JPS59216044A - 処理された電線端末の検査装置 - Google Patents
処理された電線端末の検査装置Info
- Publication number
- JPS59216044A JPS59216044A JP9169783A JP9169783A JPS59216044A JP S59216044 A JPS59216044 A JP S59216044A JP 9169783 A JP9169783 A JP 9169783A JP 9169783 A JP9169783 A JP 9169783A JP S59216044 A JPS59216044 A JP S59216044A
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- electric conductor
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/28—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for wire processing before connecting to contact members, not provided for in groups H01R43/02 - H01R43/26
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
だものの検査を、自動的にかつ正確に実施しうるように
したものに関する。
したものに関する。
従来、被覆導線などの電線を自動的に一定長さに切断す
ると共に、その端末の被覆をはぎとるべくしたいわゆる
ワイヤストリッパなる装置が周知である。さらにこの被
覆をはぎ取、た個所の導線を遂次自動的によ、たり、半
田あげしたり、端子を圧着したりする処理作業を自動化
したものも知られている。しかしながら例えば端子を圧
着した電線端末を全数検査するのに、従来は目視によっ
ていたため、人手を要し、かつ必らずしも正確な検査を
望めなか−た。
ると共に、その端末の被覆をはぎとるべくしたいわゆる
ワイヤストリッパなる装置が周知である。さらにこの被
覆をはぎ取、た個所の導線を遂次自動的によ、たり、半
田あげしたり、端子を圧着したりする処理作業を自動化
したものも知られている。しかしながら例えば端子を圧
着した電線端末を全数検査するのに、従来は目視によっ
ていたため、人手を要し、かつ必らずしも正確な検査を
望めなか−た。
そこで、この発明の出願人は先に特願昭５６−６１９３
７号（特開昭５７−１７５９４２号）などの出願で、前
記端子圧着個所の検査装置を提案した。ところがこの検
査装置を正確に作動させようとすれば、対象物の位置決
めも丑だ正確を要するものである。それ故に、コンベア
で電線を把持して間欠移動させ、その間に電線端末の処
理状態を正確に自動的に検査しようとすれば、従来の手
段よりもさらに電線端末の位置決めを正確ならしめる必
要がある。
７号（特開昭５７−１７５９４２号）などの出願で、前
記端子圧着個所の検査装置を提案した。ところがこの検
査装置を正確に作動させようとすれば、対象物の位置決
めも丑だ正確を要するものである。それ故に、コンベア
で電線を把持して間欠移動させ、その間に電線端末の処
理状態を正確に自動的に検査しようとすれば、従来の手
段よりもさらに電線端末の位置決めを正確ならしめる必
要がある。
しかしながら、可とり性を有する電線の端末部を正確に
位置決めすることは、相当の困離を伴なうものであり、
まだこの位置決めを正確に実行し得たとしても、その処
理状態、特に例えば端子圧着状態のような複雑な状態を
正確に検査するには、従来の方法では充分ではなかった
。
位置決めすることは、相当の困離を伴なうものであり、
まだこの位置決めを正確に実行し得たとしても、その処
理状態、特に例えば端子圧着状態のような複雑な状態を
正確に検査するには、従来の方法では充分ではなかった
。
そこでこの発明においては、電線端末をはさんでこれに
平行光線を照射し、その影をこの電線と直角方向の１次
元受光手段で受光し、かつこれら少なくとも電線と受光
手段とを也の電線の方向に移動させ、この間における受
光手段による受光量の和の変化により、前記電線端末を
検査するようにして、前述問題点を解決しようとするも
のである。
平行光線を照射し、その影をこの電線と直角方向の１次
元受光手段で受光し、かつこれら少なくとも電線と受光
手段とを也の電線の方向に移動させ、この間における受
光手段による受光量の和の変化により、前記電線端末を
検査するようにして、前述問題点を解決しようとするも
のである。
以下図面を参照しつ＼この発明一実施例を詳述する。ま
ず第１図を参照されたい。
ず第１図を参照されたい。
１はこの発明実施例の検査装置を実施して有効な、電線
端末処理装置の本体である。
端末処理装置の本体である。
２はこの本体１上の左右方向に布設した、コンベア手段
である。手段２は詳細は図示しないが、１ピツチＳずつ
間欠移動するように構成される。
である。手段２は詳細は図示しないが、１ピツチＳずつ
間欠移動するように構成される。
また、手段２にはピッチＳ毎に、左右に開閉するコンベ
