JPH069337Y2 - 較正用分銅を内蔵した電子天びん - Google Patents
較正用分銅を内蔵した電子天びんInfo
- Publication number
- JPH069337Y2 JPH069337Y2 JP8493187U JP8493187U JPH069337Y2 JP H069337 Y2 JPH069337 Y2 JP H069337Y2 JP 8493187 U JP8493187 U JP 8493187U JP 8493187 U JP8493187 U JP 8493187U JP H069337 Y2 JPH069337 Y2 JP H069337Y2
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- Japan
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、スパン較正用やリニア較正用等の較正用分銅
を内蔵した電子天びんに関する。
を内蔵した電子天びんに関する。
〈従来の技術〉 較正用分銅を内蔵した電子天びんにおいては、従来、例
えばひょう量200ｇ、読取限度0.1mg等の高精度の天びん
であっても、内蔵する較正用分銅（以下、内蔵分銅と称
する）は精密に200.0000ｇに調整されている必要はな
く、充分に正しく質量が測定された分銅であれば、その
質量測定値を電子天びん内のメモリに記憶しておくこと
によって正確な較正ができるようになっている。すなわ
ち、内蔵分銅200.0000ｇ等の整数値等の質量を有するも
のではなく、例えば198.6791ｇ等の任意質量の分銅、つ
まり粗調整された分銅が使用されることが多い。
えばひょう量200ｇ、読取限度0.1mg等の高精度の天びん
であっても、内蔵する較正用分銅（以下、内蔵分銅と称
する）は精密に200.0000ｇに調整されている必要はな
く、充分に正しく質量が測定された分銅であれば、その
質量測定値を電子天びん内のメモリに記憶しておくこと
によって正確な較正ができるようになっている。すなわ
ち、内蔵分銅200.0000ｇ等の整数値等の質量を有するも
のではなく、例えば198.6791ｇ等の任意質量の分銅、つ
まり粗調整された分銅が使用されることが多い。
〈考案が解決しようとする問題点〉 ところで、電子天びんでは、通常、上述の内蔵分銅等を
用いて較正をしている間は通常の試料測定はできないか
ら、例えば多数の試料を可及的速やかに連続的に測定す
る必要がある場合、途中で感度較正を行うことができ
ず、このような場合には一連の測定を行う前に較正を行
っておくのが一般的である。しかし、一連の測定の直前
に較正を行ったとしても、測定回数を重ねるにつれて感
度等が変化してゆく可能性がある。従って、このような
場合、一連の測定の終了直後に既知質量の分銅を負荷し
て、どの程度の感度変化があったのかを知り、場合によ
っては既に得られている測定値を補正する必要がある。
当然、このような用途に内蔵分銅を使用することができ
るが、先に例示したように198.6791ｇの内蔵分銅を使用
している場合、測定途中に全く感度変化が生じていなか
ったとしても、この内蔵分銅負荷時において表示器に
は、“198.6791ｇ”の表示がなされ、例えば５ppmの正
の感度変化があった場合には、“198.6801ｇ”という表
示がなされる。このことは、上述き用途に使用した場
合、どの程度の感度変化があったのかを使用者が一目で
判別できないとともに、内蔵分銅の正しい質量を使用者
があらかじめ知っておかなければならないということに
なる。
用いて較正をしている間は通常の試料測定はできないか
ら、例えば多数の試料を可及的速やかに連続的に測定す
る必要がある場合、途中で感度較正を行うことができ
ず、このような場合には一連の測定を行う前に較正を行
っておくのが一般的である。しかし、一連の測定の直前
に較正を行ったとしても、測定回数を重ねるにつれて感
