された時、出力にお
ける累積変動、いわゆるクリープ誤差が残る。荷重のク
リープ効果が消失するにつれて荷重セルの出力はゼロに
向かってクリープ挙動をする。また、異った荷重が異っ
た期間および異った間隔で付与されるとクリープはそれ
に従って変動する。
として知られる現象は、付与された荷重下の時間による
荷重セルの出力において、増加または減少のいずれかの
変動として表わされる。荷重が除去された時、出力にお
ける累積変動、いわゆるクリープ誤差が残る。荷重のク
リープ効果が消失するにつれて荷重セルの出力はゼロに
向かってクリープ挙動をする。また、異った荷重が異っ
た期間および異った間隔で付与されるとクリープはそれ
に従って変動する。
クリープ現象は十分に理解されていないが、２つの主な
原因が考えられる。第１の原因は反作用力を有する粒子
構造における変化である。理論上１クリープのこの原因
抹ラチス内の最小エネルギーの位置を探す荷ｌセルの反
作用力を有する結晶性粒子構造の遊動原子に起因する。
原因が考えられる。第１の原因は反作用力を有する粒子
構造における変化である。理論上１クリープのこの原因
抹ラチス内の最小エネルギーの位置を探す荷ｌセルの反
作用力を有する結晶性粒子構造の遊動原子に起因する。
反作用力に付与された応力はエネルギーのパターンを変
え、遊動原子に新しい位置を探させる原因にもなる。そ
のような移動はラチス寸法を変え、歪ゲージによって見
出される歪を変える。応力が荷重セルから除去された時
、原子は初期の位置に戻る方向に移動し、荷重セルの出
力は読みとシ目盛上初期の、また祉ゼロ的均衡位置にク
リープ挙動で戻る。クリープ現象によシ誘導される荷重
指示における誤差は荷重の大きさおよびそれを付加また
は除去した後に経過した時間の両方の作用である。
え、遊動原子に新しい位置を探させる原因にもなる。そ
のような移動はラチス寸法を変え、歪ゲージによって見
出される歪を変える。応力が荷重セルから除去された時
、原子は初期の位置に戻る方向に移動し、荷重セルの出
力は読みとシ目盛上初期の、また祉ゼロ的均衡位置にク
リープ挙動で戻る。クリープ現象によシ誘導される荷重
指示における誤差は荷重の大きさおよびそれを付加また
は除去した後に経過した時間の両方の作用である。
クリープの第２の原因は、反作用力と歪ゲージとの間の
、および、またはゲージのグリッドとゲージバッキング
との間の接着ボンドの弛緩である。
、および、またはゲージのグリッドとゲージバッキング
との間の接着ボンドの弛緩である。
前述の２つの原因（反作用力粒子構造および接着ボンド
）はしばしば互いにキャンセルし合う傾向がある。歪ゲ
ージはゲージが取９付けられる反作用力におけるクリー
プに対し多かれ少なかれ補正をする幾何学的配置に差異
をもたらすことによって通常利用できる。従って、ゲー
ジはクリープを最小にするための反作用力と釣合ってい
る。そのような方法は荷重セル出力への固有クリープ効
果を過度に減少させるけれども、高度な正確さを適用す
るためには一層の修正がまだ必要とされる。
）はしばしば互いにキャンセルし合う傾向がある。歪ゲ
ージはゲージが取９付けられる反作用力におけるクリー
プに対し多かれ少なかれ補正をする幾何学的配置に差異
をもたらすことによって通常利用できる。従って、ゲー
ジはクリープを最小にするための反作用力と釣合ってい
る。そのような方法は荷重セル出力への固有クリープ効
果を過度に減少させるけれども、高度な正確さを適用す
るためには一層の修正がまだ必要とされる。
最近まで、秤量正確さへのクリープ効果に対する電子工
学的補償のための努力はｉｔとんど行なわれなかった。
学的補償のための努力はｉｔとんど行なわれなかった。
１９８３年１０月２５日に、ｌｉ’ｅｉｍ−１ａｎｄ
ｅｔ ａｌ に発表された米国特許ＮＯ，４゜４
１２．２９８において、デジタル秤量スケールにおける
クリープのだめの補正方法が提案されている。その特許
では荷重の付与に先だって自重が蓄積される。荷重が付
与され、スケール作動が止まった後に、重量読みとシが
間隔をおいて行なわれる。もし読みとシにおいて累積さ
れた差が予め決められた量を越えた場合は、一定した自
重が荷重を除去した後に維持できるように、蓄積された
自重に差が付加される。
ｅｔ ａｌ に発表された米国特許ＮＯ，４゜４
１２．２９８において、デジタル秤量スケールにおける
クリープのだめの補正方法が提案されている。その特許
では荷重の付与に先だって自重が蓄積される。荷重が付
与され、スケール作動が止まった後に、重量読みとシが
間隔をおいて行なわれる。もし読みとシにおいて累積さ
れた差が予め決められた量を越えた場合は、一定した自
重が荷重を除去した後に維持できるように、蓄積された
自重に差が付加される。
発明が解決しようとする問題点
従来、荷重セル等の力測定装置によシ見出されるクリー
プ現象については、その変動によるクリープ誤差を修正
する装置及び出力修正方法は、満足のいくものが提案さ
れておらず、特に、クリープ効果に対する電子工学的補
償は十分実用に耐えるものは存在しなかった。
プ現象については、その変動によるクリープ誤差を修正
する装置及び出力修正方法は、満足のいくものが提案さ
れておらず、特に、クリープ効果に対する電子工学的補
償は十分実用に耐えるものは存在しなかった。
問題点を解決するための手段及び作用
本発明は上記した問題に鑑みてなされ、新規なりリープ
補償型秤量装置及びクリープ用出力修正方法を提供する
ものであシ、装置の現下のクリープ状態を継続的に予測
し、このクリープ状態による力表示を修正することによ
ってクリープ計測を補償する秤量装置あるいはその他の
力測定装置のクリープ用゛出力修正方法である。
補償型秤量装置及びクリープ用出力修正方法を提供する
ものであシ、装置の現下のクリープ状態を継続的に予測
し、このクリープ状態による力表示を修正することによ
ってクリープ計測を補償する秤量装置あるいはその他の
力測定装置のクリープ用゛出力修正方法である。
装置による現下のクリープ状態は装置による最近のクリ
ープ履歴に依存する。すなわち、前に付与された力の大
きさおよび継続期間、また現在付与されている力の大き
さおよび継続期間による現下のクリープ要因に左右され
る。初期の条件としてクリープ履歴（または一番最近の
クリープ状態）を利用することによって、現下のクリー
プ状態は現下の荷重の大きさおよび継続期間から予測で
きる。そのようにして決められた現下のクリープ状態は
現下の力指示を補正するために使用され、また次の新し
いクリープ状態を予測するのに使用するため蓄積される
。
ープ履歴に依存する。すなわち、前に付与された力の大
きさおよび継続期間、また現在付与されている力の大き
さおよび継続期間による現下のクリープ要因に左右され
る。初期の条件としてクリープ履歴（または一番最近の
クリープ状態）を利用することによって、現下のクリー
プ状態は現下の荷重の大きさおよび継続期間から予測で
きる。そのようにして決められた現下のクリープ状態は
現下の力指示を補正するために使用され、また次の新し
いクリープ状態を予測するのに使用するため蓄積される
。
本発明によるクリープ計測補正用秤量装置は、秤量機構
、秤量機構にかかる重量の表示を得るための機構、重量
表示を利用して秤量機構によるクリープ状態を計算する
ための機構、および修正を加えた重量表示を提供するた
めに重量表示とクリープ状態とを組み合わせるための機
構、などを含んでいる。
、秤量機構にかかる重量の表示を得るための機構、重量
表示を利用して秤量機構によるクリープ状態を計算する
ための機構、および修正を加えた重量表示を提供するた
めに重量表示とクリープ状態とを組み合わせるための機
構、などを含んでいる。
クリープに対して秤量装置の出力を修正するための本発
明による方法は、秤量装置に付与された１ｆｔの表示を
得ること、秤量装置のクリープ状態を計算すること、そ
して修正を加えた重量表示を提供するために重量表示と
クリープ状態とを組み合わせること、などから成ってい
る。
明による方法は、秤量装置に付与された１ｆｔの表示を
得ること、秤量装置のクリープ状態を計算すること、そ
して修正を加えた重量表示を提供するために重量表示と
クリープ状態とを組み合わせること、などから成ってい
る。
