JPH034906Y2 - - Google Patents

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JPH034906Y2
JPH034906Y2 JP10052284U JP10052284U JPH034906Y2 JP H034906 Y2 JPH034906 Y2 JP H034906Y2 JP 10052284 U JP10052284 U JP 10052284U JP 10052284 U JP10052284 U JP 10052284U JP H034906 Y2 JPH034906 Y2 JP H034906Y2
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  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本考案は電子天びんに関し、更に詳しくは、ス
パン較正用の内蔵分銅を備え、その内蔵分銅の負
荷による荷重検出部の出力と、メモリに記憶され
ている内蔵分銅の質量値とから、スパン係数を算
出する、スパン較正用プログラムを備えた電子天
びんに関する。
(ロ) 従来の技術 一般に、上述の如き内蔵分銅を備えた高精度の
電子天びんにおいては、その天びんの精度を保証
し得る精密基準分銅を用いて、内蔵分銅の器差付
けを行い、その値を不揮発性のメモリに記憶させ
た状態で出荷される。ところが、ユーザーに納め
られた後、定期検査等の保守点検時において、サ
ービスマンやユーザーの保守担当者が、当該電子
天びんに必要な精度を保証し得るかどうかわから
ないような分銅を用いて新たに内蔵分銅の器差付
けを行つて、メモリの内容を更新してしまう場合
がある。誤つた器差付けが行われたときには、以
後の測定値が全て誤つた値となつてしまう。
(ハ) 目的 本考案は上記に鑑みてなされたもので、ユーザ
ーにおける保守点検等があつても、常に正確に器
差付けされた内蔵分銅の質量値が記憶されるよう
な電子天びんの提供を目的としている。
(ニ) 構成 本考案の特徴とするところは、スパン較正用の
分銅を内蔵し、その内蔵分銅を負荷したときの荷
重検出部出力と、不揮発性メモリに記憶されてい
る当該内蔵分銅の質量値とから、スパン係数を算
出する演算手段を備えるとともに、外部分銅を用
いて上記不揮発性メモリに記憶されている内蔵分
銅の質量値を更新する内蔵分銅質量記憶値更新手
段を有する電子天びんにおいて、当初の内蔵分銅
質量記憶値に対する許容範囲を記憶する許容範囲
記憶手段と、上記内蔵分銅質量記憶値更新手段に
よる内蔵分銅の質量値の更新動作の実行時に、新
たに求められた内蔵分銅質量値が上記許容記憶手
段に記憶された許容範囲内であるか否かを判別す
る判別手段を備え、上記内蔵分銅質量記憶値更新
手段は、上記判別結果に基づき、新たに求められ
た質量値が上記許容範囲内にあるときに限り、上
記不揮発性メモリの内容を更新するよう構成した
点にある。要するに、あらかじめ正規の基準分銅
を用いて器差付けされて不揮発性のメモリに記憶
されている内蔵分銅の質量値を、保守作業時等に
おいて更新するに当り、新たに求められた上記内
蔵分銅の質量値が、上記不揮発性メモリに記憶さ
れている元の質量値に対して、あらかじめ設定さ
れた範囲内にあるときに限り、上記不揮発性メモ
リの内容の更新を許可するよう構成したことにあ
る。
(ホ) 実施例 本考案の実施例を、以下図面に基づいて説明す
る。
第1図は本考案実施例の構成図である。
荷重センサ1ははかり皿2上に載せられた外部
荷重、または内蔵分銅3が負荷されたとき、その
荷重に対応する電気信号を発生して出力する。そ
の出力信号はA−D変換器4を介して制御部5に
採り込まれる。
制御部5はマイクロコンピユータによつて構成
され、各種演算やプログラムの実行および各周辺
機器を制御するCPU5a、後述するプログラム
が書き込まれたROM5b、荷重センサ1からの
デジタル変換データや各種演算結果等を記憶する
エリアを備えたRAM5c、内蔵分銅の質量値お
よびスパン係数を格納するエリアを備えた不揮発
RAM5d、および外部の周辺機器と接続する為
のインターフエース回路5e等を備え、これらは