度等が変化してゆく可能性がある。従って、このような
場合、一連の測定の終了直後に既知質量の分銅を負荷し
て、どの程度の感度変化があったのかを知り、場合によ
っては既に得られている測定値を補正する必要がある。
当然、このような用途に内蔵分銅を使用することができ
るが、先に例示したように198.6791ｇの内蔵分銅を使用
している場合、測定途中に全く感度変化が生じていなか
ったとしても、この内蔵分銅負荷時において表示器に
は、“198.6791ｇ”の表示がなされ、例えば５ppmの正
の感度変化があった場合には、“198.6801ｇ”という表
示がなされる。このことは、上述き用途に使用した場
合、どの程度の感度変化があったのかを使用者が一目で
判別できないとともに、内蔵分銅の正しい質量を使用者
があらかじめ知っておかなければならないということに
なる。
本考案は上記に鑑みてなされたもので、任意の質量の内
蔵分銅を備えていても、この内蔵分銅の負荷によって感
度の変化量を一目で視認することのできる電子天びんの
提供を目的としている。
蔵分銅を備えていても、この内蔵分銅の負荷によって感
度の変化量を一目で視認することのできる電子天びんの
提供を目的としている。
〈問題点を解決するための手段〉 上記の目的を達成するための構成を、第１図に示す基本
概念図を参照しつつ説明すると、本考案は、係数メモリ
ａ内の較正係数を用いた換算手段ｂによる演算により、
力検出機構ｃからの検出データを質量に換算して表示器
ｄに表示するとともに、分銅加除機構ｅにより力検出機
構ｃに対して負荷／離脱自在の較正用内蔵分銅ｆと、あ
らかじめ測定された内蔵分銅ｆの質量Ｗ０を記憶する較
正質量メモリｇと、内蔵分銅ｆ負荷時における力検出機
構ｃからの検出データと較正質量メモリｇの内容とから
較正係数を算出して係数メモリａの内容を更新する係数
更新手段ｈを備えた天びんにおいて、内蔵分銅ｆ負荷時
における質量測定結果Ｗ１と較正質量メモリｇの内容Ｗ
０の差もしくは比に係る値Ｒを算出する演算手段ｉを有
し、内蔵分銅を負荷したときには表示器ｄにこの値Ｒを
表示するよう構成したことによって、特徴づけられる。
概念図を参照しつつ説明すると、本考案は、係数メモリ
ａ内の較正係数を用いた換算手段ｂによる演算により、
力検出機構ｃからの検出データを質量に換算して表示器
ｄに表示するとともに、分銅加除機構ｅにより力検出機
構ｃに対して負荷／離脱自在の較正用内蔵分銅ｆと、あ
らかじめ測定された内蔵分銅ｆの質量Ｗ０を記憶する較
正質量メモリｇと、内蔵分銅ｆ負荷時における力検出機
構ｃからの検出データと較正質量メモリｇの内容とから
較正係数を算出して係数メモリａの内容を更新する係数
更新手段ｈを備えた天びんにおいて、内蔵分銅ｆ負荷時
における質量測定結果Ｗ１と較正質量メモリｇの内容Ｗ
０の差もしくは比に係る値Ｒを算出する演算手段ｉを有
し、内蔵分銅を負荷したときには表示器ｄにこの値Ｒを
表示するよう構成したことによって、特徴づけられる。
〈作用〉 内蔵分銅ｆを負荷したときに、その質量測定値Ｗ１が表
示されずに、その測定値Ｗ１と真の質量Ｗ０の差もしく
は比に係る値ｒが表示されることになり、先の例のよう
に198.6791ｇ等の内蔵分銅を用いていても、使用者はそ
の質量を知らずとも感度の変化量を直感的に知ることが
できる。
示されずに、その測定値Ｗ１と真の質量Ｗ０の差もしく
は比に係る値ｒが表示されることになり、先の例のよう
に198.6791ｇ等の内蔵分銅を用いていても、使用者はそ
の質量を知らずとも感度の変化量を直感的に知ることが
できる。
〈実施例〉 本考案の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第２図は本考案実施例の構成図である。
力検出機構１は、皿１１およびそれに係合する電磁力発
生装置等の力センサ１２等から構成されており、皿１１
に作用する力または内蔵分銅２を負荷したときに、対応