装置が最初の使用位置に置かれた時、あるいは正味の期
間中（約３０分）荷重が付与されていない時、過去のす
べてのクリープ効果は小さくなる。
間中（約３０分）荷重が付与されていない時、過去のす
べてのクリープ効果は小さくなる。
装置によるクリープ状態はその時は基本的にゼロである
。荷重が装置に付与されない限シクリープ状態はゼロの
ま＼である。しかしながら、荷重が付与されることによ
りクリープが生じ、付与された荷重の大きさおよび継続
期間の作用に従って計算される。そのようにして計算さ
れたクリープは装置の現下のクリープ状態とされ、蓄積
される。
。荷重が装置に付与されない限シクリープ状態はゼロの
ま＼である。しかしながら、荷重が付与されることによ
りクリープが生じ、付与された荷重の大きさおよび継続
期間の作用に従って計算される。そのようにして計算さ
れたクリープは装置の現下のクリープ状態とされ、蓄積
される。
継続的荷重が装置に付与されるにつれて、それらの荷重
および荷重の継続期間によるクリープ増加量は継続的に
計算され、装置の現下のクリープ状態を決めるために最
近のクリープ状態と組み合わせられる。現下のクリープ
状態は重量読み取シを修正するために使用され、また次
のクリープ状態を決定するのに使用するため蓄積される
。このようにして、秤量装置の現下のクリープ状態は常
に分かシ、秤量装置を補正するために利用できる。
および荷重の継続期間によるクリープ増加量は継続的に
計算され、装置の現下のクリープ状態を決めるために最
近のクリープ状態と組み合わせられる。現下のクリープ
状態は重量読み取シを修正するために使用され、また次
のクリープ状態を決定するのに使用するため蓄積される
。このようにして、秤量装置の現下のクリープ状態は常
に分かシ、秤量装置を補正するために利用できる。
実 施 例
次に、本発明を図面に従って詳述する。
図によれば、牝・に第１図に基けば、クリープの影響？
ジける典型的な力測定機構は、図にボぜれるマイコン制
御秤量スケールである。第１図のスク゛−ルは、おもシ
受入れパン１１、荷重セル１２および歪ゲージ用ブリッ
ジ１４を有する。パン１１上に置かれた荷重は、荷重セ
ルの歪ゲージおよび不均衡ブリッジ１４によシ検出され
る荷重セル１２において歪を生む。本ブリッジはＡ／Ｄ
（アナログからデジタルへの）Ｋ侯器１７へのアナロ
グ重量信号を与える。アナログ重量信号はマイコン１９
の制御下において、父俟器１７によってディジタル形式
に変換されて、ディスプレー装［２１上でディジクル形
態で処理２表示するべく、マイコンに送られる。電子メ
モリー２３は、マイコン１９と連動し、ＲＡＭ （Ｒａ
ｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓａ Ｍｅｒｎｏ−ｒｙ）およ
びＲＯＭ （Ｒｅａｄ ０ｎｌｙ Ｍｅｉｎｏｒｙ）の
双方を内蔵し得る。
ジける典型的な力測定機構は、図にボぜれるマイコン制
御秤量スケールである。第１図のスク゛−ルは、おもシ
受入れパン１１、荷重セル１２および歪ゲージ用ブリッ
ジ１４を有する。パン１１上に置かれた荷重は、荷重セ
ルの歪ゲージおよび不均衡ブリッジ１４によシ検出され
る荷重セル１２において歪を生む。本ブリッジはＡ／Ｄ
（アナログからデジタルへの）Ｋ侯器１７へのアナロ
グ重量信号を与える。アナログ重量信号はマイコン１９
の制御下において、父俟器１７によってディジタル形式
に変換されて、ディスプレー装［２１上でディジクル形
態で処理２表示するべく、マイコンに送られる。電子メ
モリー２３は、マイコン１９と連動し、ＲＡＭ （Ｒａ
ｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓａ Ｍｅｒｎｏ−ｒｙ）およ
びＲＯＭ （Ｒｅａｄ ０ｎｌｙ Ｍｅｉｎｏｒｙ）の
双方を内蔵し得る。
第２図は、ブリッジ１４からのアナログ重量信号でクリ
ープ効果を図解している。第２図の曲線３１に見られる
ように、秤量装置は、むしろ迅速にＴにおいて真の重量
指示を与える。重量指示は、はｙ即応性を以て、クリー
プ効果から変動しはじめて、長時間をかけて値Ｃに到達
し、その結果、重量指示は、真の１量値Ｔに対しクリー
プＣを加え、Ｔを引いたものである。重量がパン１１か
ら除かれると、重量指示は直接、ゼロに戻らずに、値Ｃ
マイナスＴへと進み、クリープはゼロに進行する。スケ
ールパン１１に配置した他の対象物の指示重量は、前の
重量から起るクリープによシ影響を受ける。
ープ効果を図解している。第２図の曲線３１に見られる
ように、秤量装置は、むしろ迅速にＴにおいて真の重量
指示を与える。重量指示は、はｙ即応性を以て、クリー
プ効果から変動しはじめて、長時間をかけて値Ｃに到達
し、その結果、重量指示は、真の１量値Ｔに対しクリー
プＣを加え、Ｔを引いたものである。重量がパン１１か
ら除かれると、重量指示は直接、ゼロに戻らずに、値Ｃ
マイナスＴへと進み、クリープはゼロに進行する。スケ
ールパン１１に配置した他の対象物の指示重量は、前の
重量から起るクリープによシ影響を受ける。
第２図のよシ大きな曲線３１とよシ小さな曲線３２との
間にある差によって示される通り、クリープ量は、適用
荷重の大きさと適用時間双方に依存する。典型的に商業
的利用をはかられる秤量スケールのよりな力測定装置は
、短い間隔をおき多様な継続時間に対して、本装置に付
与される本質的にいろいろな大きさの重量を有すること
になる。
間にある差によって示される通り、クリープ量は、適用
荷重の大きさと適用時間双方に依存する。典型的に商業
的利用をはかられる秤量スケールのよりな力測定装置は
、短い間隔をおき多様な継続時間に対して、本装置に付
与される本質的にいろいろな大きさの重量を有すること
になる。
第２図における間隔Ｃ−Ｔによって表現されるような、
′クリープアウト”になる、つまシ適用荷重に対して基
本的に最大クリープ値となるような、秤量機構にとり必
要とされる時間は、３０分ないしはそれ以上のものとな
る。従って、スケ−へ機構は、通常は、一つのおもシが
スケールから除かれる時点から、他のおもシが付与でれ
る時点にかけて”クリープアウト“されることにはなら
ぬ、新たに付与される荷重から生ずるクリープは、新た
に付与された荷重の大きさおよび使用期間と合せて、新
荷重が適用された時点での秤量機構の“クリープ状態“
に依存する。
′クリープアウト”になる、つまシ適用荷重に対して基
本的に最大クリープ値となるような、秤量機構にとり必
要とされる時間は、３０分ないしはそれ以上のものとな
る。従って、スケ−へ機構は、通常は、一つのおもシが
スケールから除かれる時点から、他のおもシが付与でれ
る時点にかけて”クリープアウト“されることにはなら
ぬ、新たに付与される荷重から生ずるクリープは、新た
に付与された荷重の大きさおよび使用期間と合せて、新
荷重が適用された時点での秤量機構の“クリープ状態“
に依存する。
この効果は、フルスケール荷重の適用状況を曲線３５が
示している第３図中に表現されている。
示している第３図中に表現されている。
曲線３７から４１までの諸曲煉は、曲線３７の事例にお
けるゼロから、曲線４１の事例におけるフルスケールに
極めて接近した荷重にまで及ぶ諸荷重によ＃）フルスケ
ール荷重を置きかえることから生ずるクリープを現わす
。それぞれ新しく付写される荷重に対する指示された重
量読みとシでのクリープ誤差は、初期段階で、前取て適
用された荷重下にある秤量機構の“クリープ状態“に等
しく、新たに付与される荷重に対する最大クリープ値に
向けてクリープ挙動することになる。第３図における曲
線３７から４１に至る諸曲線のそれぞれは、指示重量読
みとシ値の低下を生ずる。というのも曲線３５は、秤量
機構が基本的に“クリープアウト“されるという期間に
与えられるようなフル荷重を表現するからである。よシ
大きな荷重の付与が後続されるようになシ、短期間にわ
たって初期的小荷重が付与されるような場合には、曲線
３７から４１までに対応する諸クリープ曲線は正の勾配
を持つことになると評価されよう。
けるゼロから、曲線４１の事例におけるフルスケールに
極めて接近した荷重にまで及ぶ諸荷重によ＃）フルスケ
ール荷重を置きかえることから生ずるクリープを現わす
