JP2624054B2 - 電線皮剥ぎ状態検査方法 - Google Patents
電線皮剥ぎ状態検査方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、電線の皮剥ぎ状態を
検査する電線皮剥ぎ状態検査方法に関する。
検査する電線皮剥ぎ状態検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、自動車のワイヤハーネス等に用い
られる電線の先端部の皮剥ぎ状態を検査する方法として
例えば図１３に示すように、導通を調べる方法がある。
られる電線の先端部の皮剥ぎ状態を検査する方法として
例えば図１３に示すように、導通を調べる方法がある。
【０００３】即ち、図１３に示すように、バッテリ１，
抵抗２，発光ダイオード３を直列接続した導通検出回路
を設け、この導通検出回路の一端を電線４の芯線に接続
し、他端を接触子５に接続し、この接触子５を皮剥ぎに
よって露出された電線４の芯線６に接触させ、導通検出
回路の発光ダイオード３に電流が流れて発光ダイオード
３が点灯するか否かを調べ、電線４の先端部の皮剥ぎが
ある程度良好に行われていれば、芯線６と接触子５とが
確実に接触して発光ダイオード３が点灯するため、逆に
発光ダイオード３の点灯によって電線４の皮剥ぎ状態が
良好であることがわかり、発光ダイオード３が点灯しな
ければ電線４の皮剥ぎ状態が不良であることがわかる。
抵抗２，発光ダイオード３を直列接続した導通検出回路
を設け、この導通検出回路の一端を電線４の芯線に接続
し、他端を接触子５に接続し、この接触子５を皮剥ぎに
よって露出された電線４の芯線６に接触させ、導通検出
回路の発光ダイオード３に電流が流れて発光ダイオード
３が点灯するか否かを調べ、電線４の先端部の皮剥ぎが
ある程度良好に行われていれば、芯線６と接触子５とが
確実に接触して発光ダイオード３が点灯するため、逆に
発光ダイオード３の点灯によって電線４の皮剥ぎ状態が
良好であることがわかり、発光ダイオード３が点灯しな
ければ電線４の皮剥ぎ状態が不良であることがわかる。
【０００４】また、その他の方法として図１４に示すよ
うに、光源を収納した筐体７と、この筐体７に対峙して
他の筐体８を設け、筐体７に２個スリット９ａ，９ｂを
形成し、筐体８のスリット９ａ，９ｂに対向する位置に
受光素子を設け、両筐体７，８間において、一方のスリ
ット１４ａから光を芯線６が遮り、他方のスリット９ｂ
からの光を外皮が遮るように電線４を定速移動させ、両
受光素子の出力信号波形の変化から、皮剥ぎ後の芯線６
の断面積を導出し、皮剥ぎ状態を検出する方法もある。
うに、光源を収納した筐体７と、この筐体７に対峙して
他の筐体８を設け、筐体７に２個スリット９ａ，９ｂを
形成し、筐体８のスリット９ａ，９ｂに対向する位置に
受光素子を設け、両筐体７，８間において、一方のスリ
ット１４ａから光を芯線６が遮り、他方のスリット９ｂ
からの光を外皮が遮るように電線４を定速移動させ、両
受光素子の出力信号波形の変化から、皮剥ぎ後の芯線６
の断面積を導出し、皮剥ぎ状態を検出する方法もある。
【０００５】しかし、これらの方法では、電線４の先端
部の外皮が皮剥ぎされて芯線６が露出していることはわ
かるが、芯線６の形状，即ち露出している芯線６の長さ
や太さ，はみ出しの有無などは検出できない。
部の外皮が皮剥ぎされて芯線６が露出していることはわ
かるが、芯線６の形状，即ち露出している芯線６の長さ
や太さ，はみ出しの有無などは検出できない。
【０００６】さらに、他の方法として画像処理による検
査方法も従来から行われており、例えば特開昭５７−１
９８８５０号公報に記載のように、１次元イメージセン
サによる画像を２値化処理し、被覆ダレ及び剥離位置ず
れの状態を検出する方法や、特開昭５９−２１６０４４
号公報に記載のように、電線端末をはさんでこれに平行
光源を照射し、その影をこの電線と直角方向の１次元受
光手段により受光し、この受光手段を電線方向に移動さ
せてそのときの受光情報から電線端末の良，不良を検査
する方法などがある。
査方法も従来から行われており、例えば特開昭５７−１
９８８５０号公報に記載のように、１次元イメージセン
サによる画像を２値化処理し、被覆ダレ及び剥離位置ず
れの状態を検出する方法や、特開昭５９−２１６０４４
号公報に記載のように、電線端末をはさんでこれに平行
光源を照射し、その影をこの電線と直角方向の１次元受
光手段により受光し、この受光手段を電線方向に移動さ
せてそのときの受光情報から電線端末の良，不良を検査
する方法などがある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、皮剥ぎされた
電線４の先端部は、実際には図１５に示すように種々の
形状をなしており、芯線のはみ出し、ばらけ、広がり
（図１５（ａ），（ｂ），（ｃ）をそれぞれ参照）や、
外皮の欠損（図１５（ｄ）参照）、芯線の変形（図１５
（ｅ）参照）などがあり、これらは圧着端子を圧着する
上で支障があるため、皮剥ぎ不良とされるべきである
が、従来の画像処理による方法ではこのような種々の電
線の先端部の細かな形状までは検出できず、精度の高い
信頼性の優れた検査を行うことができないという問題点
があった。
電線４の先端部は、実際には図１５に示すように種々の
形状をなしており、芯線のはみ出し、ばらけ、広がり
（図１５（ａ），（ｂ），（ｃ）をそれぞれ参照）や、
外皮の欠損（図１５（ｄ）参照）、芯線の変形（図１５
（ｅ）参照）などがあり、これらは圧着端子を圧着する
上で支障があるため、皮剥ぎ不良とされるべきである
が、従来の画像処理による方法ではこのような種々の電
線の先端部の細かな形状までは検出できず、精度の高い
信頼性の優れた検査を行うことができないという問題点
があった。
【０００８】そこでこの発明は、上記のような問題点を
解消するためになされたもので、皮剥ぎ端の座標位置、
芯線の長さ，太さ、芯線のはみ出しの有無などを基準と
して皮剥ぎ状態の良，不良を判断し、電線の種々の先端
部形状に対して精度の高い信頼性の優れた皮剥ぎ状態の
検査を行えるようにすることを目的とする。
解消するためになされたもので、皮剥ぎ端の座標位置、
芯線の長さ，太さ、芯線のはみ出しの有無などを基準と
して皮剥ぎ状態の良，不良を判断し、電線の種々の先端
部形状に対して精度の高い信頼性の優れた皮剥ぎ状態の
検査を行えるようにすることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項１
記載の電線皮剥ぎ状態検査方法は、皮剥ぎ装置により皮
剥ぎされ圧着端子が圧着される電線の皮剥ぎ状態を検査
する電線皮剥ぎ状態検査方法であって、皮剥ぎによって
露出した電線の先端部の芯線付近を照明手段により照明
すると共に、前記電線をはさんで前記照明手段の対向位
置から撮像手段により前記芯線付近を撮像して輝度デー
タからなる画像を得、その画像面上において電線の画像
とクロスする互いに平行な一対の第１の基準線を設定し
て、それら第１の基準線と電線の外皮の境界線との各交
点からその電線の傾きを求め、その電線の傾きに基づい
て前記芯線の基端部をはさむ一対の外皮の皮剥ぎ端の座
標位置を導出し、これら座標位置が規格範囲内か否かを
検出するとともに、前記電線の傾きと同じ傾きの直線と
直交しかつ前記芯線とクロスする互いに平行な一対の第
２の基準線を設定して、それら両第２の基準線と芯線の
境界線との各交点からその芯線の一側及び他側の傾きを
それぞれ求め、前記芯線をはさみ込む位置にそれぞれ前
記一側及び他側の傾きのウインドを一対設定し、これら
ウインドを基準として芯線のはみ出しの有無を検出して
皮剥ぎ状態の良，不良を判断することを特徴とする。 ま
た、請求項２記載のように、第２の基準線のうち芯線基
端部側の基準線と芯線の境界線との各交点からその芯線
の基端部における芯線幅を導出し、この芯線幅が規格範
囲内か否かを検出するとともに、それぞれ前記外皮の皮
