JPS62198739A - 電線処理装置 - Google Patents

電線処理装置

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JPS62198739A
JPS62198739A JP61252161A JP25216186A JPS62198739A JP S62198739 A JPS62198739 A JP S62198739A JP 61252161 A JP61252161 A JP 61252161A JP 25216186 A JP25216186 A JP 25216186A JP S62198739 A JPS62198739 A JP S62198739A
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JP
Japan
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wire
terminal
insulation
processing device
processing unit
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Application number
JP61252161A
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English (en)
Inventor
ロバート　オー．　デュセル
ハロルド　ジェー．キーン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Artos Engineering Co
Original Assignee
Artos Engineering Co
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/28—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for wire processing before connecting to contact members, not provided for in groups H01R43/02 - H01R43/26
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/51—Plural diverse manufacturing apparatus including means for metal shaping or assembling
    • Y10T29/5136—Separate tool stations for selective or successive operation on work
    • Y10T29/5137—Separate tool stations for selective or successive operation on work including assembling or disassembling station
    • Y10T29/5139—Separate tool stations for selective or successive operation on work including assembling or disassembling station and means to sever work prior to disassembling
    • Y10T29/514—Separate tool stations for selective or successive operation on work including assembling or disassembling station and means to sever work prior to disassembling comprising means to strip insulation from wire
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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    • Y10T29/53026—Means to assemble or disassemble with randomly actuated stopping or disabling means
    • Y10T29/5303—Responsive to condition of work or product
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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    • Y10T29/53—Means to assemble or disassemble
    • Y10T29/53087—Means to assemble or disassemble with signal, scale, illuminator, or optical viewer