。それぞれ新しく付写される荷重に対する指示された重
量読みとシでのクリープ誤差は、初期段階で、前取て適
用された荷重下にある秤量機構の“クリープ状態“に等
しく、新たに付与される荷重に対する最大クリープ値に
向けてクリープ挙動することになる。第３図における曲
線３７から４１に至る諸曲線のそれぞれは、指示重量読
みとシ値の低下を生ずる。というのも曲線３５は、秤量
機構が基本的に“クリープアウト“されるという期間に
与えられるようなフル荷重を表現するからである。よシ
大きな荷重の付与が後続されるようになシ、短期間にわ
たって初期的小荷重が付与されるような場合には、曲線
３７から４１までに対応する諸クリープ曲線は正の勾配
を持つことになると評価されよう。
全体としてみると第２図および第３図は、秤量機構内で
クリープに依存する誤差は、一連の荷重および荷重付与
期間によシ変動する機構の“クリープ状態“に依存する
。周期的に行なわれるか、あるいは新荷重の適用の如き
特殊事例の発生に依存するかのいづれかを問わず、この
“クリープ状態“の計算がクリプ誤差を修正するように
する。
クリープに依存する誤差は、一連の荷重および荷重付与
期間によシ変動する機構の“クリープ状態“に依存する
。周期的に行なわれるか、あるいは新荷重の適用の如き
特殊事例の発生に依存するかのいづれかを問わず、この
“クリープ状態“の計算がクリプ誤差を修正するように
する。
本発明によれは、クリープ状態は、クリープ誤差に対し
て測定を行ない、補正を行なうべく、スケールの最新の
荷Ｎ履歴から算定されるのである。
て測定を行ない、補正を行なうべく、スケールの最新の
荷Ｎ履歴から算定されるのである。
計算と補正はマイコン１９によシディジタル操作によシ
行なわれる。
行なわれる。
クリープ状態を測定する一つのアプローチは増加性クリ
ープ、つｔ、ｂ期間内クリープの変動を周期的に計算し
、かつ本期間開始段階のクリープ状態とクリープ変動を
結びつけて、クリープ誤差に相当する新しいクリープ状
態を確保することにある。こういうわけで、新しいクリ
ープ状態は、スケールの操作時に生じたすべてのクリー
プ変動がもつ累積的結果となるのである。このアプロー
チでは、本システムが“クリープアウト“したような極
めて長期間にわたる最大増加クリープは、下記のように
算定され得る。
ープ、つｔ、ｂ期間内クリープの変動を周期的に計算し
、かつ本期間開始段階のクリープ状態とクリープ変動を
結びつけて、クリープ誤差に相当する新しいクリープ状
態を確保することにある。こういうわけで、新しいクリ
ープ状態は、スケールの操作時に生じたすべてのクリー
プ変動がもつ累積的結果となるのである。このアプロー
チでは、本システムが“クリープアウト“したような極
めて長期間にわたる最大増加クリープは、下記のように
算定され得る。
こ＼で、ＭＣは、最大増加クリープでおシ、またＭＣＰ
は最大潜在クリープであって、いわば“クリープアウト
“される非荷重システムに全荷重が付与される際に観察
されるクリープなのでおる。
は最大潜在クリープであって、いわば“クリープアウト
“される非荷重システムに全荷重が付与される際に観察
されるクリープなのでおる。
更にＤＣＰは、ＷＧＴと同じ単位で表現されるシステム
のクリープ初期状態であシ、一方、ＳＰは、最初から最
後までの、即ち全荷重指標から無負荷指標をひいたもの
である。
のクリープ初期状態であシ、一方、ＳＰは、最初から最
後までの、即ち全荷重指標から無負荷指標をひいたもの
である。
なお、クリープ状態そのものが、′クリープアウト“さ
れる無負荷スケールシステムに対してはゼロ相当となシ
、適用全荷重を以て”クリープアウト“されたシステム
に対して最大潜在クリープに相当すると、想定していた
だければよい。クリープ状態自体は、第１の値から、お
もシがシステムに加えられる第２の値へと変動する。
れる無負荷スケールシステムに対してはゼロ相当となシ
、適用全荷重を以て”クリープアウト“されたシステム
に対して最大潜在クリープに相当すると、想定していた
だければよい。クリープ状態自体は、第１の値から、お
もシがシステムに加えられる第２の値へと変動する。
上記の式（１）は、長時間経過後はじめてクリープを示
すことになるので、時間変動を含まぬのである。短い期
間に対する新しいクリープ状態の予測は、式（１）に時
間関連項を誘導し、下記の式におけるように増加クリー
プに前段階的クリープ状態を加えることによって行われ
得る。
すことになるので、時間変動を含まぬのである。短い期
間に対する新しいクリープ状態の予測は、式（１）に時
間関連項を誘導し、下記の式におけるように増加クリー
プに前段階的クリープ状態を加えることによって行われ
得る。
（Ｔ−１） ） ＋ＤＣＰ （Ｔ−１）
（２）こ＼でＤＣＰ （Ｔ）は、クリープの新たな状態
であって、ＤＣＰ（Ｔ−１）はクリープの前段階的状態
であｐ、ＡＡは前段階的クリープ測定と新たな測定との
間における時間的間隔を表明するものである。
（２）こ＼でＤＣＰ （Ｔ）は、クリープの新たな状態
であって、ＤＣＰ（Ｔ−１）はクリープの前段階的状態
であｐ、ＡＡは前段階的クリープ測定と新たな測定との
間における時間的間隔を表明するものである。
一定の時間的間隔で重量指標が読まれる装置に対しては
ＡＡは定数である。読取シ相互間の間隔が一定でない場
合には、ＡＡは、最終読取シ以後１時間と共に変る。例
えば、集積タイプＡ−Ｄ変換器を採用する第１図に示さ
れるようなマイコン制御スクール中に発生し得る荷重の
一関数に、重量読取シ相互間の時間が和尚しているとき
には、ＡＡは可変性を有することになる。Ａ−Ｄ変換器
の変換挙動は荷重大きさと共に変動する。状況がこのよ
うなタイプになっている場合にはＡＡは次のように拡張
され得る。つまシ、 ＡＡ＝Ａ畳ＴＭＩＮチ（１＋ＷＧ Ｔ簀Ｄ） （３
）である。
ＡＡは定数である。読取シ相互間の間隔が一定でない場
合には、ＡＡは、最終読取シ以後１時間と共に変る。例
えば、集積タイプＡ−Ｄ変換器を採用する第１図に示さ
れるようなマイコン制御スクール中に発生し得る荷重の
一関数に、重量読取シ相互間の時間が和尚しているとき
には、ＡＡは可変性を有することになる。Ａ−Ｄ変換器
の変換挙動は荷重大きさと共に変動する。状況がこのよ
うなタイプになっている場合にはＡＡは次のように拡張
され得る。つまシ、 ＡＡ＝Ａ畳ＴＭＩＮチ（１＋ＷＧ Ｔ簀Ｄ） （３
）である。
こ＼で、ＴＭＩＮは、無負荷での荷Ｍ説取シ相互間の時
間であシ、Ａはクリープ発生速度にか＼わるものであっ
て、Ｄは、 ＴＭＩＮ蒼（１＋ＷＧＴ督Ｄ）の項が、ゼロではない荷
重に対する重量読取９間の時間を表明するようにした定
数である。Ｄは次のように決められる。
間であシ、Ａはクリープ発生速度にか＼わるものであっ
て、Ｄは、 ＴＭＩＮ蒼（１＋ＷＧＴ督Ｄ）の項が、ゼロではない荷
重に対する重量読取９間の時間を表明するようにした定
数である。Ｄは次のように決められる。
こ＼でＴＭＡＸは、フル荷重における重量読取シ間の時
間なのである。
間なのである。
式（２）はこ＼で次のようになる。
定数ＡおよびＴＭＩＮは、よシ単純な形を得るために結
合され得る。
合され得る。
Ｐ
−ＤＣＰ （Ｔ−１））蒼（１＋ＷＧＴ＋Ｄ）＊ＡＴこ
＼で、ＡＴ＝Ａ＋ＴＭＩＮ 更にＭＣＰは正規化され、いわばＭＣＰ用に対する値は
、ＭＣＰ／ＳＰの値によシおき代えられて、式は次のよ
うになる。
＼で、ＡＴ＝Ａ＋ＴＭＩＮ 更にＭＣＰは正規化され、いわばＭＣＰ用に対する値は
、ＭＣＰ／ＳＰの値によシおき代えられて、式は次のよ
うになる。
ＤＣＰ （Ｔ） ＝ＤＣＰ （Ｔ−１）＋（ＭＣＰ蒼Ｗ
ＧＴ−ＤＣＰ （Ｔ−１） ）臀（１＋ＷＧＴ＋Ｉ））
養ＡＴ （６）こ＼で、ＭＣＰは正規化された最
大潜在クリープなのである。定数ＭＣＰ、ＤおよびＡＴ
は特別の力測定装置または秤量システムのそれに対して
若干の変動性を生ずる。これ等定数の値は、スケールシ
ステムをセットアツプする間に決められ得るのであって
、メモリー中に貯えられる。
ＧＴ−ＤＣＰ （Ｔ−１） ）臀（１＋ＷＧＴ＋Ｉ））
養ＡＴ （６）こ＼で、ＭＣＰは正規化された最
大潜在クリープなのである。定数ＭＣＰ、ＤおよびＡＴ
は特別の力測定装置または秤量システムのそれに対して
若干の変動性を生ずる。これ等定数の値は、スケールシ