剥ぎ端の各座標位置を通りかつ前記芯線の一側又は他側
の傾きと同じ傾きの一対のウインドを設定し、それらウ
インドを基準として芯線のはみ出しの有無を検出して皮
剥ぎ状態の良，不良を判断してもよい。なお、請求項３
記載のように、芯線の一側及び他側の傾きの平均をその
芯線の傾きとして導出し、前記皮剥ぎ端の両座標位置の
中点を通りかつ前記芯線の傾きと同じ傾きのウインドを
設定し、そのウインドと前記芯線の境界線との交点を芯
線先端部の座標位置として導出し、前記芯線先端部の座
標位置が規格範囲内か否かを検出するとともに、前記皮
剥ぎ端の両座標位置の中点と前記芯線先端部の座標位置
とから前記芯線の長さを求め、前記芯線の長さ寸法が規
格範囲内か否かを 検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断
してもよい。さらに、請求項４記載のように、芯線先端
部の座標位置の芯線基端側に前記芯線の傾きと同じ傾き
の直線と直交するウインドを設定し、そのウインドと前
記芯線の境界線との各交点から前記芯線先端部における
芯線幅を導出し、その芯線幅が規格範囲内か否かを検出
して皮剥ぎ状態の良，不良を判断してもよい。また、請
求項５記載のように、芯線先端部の座標位置の芯線先端
側に前記芯線の傾きと同じ傾きの直線と直交するウイン
ドを設定し、そのウインドを基準として芯線の先端での
はみ出しの有無を検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断
してもよい。なお、請求項６記載の電線皮剥ぎ状態検査
方法は、皮剥ぎ装置により皮剥ぎされ圧着端子が圧着さ
れる電線の皮剥ぎ状態を検査する電線皮剥ぎ状態検査方
法であって、皮剥ぎによって露出した電線の先端部の芯
線付近を照明手段により照明すると共に、前記電線をは
さんで前記照明手段の対向位置から撮像手段により前記
芯線付近を撮像して輝度データからなる画像を得、その
画像面上において電線の芯線の画像とクロスする互いに
平行な一対の基準線が設定され、それら基準線と前記芯
線の境界線との各交点から前記芯線の傾きを求めるとと
もに、その芯線の傾きに基づいて、前記芯線の基端部を
挟む一対の外皮の皮剥ぎ端の座標位置を導出してその座
標位置が規格範囲内か否かを検出し、さらに、両皮剥ぎ
端の座標位置を通る直線と平行でかつ前記芯線の基端側
とクロスするウインドを設定し、このウインドと前記芯
線と境界線との一対の交点からその芯線の基端部におけ
る芯線幅を導出し、この芯線幅が規格範囲内か否かを検
出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断することを特徴とす
る。
記載の電線皮剥ぎ状態検査方法は、皮剥ぎ装置により皮
剥ぎされ圧着端子が圧着される電線の皮剥ぎ状態を検査
する電線皮剥ぎ状態検査方法であって、皮剥ぎによって
露出した電線の先端部の芯線付近を照明手段により照明
すると共に、前記電線をはさんで前記照明手段の対向位
置から撮像手段により前記芯線付近を撮像して輝度デー
タからなる画像を得、その画像面上において電線の画像
とクロスする互いに平行な一対の第１の基準線を設定し
て、それら第１の基準線と電線の外皮の境界線との各交
点からその電線の傾きを求め、その電線の傾きに基づい
て前記芯線の基端部をはさむ一対の外皮の皮剥ぎ端の座
標位置を導出し、これら座標位置が規格範囲内か否かを
検出するとともに、前記電線の傾きと同じ傾きの直線と
直交しかつ前記芯線とクロスする互いに平行な一対の第
２の基準線を設定して、それら両第２の基準線と芯線の
境界線との各交点からその芯線の一側及び他側の傾きを
それぞれ求め、前記芯線をはさみ込む位置にそれぞれ前
記一側及び他側の傾きのウインドを一対設定し、これら
ウインドを基準として芯線のはみ出しの有無を検出して
皮剥ぎ状態の良，不良を判断することを特徴とする。 ま
た、請求項２記載のように、第２の基準線のうち芯線基
端部側の基準線と芯線の境界線との各交点からその芯線
の基端部における芯線幅を導出し、この芯線幅が規格範
囲内か否かを検出するとともに、それぞれ前記外皮の皮
剥ぎ端の各座標位置を通りかつ前記芯線の一側又は他側
の傾きと同じ傾きの一対のウインドを設定し、それらウ
インドを基準として芯線のはみ出しの有無を検出して皮
剥ぎ状態の良，不良を判断してもよい。なお、請求項３
記載のように、芯線の一側及び他側の傾きの平均をその
芯線の傾きとして導出し、前記皮剥ぎ端の両座標位置の
中点を通りかつ前記芯線の傾きと同じ傾きのウインドを
設定し、そのウインドと前記芯線の境界線との交点を芯
線先端部の座標位置として導出し、前記芯線先端部の座
標位置が規格範囲内か否かを検出するとともに、前記皮
剥ぎ端の両座標位置の中点と前記芯線先端部の座標位置
とから前記芯線の長さを求め、前記芯線の長さ寸法が規
格範囲内か否かを 検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断
してもよい。さらに、請求項４記載のように、芯線先端
部の座標位置の芯線基端側に前記芯線の傾きと同じ傾き
の直線と直交するウインドを設定し、そのウインドと前
記芯線の境界線との各交点から前記芯線先端部における
芯線幅を導出し、その芯線幅が規格範囲内か否かを検出
して皮剥ぎ状態の良，不良を判断してもよい。また、請
求項５記載のように、芯線先端部の座標位置の芯線先端
側に前記芯線の傾きと同じ傾きの直線と直交するウイン
ドを設定し、そのウインドを基準として芯線の先端での
はみ出しの有無を検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断
してもよい。なお、請求項６記載の電線皮剥ぎ状態検査
方法は、皮剥ぎ装置により皮剥ぎされ圧着端子が圧着さ
れる電線の皮剥ぎ状態を検査する電線皮剥ぎ状態検査方
法であって、皮剥ぎによって露出した電線の先端部の芯
線付近を照明手段により照明すると共に、前記電線をは
さんで前記照明手段の対向位置から撮像手段により前記
芯線付近を撮像して輝度データからなる画像を得、その
画像面上において電線の芯線の画像とクロスする互いに
平行な一対の基準線が設定され、それら基準線と前記芯
線の境界線との各交点から前記芯線の傾きを求めるとと
もに、その芯線の傾きに基づいて、前記芯線の基端部を
挟む一対の外皮の皮剥ぎ端の座標位置を導出してその座
標位置が規格範囲内か否かを検出し、さらに、両皮剥ぎ
端の座標位置を通る直線と平行でかつ前記芯線の基端側
とクロスするウインドを設定し、このウインドと前記芯
線と境界線との一対の交点からその芯線の基端部におけ
る芯線幅を導出し、この芯線幅が規格範囲内か否かを検
出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断することを特徴とす
る。
【００１０】
【作用】この発明においては、照明手段により電線の先
端部の芯線付近を照明し、電線をはさんで照明手段の対
向位置から撮像手段により芯線付近を撮像すると、得ら
れた画像において電線の先端部により光が遮られた部分
は暗く、それ以外は透過光によって明るくなり、鮮明な
濃淡画像が得られ、この画像の輝度データから外皮の皮
剥ぎ端の撮像面上の座標位置、及び芯線の先端の撮像面
上の座標位置，芯線の傾きなどの芯線の形状を導出し、
皮剥ぎ端の座標位置が規格範囲内か、芯線の長さ，太さ
が規格範囲内か、芯線のはみ出しが有るか無いかによっ
て皮剥ぎ状態の良否が判断されるため、電線の種々の先
端部形状に対して精度の高い信頼性の優れた検査が可能
になる。
端部の芯線付近を照明し、電線をはさんで照明手段の対
向位置から撮像手段により芯線付近を撮像すると、得ら
れた画像において電線の先端部により光が遮られた部分
は暗く、それ以外は透過光によって明るくなり、鮮明な
濃淡画像が得られ、この画像の輝度データから外皮の皮
剥ぎ端の撮像面上の座標位置、及び芯線の先端の撮像面
上の座標位置，芯線の傾きなどの芯線の形状を導出し、