ア挟持爪２ａを設け、被処理電線Ｗ工を手段２の間欠移
送方向（図において左右方向）と直角方向にして挾持す
る。
ア挟持爪２ａを設け、被処理電線Ｗ工を手段２の間欠移
送方向（図において左右方向）と直角方向にして挾持す
る。
３は手段２に添設した公知のワイヤストリッパであり、
リール３ａに巻かれた被覆電線（ワイヤ）Ｗを一定寸法
に切断すると共に、その両端の被覆をはぎ取るべく構成
される。
リール３ａに巻かれた被覆電線（ワイヤ）Ｗを一定寸法
に切断すると共に、その両端の被覆をはぎ取るべく構成
される。
そしてこのように加工された切断電線Ｗｌは、図示のよ
うにＵ字形に曲げられ、その両端を爪２ａに挾持されて
、手段２によって図において左方に間欠送りされる。
うにＵ字形に曲げられ、その両端を爪２ａに挾持されて
、手段２によって図において左方に間欠送りされる。
４はワイヤストリッパ３の、手段２の下流側に添設され
た、公知のより線機であり、手段２によって間欠移送さ
れて来た被覆をはぎ取−た電線Ｗ。
た、公知のより線機であり、手段２によって間欠移送さ
れて来た被覆をはぎ取−た電線Ｗ。
の端末部分を、ばらけぬようによるべくなされている。
５はより線機４の、手段２の下流側に添設した、公知の
端子打ち機であり、手段２によって間欠移送されて来た
電線Ｗ１の端末部分に、リール５ａに巻取られた連続端
子を１個ずつ自動的に圧着するべくなされている。
端子打ち機であり、手段２によって間欠移送されて来た
電線Ｗ１の端末部分に、リール５ａに巻取られた連続端
子を１個ずつ自動的に圧着するべくなされている。
、６は端子打ち機５の、手段２の下流側に添設した、こ
の発明実施例である端末検査装置である。
の発明実施例である端末検査装置である。
装置６はこの発明では後述する光学手段による。
７は手段６の、手段２の下流側に添設した、選別手段で
ある。手段７は２組の挟持爪７ａを設け、さらに動カフ
ｂによって図示位置から時計方向に９０度および１８０
度いずれ７５之選択的に回動しうるように構成される。
ある。手段７は２組の挟持爪７ａを設け、さらに動カフ
ｂによって図示位置から時計方向に９０度および１８０
度いずれ７５之選択的に回動しうるように構成される。
かくして、前述手段２には電線端末処理手段Ｔとしての
、例えばワイヤストリッパ３、より線機４および端子打
ち機５が添設され、キらにその手段２の下流側に検査装
置６および選別手段７が添設される。そしてこれら各構
成は、手段２の間欠移動の間の停止時間中に作動するべ
くなされる。
、例えばワイヤストリッパ３、より線機４および端子打
ち機５が添設され、キらにその手段２の下流側に検査装
置６および選別手段７が添設される。そしてこれら各構
成は、手段２の間欠移動の間の停止時間中に作動するべ
くなされる。
これら各構成の作動およびそのタイミングなどを制御す
るために制御手段Ｃが設けられている。
るために制御手段Ｃが設けられている。
次にこの検査手段６の詳細を説明する。今理解を容易と
するため、電線端末は第２図の１２のように、被覆をは
ぎ取り、その導線をよ、た状態（端子打ちする前の状態
）のものの、このはぎ取り長さＬを検査するものとする
。
するため、電線端末は第２図の１２のように、被覆をは
ぎ取り、その導線をよ、た状態（端子打ちする前の状態
）のものの、このはぎ取り長さＬを検査するものとする
。
１３は光源である。光源１３は電球１３ａおよ１４は受
光手段である。受光手段１４は電線端末１２をはさんで
光源１３の他方において電線端末と直角方向（図示Ｙ方
向）の１次元に並んで光フアイバー受光端１４ａ１この
光ファイバーの後端に接続された光電変換手段１４ｂよ
りなる。さらにこの光電変換手段１４ｂの出力を入力す
るべく接続された、入力信号の総和を求める手段１５が
構成される。手段１５の出力信号は制御手段Ｃに入力さ
れる。
光手段である。受光手段１４は電線端末１２をはさんで
光源１３の他方において電線端末と直角方向（図示Ｙ方
向）の１次元に並んで光フアイバー受光端１４ａ１この
光ファイバーの後端に接続された光電変換手段１４ｂよ
りなる。さらにこの光電変換手段１４ｂの出力を入力す
るべく接続された、入力信号の総和を求める手段１５が
構成される。手段１５の出力信号は制御手段Ｃに入力さ
れる。
１６は受光手段１４の移動手段である。移動手段１６は
、電線１２と手段１４とを電線１２の方向（図示Ｘ方向
）に相対的に移動させるべくした手段であり、この実施
例では電線１２方向のリニアアクチュエータの１端を手
段１４に接続してなる。
、電線１２と手段１４とを電線１２の方向（図示Ｘ方向
）に相対的に移動させるべくした手段であり、この実施
例では電線１２方向のリニアアクチュエータの１端を手
段１４に接続してなる。
以下前述構成の作用につき述べる。
電線ＷＬは爪２ａに挾持されてコンベア手段２により間
欠送りされて来る。そして、装＃６の所へ来たとき、制
御手段Ｃからの指令により、図示しない公知の昇降手段
によ−で、装置６すなわち第２図図示のこの発明実施例
が降下し、光源１３と手段１４との間に電線１２が位置
する。次に制御手段Ｃからの指令により秒分手段１６が
作動し、手段１４が電線１２と同一方向Ｘに移動する。
欠送りされて来る。そして、装＃６の所へ来たとき、制