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は制御機構を有する電線処理装置、例えば送り込
まれた電線素子の端部から絶縁を取り除き、この部分に
端子を取り付けるようにした電線処理装置に関するもの
である。特に本発明は光学装置を存し、且つ絶縁を除去
（以下ストリップと称する）した端部が所望のパラメー
タに合致するか否かを決定し合致しない場合端子取付を
阻止するようにした回路を有する電線処理装置に関する
ものである。
製品を検査するための光学システムは既知である０例え
ば米国特許第４，３９９，５５４号明細書にはエンジン
ヘッドの弁抑止部材の夫々が弁スプリング抑止キーに完
全に合致するか否か確認するよう検査するための装置が
記載されている。又米国特許第４．０７２．９２８号明
細書にはワークピースを検査し、論理回路によって光学
的に検知し判別したワークピース上のマークによってワ
ークピースの同一性を検査するようにしたシステムが示
されている。このシステムは最終的に検査すべきワーク
ピース上のマークと同一の一般的なタイプのサンプルマ
ークに対しシステムを露光することによって熟練者でな
くても一様に行うことができる。
然しなから、電線端部が正しくストリップされているか
否か、そして端子接続処理を続けるべきか否かを検査す
るための廉価で操作が容易な品質制御機構を有する電線
処理装置が望まれている。
（発明の目的） 本発明の目的は電線素子が一連の電線処理機構の１つの
区域から他の区域に移動し、各区域において処理のため
停止せしめるための段階的に移動するコンベアを有する
電線処理装置を得るにある。
（発明の構成） 本発明の電線処理装置は通路に沿って一方向に間歇的に
電線素子を送るためのコンベアと、前記コンベアが停止
し前記電線素子の少なくとも一端部が前記コンベアに沿
った第１の区域に位置している間に前記端部から絶縁を
除去して所定の寸法、品質特性を有せしめるようにする
ため前記第１の区域に設けた電線ストリップ機構と、 前記電線素子の端部から絶縁が除去された後で前記コン
ベアが停止し前記端部が前記第１の区域より下流側で前
記コンベアに沿った第２の区域に位置されている間にこ
の端部に電線端子を取り付けるため前記第２の区域に設
けた端子取付機構と、 前記端部から絶縁が除去された後でこれに電線端子が取
り付けられる前に前記端部を検査し、この絶縁の除去さ
れた端部が前記所定の品質に合致しないとき端子取付を
行わないように前記端子取付機構を制御するための制御
機構とより成り、 この制御機構は前記コンベアが停止し前記端部が前記第
１の区域と前記第２の区域の間の第３の区域に位置して
いる間に前記絶縁の除去された端部の光学像を作るため
前記第３の区域に配置された光学機構と、 前記光学像を電気的映像信号に変換する機構と、 絶縁を除去された端部の所定の特性を示す参照信号を作
り主処理ユニットに加える入力機構と、オペレータの指
令に基づいて前記主処理ユニットが前記映像信号を受け
取り前記参照信号に変換する検査モードにおいて前記主
処理ユニットから前記参照信号を受け取りメモリするた
めの第１メモリ区域と、 前記電気的映像信号を受け取り、前記参照信号と比較し
、その差が所定の許容値を越えたとき正しく絶縁が除去
されていないことを示すエラー信号を作る主処理ユニッ
トと、 前記エラー信号を受け取りメモリするための第２メモリ
区域とより成り、 前記第２メモリ区域が特定の電線素子端部に関連するエ
ラー信号を受け取ったときこの特定の電線素子端部に対
する端子の取付を行わないように前記端子取付機構を制
御することを特徴とする。
前記電線処理機構の１つは電線素子の端部から絶縁を除
去する。品質制御機構は各絶縁除去端部を検査しそれが
許容値に入る程度のものであるか否かを定める他の２つ
の電線処理機構間に位置される。若し許容値以外であれ
ば端子取付機構は電線端部がこの機構に達したときこれ
を処理することを阻止される０品質制御機構は照明区域
に対向する位置に設けられた光学レンズを有する。検査
されるべき絶縁の除去された電線端部は照明視野とレン
ズ間に運ばれ、この位置に一時的に停止される。このレ
ンズは光学像を作り、関連する回路がこの光学像を電気
的映像信号に変換する。主処理コニットがこの映像信号
を参照信号と比較し、この差が許容値内にない場合エラ
ー信号を作り、このエラー信号を記憶回路内に記憶する
。所定の電線端部が端子処理機構に達したとき記憶回路
が調査される。
この特定の電線端子によってエラー信号が発生され＼ば
端子取付機構によるこの電線端子の処理が阻止される。
品質制御機構は更にエラー信号が発生したか否かによっ
て生ずる電気的映像信号を示すモニタスクリーンを有す
る。この結果オペレータは各電線端子の表示を見ること
ができ、電線処理装置の操作をチェックすることができ
る。欠陥パラメータを定める参照信号が“検査モード”
において導入される。この検査モードでは正しくストリ
ップされた電線端子が品質制御機構によって検知された
ときオペレータによって検査指令が出される。この結果
品質制御機構は他の電線端子に対する比較の為の参照信
号としてこの正しくストリップされた電子的映像信号を