皮剥ぎ端の座標位置が規格範囲内か、芯線の長さ，太さ
が規格範囲内か、芯線のはみ出しが有るか無いかによっ
て皮剥ぎ状態の良否が判断されるため、電線の種々の先
端部形状に対して精度の高い信頼性の優れた検査が可能
になる。
【００１１】
【実施例】図１はこの発明の電線皮剥ぎ状態検査方法の
一実施例を示し、検査に用いられる検査装置の概略構成
を示す図である。
一実施例を示し、検査に用いられる検査装置の概略構成
を示す図である。
【００１２】まず、検査装置について説明すると、図１
に示すように、照明手段１１により皮剥ぎされた電線４
の先端部の芯線６付近が照明され、電線４をはさんで照
明手段１１の対向位置からテレビジョンカメラ，２次元
ＣＣＤカメラなどの撮像手段１２により芯線６付近が撮
像され、撮像手段１２による画像がモニタ用テレビジョ
ン受像機（以下単にモニタという）１３に表示され、画
像処理手段１４により画像が処理され、各画素の輝度デ
ータから、外皮の皮剥ぎ端の撮像手段１２の撮像面上に
おける座標位置が導出されると共に、芯線６の先端の撮
像面上における座標位置，芯線６の傾きなどの芯線６の
形状が導出される。
に示すように、照明手段１１により皮剥ぎされた電線４
の先端部の芯線６付近が照明され、電線４をはさんで照
明手段１１の対向位置からテレビジョンカメラ，２次元
ＣＣＤカメラなどの撮像手段１２により芯線６付近が撮
像され、撮像手段１２による画像がモニタ用テレビジョ
ン受像機（以下単にモニタという）１３に表示され、画
像処理手段１４により画像が処理され、各画素の輝度デ
ータから、外皮の皮剥ぎ端の撮像手段１２の撮像面上に
おける座標位置が導出されると共に、芯線６の先端の撮
像面上における座標位置，芯線６の傾きなどの芯線６の
形状が導出される。
【００１３】そして、導出された皮剥ぎ端の座標位置が
規格範囲内か否か、芯線６の長さ，太さが規格範囲内か
否か、芯線６のはみ出しが有るか否かが画像処理手段１
４により導出され、電線４の皮剥ぎ状態の良，不良が判
断され、その結果等がプリンタ１５やディスプレイ１６
に表示される。
規格範囲内か否か、芯線６の長さ，太さが規格範囲内か
否か、芯線６のはみ出しが有るか否かが画像処理手段１
４により導出され、電線４の皮剥ぎ状態の良，不良が判
断され、その結果等がプリンタ１５やディスプレイ１６
に表示される。
【００１４】また、１７はオペレーション用キーボード
であり、画像処理に必要なプログラムデータ等の入力が
行われる。
であり、画像処理に必要なプログラムデータ等の入力が
行われる。
【００１５】つぎに、画像処理手段１４による画像処理
について図２を参照して説明すると、いわゆるランレン
グス符号化法による処理を行っており、１本の走査線に
沿った白，黒情報の変化から対象物たる電線４の形状等
を導出することを基本としている。
について図２を参照して説明すると、いわゆるランレン
グス符号化法による処理を行っており、１本の走査線に
沿った白，黒情報の変化から対象物たる電線４の形状等
を導出することを基本としている。
【００１６】即ち、図２に示すように、予め定められた
座標位置に、電線４の先端部の画像上に重畳して電線４
の画像とクロスする第１の基準線Ｗ10，Ｗ10′がそれぞ
れ設定され、両基準線Ｗ10，Ｗ10′上の各画素の輝度デ
ータから、両基準線Ｗ10，Ｗ10′と電線４の外皮の境界
線との交点ａ，ｂ，ｃ，ｄが導出される。
座標位置に、電線４の先端部の画像上に重畳して電線４
の画像とクロスする第１の基準線Ｗ10，Ｗ10′がそれぞ
れ設定され、両基準線Ｗ10，Ｗ10′上の各画素の輝度デ
ータから、両基準線Ｗ10，Ｗ10′と電線４の外皮の境界
線との交点ａ，ｂ，ｃ，ｄが導出される。
【００１７】このとき、撮像手段１２により撮像してい
る電線４を背後から照明するため、電線４により光が遮
られて電線４の部分だけが暗くなり、電線４の部分が黒
く、その周囲が白い画像が得られる。
る電線４を背後から照明するため、電線４により光が遮
られて電線４の部分だけが暗くなり、電線４の部分が黒
く、その周囲が白い画像が得られる。
【００１８】そして、図２に示す点ｃ，ｄそれぞれから
＋Ｘ方向，−Ｘ方向へ所定の画素数α1 だけ離れた点
ｅ，ｆが設定され、更に点ｅ，ｆを始点とし、線分ａｃ
の傾き、即ち電線４の傾きθ1 と同じ傾きで皮剥ぎ端検
出用ウィンド即ち直線Ｗ12，Ｗ13が設定され、皮剥ぎ端
に相当する点ｇ，ｈがそれぞれ導出され、点ｃ，ｄの中
間点ｉを始点とし、傾きθ1 のウィンドＷ11が設定さ
れ、芯線６の仮りの先端に相当する点ｊが導出される。
＋Ｘ方向，−Ｘ方向へ所定の画素数α1 だけ離れた点
ｅ，ｆが設定され、更に点ｅ，ｆを始点とし、線分ａｃ
の傾き、即ち電線４の傾きθ1 と同じ傾きで皮剥ぎ端検
出用ウィンド即ち直線Ｗ12，Ｗ13が設定され、皮剥ぎ端
に相当する点ｇ，ｈがそれぞれ導出され、点ｃ，ｄの中
間点ｉを始点とし、傾きθ1 のウィンドＷ11が設定さ
れ、芯線６の仮りの先端に相当する点ｊが導出される。
【００１９】このとき、ウィンドＷ11，Ｗ12，Ｗ13は各
々平行になる。
々平行になる。
【００２０】つぎに、図２に示す点ｇからＸ，Ｙ方向へ
それぞれ所定の画素数α2 ，α3 だけ離れた点を通り、
線分ａｃの延長線に直交するウィンドＷ14 （第２の基準
線）が設定され、点ｊからＸ，Ｙ方向へそれぞれ所定の
画素数α4 ，α5 だけ離れた点を通り、線分ａｃの延長
線に直交するウィンドＷ15 （第２の基準線）が設定さ
れ、両ウィンドＷ14，Ｗ15上の各画素の輝度データか
ら、両ウィンドＷ14，Ｗ15と芯線６の境界線との交点
ｋ，ｌ，ｍ，ｎが導出され、線分ｋｍ，ｌｎそれぞれの
傾きθ2 ，θ3 が芯線６の左側及び右側の傾きとして導
出される。
それぞれ所定の画素数α2 ，α3 だけ離れた点を通り、
線分ａｃの延長線に直交するウィンドＷ14 （第２の基準
線）が設定され、点ｊからＸ，Ｙ方向へそれぞれ所定の
画素数α4 ，α5 だけ離れた点を通り、線分ａｃの延長
線に直交するウィンドＷ15 （第２の基準線）が設定さ
れ、両ウィンドＷ14，Ｗ15上の各画素の輝度データか
ら、両ウィンドＷ14，Ｗ15と芯線６の境界線との交点
ｋ，ｌ，ｍ，ｎが導出され、線分ｋｍ，ｌｎそれぞれの
傾きθ2 ，θ3 が芯線６の左側及び右側の傾きとして導
出される。
【００２１】そして、上記したように導出された傾きθ
2 ，θ3の平均θ4 が芯線６の傾きとされ、線分ｇｈの
中点ｏより傾きθ4 のウィンドＷ16が設定され、芯線６
の真の先端に相当する点ｐが導出され、点ｐよりＸ，Ｙ
方向へ所定の画素数α6 ，α7 だけ離れた点を通り、傾
きθ4 のウィンドＷ16に直交するウィンドＷ17が設定さ
れ、このウィンドＷ17と芯線６の境界線との交点ｑ，ｒ
が導出され、線分ｑｒの長さが芯線６の先端における幅
（芯線幅）として導出される。
2 ，θ3の平均θ4 が芯線６の傾きとされ、線分ｇｈの
中点ｏより傾きθ4 のウィンドＷ16が設定され、芯線６
の真の先端に相当する点ｐが導出され、点ｐよりＸ，Ｙ
方向へ所定の画素数α6 ，α7 だけ離れた点を通り、傾
きθ4 のウィンドＷ16に直交するウィンドＷ17が設定さ
れ、このウィンドＷ17と芯線６の境界線との交点ｑ，ｒ
が導出され、線分ｑｒの長さが芯線６の先端における幅
（芯線幅）として導出される。
【００２２】さらに、図２に示す点ｋよりＸ，Ｙ方向へ
それぞれ所定画素数α8 ，α9 、点ｌよりＸ，Ｙ方向へ
それぞれ所定画素数α10，α11だけ離れたウィンドＷ14
上の点ｓ，ｔを始点とし、傾きθ2 ，θ3 のウィンドＷ
18，Ｗ19が設定され、芯線６のはみ出し検出の基準とさ
れると共に、点ｐよりＸ，Ｙ方向へそれぞれ所定画素数
α12，α13だけ離れた点ｕを通り、傾きθ4 のウィンド
Ｗ16に直交するウィンドＷ20が設定され、特に芯線６の
先端でのはみ出し検出の基準とされ、点ｇ，ｈをそれぞ
れ始点とし傾きθ2 ，θ3 のウィンドＷ21，Ｗ22がそれ
ぞれ設定され、これも芯線６のはみ出し検出の基準とさ