御手段Ｃからの指令により、図示しない公知の昇降手段
によ−で、装置６すなわち第２図図示のこの発明実施例
が降下し、光源１３と手段１４との間に電線１２が位置
する。次に制御手段Ｃからの指令により秒分手段１６が
作動し、手段１４が電線１２と同一方向Ｘに移動する。
すなわぢ受光端１４．ａＶｉ図示実線位置から図示２点
鎖線位置迄を往復する。
鎖線位置迄を往復する。
一方電線１２は光源１３により平行光線によって照明さ
れ、その光および電線１２の影が受光端１４ａに受光す
る。この受光による光は光ファイバを介して手段１４ｂ
に至り電気信号に変換され、さらに手段１５によ、てそ
の和が求められる。
れ、その光および電線１２の影が受光端１４ａに受光す
る。この受光による光は光ファイバを介して手段１４ｂ
に至り電気信号に変換され、さらに手段１５によ、てそ
の和が求められる。
今受光端１４ａが電線１２の被覆部分に対面していると
きの受光端１４ａにおける入力値は第３図実線で示すよ
うに電線１２の影による入力の低下部分が大きい。そし
て受光端１４ａが電線１２の被覆の除去された個所に対
面するに至れば、その入力値は第３図実線および２点鎖
線に示したように電線１２の影による入力の低下部は少
なくなる。さらに受光端１４ａが電線１２の末端を外れ
ると、その入力値は第３図実線および破線に示すように
影による入力低下の無い状態となる。
きの受光端１４ａにおける入力値は第３図実線で示すよ
うに電線１２の影による入力の低下部分が大きい。そし
て受光端１４ａが電線１２の被覆の除去された個所に対
面するに至れば、その入力値は第３図実線および２点鎖
線に示したように電線１２の影による入力の低下部は少
なくなる。さらに受光端１４ａが電線１２の末端を外れ
ると、その入力値は第３図実線および破線に示すように
影による入力低下の無い状態となる。
従−て受光端１４ａの入力値を、これがＸ方向に移動す
る間にその時々刻々の和を手段１５によって求めた結果
は第４図図示のとおりとなる。ここにおいて、Ｌの値が
ｌ工と１２との間にあるか否かを制御手段Ｃにおいて判
断し、そうであれば、電線１２の被覆はぎとり寸法りが
４．と１２との間に存在し、合格と判断しうるものであ
る。
る間にその時々刻々の和を手段１５によって求めた結果
は第４図図示のとおりとなる。ここにおいて、Ｌの値が
ｌ工と１２との間にあるか否かを制御手段Ｃにおいて判
断し、そうであれば、電線１２の被覆はぎとり寸法りが
４．と１２との間に存在し、合格と判断しうるものであ
る。
前述説明での電線１２の端末は、被覆をはぎ取−たもの
で説明したが、これに端子Ｔを圧着した１２′のような
端末でも同様検査しうる。すなわちこの場合の手段１５
の出力情報は、端末１ｚと対応して第５図図示のように
なる。この出力情報の変化量やその変化する個所を、制
御手段Ｃにあらかじめインプットした情報と比較してそ
の良否を判断するものである。
で説明したが、これに端子Ｔを圧着した１２′のような
端末でも同様検査しうる。すなわちこの場合の手段１５
の出力情報は、端末１ｚと対応して第５図図示のように
なる。この出力情報の変化量やその変化する個所を、制
御手段Ｃにあらかじめインプットした情報と比較してそ
の良否を判断するものである。
この発明は前述実施例にかぎることはないのであ−て、
例えば移動手段１６は電線１２を固定して手段１４を動
かすのでなく、手段１４を固定して電線１２を移動させ
るようにしてもよい。また手段１４を移動させるにして
も、手段１４ｂや１５を固定して受光端１４ａのみを移
動させるのですく、これらを一体として移動、させても
よい。さらに光源１３も共に移動させるようにしてもよ
い。
例えば移動手段１６は電線１２を固定して手段１４を動
かすのでなく、手段１４を固定して電線１２を移動させ
るようにしてもよい。また手段１４を移動させるにして
も、手段１４ｂや１５を固定して受光端１４ａのみを移
動させるのですく、これらを一体として移動、させても
よい。さらに光源１３も共に移動させるようにしてもよ
い。
さらに受光手段１・４は光ファイバーを使用せず、受光
端に直接光電変換手段を並設してもよい。その他この発
明の技術的思想の範囲内における各構成の均等物との置
換えも、まだ可能である。
端に直接光電変換手段を並設してもよい。その他この発
明の技術的思想の範囲内における各構成の均等物との置
換えも、まだ可能である。
この発明は前述したとおり、平行光線で照射された電線
の方向と直角方向の１次元受光手段を電線の方向に移動
させてそのときの受光情報を利用するようにしたから、
電線の位置決めの多少の不正確にもかかわらず、検査を
実行しうる。さらにこの受光情報の和の情報の電線方向
に対する変化を求めてその良否を判断するようにしてい
るから、その良否を判断するためのノ・−ド構成やソフ
ト構成が簡単ですむものである。
の方向と直角方向の１次元受光手段を電線の方向に移動
させてそのときの受光情報を利用するようにしたから、
電線の位置決めの多少の不正確にもかかわらず、検査を
実行しうる。さらにこの受光情報の和の情報の電線方向
に対する変化を求めてその良否を判断するようにしてい
るから、その良否を判断するためのノ・−ド構成やソフ
ト構成が簡単ですむものである。