する電気信号を発生し、その出力信号は増幅器３および
Ａ−Ｄ変換器４を介して制御部５に採り込まれる。
生装置等の力センサ１２等から構成されており、皿１１
に作用する力または内蔵分銅２を負荷したときに、対応
する電気信号を発生し、その出力信号は増幅器３および
Ａ−Ｄ変換器４を介して制御部５に採り込まれる。
内蔵分銅２は、レバー６１とそのレバー６１を傾斜させ
るためのカム６２等によって構成された分銅加除機構６
を介して、例えばカム６２の軸６２ａを外部のつまみ
（図示せず）等によって回動させることにより、力検出
機構１に対して随時に負荷もしくは、離脱させることが
できる。この内蔵分銅２は、粗調整された分銅である
が、その質量Ｗ０はあらかじめ正確に測定されている。
るためのカム６２等によって構成された分銅加除機構６
を介して、例えばカム６２の軸６２ａを外部のつまみ
（図示せず）等によって回動させることにより、力検出
機構１に対して随時に負荷もしくは、離脱させることが
できる。この内蔵分銅２は、粗調整された分銅である
が、その質量Ｗ０はあらかじめ正確に測定されている。
制御部５はマイクロコンピュータを主体として構成され
ており、ＣＰＵ５１，後述するプログラムが書き込まれ
たＲＯＭ５２，力検出機構１からのデジタル変換データ
を刻々と記憶するエリアやワークエリアが設定されたＲ
ＡＭ５３，上述の内蔵分銅２の質量Ｗ０および後述する
スパン係数を記憶するための不揮発ＲＡＭ５４，および
外部機器との信号授受のための入出力ポート５５を備え
ている。
ており、ＣＰＵ５１，後述するプログラムが書き込まれ
たＲＯＭ５２，力検出機構１からのデジタル変換データ
を刻々と記憶するエリアやワークエリアが設定されたＲ
ＡＭ５３，上述の内蔵分銅２の質量Ｗ０および後述する
スパン係数を記憶するための不揮発ＲＡＭ５４，および
外部機器との信号授受のための入出力ポート５５を備え
ている。
この制御部５には、皿１１上に載せられた試料の質量測
定値もしくは後述する値Ｒをデジタル表示するための表
示器７と、モード選択スイッチ８が接続されている。こ
のモード選択スイッチ８の操作により、後述するように
通常モード、スパン較正モードおよびスパン確認モード
のうち任意のモードを選択し得るよう構成されている。
定値もしくは後述する値Ｒをデジタル表示するための表
示器７と、モード選択スイッチ８が接続されている。こ
のモード選択スイッチ８の操作により、後述するように
通常モード、スパン較正モードおよびスパン確認モード
のうち任意のモードを選択し得るよう構成されている。
第３図はＲＯＭ５２に書き込まれたプログラムを示すフ
ローチャートで、この図を参照しつつ以下に作用を述べ
る。
ローチャートで、この図を参照しつつ以下に作用を述べ
る。
通常モードが選択されているときには、力検出機構１か
らのデジタル変換データを、不揮発性ＲＡＭ５４内のス
パン係数αを用いて質量に換算し、表示器７に表示す
る。
らのデジタル変換データを、不揮発性ＲＡＭ５４内のス
パン係数αを用いて質量に換算し、表示器７に表示す
る。
スパン較正モードが選択されている場合には、まず、力
検出機構１からのデータが所定の幅内に収まっているか
否かの判別等により、皿１１上に何も載っていないかど
うかの判別が行われ、無負荷でないと判定されたときに
は表示器７への表示等によってその旨を警報する。
検出機構１からのデータが所定の幅内に収まっているか
否かの判別等により、皿１１上に何も載っていないかど
うかの判別が行われ、無負荷でないと判定されたときに
は表示器７への表示等によってその旨を警報する。
無負荷状態であることが確認されると、その状態での力
検出データＤ０をＲＡＭ５３内に格納する。次に、カム
６２の回転により内蔵分銅２を負荷すると、その状態で
の力検出データＤ１をＲＡＭ５３内に格納し、不揮発性
ＲＡＭ５４にあらかじめ書き込まれている内蔵分銅２の
質量Ｗ０を読み出して、スパン係数αを、 によって算出し、不揮発性ＲＡＭ５４内のスパン係数を