ステムをセットアツプする間に決められ得るのであって
、メモリー中に貯えられる。
クリープ誤差が、式（６）の形に対して一連の補正表現
を採ってクリープ状態を針具することにより更に減少さ
れ得ることが発見された。補正表現のある部分は、短期
間のクリープ効果を予測し易いものであって、他方、別
の補正表現はよシ長期の効果を予測し易くするものであ
る。ＡおよびＢの構成要素を有するこのようなシリーズ
は、下記のように現わされる。
を採ってクリープ状態を針具することにより更に減少さ
れ得ることが発見された。補正表現のある部分は、短期
間のクリープ効果を予測し易いものであって、他方、別
の補正表現はよシ長期の効果を予測し易くするものであ
る。ＡおよびＢの構成要素を有するこのようなシリーズ
は、下記のように現わされる。
ＤＣＰ （’Ｉ’） ＝ＤＣＰＡ （Ｔ−１） ＋（Ｍ
ＣＰＡ＋ＷＧＴ−１）ＣＰＡ （Ｔ−１） ）餐（１＋
ＷＧＴ餐Ｄ）ＡＡＦ＋ＤＣＰＢ （Ｔ−１） ＋（ＭＣ
ＰＢ蒼ＷＧＴ−ＤＣＰＲ（Ｔ−１））卦（１＋ＷＧＴ蒼
Ｄ）畳Ｂ Ｂ Ｆ （７
）例えば、ＭＣＰＥおよびＢＢＦ項を含む表現は、最初
の数秒内に生じ、数分間のうちに最大値となるようなり
リープ誤差に対して補正を行なうようになる。ＭＣＰＡ
およびＡＡＦを含む表現は、最初の補正項が最大値に達
した後に生ずるクリープに対して補正を行ない易い。も
し更に補正が必要とされるならば、それ以上に項目が結
合方式を採シ加えられること＼なるとよい。
ＣＰＡ＋ＷＧＴ−１）ＣＰＡ （Ｔ−１） ）餐（１＋
ＷＧＴ餐Ｄ）ＡＡＦ＋ＤＣＰＢ （Ｔ−１） ＋（ＭＣ
ＰＢ蒼ＷＧＴ−ＤＣＰＲ（Ｔ−１））卦（１＋ＷＧＴ蒼
Ｄ）畳Ｂ Ｂ Ｆ （７
）例えば、ＭＣＰＥおよびＢＢＦ項を含む表現は、最初
の数秒内に生じ、数分間のうちに最大値となるようなり
リープ誤差に対して補正を行なうようになる。ＭＣＰＡ
およびＡＡＦを含む表現は、最初の補正項が最大値に達
した後に生ずるクリープに対して補正を行ない易い。も
し更に補正が必要とされるならば、それ以上に項目が結
合方式を採シ加えられること＼なるとよい。
定数は、特定の（固別的力測足装置または打型システム
に対して若干ながら変動する。これ等定数の値は、スケ
ールシステムのセットアツプの間に測定可能であって、
メモリー内に貯えられ得る。
に対して若干ながら変動する。これ等定数の値は、スケ
ールシステムのセットアツプの間に測定可能であって、
メモリー内に貯えられ得る。
測定は定数用サンプル値を選択し、クリープ計算を行な
い、更に荷重適用後に数秒から約１５分に至る例えば１
０ないし１５の時間的間隔をおいて読取る仁とによシ得
られる実際のクリーープデーターに対して計算結果を比
較するという相互に関連したプロセスを通じて行なわれ
得る。計算によるクリープは測定クリープと比較され、
選択された定数は比較を行なうという視点で改善され、
このようなプロセスは、定数値が希望の精度として測定
されるまで繰返される。こうした方法論が以下詳細に説
明されるのである。
い、更に荷重適用後に数秒から約１５分に至る例えば１
０ないし１５の時間的間隔をおいて読取る仁とによシ得
られる実際のクリーープデーターに対して計算結果を比
較するという相互に関連したプロセスを通じて行なわれ
得る。計算によるクリープは測定クリープと比較され、
選択された定数は比較を行なうという視点で改善され、
このようなプロセスは、定数値が希望の精度として測定
されるまで繰返される。こうした方法論が以下詳細に説
明されるのである。
第４図によれば、本発明を具体化する秤量装置の提出さ
れた形態は「ホスト」またはスケールシステムマイコン
６２とインタフェイスされり、一般に「ディジタル荷重
セル」と呼ばれる６０を含む。他の機能と共に、マイコ
ン６２は、ディスプレー６４及びプリンタ６５を制御し
、キーボード−６７を通ってオペレータ情報を受信する
。第５図の秤量システムは、最初に棟々の電子回路がＡ
／Ｄ変換器及びささげられた荷重セルマイクロプロセッ
サ、付加メモリーと共に同一プリント回路板上に組合わ
された、第１図のよシ典型的な配置と異なっている。そ
の結果が、本来は１ユニツトとして較正され、補償され
、修正され、糧々の、マイコン制御スケールシステムへ
具体化され得るディジタル荷重セルである。そのように
具体化される時に、ディジタル荷重セルは、第４図のマ
イコン６２のヨウニ、スケールまたはホストマイコンと
インタフェイスされる。
れた形態は「ホスト」またはスケールシステムマイコン
６２とインタフェイスされり、一般に「ディジタル荷重
セル」と呼ばれる６０を含む。他の機能と共に、マイコ
ン６２は、ディスプレー６４及びプリンタ６５を制御し
、キーボード−６７を通ってオペレータ情報を受信する
。第５図の秤量システムは、最初に棟々の電子回路がＡ
／Ｄ変換器及びささげられた荷重セルマイクロプロセッ
サ、付加メモリーと共に同一プリント回路板上に組合わ
された、第１図のよシ典型的な配置と異なっている。そ
の結果が、本来は１ユニツトとして較正され、補償され
、修正され、糧々の、マイコン制御スケールシステムへ
具体化され得るディジタル荷重セルである。そのように
具体化される時に、ディジタル荷重セルは、第４図のマ
イコン６２のヨウニ、スケールまたはホストマイコンと
インタフェイスされる。
第４図に示される形態において、ディジクル荷重セル６
０は、前置増幅器７３への次に、７クルタ７３及び電子
スイッチ７７を通ってＡ／Ｄ変換器８０へのアメログ重
量信号を与える歪ゲージ用ブリッジ７０を内蔵する。Ａ
／Ｄ変換器は、なるべく三重傾斜統合タイプからなるの
がよい。ディジクル荷重セルの操作は、プログラム制御
マイクロプロセッサ（１６）及び運動される無電源保持
形のＲＡＭメモリー９２によ多制御される。マイクロプ
ロセッサ（１６）は、なるべくならインテル社（アメリ
カ合衆国法人の名称）のモデル８０４９〔ＩＮ置 Ｍ
ＯＤＥＬ ８０４９：商品名〕がよい。
０は、前置増幅器７３への次に、７クルタ７３及び電子
スイッチ７７を通ってＡ／Ｄ変換器８０へのアメログ重
量信号を与える歪ゲージ用ブリッジ７０を内蔵する。Ａ
／Ｄ変換器は、なるべく三重傾斜統合タイプからなるの
がよい。ディジクル荷重セルの操作は、プログラム制御
マイクロプロセッサ（１６）及び運動される無電源保持
形のＲＡＭメモリー９２によ多制御される。マイクロプ
ロセッサ（１６）は、なるべくならインテル社（アメリ
カ合衆国法人の名称）のモデル８０４９〔ＩＮ置 Ｍ
ＯＤＥＬ ８０４９：商品名〕がよい。
ディジタル荷重セル６０の操作を制御することに加えて
、ＲＡＭ９２をもつマイクロプロセッサ（１６）は、Ａ
／Ｄ変換器８０からの重量データを本発明に従い、クリ
ープの影響のために補償するために修正する。マイクロ
プロセッサはまた、ホストマイコン６２と通信し、そこ
へホストマイコンによシさらに処理され、ディスプレー
装置６４上で表示され得る重量データを送信する。
、ＲＡＭ９２をもつマイクロプロセッサ（１６）は、Ａ
／Ｄ変換器８０からの重量データを本発明に従い、クリ
ープの影響のために補償するために修正する。マイクロ
プロセッサはまた、ホストマイコン６２と通信し、そこ
へホストマイコンによシさらに処理され、ディスプレー
装置６４上で表示され得る重量データを送信する。
マイクロプロセッサ（１６）の制御下の、第４図のディ
ジタル荷重セル６０は、第５図及び第６図のフローチャ
ートで図解され、この事に関して参考資料Ａとして添付
されたコンピュータプログラムリストで詳細に定義され
るように、動く。マイクロプロセッサ（１６）はまた、
ホストマイコン６２と較正モードか応用モードかいずれ
かで通信できる。
ジタル荷重セル６０は、第５図及び第６図のフローチャ
ートで図解され、この事に関して参考資料Ａとして添付
されたコンピュータプログラムリストで詳細に定義され
るように、動く。マイクロプロセッサ（１６）はまた、
ホストマイコン６２と較正モードか応用モードかいずれ
かで通信できる。
較正モードにおける操作は、ディジタル荷重セルの中ヘ
クリープ計算定数を入力するために生ずるわけだった。
クリープ計算定数を入力するために生ずるわけだった。
説明の次に述べるものは、応用モードの記述であろう。