れる。
それぞれ所定画素数α8 ，α9 、点ｌよりＸ，Ｙ方向へ
それぞれ所定画素数α10，α11だけ離れたウィンドＷ14
上の点ｓ，ｔを始点とし、傾きθ2 ，θ3 のウィンドＷ
18，Ｗ19が設定され、芯線６のはみ出し検出の基準とさ
れると共に、点ｐよりＸ，Ｙ方向へそれぞれ所定画素数
α12，α13だけ離れた点ｕを通り、傾きθ4 のウィンド
Ｗ16に直交するウィンドＷ20が設定され、特に芯線６の
先端でのはみ出し検出の基準とされ、点ｇ，ｈをそれぞ
れ始点とし傾きθ2 ，θ3 のウィンドＷ21，Ｗ22がそれ
ぞれ設定され、これも芯線６のはみ出し検出の基準とさ
れる。
【００２３】ところで、皮剥ぎ長さ不良，皮剥ぎ太さ不
良の検出は図３に示すように、それぞれウィンドＷ16及
びウィンドＷ14に基づいて行われ、チャック位置不良は
点ｏ，ｐの座標位置に基づいて行われ、図４(a) に示す
ものを良品とした場合に、図４(b) に示すように点
ｏ′，ｐ′となっているものはチャック位置不良であ
る。
良の検出は図３に示すように、それぞれウィンドＷ16及
びウィンドＷ14に基づいて行われ、チャック位置不良は
点ｏ，ｐの座標位置に基づいて行われ、図４(a) に示す
ものを良品とした場合に、図４(b) に示すように点
ｏ′，ｐ′となっているものはチャック位置不良であ
る。
【００２４】また、芯線部，外皮部が異なった角度で変
形している場合、図５に示すようにウィンドＷ11より点
ｊが芯線先端位置と判定されるが実際には点ｊ′であ
り、これら両点ｊ，ｊ′との差から変形不良が検出さ
れ、芯線の扇状広がり不良の検出は、図６に示すように
ウィンドＷ17に基づいて行われる。
形している場合、図５に示すようにウィンドＷ11より点
ｊが芯線先端位置と判定されるが実際には点ｊ′であ
り、これら両点ｊ，ｊ′との差から変形不良が検出さ
れ、芯線の扇状広がり不良の検出は、図６に示すように
ウィンドＷ17に基づいて行われる。
【００２５】さらに、外皮の欠損不良の検出は、図７に
示すように、ウィンドＷ12から皮剥ぎ端として検出され
る点ｈを始点とするウィンドＷ22に基づいて行われ、芯
線のばらけ不良は、図８に示すようにウィンドＷ17に基
づいて芯線幅不足として検出される。
示すように、ウィンドＷ12から皮剥ぎ端として検出され
る点ｈを始点とするウィンドＷ22に基づいて行われ、芯
線のばらけ不良は、図８に示すようにウィンドＷ17に基
づいて芯線幅不足として検出される。
【００２６】一方、芯線はみ出し不良は、図９(a) に示
すようにウィンドＷ19に基づいて検出され、図９(b) に
示すようにはみ出しが多い場合にもウィンドＷ19に基づ
き検出が行われ、芯線幅より太い方が主たる芯線として
判断され、芯線先端からのはみ出し不良の検出は、図１
０に示すようにウィンドＷ20に基づいて行われる。
すようにウィンドＷ19に基づいて検出され、図９(b) に
示すようにはみ出しが多い場合にもウィンドＷ19に基づ
き検出が行われ、芯線幅より太い方が主たる芯線として
判断され、芯線先端からのはみ出し不良の検出は、図１
０に示すようにウィンドＷ20に基づいて行われる。
【００２７】つぎに、皮剥ぎ状態検査の一連の動作につ
いて図１１のフローチャートを参照しつつ説明する。
いて図１１のフローチャートを参照しつつ説明する。
【００２８】まず、図１１に示すように、撮像手段１２
による画像が上記の如く処理され、図２の点ｇ，ｈの座
標位置が導出されて電線４の皮剥ぎ端の座標位置が導出
され（ステップＳ１）、図２の点ｐの座標位置が導出さ
れて芯線６の先端の座標位置が導出されると共に（ステ
ップＳ２）、ウィンドＷ16の傾きθ4 が導出されて芯線
６の傾きが導出される（ステップＳ３）。
による画像が上記の如く処理され、図２の点ｇ，ｈの座
標位置が導出されて電線４の皮剥ぎ端の座標位置が導出
され（ステップＳ１）、図２の点ｐの座標位置が導出さ
れて芯線６の先端の座標位置が導出されると共に（ステ
ップＳ２）、ウィンドＷ16の傾きθ4 が導出されて芯線
６の傾きが導出される（ステップＳ３）。
【００２９】さらに、図２の線分ｏｐの長さが導出され
て芯線６の長さが導出されると共に、ウィンドＷ17上の
点ｑ，ｒを結ぶ線分ｑｒの長さが導出されて芯線６の太
さ（幅）が導出され（ステップＳ４）、図２のウィンド
Ｗ18，Ｗ19，Ｗ20を基準として芯線６のはみ出し及び先
端でのはみ出しの有無が検出されると共に、ばらけや広
がりの有無なども検出され（ステップＳ５）、ウィンド
Ｗ21，Ｗ22を基準として芯線６の皮剥ぎ端近傍でのはみ
出しの有無が検出される（ステップＳ６）。
て芯線６の長さが導出されると共に、ウィンドＷ17上の
点ｑ，ｒを結ぶ線分ｑｒの長さが導出されて芯線６の太
さ（幅）が導出され（ステップＳ４）、図２のウィンド
Ｗ18，Ｗ19，Ｗ20を基準として芯線６のはみ出し及び先
端でのはみ出しの有無が検出されると共に、ばらけや広
がりの有無なども検出され（ステップＳ５）、ウィンド
Ｗ21，Ｗ22を基準として芯線６の皮剥ぎ端近傍でのはみ
出しの有無が検出される（ステップＳ６）。
【００３０】つぎに、点ｇ，ｈの座標位置と規格範囲の
上，下限値が比較され、皮剥ぎ端の座標位置が規格範囲
内にあるか否かが判断されると共に、芯線６の長さ，太
さが規格範囲の上，下限値との比較により規格範囲内か
否かが判断され、更に芯線６のはみ出しやばらけ，広が
りの有無が判断され（ステップＳ７）、皮剥ぎ端の座標
位置が規格範囲内にあり、しかも芯線６の長さ，太さが
規格範囲内にあり、かつ芯線６のはみ出し等がなく、皮
剥ぎ状態の良否判断の基準がすべて良であれば、電線４
の皮剥ぎ状態は良好と判断され、上記基準のいずれかが
不良であれば、電線４の先端部は圧着端子を圧着する上
で支障が生じるため、皮剥ぎ状態は不良と判断されて
良，不良の結果に応じた処理がなされ（ステップＳ
８）、特に不良の場合には当該電線４を除去すべく不良
がオペレータに報知される。
上，下限値が比較され、皮剥ぎ端の座標位置が規格範囲
内にあるか否かが判断されると共に、芯線６の長さ，太
さが規格範囲の上，下限値との比較により規格範囲内か
否かが判断され、更に芯線６のはみ出しやばらけ，広が
りの有無が判断され（ステップＳ７）、皮剥ぎ端の座標
位置が規格範囲内にあり、しかも芯線６の長さ，太さが
規格範囲内にあり、かつ芯線６のはみ出し等がなく、皮
剥ぎ状態の良否判断の基準がすべて良であれば、電線４
の皮剥ぎ状態は良好と判断され、上記基準のいずれかが
不良であれば、電線４の先端部は圧着端子を圧着する上
で支障が生じるため、皮剥ぎ状態は不良と判断されて
良，不良の結果に応じた処理がなされ（ステップＳ
８）、特に不良の場合には当該電線４を除去すべく不良
がオペレータに報知される。
【００３１】ところで、図２は、電線４として芯線６の
長さが比較的短い端子圧着用普通線の場合を示している
が、芯線６がこれに比べて長いジョイント線の場合に
は、上記普通線の場合の画像処理手順とは若干異なり、
以下にその概要を説明する。
長さが比較的短い端子圧着用普通線の場合を示している
が、芯線６がこれに比べて長いジョイント線の場合に
は、上記普通線の場合の画像処理手順とは若干異なり、
以下にその概要を説明する。
【００３２】即ち、図１２に示すように、芯線６の画像
にクロスするように基準線Ｗ30，Ｗ30′が設定され、両
基準線Ｗ30，Ｗ30′と芯線６の境界線との交点Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄが導出され、線分ＡＣの傾きθ1 と線分ＢＤの傾
きθ2 の平均θ3 が芯線６の傾きとされる。
にクロスするように基準線Ｗ30，Ｗ30′が設定され、両
基準線Ｗ30，Ｗ30′と芯線６の境界線との交点Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄが導出され、線分ＡＣの傾きθ1 と線分ＢＤの傾
きθ2 の平均θ3 が芯線６の傾きとされる。