第１図はこの発明装置を含む電線端末処理装置の全体斜
視図、第２図はこの発明装置の一実施例の斜視図、第３
図ないし第５図は作用説明図である。 １３・・・平行光線光源、１４・・・１次元受光手段、
１４ａ・・・受光端、１５・・・総オ■を求める手段、
１６・・・移動手段。 出願人 新明和工業株式会社 Ｙ 第 ３図 第４、図 第５図
視図、第２図はこの発明装置の一実施例の斜視図、第３
図ないし第５図は作用説明図である。 １３・・・平行光線光源、１４・・・１次元受光手段、
１４ａ・・・受光端、１５・・・総オ■を求める手段、
１６・・・移動手段。 出願人 新明和工業株式会社 Ｙ 第 ３図 第４、図 第５図
Claims (2)
- （１）処理された電線端末をはさんで一方には平行光線
光源を、他方にはこの電線と直角方向の１次元受光手段
およびこの受光手段の入力信号の総和を、求める手段を
具備し、少なくとも前記受光手段と前記電線とは、この
電線の軸方向に相対的に移動させる手饅を介して設けら
れている。前記処理された電線端末の検査装置。 - （２）前記処理された電線端末は、端子圧着端末であり
、前記平行光線がこの端子面と平行になるよう前記光源
を設けてなる、特許請求の範囲第１項記載の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9169783A JPS59216044A (ja) | 1983-05-24 | 1983-05-24 | 処理された電線端末の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9169783A JPS59216044A (ja) | 1983-05-24 | 1983-05-24 | 処理された電線端末の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59216044A true JPS59216044A (ja) | 1984-12-06 |
Family
ID=14033703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9169783A Pending JPS59216044A (ja) | 1983-05-24 | 1983-05-24 | 処理された電線端末の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59216044A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5293220A (en) * | 1991-09-19 | 1994-03-08 | Sumitomo Wiring Systems, Ltd. | Method for inspecting stripped condition of electric wire |
| US6496271B1 (en) * | 1999-10-28 | 2002-12-17 | Oes, Inc. | Wire and seal profile analyzer |
| US6885463B2 (en) | 1999-10-28 | 2005-04-26 | Oes, Inc. | Sensor device that provides part quality and profile information |
| CN103872551A (zh) * | 2014-04-03 | 2014-06-18 | 浙江海宁普赛自动化科技有限公司 | 采用光纤传感器检测的三芯电源线视觉分线系统 |
| CN106841226A (zh) * | 2017-03-21 | 2017-06-13 | 东华大学 | 一种电缆方位检测矫正系统 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5017856A (ja) * | 1973-06-15 | 1975-02-25 | ||
| JPS57198850A (en) * | 1981-06-01 | 1982-12-06 | Hitachi Ltd | Monitoring method for state or exfoliation of insulation coating of electric wire |
-
1983
- 1983-05-24 JP JP9169783A patent/JPS59216044A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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| JPS5017856A (ja) * | 1973-06-15 | 1975-02-25 | ||
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| CN106841226B (zh) * | 2017-03-21 | 2020-04-21 | 东华大学 | 一种电缆方位检测矫正系统 |
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