第５図及び第６図によれば、ブロック１００でＣＤ Ｓ
Ｔ Ａ ＲＴ 後、システム社初期条件にシステムの
すべての部分をリセットするために、ブロック１０２で
、準備動作に入らされる。重量データを得るためにＡ／
Ｄ変換は、その時、ｒＡＤｃＯＮＶ」と呼ばれるサブル
ーチンを通ってブロック１０４で実施される。Ａ／Ｄ変
換から結果として生ずる重賞の読みは、ブロック１０５
でｒＷＧＴｊレジスタに動かされる。ブロック１０７で
ｒＷＧＴＪは、第６図で図解され、下に記述される、「
ＡＤＪＦＩＮＪと呼ばれるプログラムサブルーチンによ
ってクリープのために修正される。次にブロック１０８
で差は、クリープ修正ｒｙＶＧＴ、Ｊと本質的には先の
Ａ／Ｄ変渓が得られた最終修正重量値である値ｒＦＩ：
ＬＴＷＴＪの間で割算される。
Ｔ Ａ ＲＴ 後、システム社初期条件にシステムの
すべての部分をリセットするために、ブロック１０２で
、準備動作に入らされる。重量データを得るためにＡ／
Ｄ変換は、その時、ｒＡＤｃＯＮＶ」と呼ばれるサブル
ーチンを通ってブロック１０４で実施される。Ａ／Ｄ変
換から結果として生ずる重賞の読みは、ブロック１０５
でｒＷＧＴｊレジスタに動かされる。ブロック１０７で
ｒＷＧＴＪは、第６図で図解され、下に記述される、「
ＡＤＪＦＩＮＪと呼ばれるプログラムサブルーチンによ
ってクリープのために修正される。次にブロック１０８
で差は、クリープ修正ｒｙＶＧＴ、Ｊと本質的には先の
Ａ／Ｄ変渓が得られた最終修正重量値である値ｒＦＩ：
ＬＴＷＴＪの間で割算される。
プログラムはそれから、ブロック１０８で計算された差
の範囲（ＤＩＦＦ）を決め、その時、差に従ってｒＷＧ
ＴＪで操作するためにブロック１１０及び１１２で試験
を実施する。もしブロック１１０で差が８単位よシ小さ
く、ブロック１１２でゼロより大きいならば、その時プ
ログラムは主ループでブロック１１４に続く。そこと次
のブロック１１６で、平滑またはフィルタリングの操作
は、差を半分にし、その精米として現われる商の示され
た整数値をとっておき、その商をｒＷＧＴＪの修正値に
付加することにより実施される。それからブロック１１
９でｒＷＧＴＪは、ｒ Ｆ Ｉ Ｌ’ＴＷＴ ｊレジス
タに移される。しかしもしブロック１１０でｒＷＧＴＪ
とｒＦＩＬＴＷＴＪの差が８単位より大きいと決定され
ると、プログラムはブロック１１４及び１１６での平滑
操作をバイパスし、点１２０を通ってブロック１１９へ
進む。こうして最も新しい重量指示が書かれた二つの場
合のいずれかにおいて、Ｉ−ＷＧＴＪは、次のプログラ
ムサイクルのためｒＦＩＬＴＷＴｌとなる。
の範囲（ＤＩＦＦ）を決め、その時、差に従ってｒＷＧ
ＴＪで操作するためにブロック１１０及び１１２で試験
を実施する。もしブロック１１０で差が８単位よシ小さ
く、ブロック１１２でゼロより大きいならば、その時プ
ログラムは主ループでブロック１１４に続く。そこと次
のブロック１１６で、平滑またはフィルタリングの操作
は、差を半分にし、その精米として現われる商の示され
た整数値をとっておき、その商をｒＷＧＴＪの修正値に
付加することにより実施される。それからブロック１１
９でｒＷＧＴＪは、ｒ Ｆ Ｉ Ｌ’ＴＷＴ ｊレジス
タに移される。しかしもしブロック１１０でｒＷＧＴＪ
とｒＦＩＬＴＷＴＪの差が８単位より大きいと決定され
ると、プログラムはブロック１１４及び１１６での平滑
操作をバイパスし、点１２０を通ってブロック１１９へ
進む。こうして最も新しい重量指示が書かれた二つの場
合のいずれかにおいて、Ｉ−ＷＧＴＪは、次のプログラ
ムサイクルのためｒＦＩＬＴＷＴｌとなる。
ブロック１１０及び１１２での試験の、残ったそして最
終的二者択一は、ＤＩＦＦがゼロに寺しいのでｒＦＩＬ
ＴＷＴＪがｒｗＧＴＪに等しいということである。その
場合に、プログラムは冗長であるとしてブロック１１４
．１１５及び１１９でバイパスし、点１２２で再び入る
。
終的二者択一は、ＤＩＦＦがゼロに寺しいのでｒＦＩＬ
ＴＷＴＪがｒｗＧＴＪに等しいということである。その
場合に、プログラムは冗長であるとしてブロック１１４
．１１５及び１１９でバイパスし、点１２２で再び入る
。
ブロック１２５でプログラムは、ＲＡＭ９２で＃積込れ
るクリ−１修正サンルーチンｒｐ、Ｄ、ｔＦＩ Ｎ ｊ
で用いられるクリープ定数の有効性を試験する。もしク
リープ定数が無効であると決定逼れると、プログラムは
点１２７を通゛りて「不可能な」値が無効データを信号
で止める。たのにｒＷＧ’Ｉ’Ｊレジスタの中へ負荷さ
れるブロック１２９へ逼む。
るクリ−１修正サンルーチンｒｐ、Ｄ、ｔＦＩ Ｎ ｊ
で用いられるクリープ定数の有効性を試験する。もしク
リープ定数が無効であると決定逼れると、プログラムは
点１２７を通゛りて「不可能な」値が無効データを信号
で止める。たのにｒＷＧ’Ｉ’Ｊレジスタの中へ負荷さ
れるブロック１２９へ逼む。
ぞれからプログラムは、点１３１での主ループを辿って
ブロック１３３に進む。そこで、ディジタル荷亘セルデ
ータはホストマイコン６２に、［Ｘｌ）ＡＴＡｊとして
識別されるサブルーチンによって送信される。その時プ
ログラムは、入口点１３５−を通ってブロック１０４で
の王ループに戻る。
ブロック１３３に進む。そこで、ディジタル荷亘セルデ
ータはホストマイコン６２に、［Ｘｌ）ＡＴＡｊとして
識別されるサブルーチンによって送信される。その時プ
ログラムは、入口点１３５−を通ってブロック１０４で
の王ループに戻る。
ブロック１２５に戻り、もしクリープ定数がそこで有効
であると決定されたならは、プログラムはブロック１４
０に絖さ、そこでは、抜機修正されるように、ブロック
１０４で得られた重量の読みがＡ ／ Ｄ ｆ換器８０
のプラスの範囲内にめるかを決定するために、チェック
がイ１われる。重量データが有効であると決定されるな
らば、プログラムは上述のように、点１３１及びブロッ
ク１３３に進む。重量データがブロック１４０で無効で
おると決められるならば、プログラムはブロック１４２
に進み、そこでは「不可能な」値（ブロック１２８での
それと轄異なる）は無効データを信号で止めるためにｒ
ＷＧＴＪレジスタの中へ負荷される。
であると決定されたならは、プログラムはブロック１４
０に絖さ、そこでは、抜機修正されるように、ブロック
１０４で得られた重量の読みがＡ ／ Ｄ ｆ換器８０
のプラスの範囲内にめるかを決定するために、チェック
がイ１われる。重量データが有効であると決定されるな
らば、プログラムは上述のように、点１３１及びブロッ
ク１３３に進む。重量データがブロック１４０で無効で
おると決められるならば、プログラムはブロック１４２
に進み、そこでは「不可能な」値（ブロック１２８での
それと轄異なる）は無効データを信号で止めるためにｒ
ＷＧＴＪレジスタの中へ負荷される。
それからプログラムは、上述のように点１３１を通って
ブロック１３３へ進む。
ブロック１３３へ進む。
現在のクリープ状態の計算及び重量の読み修正のための
手順は第６図に示される。計算のためには、上記の式（
７）が次のように、いくつかの項に分けられる。
手順は第６図に示される。計算のためには、上記の式（
７）が次のように、いくつかの項に分けられる。
ＤＣＰ （Ｔ）＝ＤＣＰＡ （Ｔ）＋ＤＣＰＢ （Ｔ）
ＤＣＰＡ （Ｔ）ミＤＣＰＡ （Ｔ−１）＋Ａここで増
分クリープの一成分 Ａ＝ （ＭＣＰＡ畳ＷＧＴ−ＤＣＰＡ （Ｔ−１） ）
餐ＡＡＦ蒼Ｃ ＤＣＰＢ （Ｔ） ＝ＤＣＰＢ ＜Ｔ−１） 十Ｂここ
で増分クリープのもう一つの成分 ３士（ＭＣＰＢチＷＧＴ−１）ＣＰＢ （Ｔ−１）’）
餐ＢＢＦ＋Ｃ 及び Ｃ＝１＋ＷＧＴ栂り 最後にクリープ補償Ｍ倉−ＷＧＴ−ＤＣＰ （Ｔ）第６
図によれば、クリープ補償サブルーチンＡＤ Ｊ Ｆ
Ｉ Ｎｔ；ｔ、点１４０で入れられる。その時、ブロッ
ク１４１でホストが較正システムであるかを決定するた
めにチェックが行われる。もしそうであれば、クリープ
計算は行われず、プログラムはクリープ計算及び補償で
費やされようとした時間を使うために主ループに戻る前
にブロック１４２で遅延する。もしブロック１４１でホ
ストが応用システムであると決定されると、プログラム
は点１４３でのクリープ調整手順に進む。
ＤＣＰＡ （Ｔ）ミＤＣＰＡ （Ｔ−１）＋Ａここで増