【００３３】つぎに、点Ａから−Ｘ方向へ所定画素数の
点Ｅ、及び点Ｂから＋Ｘ方向へ同じ画素数の点Ｆが設定
され、点Ｅ，Ｆをそれぞれ始点とし、傾きθ3 のウィン
ドＷ31，Ｗ32が設定され、両ウィンドＷ31，Ｗ32と外皮
の皮剥ぎ端面を示す境界線との交点Ｇ，Ｈが導出され、
この点Ｇ，Ｈの座標位置が皮剥ぎ端の座標位置とされ
る。
点Ｅ、及び点Ｂから＋Ｘ方向へ同じ画素数の点Ｆが設定
され、点Ｅ，Ｆをそれぞれ始点とし、傾きθ3 のウィン
ドＷ31，Ｗ32が設定され、両ウィンドＷ31，Ｗ32と外皮
の皮剥ぎ端面を示す境界線との交点Ｇ，Ｈが導出され、
この点Ｇ，Ｈの座標位置が皮剥ぎ端の座標位置とされ
る。
【００３４】さらに、線分ＧＨの傾きθ4 が導出され、
点Ｇから−Ｘ方向，＋Ｙ方向にそれぞれ所定画素数離れ
た点Ｉを始点とし傾きθ4 のウィンドＷ33が設定され、
このウィンドＷ33と芯線６の境界線との交点Ｊ，Ｋが導
出され、線分ＪＫの長さが芯線６の太さとなる。
点Ｇから−Ｘ方向，＋Ｙ方向にそれぞれ所定画素数離れ
た点Ｉを始点とし傾きθ4 のウィンドＷ33が設定され、
このウィンドＷ33と芯線６の境界線との交点Ｊ，Ｋが導
出され、線分ＪＫの長さが芯線６の太さとなる。
【００３５】そして、皮剥ぎ状態検査の一連の動作は普
通線の場合と同様である。
通線の場合と同様である。
【００３６】従って、撮像手段１２による電線４の先端
部の画像の輝度データから外皮の皮剥ぎ端の撮像面上の
座標位置、及び芯線６の先端の撮像面上の座標位置，芯
線６の傾きなどの芯線６の形状を導出し、皮剥ぎ端の座
標位置が規格範囲内か、芯線６の長さ，太さが規格範囲
内か、芯線６のはみ出しが有るか無いかによって皮剥ぎ
状態の良否を判断するため、電線４の種々の先端部形状
に対して精度の高い信頼性の優れた皮剥ぎ状態の検査を
行うことができ、圧着端子を装着するのに適した皮剥ぎ
状態か否かを自動的に的確かつ高精度に判断できる。
部の画像の輝度データから外皮の皮剥ぎ端の撮像面上の
座標位置、及び芯線６の先端の撮像面上の座標位置，芯
線６の傾きなどの芯線６の形状を導出し、皮剥ぎ端の座
標位置が規格範囲内か、芯線６の長さ，太さが規格範囲
内か、芯線６のはみ出しが有るか無いかによって皮剥ぎ
状態の良否を判断するため、電線４の種々の先端部形状
に対して精度の高い信頼性の優れた皮剥ぎ状態の検査を
行うことができ、圧着端子を装着するのに適した皮剥ぎ
状態か否かを自動的に的確かつ高精度に判断できる。
【００３７】さらに、他の実施例として撮像手段をもう
１台設け、この撮像手段により、図１における撮像手段
１２の撮像方向及び電線４の軸線方向の両方向に対して
直角方向から芯線６付近を撮像することにより、１台の
撮像手段１２のいわゆる死角を低減でき、１台の撮像手
段１２だけではわからなかった芯線６の楕円変形，撮像
手段１２の撮像方向への芯線はみ出しや芯線切れをもう
１台の撮像手段の画像に基づいて検出でき、検査精度，
信頼性の向上を図ることができる。
１台設け、この撮像手段により、図１における撮像手段
１２の撮像方向及び電線４の軸線方向の両方向に対して
直角方向から芯線６付近を撮像することにより、１台の
撮像手段１２のいわゆる死角を低減でき、１台の撮像手
段１２だけではわからなかった芯線６の楕円変形，撮像
手段１２の撮像方向への芯線はみ出しや芯線切れをもう
１台の撮像手段の画像に基づいて検出でき、検査精度，
信頼性の向上を図ることができる。
【００３８】なお、検査に用いる装置の構成は、上記実
施例に限定されるものではない。
施例に限定されるものではない。
【００３９】また、画像処理の詳細な手順も図２の場合
に限定されるものでないのは勿論である。
に限定されるものでないのは勿論である。
【００４０】さらに、皮剥ぎ状態の良否判定の基準は、
上記した皮剥ぎ端の座標位置、芯線の長さ，太さ、芯線
のはみ出しの有無だけに限られないのは言うまでもな
い。
上記した皮剥ぎ端の座標位置、芯線の長さ，太さ、芯線
のはみ出しの有無だけに限られないのは言うまでもな
い。
【００４１】
【発明の効果】以上のように、この発明の請求項１記載
の電線皮剥ぎ状態検査方法によれば、撮像手段の撮像面
上に、その撮像手段により撮像される電線の画像とクロ
スする互いに平行な一対の第１の基準線を設定し、それ
ら第１の基準線と電線の外皮の境界線との各交点からそ
の電線の傾きを求め、その電線の傾きに基づいて芯線基
端部をはさむ一対の外皮の皮剥ぎ端の座標位置を導出
し、これら座標位置が規格範囲内か否かを検出するとと
もに、電線の傾きと同じ傾きの直線と直交しかつ芯線と
クロスする互いに平行な一対の第２の基準線を設定し、
それら両第２の基準線と芯線の境界線との各交点からそ
の芯線の一側及び他側の傾きをそれぞれ求め、芯線をは
さみ込む位置にそれぞれ一側及び他側の傾きのウインド
を一対設定し、これらウインドを基準として芯線のはみ
出しの有無を検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断して
いるため、撮像面上の電線先端部の姿勢や皮剥ぎ端の種
々の形状に応じて、皮剥ぎ端の座標位置が規格範囲内か
否かを検出し、また、芯線のはみ出しの有無を検出して
精度の高い信頼性の優れた検査が可能になり、圧着端子
の装着の適否を的確に検査でき、特に電線の皮剥ぎの自
動化ラインにおいて極めて有効な手段である。また、請
求項２記載のように、第２の基準線のうち芯線基端部側
の基準線と芯線の境界線との各交点からその芯線の基端
部における芯線幅を導出し、この芯線幅が規格範囲内か
否かを検出するとともに、それぞれ外皮の皮剥ぎ端の各
座標位置を通りかつ芯線の一側又は他側の傾きと同じ傾
きの一対のウインドを設定し、そのウインドを設定し、
それらウインドを基準として芯線のはみ出しの有無を検
出すれば、電線の傾き及び芯線の傾きに応じてより正確
に芯線基端部における芯線幅が規格範囲内か否かを検出
し、また、芯線のはみ出しの有無を検出することができ
る。さらに、請求項３記載のように、芯線の一側及び他
側の傾きの平均をその芯線の傾きとして導出し、皮剥ぎ
端の両座標位置の中点を通りかつ芯線の傾きと同じ傾き
のウインドを設定し、そのウインドと芯線の境界線との
交点を芯線先端部の座標位置として導出し、その芯線先
端部の座標位置が規格範囲内か否かを検出す るととも
に、皮剥ぎ端の両座標位置の中点と芯線先端部の座標位
置とから前記芯線の長さを求め、芯線の長さ寸法が規格
範囲内か否かを検出すれば、芯線の傾きに応じてより正
確に芯線先端部の座標位置が規格範囲内か否かを検出
し、また、芯線の長さ寸法が規格範囲内か否かを検出す
ることができる。なお、請求項４記載のように、芯線先
端部の座標位置の芯線基端側に芯線の傾きと同じ傾きの
直線と直交するウインドを設定し、そのウインドと芯線
の境界線との各交点から芯線先端部における芯線幅を導
出し、その芯線幅が規格範囲内か否かを検出するように
すれば、芯線の傾きに応じてより正確に芯線先端部にお
ける芯線幅を導出して、規格範囲内か否かを検出するこ
とができる。また、請求項５記載のように、芯線先端部
の座標位置の芯線先端側に芯線の傾きと同じ傾きの直線
と直交するウインドを設定し、そのウインドを基準とし
て芯線の先端でのはみ出しの有無を検出するようにすれ
ば、芯線の傾きに応じてより正確に芯線先端でのはみ出
しの有無を検出することができる。なお、請求項６記載
の電線皮剥ぎ状態検査方法によると、撮像手段の撮像面
上において電線の芯線の画像とクロスする互いに平行な
一対の基準線が設定され、それら基準線と前記芯線の境
界線との各交点から前記芯線の傾きを求めるとともに、
その芯線の傾きに基づいて、前記芯線の基端部を挟む一
対の外皮の皮剥ぎ端の座標位置を導出してその座標位置
が規格範囲内か否かを検出し、さらに、両皮剥ぎ端の座
標位置を通る直線と平行でかつ前記芯線の基端側とクロ
スするウインドを設定し、このウインドと前記芯線と境
界線との一対の交点からその芯線の基端部における芯線