更新する。以上は公知である。
検出データＤ０をＲＡＭ５３内に格納する。次に、カム
６２の回転により内蔵分銅２を負荷すると、その状態で
の力検出データＤ１をＲＡＭ５３内に格納し、不揮発性
ＲＡＭ５４にあらかじめ書き込まれている内蔵分銅２の
質量Ｗ０を読み出して、スパン係数αを、 によって算出し、不揮発性ＲＡＭ５４内のスパン係数を
更新する。以上は公知である。
さて、スパン確認モードが選択されると、まずスパン較
正モードと同様に皿１１上に何も載っていないことを確
認した後、その状態での力検出データｄ０をＲＡＭ５３
内に記憶する。次に、カム６２を回して内蔵分銅２を負
荷すると、その状態での力検出データｄ１を採り込んで
ＲＡＭ５３内に記憶した後、これらのデータｄ0，ｄ
1と、当該天びんのひょう量200ｇおよび不揮発性ＲＡＭ
５４内のスパン係数αを用いて、次の(2)式を演算して
その結果Ｒを表示器７に表示する。
正モードと同様に皿１１上に何も載っていないことを確
認した後、その状態での力検出データｄ０をＲＡＭ５３
内に記憶する。次に、カム６２を回して内蔵分銅２を負
荷すると、その状態での力検出データｄ１を採り込んで
ＲＡＭ５３内に記憶した後、これらのデータｄ0，ｄ
1と、当該天びんのひょう量200ｇおよび不揮発性ＲＡＭ
５４内のスパン係数αを用いて、次の(2)式を演算して
その結果Ｒを表示器７に表示する。
式中Ｗ１は当該天びんによる現時点における内蔵分銅２
の質量測定値である。
の質量測定値である。
算出された値Ｒは、このスパン確認時において例えば感
度の変化が全くない場合には、200.0000ｇとなり、＋５
ppmの変化があれば200.0010ｇとなる。つまり、ひょう
量200ｇの天びんにおいて、正確に200.0000ｇの分銅を
用いてスパン確認をしたときと同じ値が表示器７に表示
されることになる。
度の変化が全くない場合には、200.0000ｇとなり、＋５
ppmの変化があれば200.0010ｇとなる。つまり、ひょう
量200ｇの天びんにおいて、正確に200.0000ｇの分銅を
用いてスパン確認をしたときと同じ値が表示器７に表示
されることになる。
なお、スパン確認モードにおいて表示器７に表示する値
Ｒとしては、上述の例のほか、次のような演算による値
Ｒでもよい。
Ｒとしては、上述の例のほか、次のような演算による値
Ｒでもよい。
または、 (3)式により算出された値Ｒは感度の変化量を表わし、
(4)式により算出された値Ｒは感度の変化率を表わす値
となる。すなわち、＋５ppmの感度変化があった場合、
(3)式による値Ｒは0.000005，(4)式なら1.000005とな
る。更にこれらの値を１０ｎ（ｎは整数）して５ppm等
と表示してもよく、更に、−５ppmの感度変化があった
ときに(4)式のＲを、.000005等の補数表現になおして
表示することもできる。
(4)式により算出された値Ｒは感度の変化率を表わす値
となる。すなわち、＋５ppmの感度変化があった場合、
(3)式による値Ｒは0.000005，(4)式なら1.000005とな
る。更にこれらの値を１０ｎ（ｎは整数）して５ppm等
と表示してもよく、更に、−５ppmの感度変化があった
ときに(4)式のＲを、.000005等の補数表現になおして
表示することもできる。
また、第２図に示した実施例において、カム６２を回動
させるための軸６２ａは、人手によってつまみを回す以
外に、モータ等によって回転駆動するよう構成すること
もでき、この場合、内蔵分銅２の負荷・離脱をＣＰＵ５
１からの指令によって自動的に行うよう構成することも
できる。また、分銅加除機構６の構造は他方式を採用し
得ることは勿論である。
させるための軸６２ａは、人手によってつまみを回す以
外に、モータ等によって回転駆動するよう構成すること
もでき、この場合、内蔵分銅２の負荷・離脱をＣＰＵ５
１からの指令によって自動的に行うよう構成することも
できる。また、分銅加除機構６の構造は他方式を採用し