分クリープの一成分 Ａ＝ （ＭＣＰＡ畳ＷＧＴ−ＤＣＰＡ （Ｔ−１） ）
餐ＡＡＦ蒼Ｃ ＤＣＰＢ （Ｔ） ＝ＤＣＰＢ ＜Ｔ−１） 十Ｂここ
で増分クリープのもう一つの成分 ３士（ＭＣＰＢチＷＧＴ−１）ＣＰＢ （Ｔ−１）’）
餐ＢＢＦ＋Ｃ 及び Ｃ＝１＋ＷＧＴ栂り 最後にクリープ補償Ｍ倉−ＷＧＴ−ＤＣＰ （Ｔ）第６
図によれば、クリープ補償サブルーチンＡＤ Ｊ Ｆ
Ｉ Ｎｔ；ｔ、点１４０で入れられる。その時、ブロッ
ク１４１でホストが較正システムであるかを決定するた
めにチェックが行われる。もしそうであれば、クリープ
計算は行われず、プログラムはクリープ計算及び補償で
費やされようとした時間を使うために主ループに戻る前
にブロック１４２で遅延する。もしブロック１４１でホ
ストが応用システムであると決定されると、プログラム
は点１４３でのクリープ調整手順に進む。
クリープ定数は、ブロック１４５でＲＡＭ９２から読み
取られる。それからブロック１４６で蓄積された定数が
負荷されて以来、変動しなかったことを確認するために
チェックが行われる。もしどんな定数も無効であると判
断されると、プログラムは主ループに戻る。もしすべて
の定数が有効であるならば、クリープアルゴリズムの０
項はブロック１４８で計算され、蓄積される。それから
ブロック１４９及び１５０でＡ項、つ″！シ最初のもの
あるいは増分クリープの成分が計算される。
取られる。それからブロック１４６で蓄積された定数が
負荷されて以来、変動しなかったことを確認するために
チェックが行われる。もしどんな定数も無効であると判
断されると、プログラムは主ループに戻る。もしすべて
の定数が有効であるならば、クリープアルゴリズムの０
項はブロック１４８で計算され、蓄積される。それから
ブロック１４９及び１５０でＡ項、つ″！シ最初のもの
あるいは増分クリープの成分が計算される。
Ａ項に帰せられる現在のクリープ状態の成分は、その時
Ａ成分のために現存する、蓄積されたクリープ状態、Ｌ
）Ｃ））Ａ （Ｔ−１）にＡ項を追加することによって
ブロック１５１で計算される。その結果の、ＤＯＰＡ
（Ｔ）は、次の重量読取多用の１）ＣＰ （Ｔ−１）と
して使うために蓄積される。
Ａ成分のために現存する、蓄積されたクリープ状態、Ｌ
）Ｃ））Ａ （Ｔ−１）にＡ項を追加することによって
ブロック１５１で計算される。その結果の、ＤＯＰＡ
（Ｔ）は、次の重量読取多用の１）ＣＰ （Ｔ−１）と
して使うために蓄積される。
ブロック１５４及び１５５でＢ項つまシ第二査目のもの
あるいはＢ項に帰せられる現在のクリープ状態の成分は
、その時Ｂ成分のために蓄積されたクリープ状態、ＤＣ
ＰＢ （Ｔ−１）にＢ項を追加することによってブロッ
ク１５７で計算される。
あるいはＢ項に帰せられる現在のクリープ状態の成分は
、その時Ｂ成分のために蓄積されたクリープ状態、ＤＣ
ＰＢ （Ｔ−１）にＢ項を追加することによってブロッ
ク１５７で計算される。
その結果のＤＣＰＢ （Ｔ）は、次の重量読取多用のＤ
ＣＰ （Ｔ−１）として使うために蓄積される。
ＣＰ （Ｔ−１）として使うために蓄積される。
最後に、ブロック１６０で現在のクリープ状態の二つの
成分、ＤＣＰＡ （Ｔ）及びＤＣＰＢ （Ｔ）は、総計
され、現在の重量の読み、ＷＧＴから減じられ、プログ
ラムは主ループに戻る。
成分、ＤＣＰＡ （Ｔ）及びＤＣＰＢ （Ｔ）は、総計
され、現在の重量の読み、ＷＧＴから減じられ、プログ
ラムは主ループに戻る。
上述のように、定数ＭＣＰＡ、ＭＣＰＩ３．ＡＡＦ、Ｂ
ＢＥ”、Ｄは各′＃重セル装置６ｏのために前もって決
定でれ、クリープ補償において使用するために蓄積され
る。定数りは、クリープ補償のためにプログラム化され
たマイクロプロセッサの関数であシ、上述の式（４ンか
ら決定され、永久にマイクロプロセッサメモリーで蓄積
され得る。ンローチャート、第７図及び、第８図は、他
の定数を計算するための反復法２図解する。これに関し
て参考賃料Ｂとして添付されたコンピュータプログラム
リストは、計算過程の完全な履行である。コンビュータ
プログブムは、ディジタル９エクィップメント−コーポ
レーショｙ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｅｑｕｉｐ−ｍｅｎｔ
Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ ：アメリカ合衆国法人の名
称〕のＶＡＸ“ （商品名）コンピュータ及び同様な数
多くのコンピュータでも走らせることができる。
ＢＥ”、Ｄは各′＃重セル装置６ｏのために前もって決
定でれ、クリープ補償において使用するために蓄積され
る。定数りは、クリープ補償のためにプログラム化され
たマイクロプロセッサの関数であシ、上述の式（４ンか
ら決定され、永久にマイクロプロセッサメモリーで蓄積
され得る。ンローチャート、第７図及び、第８図は、他
の定数を計算するための反復法２図解する。これに関し
て参考賃料Ｂとして添付されたコンピュータプログラム
リストは、計算過程の完全な履行である。コンビュータ
プログブムは、ディジタル９エクィップメント−コーポ
レーショｙ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｅｑｕｉｐ−ｍｅｎｔ
Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ ：アメリカ合衆国法人の名
称〕のＶＡＸ“ （商品名）コンピュータ及び同様な数
多くのコンピュータでも走らせることができる。
定数１ｆ真に先立って、実際のクリープ測定量は、定数
が試験荷重の適用後、１０，３０．４５及び６０秒及び
２． ３． ４． ５． ６． ７． ８． １０゜１
２及び１５分に決定されるべき、荷重セル装置から得ら
れる。クリープ測定量は、これら時刻での指示された荷
重を読取シ、クリープを測定するために他の各々から最
初の読みを減じ、１０秒点でクリープの原因となる最初
と最後の読みの差の一部（例えば２０チ）を各々の結果
に加えることによって得られる。クリープ測定量は、下
に述べられるように、定数計算において比較目的のため
に用いられる。
が試験荷重の適用後、１０，３０．４５及び６０秒及び
２． ３． ４． ５． ６． ７． ８． １０゜１
２及び１５分に決定されるべき、荷重セル装置から得ら
れる。クリープ測定量は、これら時刻での指示された荷
重を読取シ、クリープを測定するために他の各々から最
初の読みを減じ、１０秒点でクリープの原因となる最初
と最後の読みの差の一部（例えば２０チ）を各々の結果
に加えることによって得られる。クリープ測定量は、下
に述べられるように、定数計算において比較目的のため
に用いられる。
第７図及び第８図によれば、ブロック２００で定数の値
のための最初の「最良の推測」が入れられる。定数は装
置から装置へ太いには変動しないし、適当な「最良の推
測」は、 ＭＣＰＡ＝ −，０００１３，ＭＣＰＢ＝ −，０００
１７゜ＡＡＦ＝ 、０００８．ＢＢＦ＝ 、０１１
であると分かった。その時ブロック２０２で一つの定数
、本例ではＡＡＦが、「最良の適合」が計算されたクリ
ープ及び測定されたクリープの間で発見されるまで、変
動される。第８図はＳ値を１に等しくセットすることに
よジブロック２０５で始まるこの方法を図解する。現在
の）リーグ状態（クリープ誤差）は、それからブロック
２４６で定数のための、最初の最良の推測を用いて式（
７）から計算される。ブロック２０８で、最小自乗誤差
が測定されたクリープ誤差と計算されたクリープ誤差の
間で計算される。それからブロック２１０で最初のＡＡ
Ｆ値が、Ｓ値に依存して増減され、最小自乗誤差が再び
ブロック２１２で計算される。ブロック２１４及び２１
７で、決められた最新の誤差は、最良の適合が得られた
かどうかを決定するためにあらかじめ決められた誤差と
比較される。もしもっているならば、プログラムはブロ
ック２２０で主ループ（第７図）に戻る。もし最良の適
合が得られなかったならば、試験は、最新の決められた
誤差が直前の誤差より小さいかどうかを決定するために
ブロック２２２で行われる。もしそうであるならば、そ
の時、プログラムはブロック２１０に戻Ｄ、ＡＡＦ’値
は再び増加され、先の試験が繰返きれる。もしそうでな