互にバスラインで接続されている。この制御部5
には、CPU5aの指令に基づいて、計量値を表
示する表示器6、および、内蔵分銅3の加除機構
7を駆動するモータ7aが接続されている。
内蔵分銅3の加除機構7は、モータ7aによつ
て回動されるカム7b、そのカム7bの回動によ
り支点7cを中心に変位されるレバー7dから構
成されており、CPU5からの指令によつて内蔵
分銅3を荷重センサ1に負荷し、あるいはその負
荷を取り除くことができる。
次に作用を述べる。第2図乃至第4図はそれぞ
れROM5bに書き込まれたプログラムの各モー
ドを示すフローチヤートである。
第2図は出荷前較正モードのプログラムを示し
ている。当該電子天びんをユーザーに納める直前
にこのモードが選択される。このモードにおいて
は、メーカーにて当該電子天びんの精度を保証し
得る精度の、正規の較正質量を有した基準分銅を
はかり皿2上に載せ、そのときの荷重センサ1か
らのデジタル変換データをRAM5c内に記憶す
る(ST1)。次に、加除機構7を駆動して内蔵分
銅3を負荷したときの荷重センサ1からのデジタ
ル変換データを採り込む(ST2)。そして、その
データと基準分銅負荷時のデータとから、内蔵分
銅3の器差付け、すなわち内蔵分銅3の質量の真
値W1を求め(ST3)、不揮発性RAM5d内に格
納する(ST4)。
第3図はメインテナンス時較正モードのプログ
ラムを示している。このモードは、ユーザーに納
められた後の保守点検時における内蔵分銅3の器
差付け時に選択される。このモードにおいては、
まず、ユーザー等が用意した基準分銅をはかり皿
2上に載せ、そのときの荷重センサ1からのデジ
タル変換データを採り込み(ST11)、次に加除機
構7を駆動して内蔵分銅3を負荷し、そのときの
荷重センサ1からのデジタル変換データを採り込
み(ST12)、その内蔵分銅3のデータを基準とし
て、基準分銅の質量WMが求められる(ST13)。
そして、その求められた質量WMが、あらかじめ
設定されている真の較正質量に対して±αの範囲
内にあるかどうかが判定される(ST14)。ここで
±αの値は、当該電子天びんの精度を保証し得る
許容値であつて、例えばひよう量100gの電子天
びんでその精度を5mgとすれば、±αは±5mgと
設定していく。基準分銅の質量WMが上述した範
囲内であれば、再び内蔵分銅3を負荷時のデータ
を採り込み(ST15)、今度は基準分銅の質量WM
とデータとを基準として、内蔵分銅3の質量の真
値W1が求め直され、(ST16)、不揮発性RAM5
d内に格納されている元のW1を更新する
(ST17)。ST14においてWMが許容範囲外であ
ると判定されたときには、W1の更新を禁止する
(ST18)。
第4図は通常側定モードのプログラムを示して
いる。このモードは、ユーザーにおいて通常の測
定を行う際に選択されるモードである。このモー
ドは、はかり皿2上の試料重量を測定して表示器
6に表示する計量モードと、指示によりあるいは
電源投入時に自動的に実行されるスパン較正モー
ドとを含んでいる。計量モードでは、荷重センサ
1からのデジタル変換データを表示値の安定化の
為に所定個数平均化としたり、その平均値を不揮
発性RAM5d内に格納されているスパン係数K
を用いて質量に換算して表示器6に表示する等
の、公知の計量プログラムが実行される(ST21,
ST27)。スパン較正モードでは、内蔵分銅3を負
荷する前の荷重センサ1のデジタル変換データ
W1をRAM5cに記憶した後、内蔵分銅3を負荷
し、そのときの荷重センサ1からのデジタル変換
データW2もRAM5cに記憶する(ST22)。次
に、内蔵分銅3負荷前後のデータW1,W2と、不
揮発性RAM5d内に格納されている内蔵分銅3
質量の真値W1とから、次の式によつてスパン係
数Kを算出する(ST23)。
K=W1/(W2−W1) そして、この求められたスパン係数Kが、以前
に既に求められて不揮発性RAM5d内に格納さ
れている元のスパン係数K′と比較され、Kが
K′に対してあらかじめ設定された±βの範囲内
にあるかどうかが判別される(ST24)。ここで±
βの値は、当該電子天びんに必要な精度を保証す
るに妥当な許容値である。範囲内であれば内蔵分
銅3の負荷を取り除き(ST25)、不揮発性RAM