幅を導出し、この芯線幅が規格範囲内か否かを検出して
皮剥ぎ状態の良，不良を判断しているため、撮像面上の
電線先端部の姿勢や皮剥ぎ端の種々の形状に応じて、皮
剥ぎ端の座標位置が規格範囲内を検出し、また芯線の基
端部における芯線幅が規格範囲内か否かを検出して精度
の高い信頼性の優れた検査が可能になり、圧着端子の装
着の適否を的確に検査でき、特に電線の皮剥ぎの自動化
ラインにおいて極めて有効な手段である。なお、この検
査方法は、芯線とクロスする基準線を設定しているの
で、芯線が比較的長くて、電線の外皮上に基準線を設定
できない場合に特に有効である。
の電線皮剥ぎ状態検査方法によれば、撮像手段の撮像面
上に、その撮像手段により撮像される電線の画像とクロ
スする互いに平行な一対の第１の基準線を設定し、それ
ら第１の基準線と電線の外皮の境界線との各交点からそ
の電線の傾きを求め、その電線の傾きに基づいて芯線基
端部をはさむ一対の外皮の皮剥ぎ端の座標位置を導出
し、これら座標位置が規格範囲内か否かを検出するとと
もに、電線の傾きと同じ傾きの直線と直交しかつ芯線と
クロスする互いに平行な一対の第２の基準線を設定し、
それら両第２の基準線と芯線の境界線との各交点からそ
の芯線の一側及び他側の傾きをそれぞれ求め、芯線をは
さみ込む位置にそれぞれ一側及び他側の傾きのウインド
を一対設定し、これらウインドを基準として芯線のはみ
出しの有無を検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断して
いるため、撮像面上の電線先端部の姿勢や皮剥ぎ端の種
々の形状に応じて、皮剥ぎ端の座標位置が規格範囲内か
否かを検出し、また、芯線のはみ出しの有無を検出して
精度の高い信頼性の優れた検査が可能になり、圧着端子
の装着の適否を的確に検査でき、特に電線の皮剥ぎの自
動化ラインにおいて極めて有効な手段である。また、請
求項２記載のように、第２の基準線のうち芯線基端部側
の基準線と芯線の境界線との各交点からその芯線の基端
部における芯線幅を導出し、この芯線幅が規格範囲内か
否かを検出するとともに、それぞれ外皮の皮剥ぎ端の各
座標位置を通りかつ芯線の一側又は他側の傾きと同じ傾
きの一対のウインドを設定し、そのウインドを設定し、
それらウインドを基準として芯線のはみ出しの有無を検
出すれば、電線の傾き及び芯線の傾きに応じてより正確
に芯線基端部における芯線幅が規格範囲内か否かを検出
し、また、芯線のはみ出しの有無を検出することができ
る。さらに、請求項３記載のように、芯線の一側及び他
側の傾きの平均をその芯線の傾きとして導出し、皮剥ぎ
端の両座標位置の中点を通りかつ芯線の傾きと同じ傾き
のウインドを設定し、そのウインドと芯線の境界線との
交点を芯線先端部の座標位置として導出し、その芯線先
端部の座標位置が規格範囲内か否かを検出す るととも
に、皮剥ぎ端の両座標位置の中点と芯線先端部の座標位
置とから前記芯線の長さを求め、芯線の長さ寸法が規格
範囲内か否かを検出すれば、芯線の傾きに応じてより正
確に芯線先端部の座標位置が規格範囲内か否かを検出
し、また、芯線の長さ寸法が規格範囲内か否かを検出す
ることができる。なお、請求項４記載のように、芯線先
端部の座標位置の芯線基端側に芯線の傾きと同じ傾きの
直線と直交するウインドを設定し、そのウインドと芯線
の境界線との各交点から芯線先端部における芯線幅を導
出し、その芯線幅が規格範囲内か否かを検出するように
すれば、芯線の傾きに応じてより正確に芯線先端部にお
ける芯線幅を導出して、規格範囲内か否かを検出するこ
とができる。また、請求項５記載のように、芯線先端部
の座標位置の芯線先端側に芯線の傾きと同じ傾きの直線
と直交するウインドを設定し、そのウインドを基準とし
て芯線の先端でのはみ出しの有無を検出するようにすれ
ば、芯線の傾きに応じてより正確に芯線先端でのはみ出
しの有無を検出することができる。なお、請求項６記載
の電線皮剥ぎ状態検査方法によると、撮像手段の撮像面
上において電線の芯線の画像とクロスする互いに平行な
一対の基準線が設定され、それら基準線と前記芯線の境
界線との各交点から前記芯線の傾きを求めるとともに、
その芯線の傾きに基づいて、前記芯線の基端部を挟む一
対の外皮の皮剥ぎ端の座標位置を導出してその座標位置
が規格範囲内か否かを検出し、さらに、両皮剥ぎ端の座
標位置を通る直線と平行でかつ前記芯線の基端側とクロ
スするウインドを設定し、このウインドと前記芯線と境
界線との一対の交点からその芯線の基端部における芯線
幅を導出し、この芯線幅が規格範囲内か否かを検出して
皮剥ぎ状態の良，不良を判断しているため、撮像面上の
電線先端部の姿勢や皮剥ぎ端の種々の形状に応じて、皮
剥ぎ端の座標位置が規格範囲内を検出し、また芯線の基
端部における芯線幅が規格範囲内か否かを検出して精度
の高い信頼性の優れた検査が可能になり、圧着端子の装
着の適否を的確に検査でき、特に電線の皮剥ぎの自動化
ラインにおいて極めて有効な手段である。なお、この検
査方法は、芯線とクロスする基準線を設定しているの
で、芯線が比較的長くて、電線の外皮上に基準線を設定
できない場合に特に有効である。
【図１】この発明の電線皮剥ぎ状態検査方法の一実施例
における検査装置の概略図である。
における検査装置の概略図である。
【図２】図１の動作説明図である。
【図３】図１の動作説明図である。
【図４】図１の動作説明図である。
【図５】図１の動作説明図である。
【図６】図１の動作説明図である。
【図７】図１の動作説明図である。
【図８】図１の動作説明図である。
【図９】図１の動作説明図である。
【図１０】図１の動作説明図である。
【図１１】図１の動作説明用フローチャートである。
【図１２】図１の動作説明図である。
【図１３】従来の電線皮剥ぎ状態検査方法の動作説明図
である。
である。
【図１４】従来の電線皮剥ぎ状態検査方法の動作説明図
である。
である。
【図１５】一般の電線の皮剥ぎ状態を示す説明図であ
る。
る。
４ 電線 ６ 芯線 １１ 照明手段 １２ 撮像手段 １４ 画像処理手段
Claims (6)
- 【請求項１】 皮剥ぎ装置により皮剥ぎされ圧着端子が
圧着される電線の皮剥ぎ状態を検査する電線皮剥ぎ状態
検査方法であって、皮剥ぎによって露出した電線の先端部の芯線付近を照明
手段により照明すると共に、前記電線をはさんで前記照
明手段の対向位置から撮像手段により前記芯線付近を撮
像して輝度データからなる画像を得、 その画像面上にお
いて電線の画像とクロスする互いに平行な一対の第１の
基準線を設定して、それら第１の基準線と電線の外皮の
境界線との各交点からその電線の傾きを求め、その電線
の傾きに基づいて前記芯線の基端部をはさむ一対の外皮
の皮剥ぎ端の座標位置を導出し、これら座標位置が規格
範囲内か否かを検出するとともに、前記電線の傾きと同
じ傾きの直線と直交しかつ前記芯線とクロスする互いに
平行な一対の第２の基準線を設定して、それら両第２の
基準線と芯線の境界線との各交点からその芯線の一側及
び他側の傾きをそれぞれ求め、前記芯線をはさみ込む位
置にそれぞれ前記一側及び他側の傾きのウインドを一対
設定し、これらウインドを基準として芯線のはみ出しの
有無を検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断することを
特徴とする電線皮剥ぎ状態検査方法。 - 【請求項２】 前記第２の基準線のうち芯線基端部側の
基準線と芯線の境界線との各交点からその芯線の基端部
における芯線幅を導出し、この芯線幅が規格範囲内か否
かを検出するとともに、それぞれ前記外皮の皮剥ぎ端の
各座標位置を通りかつ前記芯線の一側又は他側の傾きと
同じ傾きの一対のウインドを設定し、それらウインドを
基準として芯線のはみ出しの有無を検出して皮剥ぎ状態
の良，不良を判断することを特徴とする請求項１記載の
電線皮剥ぎ状態検査方法。 - 【請求項３】 前記芯線の一側及び他側の傾きの平均を
その芯線の傾きとして導出し、前記皮剥ぎ端の両座標位