いならば、Ｓの表示がブロック２２３で変えられ、ＡＡ
Ｆ値がブロック２１０で減じられ、プログラムステップ
は、最良の適合がブロック２１７で行われて、プログラ
ムがブロック２２０で主ループ（第７図）に戻るまで、
繰返される。
のための最初の「最良の推測」が入れられる。定数は装
置から装置へ太いには変動しないし、適当な「最良の推
測」は、 ＭＣＰＡ＝ −，０００１３，ＭＣＰＢ＝ −，０００
１７゜ＡＡＦ＝ 、０００８．ＢＢＦ＝ 、０１１
であると分かった。その時ブロック２０２で一つの定数
、本例ではＡＡＦが、「最良の適合」が計算されたクリ
ープ及び測定されたクリープの間で発見されるまで、変
動される。第８図はＳ値を１に等しくセットすることに
よジブロック２０５で始まるこの方法を図解する。現在
の）リーグ状態（クリープ誤差）は、それからブロック
２４６で定数のための、最初の最良の推測を用いて式（
７）から計算される。ブロック２０８で、最小自乗誤差
が測定されたクリープ誤差と計算されたクリープ誤差の
間で計算される。それからブロック２１０で最初のＡＡ
Ｆ値が、Ｓ値に依存して増減され、最小自乗誤差が再び
ブロック２１２で計算される。ブロック２１４及び２１
７で、決められた最新の誤差は、最良の適合が得られた
かどうかを決定するためにあらかじめ決められた誤差と
比較される。もしもっているならば、プログラムはブロ
ック２２０で主ループ（第７図）に戻る。もし最良の適
合が得られなかったならば、試験は、最新の決められた
誤差が直前の誤差より小さいかどうかを決定するために
ブロック２２２で行われる。もしそうであるならば、そ
の時、プログラムはブロック２１０に戻Ｄ、ＡＡＦ’値
は再び増加され、先の試験が繰返きれる。もしそうでな
いならば、Ｓの表示がブロック２２３で変えられ、ＡＡ
Ｆ値がブロック２１０で減じられ、プログラムステップ
は、最良の適合がブロック２１７で行われて、プログラ
ムがブロック２２０で主ループ（第７図）に戻るまで、
繰返される。
ブロック２２０で、定数ＭＣＰＡは最良の適合を得るた
めに第８図におけるステツブに従って変えられる。それ
からブロック２２４で、最良の適合がＡＡＦ及びＭＣＰ
Ａ双方に対して行われたかどうかを決めるために、チェ
ックが行われる。もしそうでないならば、ＡＡＦ、さら
にＭＣＰＡは、最良の適合がＡＡＦ及びＭＣＰＡ双方に
対してブロック２２６で決められるまで、最良の適合を
得るために、第８図におけるように個別的に再び変えら
れる。それからブロック２２９で、定数ＢＢＦは、定数
に対する値が計算されたクリープ誤差と測定されたクリ
ープ誤差の間で最良の適合を生ずるまで、第８図の手順
に従って変えられる。定数ＭＣＰＢは、それから最良の
適合が得られるまで、第８図に示される方法でブロック
２３１で変光られる。その時、最良の適合がＢＢＦ及び
ＭＣＰＢ双方に対して得られたかどうかを決めるために
、チェックがブロック２３３で行われる。もしそうでな
ければ、プログラムはブロック２２９に戻ｊ０、ＢＢＦ
、さらにＭＣＰＢは、最良の適合が両刀の定数に対して
ブロック２３３で決定されるまで、第８図におけるよう
に１ｒＩ！ｊ別的に、再び変えられる。
めに第８図におけるステツブに従って変えられる。それ
からブロック２２４で、最良の適合がＡＡＦ及びＭＣＰ
Ａ双方に対して行われたかどうかを決めるために、チェ
ックが行われる。もしそうでないならば、ＡＡＦ、さら
にＭＣＰＡは、最良の適合がＡＡＦ及びＭＣＰＡ双方に
対してブロック２２６で決められるまで、最良の適合を
得るために、第８図におけるように個別的に再び変えら
れる。それからブロック２２９で、定数ＢＢＦは、定数
に対する値が計算されたクリープ誤差と測定されたクリ
ープ誤差の間で最良の適合を生ずるまで、第８図の手順
に従って変えられる。定数ＭＣＰＢは、それから最良の
適合が得られるまで、第８図に示される方法でブロック
２３１で変光られる。その時、最良の適合がＢＢＦ及び
ＭＣＰＢ双方に対して得られたかどうかを決めるために
、チェックがブロック２３３で行われる。もしそうでな
ければ、プログラムはブロック２２９に戻ｊ０、ＢＢＦ
、さらにＭＣＰＢは、最良の適合が両刀の定数に対して
ブロック２３３で決定されるまで、第８図におけるよう
に１ｒＩ！ｊ別的に、再び変えられる。
この点の値で、すべての定数は計算されたクリープ誤差
と測定されたクリープ誤差の間の最良の適合をもたらす
ために試みられた異なった値から選ばれた。ブロック２
３５で、定数の値における変化の増分は、減じられ、全
体の過程が望まれる回数、つまシ、例えば７の定数に対
してますます小さい値の増分の望まれる数で、繰返され
たかどうかを決めるために、ブロック２３８で試験が行
われる。もしそうでなければ、プログラムはブロック２
０２に戻シ、全体の過程が定数の値で新しい、そしてよ
シ小さい増分と共に繰返される。過程が望まれる回数（
この場合は７）繰返された時、定数に対する最終値は、
秤量装置の利用時のクリープ予測に用いるために無電源
保持形ＲＡＭ９２（第５図）（あるいは第１図のメモリ
ー２３）の中へ入れられる。
と測定されたクリープ誤差の間の最良の適合をもたらす
ために試みられた異なった値から選ばれた。ブロック２
３５で、定数の値における変化の増分は、減じられ、全
体の過程が望まれる回数、つまシ、例えば７の定数に対
してますます小さい値の増分の望まれる数で、繰返され
たかどうかを決めるために、ブロック２３８で試験が行
われる。もしそうでなければ、プログラムはブロック２
０２に戻シ、全体の過程が定数の値で新しい、そしてよ
シ小さい増分と共に繰返される。過程が望まれる回数（
この場合は７）繰返された時、定数に対する最終値は、
秤量装置の利用時のクリープ予測に用いるために無電源
保持形ＲＡＭ９２（第５図）（あるいは第１図のメモリ
ー２３）の中へ入れられる。
第１図はクリープ効果にか＼わシ、本発明に関与スルマ
イコン制御秤量装置のブロックダイヤグラム、第２図は
アナログ重量信号に対するクリープの影響を図示したプ
ロット図である。第３図は秤量装置での荷重の大きさ変
動から起るクリープを示すプロット図、第４図に、本発
明にか＼わる秤量装置の優先形態について、第１図のブ
ロックダイヤグラムよシよシ詳細なブロックダイヤグラ
ム、第５図は本発明にか＼わる秤量装置の運転を示すフ
ローチャート、第６図は第５図フローチャートのクリー
プ補正サブルーチンの７０−チャート、第７図は本発明
にかかわる特に秤量装置についてのクリープ計算定数を
確定するプログラムフローチャート、第８図は本発明に
かかわる特に秤量装置についてのクリープ計算定数を確
定するプログラムフローチャートである。 １１・・・・・・おもシ受入れパン １２・・・・・・荷重セル １４・・・・・・歪ゲージ用ブリッジ １７・・・・・・Ａ／Ｄ変換器 １９・・・・・・マイコン ２１・・・・・・ディスプレー装置 ２３・・・・・・電子メモリー 特許出願人 リライアンス エレクトリックカンパニ
一 Ｌ−一一一一一一一」 ＦＩＧ、６
イコン制御秤量装置のブロックダイヤグラム、第２図は
アナログ重量信号に対するクリープの影響を図示したプ
ロット図である。第３図は秤量装置での荷重の大きさ変
動から起るクリープを示すプロット図、第４図に、本発
明にか＼わる秤量装置の優先形態について、第１図のブ
ロックダイヤグラムよシよシ詳細なブロックダイヤグラ
ム、第５図は本発明にか＼わる秤量装置の運転を示すフ
ローチャート、第６図は第５図フローチャートのクリー
プ補正サブルーチンの７０−チャート、第７図は本発明
にかかわる特に秤量装置についてのクリープ計算定数を
確定するプログラムフローチャート、第８図は本発明に
かかわる特に秤量装置についてのクリープ計算定数を確
定するプログラムフローチャートである。 １１・・・・・・おもシ受入れパン １２・・・・・・荷重セル １４・・・・・・歪ゲージ用ブリッジ １７・・・・・・Ａ／Ｄ変換器 １９・・・・・・マイコン ２１・・・・・・ディスプレー装置 ２３・・・・・・電子メモリー 特許出願人 リライアンス エレクトリックカンパニ
一 Ｌ−一一一一一一一」 ＦＩＧ、６
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）秤量機構のクリープ状態を蓄積するための手段と