得ることは勿論である。
更に、モード選択スイッチ８により選択可能なモードを
通常モードとスパン較正モードのみにしておく一方、分
銅加除機構６によって内蔵分銅２が負荷されたことをレ
バー６２の傾き等を検知するセンサ等で検出し得るよう
構成し、通常モードで、かつ、内蔵分銅２の負荷を検出
したときに、第３図におけるスパン確認モードのルーチ
ンを実行するよう構成することができ、この場合、スイ
ッチ８でモードを変更せずにスパン確認ができる。この
例において無負荷時における力検出データｄ0として
は、通常、電子天びんではＲＷＭ５３内には刻々の力検
出データの最新の所定個数を常時格納しているので、内
蔵分銅２の負荷直前のデータを採用することができる。
通常モードとスパン較正モードのみにしておく一方、分
銅加除機構６によって内蔵分銅２が負荷されたことをレ
バー６２の傾き等を検知するセンサ等で検出し得るよう
構成し、通常モードで、かつ、内蔵分銅２の負荷を検出
したときに、第３図におけるスパン確認モードのルーチ
ンを実行するよう構成することができ、この場合、スイ
ッチ８でモードを変更せずにスパン確認ができる。この
例において無負荷時における力検出データｄ0として
は、通常、電子天びんではＲＷＭ５３内には刻々の力検
出データの最新の所定個数を常時格納しているので、内
蔵分銅２の負荷直前のデータを採用することができる。
更にまた、内蔵分銅２の質量Ｗ０はひょう量近傍でもよ
いし、ひょう量の1/2近傍等、任意のものを使用するこ
とができ、また、内蔵分銅２は上述の例のようにスパン
較正用のほか、リニア較正用のものを用いることがで
き、この場合、リニア変化の確認用として一目で判別で
きる表示が行われることになる。
いし、ひょう量の1/2近傍等、任意のものを使用するこ
とができ、また、内蔵分銅２は上述の例のようにスパン
較正用のほか、リニア較正用のものを用いることがで
き、この場合、リニア変化の確認用として一目で判別で
きる表示が行われることになる。
また、内蔵分銅２の真の質量Ｗ０は、実際の質量のほ
か、この分銅がてこ等を介して力検出機構１に負荷され
る構造のものでは、そのてこ比等を乗じて皿１１上の相
当荷重に換算した値でもよいことは云うまでもない。
か、この分銅がてこ等を介して力検出機構１に負荷され
る構造のものでは、そのてこ比等を乗じて皿１１上の相
当荷重に換算した値でもよいことは云うまでもない。
〈考案の効果〉 以上説明したように、本考案によれば、内蔵分銅を備え
た電子天びんにおいて、内蔵分銅を負荷したときの測定
値Ｗ１と、その分銅の真の質量Ｗ０との差もしくは比に
係る値Ｒを表示するよう構成したから、使用している内
蔵分銅がいわゆる粗調整されたものであっても、感度等
の変化を使用者が一目で直感的に把握することができ、
別途正確な分銅等を用意したり、計算によって感度変化
を求める等の手間を省くことができる。
た電子天びんにおいて、内蔵分銅を負荷したときの測定
値Ｗ１と、その分銅の真の質量Ｗ０との差もしくは比に
係る値Ｒを表示するよう構成したから、使用している内
蔵分銅がいわゆる粗調整されたものであっても、感度等
の変化を使用者が一目で直感的に把握することができ、
別途正確な分銅等を用意したり、計算によって感度変化
を求める等の手間を省くことができる。
第１図は本考案の構成を示す基本概念図、 第２図は本考案実施例の構成図、 第３図はそのＲＯＭ５２に書き込まれたプログラムを示
すフローチャートである。 １……力検出機構 １１……皿 １２……力センサ ２……内蔵分銅 ５……制御部 ５１……ＣＰＵ ５２……ＲＯＭ ５３……ＲＡＭ ５４……不揮発性ＲＡＭ ６……分銅加除機構 ７……表示器 ８……モード選択スイッチ
すフローチャートである。 １……力検出機構 １１……皿 １２……力センサ ２……内蔵分銅 ５……制御部 ５１……ＣＰＵ ５２……ＲＯＭ ５３……ＲＡＭ ５４……不揮発性ＲＡＭ ６……分銅加除機構 ７……表示器 ８……モード選択スイッチ