置の中点を通りかつ前記芯線の傾きと同じ傾きのウイン
ドを設定し、そのウインドと前記芯線の境界線との交点
を芯線先端部の座標位置として導出し、前記芯線先端部
の座標位置が規格範囲内か否かを検出するとともに、前
記皮剥ぎ端の両座標位置の中点と前記芯線先端部の座標
位置とから前記芯線の長さを求め、前記芯線の長さ寸法
が規格範囲内か否かを検出して皮剥ぎ状態の良，不良を
判断することを特徴とする請求項１又は２記載の電線皮
剥ぎ状態検査方法。 - 【請求項４】 前記芯線先端部の座標位置の芯線基端側
に前記芯線の傾きと同じ傾きの直線と直交するウインド
を設定し、そのウインドと前記芯線の境界線との各交点
から前記芯線先端部における芯線幅を導出し、その芯線
幅が規格範囲内か否かを検出して皮剥ぎ状態の良，不良
を判断することを特徴とする請求項３記載の電線皮剥ぎ
状態検査方法。 - 【請求項５】 前記芯線先端部の座標位置の芯線先端側
に前記芯線の傾きと同じ傾きの直線と直交するウインド
を設定し、そのウインドを基準として芯線の先端でのは
み出しの有無を検出して皮剥ぎ状態の良，不良を判断す
ることを特徴とする請求項３又は４記載の電線皮剥ぎ状
態検査方法。 - 【請求項６】 皮剥ぎ装置により皮剥ぎされ圧着端子が
圧着される電線の皮剥ぎ状態を検査する電線皮剥ぎ状態
検査方法であって、 皮剥ぎによって露出した電線の先端部の芯線付近を照明
手段により照明すると共に、前記電線をはさんで前記照
明手段の対向位置から撮像手段により前記芯線付近を撮
像して輝度データからなる画像を得、その画像面上にお
いて電線の芯線の画像とクロスする互いに平行な一対の
基準線が設定され、それら基準線と前記芯線の境界線と
の各交点から前記芯線の傾きを求めるとともに、その芯
線の傾きに基づいて、前記芯線の基端部を挟む一対の外
皮の皮剥ぎ端の座標位置を導出してその座標位置が規格
範囲内か否かを検出し、さらに、両皮剥ぎ端の座標位置
を通る直線と平行でかつ前記芯線の基端側とクロスする
ウインドを設定し、このウインドと前記芯線と境界線と
の一対の交点からその芯線の基端部における芯線幅を導
出し、この芯線幅が規格範囲内か否かを検出して皮剥ぎ
状態の良，不良を判断することを特徴とする電線皮剥ぎ
状態検査方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3268771A JP2624054B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 電線皮剥ぎ状態検査方法 |
| DE69207689T DE69207689T2 (de) | 1991-09-19 | 1992-09-14 | Verfahren zur Prüfung eines elektrischen Drahts im abisolierten Zustand |
| EP92308351A EP0533422B1 (en) | 1991-09-19 | 1992-09-14 | Method for inspecting stripped condition of electric wire |
| US07/944,984 US5293220A (en) | 1991-09-19 | 1992-09-15 | Method for inspecting stripped condition of electric wire |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3268771A JP2624054B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 電線皮剥ぎ状態検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0579824A JPH0579824A (ja) | 1993-03-30 |
| JP2624054B2 true JP2624054B2 (ja) | 1997-06-25 |
Family
ID=17463076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3268771A Expired - Fee Related JP2624054B2 (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 電線皮剥ぎ状態検査方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5293220A (ja) |
| EP (1) | EP0533422B1 (ja) |
| JP (1) | JP2624054B2 (ja) |
| DE (1) | DE69207689T2 (ja) |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100323955B1 (ko) * | 1993-05-24 | 2002-11-18 | 가부시키가이샤 고마쓰 세이사쿠쇼 | 구부림각도검출장치및그것에사용하는직선추출장치및구부림각도검출위치설정장치 |
| JPH07243825A (ja) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Japan Tobacco Inc | 線状材の検査方法 |
| EP0702227B1 (en) * | 1994-09-14 | 1998-12-02 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Terminated cable portion inspection device for stripped terminal crimping machine |
| DE29510334U1 (de) * | 1995-06-26 | 1995-10-26 | AQS Dimensionale Meßtechnik GmbH, Hallein/Salzburg | System zur zweidimensionalen Vermessung planer Objekte |
| US6002790A (en) * | 1996-12-09 | 1999-12-14 | Advent Engineering Services, Inc. | Method for detecting and measuring voids in conductor insulation systems |
| US6076411A (en) * | 1996-12-09 | 2000-06-20 | Advent Engineering Services, Inc. | Method and apparatus for determining remaining life of conductor insulation systems through void size and density correlation |
| JP3287789B2 (ja) * | 1997-07-01 | 2002-06-04 | 住友電装株式会社 | キャップ付き被覆電線の検査装置 |
| US6885463B2 (en) * | 1999-10-28 | 2005-04-26 | Oes, Inc. | Sensor device that provides part quality and profile information |
| US6496271B1 (en) * | 1999-10-28 | 2002-12-17 | Oes, Inc. | Wire and seal profile analyzer |
| US7195561B2 (en) * | 2002-09-24 | 2007-03-27 | Intec, Inc. | Video game controller with illuminated cable |