、秤量機構による重量表示を得るための手段と、クリー
プ状態及び重量表示から結果として生じるクリープ増分
を予測するための手段と、現在のクリープ状態を決定す
るためにクリープ状態及びクリープ増分を結合するため
の手段と、修正された重量表示を与えるために重量表示
及び現在のクリープ状態を結合する手段と、クリープ状
態の位置に現在のクリープ状態を代わりに蓄積するため
の手段と、を特徴とするクリープ補償型秤量装置。 （２）クリープ増分が式（ＭＣＰ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ
−１））＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＡＴから計算され、こ
こでＷＧＴは重量表示、ＤＣＰ（Ｔ−１）はクリープ状
態、ＭＣＰ、Ｄ、ＡＴは定数である特許請求の範囲第１
項記載のクリープ補償型秤量装置。 （３）クリープ増分及びクリープ状態がそれぞれ多数の
成分を含み、クリープ増分の各成分が上記形の式から計
算される特許請求の範囲第２項記載のクリープ補償型秤
量装置。 （４）秤量機構による重量表示を得るための手段と、重
量表示を使って秤量機構のクリープ状態を計算するため
の手段と、クリープの影響に対して補償された秤量機構
による重量表示を与えるために重量表示及びクリープ状
態を結合する手段と、を特徴とするクリープ補償型秤量
装置。 （５）クリープ状態が式（ＭＣＰ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ
−１））＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＡＴ＋ＤＣＰ（Ｔ−１
）から計算され、ここでＷＧＴは重量表示、ＤＣＰ（Ｔ
−１）はクリープ状態、ＭＣＰ、Ｄ、ＡＴは定数である
特許請求の範囲第４項記載のクリープ補償型秤量装置。 （６）クリープ状態が式〔（ＭＣＰＡ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ
Ａ（Ｔ−１））＊ＡＡＦ＋（ＭＣＰＢ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ
Ｂ（Ｔ−１））＊ＢＢＦ〕＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＋ＤＣ
ＰＡ（Ｔ−１）＋ＤＣＰＢ（Ｔ−１）から計算され、こ
こでＷＧＴは重量表示、ＤＣＰＡ（Ｔ−１）及びＤＣＰ
Ｂ（Ｔ−１）はクリープ状態の成分、ＭＣＰＡ、ＡＡＦ
、ＭＣＰＢ、ＢＢＦ、Ｄは前もって決められた定数であ
る特許請求の範囲第４項記載のクリープ補償型秤量装置
。 （７）重量表示が連続して得られ、クリープ状態が重量
表示を用いて連続して計算される特許請求の範囲第４項
記載のクリープ補償型秤量装置。 （８）クリープ状態を連続して計算するための上記手段
が、それぞれ計算されたクリープ状態を蓄積するための
手段と、連続して得られた重量表示の間のクリープ増分
を計算するための手段と、新しく計算されたクリープ状
態を与えるために蓄積されたクリープ状態及びクリープ
増分を結合する手段と、を特徴とする特許請求の範囲第
７項記載のクリープ補償型秤量装置。 （９）秤量機構のために時間の関数としてクリープの数
学的表示を蓄積するための手段と、秤量機構による重量
表示を連続して得るための手段と、数学的表示及び重量
表示を用いて秤量機構のクリープ状態を連続して計算す
るための手段と、クリープの影響を補償する秤量機構に
よる重量表示を与えるために重量表示及び計算されたク
リープ状態を結合する手段と、を特徴とするクリープ補
償型秤量装置。 （１０）力測定装置に適用される力表示を得るステップ
と、力表示を用いて力測定装置のクリープ状態を計算す
るステップと、クリープの影響を補償する力測定装置に
適用された力表示を与えるため力表示及び計算されたク
リープ状態を結合するステップと、を特徴とするクリー
プ用力測定装置の出力修正方法。 （１１）力測定装置のために時間の関数としてクリープ
用の数学式を決定し、クリープ状態を計算する数学式を
用いるステップを特徴とする特許請求の範囲第１０項記
載のクリープ用力測定装置の出力修正方法。 （１２）数学式が（ＭＣＰ＊ＷＧＴ−ＤＣＰ（Ｔ−１）
＊（１＋ＷＧＴ＊Ｄ）＊ＡＴ＋ＤＣＰ（Ｔ−１）の形か
ら成り、ここでＷＧＴは力表示、ＤＣＰ（Ｔ−１）はク
リープ状態、ＭＣＰ、ＡＴ、Ｄは定数である特許請求の
範囲第１１項記載のクリープ用力測定装置の出力修正方
法。 （１３）力表示を連続して得るようにし、クリープ状態
を連続して計算するステップを特徴とする特許請求の範
囲第１０項記載のクリープ用力測定装置の出力修正方法
。 （１４）クリープ状態が、連続して得られた力表示の間
のクリープ増分を計算し、新しく計算されたクリープ状
態を与えるために蓄積され計算されたクリープ状態及び
クリープ増分を結合しながら各々計算されたクリープ状
態を蓄積することにより連続して計算される特許請求の
範囲第１３項記載のクリープ用力測定装置の出力修正方
法。 （１５）秤量装置のために時間の関数としてクリープの
数学的表示を決定するステップと、秤量装置による重量
表示を連続して得るステップと、重量表示及び数学的表
示を用いながら秤量装置のクリープ状態を連続して計算
するステップと、クリープの影響のために補償する重量
表示及び計算されたクリープ状態を結合するステップと
、を特徴とするクリープ用秤量装置の出力修正方法。 （１６）大体において規則正しい間隔で次の一連のステ
ップ、すなわち （１）スケールのクリープ状態を蓄積するステップと、 （２）スケールによる重量表示を得るステップと、（３
）クリープ状態の蓄積以来のクリープ増分を決定するス
テップと、 （４）現在のクリープ状態を与えるために蓄積されたク
リープ状態及びクリープ増分を結合するステップと、 （５）重量表示を修正するために結合した結果を用いる
ステップと、 を繰り返し実行することを特徴とするクリープ用ディジ
タルスケールの出力修正方法。 （１７）ディジタルスケールのために時間の関数として
クリープの数学式を決定し、この数学式を用いて計算に
よりクリープ増分を決定するステップを特徴とする特許
請求の範囲第１６項記載のクリープ用ディジタルスケー
ルの出力修正方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/638,272 US4691290A (en) | 1984-08-06 | 1984-08-06 | Creep-compensated weighing apparatus |
| US638,272 | 1984-08-06 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6145932A true JPS6145932A (ja) | 1986-03-06 |
| JPH0621813B2 JPH0621813B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=24559343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60154370A Expired - Fee Related JPH0621813B2 (ja) | 1984-08-06 | 1985-07-15 | クリ−プ補償型秤量装置及びクリ−プ用出力修正方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4691290A (ja) |
| EP (1) | EP0171237B2 (ja) |
| JP (1) | JPH0621813B2 (ja) |
| AU (1) | AU574800B2 (ja) |
| BR (1) | BR8503675A (ja) |
| CA (1) | CA1249307A (ja) |
| DE (1) | DE3573653D1 (ja) |
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