メモリーする。この比較はキーボード、押釦スイッチ又
は他の入力機構を介してオペレータによって導入された
許容値に応じて行われる。品質制御機構は更に欠陥スト
リップ端が所定数現れたか否か、又は所定数のコンベア
区域のための電線端部がコンベア上に現れないときコン
ベアを停止する機構を有する。
（発明の実施例） 以下図面によって本発明の詳細な説明する。
第１図に示すように本発明の電線処理装置１０は駆動機
構１６によて駆動され矢印１４の方向に等間隔に間歇的
に電線素子１３を移送し停止するコンベア１２に沿って
配置された、電線素子１３を処理する種々の電線処理区
域を存する。コンベア１２としては直線状態のものを示
すが直線状に限るものではない。電線素子の移動路は適
当な手段によって湾曲せしめることができる。第１の区
域には電線素子１３の端部２０から絶縁をストリップす
るための電線ストリップ機構１８が設けられており、コ
ンベア１２が電線素子の端部２０と共に電線ス）　ＩＪ
ツブ機構１８の部分で停止したとき、端部２０は寸法及
び品質において所望の特性を有するものに処理される。
電線ストリップ機構１８から下流側に配置された第２の
区域２２には、ストリップされた後の電線素子の端部２
０がこの第２の区域２２でコンベアと共に停止している
間に電線素子の端部２０を更に処理する錫メツキ機構又
は第１図に示すように端子取付機構２３が設けられてい
る。端子取付機構２３は端部２０が区域２２に達したと
き端子取付処理を開始する。
電線ストリップ機構１８と第２の区域２２間のコンベア
１２に沿って検査区域２４が配置されている。この検査
区域２４では端子が区域２２で端部２０に取り付けられ
る前に端部２０が正しくストリップされているか否か検
査される。
第２図は検査区域２４の詳細を示す説明図である。この
第２図から明らかなように検査区域２４は夫々ストリッ
プされた電線素子の端部２０が通過する照明区域２６を
有する。この照明区域２６は光源２８と、この光源２８
とストリップされた電線素子の端部２０との間に位置さ
れる半透明面３０とを有する。レンズ３２が照明区域２
６に対向して配置され、ストリップされた端部２０が照
明区域２６とレンズ３２間に運ばれる。レンズ３２はコ
ンバータ３４に取り付けられておリストリップされた端
部２０の光学像がコンバータ３４によって電気的映像に
変換される。このコンバータ３４としては上記変換を達
成するに好適なものが用いられている。
このコンバータ３４は主処理ユニット３６にこの映像信
号を送る。この主処理ユニット３６は予め“検査モード
”においてオペレータからの正しくストリップされた電
線素子端部２０のパラメータとしての情報を受け取って
いる。この“検査モード”はオペレータがキーボード３
８の“検査”ボタンを押すか他の入力機構４０によって
“検査モード”が発生されたとき主処理ユニット３６に
導入される。次いで主処理ユニット３６は参照信号メモ
リ機構４２内にこの映像信号を参照信号としてメモリし
、この参照信号は主処理ユニット３６によって次のスト
リップされた端部２０を示す映像信号と比較するため再
現される。その後他のストリップされた電線素子１３ａ
の端部２０ａがレンズ３２と照明区域２６間に導入され
たときこれに対応する映像信号が参照信号メモリ区域４
２内にメモリされた参照信号と比較され、この端部２０
ａがキーボード３８、押釦スイッチ３９又は他の入力機
構４０によってオペレータにより定められた許容値内で
あり参照信号を作るために用いられた端部２０に合致す
るか否かが検査される。そして合致したときはこの端部
２０ａはコンベアに沿っての移動を継続され第２の区域
によって処理されるようになる。若し合致しないときは
エラー信号が作られエラー信号メモリ機構４４内に主処
理ユニット３６によってメモリされる。
そしてこの端部２０ａが第２の区域２２に達したときこ
の正しくストリップされない端部２０ａに端子が取り付
けられるのを阻止するため端子取付機構２３が制御され
る。この電線素子１３ａは次いで端子を取り付けられる
ことなく第２の区域２２を越えて移動される。第２の区
域における端子取付機構２３はコンベア区域の既知の番
号の部分又は検査区域２４の後の区域に配置されている
。従ってこの区域の数を数えることによって端子取付機
構２３を制御して正しくストリップされていない端部に
のみ端子取付を行わないようにすることができる。この
機能は遅延機構その他によっても達成することができる
。
第２図に示す実施例においてはエラー信号メモリ機構４
４が主処理ユニット３６にのみ接続されており、他方こ
の主処理ユニット３６は第２の区域２２における端子取
付機構２３に接続され、これを制御している。従って主
処理ユニット３Ｇが正しくストリップされていない端部
２０ａが第２の区域２２に達したときエラー信号メモリ
区域４４を調べ、エラー信号が作られているときには端
部２０ａに対する端子取付機構２３の作業を阻止せしめ
る。
第３図に示す実施例においては主処理ユニット３６は端
子取付機構２３に連結されておらず、正しくストリップ
されていない端部が検出されたとき主処理ユニット３６
は単にエラー信号をエラー信号メモリ機構４４ａに送る
のみである。
エラー信号メモリ機構４４ａはこの正しくストリップさ
れていない端部の所在を確保しており、所望の時刻に端