5d内のスパン係数K′を、ST23で算出された
スパン係数Kに更新し(ST26)、計量プログラム
へと進む。以後、この更新されたスパン係数Kで
換算処理が行われることになる。
ST24において、ST23で算出されたスパン
係数Kが±βの範囲外であると判別されると、算
出されたスパン係数Kは不揮発性RAM5d内に
格納されず、すなわちスパン係数の更新を禁止
し、内蔵分銅3を降ろして計量プログラムへと進
む(ST26)。この場合、計量プログラムにおいて
は元のスパン係数K′を用いた換算処理が行われ
ることになる。
(ヘ) 効果 以上説明したように、本考案によれば、不揮発
性のメモリに記憶されているスパン較正用の内蔵
分銅の質量値を、メインテナンス時等において新
たに器差付けし直すに当り、ユーザー等が用意し
た基準分銅に基づく器差付け値が、元の正規の基
準分銅を用いて器差付けされた値に対して、あら
かじめ設定された許容範囲内にあるときに限り、
メモリの内容を更新するよう構成したから、スパ
ン較正に用いられる内蔵分銅の質量値は、従来の
ように誤つた器差が付けられた値が記憶される可
能性が無くなり、常に正確なものとなる。従つ
て、ユーザーは常に保証された精度で測定を行う
ことができる。
また、スパン較正時において、新たに算出され
たスパン係数が、元のスパン係数に対してあらか
じめ設定された許容範囲内にあるときに限り、更
新を許可するよう構成すれば、内蔵分銅の摩耗、
酸化および異物の付着等による質量変化や、周囲
条件の変動、天びん自体の安定性に起因する、誤
つたスパン係数が記憶されてしまうことも防止で
き、上述の内蔵分銅質量の記憶値の信頼性と相俟
つて、荷重検出部からのデータの換算は、常に正
しいスパン係数を用いて行われることになり、当
該電子天びんの精度を保証した計量値を常に得ら
れることになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案実施例の構成図、第2図はその
出荷前構成モードのプログラムを示すフローチヤ
ート、第3図はメインテナンス時較正モードのプ
ログラムを示すフローチヤート、第4図は通常測
定モードのプログラムを示すフローチヤートであ
る。 1……荷重センサ、2……はかり皿、3……内
蔵分銅、5……制御部、5a……CPU、5b…
…ROM、5c……RAM、5d……不揮発性
RAM、7……加除機構。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) スパン較正用の分銅を内蔵し、その内蔵分銅
    を負荷したときの荷重検出部出力と、不揮発性
    メモリに記憶されている当該内蔵分銅の質量値
    とから、スパン係数を算出する演算手段を備え
    るとともに、外部分銅を用いて上記不揮発性メ
    モリに記憶されている内蔵分銅の質量値を更新
    する内蔵分銅質量記憶値更新手段を有する電子
    天びんにおいて、当初の内蔵分銅質量記憶値に
    対する許容範囲を記憶する許容範囲記憶手段
    と、上記内蔵分銅質量記憶値更新手段による内
    蔵分銅の質量値の更新動作の実行時に、新たに
    求められた内蔵分銅質量値が上記許容記憶手段
    に記憶された許容範囲内であるか否かを判別す
    る判別手段を備え、上記内蔵分銅質量記憶値更
    新手段は、上記判別結果に基づき、新たに求め
    られた質量値が上記許容範囲内にあるときに限
    り、上記不揮発性メモリの内容を更新するよう
    構成されていることを特徴とする電子天びん。 (2) 上記演算手段により算出されたスパン係数
    が、元の係数に対してあらかじめ設定された範
    囲内にあるときに限り、スパン係数の更新を実
    行し、範囲外にあるときには更新を行わずに元
    のスパン係数を用いて通常側定を行うよう構成
    されていることを特徴とする実用新案登録請求
    の範囲第1項記載の電子天びん。
JP10052284U 1984-07-02 1984-07-02 電子天びん Granted JPS6115527U (ja)

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