| EP1879019B1 (en) * | 2005-04-21 | 2015-02-25 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Superconducting wire inspection device |
| JP4699179B2 (ja) * | 2005-11-10 | 2011-06-08 | 日本オートマチックマシン株式会社 | 電線端末部の芯線検査装置 |
| JP2008122370A (ja) * | 2006-10-18 | 2008-05-29 | Fukuoka Prefecture | 形状測定装置及び形状測定方法 |
| US7738121B2 (en) * | 2007-10-23 | 2010-06-15 | Gii Acquisition, Llc | Method and inspection head apparatus for optically measuring geometric dimensions of a part |
| CN102095735B (zh) * | 2009-11-19 | 2014-06-11 | 新明和工业株式会社 | 包覆电线检查装置以及具备该装置的电线处理机 |
| JP5460527B2 (ja) | 2009-11-19 | 2014-04-02 | 新明和工業株式会社 | 被覆電線検査装置およびそれを備えた電線処理機 |
| JP5302858B2 (ja) * | 2009-11-19 | 2013-10-02 | 新明和工業株式会社 | 被覆電線検査装置及びこれを備えた電線処理機 |
| JP5924272B2 (ja) * | 2013-01-09 | 2016-05-25 | 住友電装株式会社 | 電線状態の検査方法、および、電線状態の検査装置 |
| JP6316621B2 (ja) * | 2014-03-12 | 2018-04-25 | ユニオンマシナリ株式会社 | ワイヤーシール装着状況の検査方法 |
| DE102015219978B4 (de) * | 2015-10-14 | 2017-06-14 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung der Oberfläche einer elektrischen Leitung nach Schirmbearbeitung |
| JP2017198489A (ja) * | 2016-04-26 | 2017-11-02 | 住友電装株式会社 | 電線の露出芯線部の検査装置 |
| CN107664480A (zh) * | 2016-07-28 | 2018-02-06 | 大陆汽车电子（连云港）有限公司 | 基于机器视觉的汽车传感器电缆长度测量系统 |
| EP3611493A1 (de) * | 2018-08-13 | 2020-02-19 | Komax Holding Ag | Überprüfungsvorrichtung zum überprüfen einer kabelspitze eines kabels und verfahren zum reinigen |
| DE102019111940A1 (de) * | 2019-05-08 | 2020-11-12 | Wafios Aktiengesellschaft | Umformmaschine zum Herstellen von Biegeteilen aus isoliertem länglichem Material |
| DE102019216245B3 (de) * | 2019-10-22 | 2020-11-26 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Detektion von Lackresten auf einer Oberfläche |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2065299B (en) * | 1979-12-13 | 1983-11-30 | Philips Electronic Associated | Object measuring arrangement |
| JPS57198850A (en) * | 1981-06-01 | 1982-12-06 | Hitachi Ltd | Monitoring method for state or exfoliation of insulation coating of electric wire |
| JPS59216044A (ja) * | 1983-05-24 | 1984-12-06 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 処理された電線端末の検査装置 |
| FR2553914B1 (fr) * | 1983-10-25 | 1986-01-03 | Sumitomo Electric Industries | Procede d'inspection de bornes connectees par sertissage |
| JPS60174962A (ja) * | 1984-02-21 | 1985-09-09 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 処理された電線端末の検査方法および装置 |
| JPS61133844A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-21 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 端子圧着電線の端子圧着部検査方法 |
| US4649621A (en) * | 1986-02-21 | 1987-03-17 | Artos Engineering Company | Wire processing apparatus having control means |
| JPS6469907A (en) * | 1987-09-11 | 1989-03-15 | Nippon Avionics Co Ltd | Method for detecting three-dimensional positional shift of rod-shaped body |
-
1991
- 1991-09-19 JP JP3268771A patent/JP2624054B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-09-14 DE DE69207689T patent/DE69207689T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-09-14 EP EP92308351A patent/EP0533422B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-09-15 US US07/944,984 patent/US5293220A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0533422A1 (en) | 1993-03-24 |
| EP0533422B1 (en) | 1996-01-17 |
| US5293220A (en) | 1994-03-08 |
| DE69207689D1 (de) | 1996-02-29 |
| JPH0579824A (ja) | 1993-03-30 |
| DE69207689T2 (de) | 1996-05-30 |
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