子取付機構２３を一時的に消勢して正しくストリップさ
れていない端部２０ａが処理されないようにしている。
第３図の例では参照信号メモリ機構４２ａは第２図で説
明したようにオペレータによって作られた複数の異なる
参照信号が区域Ｒ１，Ｒ２゜Ｒ３，Ｒ４内にメモリされ
る。比較のため一般的に設定された“一般的参照信号”
が種々の人力機構を介してオペレータによって定められ
る。
これは電線処理装置１０が限られた数のタイプの電線素
子のみを処理する場合及び異なる参照信号に対応する異
なる組のパラメータを容易に且つ頻繁に切り換える必要
がある場合に好ましい。この構成は更に電線処理装置１
０によって複数タイプの電線素子が規則正しく且つ操り
返しシーケンスで処理されるとき好適である。この異な
る組のパラメータを示す異なる参照信号が主処理ユニッ
ト３６によって順次に取り出され、種々のタイプの電線
素子が正しく処理されるようになる。
この第３図に示す参照信号メモリ機構４２ａは第２図の
ものと同様に容易に用いることができる。
エラー信号が発生したか否かは映像信号がビデオモニタ
４６に送られたときオペレータによって検査される。即
ちオペレータは検査区域２４を周期的にモニタすること
ができる。
更に主処理ユニット３６はエラー信号メモリ機構４４に
送られるエラー信号の数を数えるためのエラーカウンタ
４８を有する。このカウンタ４８を用いることによって
所定数のエラー信号が発生したとき主処理ユニット３６
が操作され電線処理装置１０全体を停止せしめ、又所定
数のコンベア区域のために照明区域２６とレンズ３２間
に送られて来る電線素子端部が零のときは同じく電線処
理装置１０全体を停止せしめる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明電線処理装置の平面図、第２図はその制
御手段説明図、第３図は本発明の他の実施例説明図であ
る。 １０・・・電線処理装置、１２．　、　、コンベア、１
３，１３３・・・電線素子、１４・・・矢印、１８・・
・電線ストリップ機構、２０゜２０ａ・・・端部、２２
・・・第２の区域、２３・・・端子取付機構、２４・・
・検査区域、２６・・・照明区域、２８・・・光源、３
０・・・半透明面、３２・・・レンズ、３４・・・コン
バータ、３６・・・主処理ユニット、３８・・・キーボ
ード、４０・・・入力機構、４２゜４２ａ・・・参照信
号メモリ機構、４４，４４３・・・エラー信号メモリ機
構、４６・・・ビデオモニタ、４８・・・エラーカウン
タ。

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）通路に沿って一方向に間歇的に電線素子を送るた
    めのコンベアと、 前記コンベアが停止し前記電線素子の少なくとも一端部
    が前記コンベアに沿った第１の区域に位置している間に
    前記端部から絶縁を除去して所定の寸法、品質特性を有
    せしめるようにするため前記第１の区域に設けた電線ス
    トリップ機構と、 前記電線素子の端部から絶縁が除去された後で前記コン
    ベアが停止し前記端部が前記第１の区域より下流側で前
    記コンベアに沿った第２の区域に位置されている間にこ
    の端部に電線端子を取り付けるため前記第２の区域に設
    けた端子取付機構と、 前記端部から絶縁が除去された後でこれに電線端子が取
    り付けられる前に前記端部を検査し、この絶縁の除去さ
    れた端部が前記所定の品質に合致しないとき端子取付を
    行わないように前記端子取付機構を制御するための制御
    機構とより成り、 この制御機構は前記コンベアが停止し前記端部が前記第
    １の区域と前記第２の区域の間の第３の区域に位置して
    いる間に前記絶縁の除去された端部の光学像を作るため
    前記第３の区域に配置された光学機構と、 前記光学像を電気的映像信号に変換する機構と、 絶縁を除去された端部の所定の特性を示す参照信号を作
    り主処理ユニットに加える入力機構と、オペレータの指
    令に基づいて前記主処理ユニットが前記映像信号を受け
    取り前記参照信号に変換する検査モードにおいて前記主
    処理ユニットから前記参照信号を受け取りメモリするた
    めの第１メモリ区域と、 前記電気的映像信号を受け取り、前記参照信号と比較し
    、その差が所定の許容値を越えたとき正しく絶縁が除去
    されていないことを示すエラー信号を作る主処理ユニッ
    トと、 前記エラー信号を受け取りメモリするための第２メモリ
    区域とより成り、 前記第２メモリ区域が特定の電線素子端部に関連するエ
    ラー信号を受け取ったときこの特定の電線素子端部に対
    する端子の取付を行わないように前記端子取付機構を制
    御することを特徴とする電線処理装置。
  2. （２）前記許容値はオペレータによりキーボードを介し
    て設定される特許請求の範囲第１項記載の電線処理装置
    。
  3. （３）前記許容値はオペレータが押釦スイッチの組を制
    御することによって設定される特許請求の範囲第１項記
    載の電線処理装置。
  4. （４）前記光学像を示すビデオ信号がビデオデスプレイ