Claims (5)
- 【請求項１】係数メモリ内の較正係数を用いた換算手段
による演算により、力検出機構からの検出データを質量
に換算して表示器に表示するとともに、分銅加除機構に
より上記力検出機構に対して負荷／離脱自在の較正用内
蔵分銅と、あらかじめ測定された上記内蔵分銅の質量Ｗ
０を記憶する較正質量メモリと、上記内蔵分銅負荷時に
おける上記力検出機構からの検出データと上記較正質量
メモリの内容とから上記較正係数を算出して上記係数メ
モリの内容を更新する係数更新手段を備えた天びんにお
いて、上記内蔵分銅負荷時における質量測定結果Ｗ１と
上記較正質量メモリの内容Ｗ０の差もしくは比に係る値
Ｒを算出する演算手段を有し、上記内蔵分銅を負荷した
ときには上記表示器に上記値Ｒを表示しうるよう構成し
たことを特徴とする、較正用分銅を内蔵した電子天び
ん。 - 【請求項２】上記値Ｒが、 であることを特徴とする、実用新案登録請求の範囲第１
項記載の較正用分銅を内蔵した電子天びん。 - 【請求項３】上記値Ｒが、 もしくはその１０ｎ（ｎは整数）倍であることを特徴と
する、実用新案登録請求の範囲第１項記載の較正用分銅
を内蔵した電子天びん。 - 【請求項４】上記値Ｒが、 もしくはその１０ｎ（ｎは整数）倍であることを特徴と
する、実用新案登録請求の範囲第１項記載の較正用分銅
を内蔵した電子天びん。 - 【請求項５】上記内蔵分銅が上記力検出機構に負荷され
ていることを検出するセンサを備え、そのセンサの出力
により上記表示器の表示内容が上記値Ｒに変更されるよ
う構成したことを特徴とする、実用新案登録請求の範囲
第１項、第２項、第３項または第４項記載の較正用分銅
を内蔵した電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8493187U JPH069337Y2 (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | 較正用分銅を内蔵した電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8493187U JPH069337Y2 (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | 較正用分銅を内蔵した電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63193329U JPS63193329U (ja) | 1988-12-13 |
| JPH069337Y2 true JPH069337Y2 (ja) | 1994-03-09 |
Family
ID=30939873
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8493187U Expired - Lifetime JPH069337Y2 (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | 較正用分銅を内蔵した電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH069337Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6513367B2 (ja) * | 2014-10-20 | 2019-05-15 | 株式会社イシダ | 質量測定装置 |
-
1987
- 1987-05-29 JP JP8493187U patent/JPH069337Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63193329U (ja) | 1988-12-13 |
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