    機構によって表示される特許請求の範囲第２項又は第３
    項記載の電線処理装置。
  5. （５）前記主処理ユニットはカウンターによって正しく
    絶縁の除去されていない電線素子端部の数を数え、この
    数が所定数になったとき装置全体を停止する特許請求の
    範囲第４項記載の電線処理装置。
  6. （６）前記光学像は光源と、前記絶縁を除去された電線
    素子端部が前記光源に送られてきたとき光学像を受け取
    るため前記光源に対向して配置された光学機構とによっ
    てつくられる特許請求の範囲第５項記載の電線処理装置
    。
  7. （７）前記主処理機構は電線素子端部が前記端子取付機
    構に達したとき前記第２メモリ機構を調べ、この端部の
    ためのエラー信号がメモリされていたとき前記主処理ユ
    ニットが前記端子取付機構を制御して端子取付を中止せ
    しめる特許請求の範囲第１項記載の電線処理装置。
  8. （８）電線素子端部が前記端子取付機構に達したとき前
    記第２メモリ機構にエラー信号がメモリされていれば前
    記第２メモリ機構が前記端子取付機構を制御して端子取
    付を中止せしめる特許請求の範囲第１項記載の電線処理
    装置。
  9. （９）前記第１メモリ機構は電線素子端部の複数の特性
    の組に対応する複数の参照信号をメモリし、オペレータ
    が映像信号との比較のための参照信号として用いる特性
    の組を前記入力機構を介して選択する特許請求の範囲第
    ７項又は第８項記載の電線処理装置。
  10. （１０）前記第１メモリ機構は電線素子端部の複数の特
    性の組に対応する複数の参照信号をメモリし、前記主処
    理ユニットは一定の繰り返しシーケンスで変わる複数の
    タイプの電線素子と比較するための参照信号を作るため
    前記特性の組を順次に取り出す特許請求の範囲第７項又
    は第８項記載の電線処理装置。
  11. （１１）通路に沿って間歇的に絶縁電線素子を送るため
    のコンベアと、 前記電線素子の一端部から絶縁を除去して所定の特性を
    有せしめるようにするための電線ストリップ機構と、 前記絶縁が除去された端部に電線端子を取り付けるため
    の端子取付機構と、 前記電線ストリップ機構と前記端子取付機構との間に配
    置され前記絶縁の除去された電線素子の端部が通過した
    ときその光学像を作るための機構と、 前記光学像を映像信号に変換するための機構と、 前記所定の特性を示す参照信号を作るための機構と、 前記参照信号を受け取り、メモリし、前記映像信号を前
    記参照信号と比較し、比較による差が所定の許容値を越
    えたときエラー信号を発生し、このエラー信号に対応す
    る電線素子を判別する、オペレータの指令に基づいて前
    記映像信号を受け取り前記参照信号に変換する検査モー
    ドを有する主処理ユニットと、前記エラー信号を受け取
    り、前記コンベアが前記所定の特性からはみ出す、正し
    く絶縁の除去されていない電線素子の端部を前記端子処
    理機構に導いたとき前記端子取付機構の作動を阻止せし
    めるための機構とより成ることを特徴とする電線処理装
    置。
  12. （１２）前記許容値はオペレータによりキーボードを介
    して設定される特許請求の範囲第１０項記載の電線処理
    装置。
  13. （１３）前記許容値はオペレータが押釦スイッチの組を
    制御することによって設定される特許請求の範囲第１０
    項記載の電線処理装置。
  14. （１４）前記光学像を示すビデオ信号がビデオデスプレ
    イ機構によって表示される特許請求の範囲第１２項又は
    第１３項記載の電線処理装置。
  15. （１５）前記主処理ユニットはカウンターによって数え
    られた正しく絶縁の除去されていない電線素子端部の数
    が所定数になったとき装置全体を停止される特許請求の
    範囲第１４項記載の電線処理装置。
  16. （１６）前記光学像は光源と、前記絶縁を除去された電
    線素子端部が前記光源位置に送られてきたとき光学像を
    受け取るため前記光源に対向して配置された光学機構と
    によって作られる特許請求の範囲第１５項記載の電線処
    理装置。
JP61252161A 1986-02-21 1986-10-24 電線処理装置 Pending JPS62198739A (ja)

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US06/831,533 US4649621A (en) 1986-02-21 1986-02-21 Wire processing apparatus having control means
US831533 1986-02-21

Publications (1)

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US (1) US4649621A (ja)
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