JPS58135440A - 端子圧着電線の端子圧着状態検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ２ この発明は、被覆電線の端部被覆をはぎ取った部分に端
子を圧着してなる電線における端子圧着状態の良否を光
学的に検査する装置に関するものである。

従来、被覆電線に端子を圧着するには、まず公知の被覆
電線切断・被覆はぎ取り機によシ、被覆電線をある一定
の長さに切断するとともにその端部の被覆をある一定長
さ分だけはぎ取り、そして公知の端子圧着機により一定
形状および寸法の端子を前記はぎ取った部分の所定の位
置に正確に圧着する必要がある。すなわち第１図には端
子ｌ（実施例では雌端子であり、第１つかみ部１ａ’（
長さｔｌ）、第２つかみ部１ｂ、雄端子との接−続部】
Ｃとよりなり、つかみ部１ａとｌｂとの距離はｔ２であ
る）を被覆電線２の端部に圧着した状態を示しているが
、この場合、つかみ部１ａは、電線２の被覆部２ａを全
周に渡り、かつその被覆端部がらある長さ分りだけ余し
て確実につかみ、またつかみ部１ｂは、電線２の導体部
２ｂを全周に渡り確実につかむようにして圧着する必要
がある４、シ屋３ かしながら端子圧着の際、まれではあるが前述のジかみ
位置を逸脱し１例えばつかみ部ｔａが導体部２　ｂの一
部をもつかんだり、あるいはつかみ部Ｉｂが被覆部２ａ
の一部をもつかんだり、あるい、・１またつかみ部１ａ
が被覆部２ａを全周に渡って確実に゛）かまなかったり
して、端子圧着不良を生［−ることがある１、従来端子
圧着状態の良否は人間、’ＪＩＪによって判別されてお
り、その作業が面倒であ′・た。

この発明は前述事情に鑑みなされたものであり、定形状
および寸法の端子ｌを、被覆はぎ取９長さや外径や導体
部２ｂの径が一定の電線２に圧着し７だ端子圧着電線の
端子圧着状態の良否を光学的ｔこ検存する装置を提供せ
んとするものである。

ｊ）、十−実施例を詳述する・７ ３は、光源である。この実施例では光源８はへリソムネ
オル−ザ光線（赤色光線）発振器である。

１は、光源３と光ファイバ５を介して接続した１′−知
の集光レンズ内蔵筒体である。この筒体４先端は、検査
すべき端子圧着電線の端子圧着部に向けられている。

６は、筒体４と検査すべき端子圧着電線との間において
、投光軸Ｃ１上に配置された第１偏光板である。

そして前記３〜６の構成により投光系Ａが構成されてい
る。

なおこの投光系Ａにより、端子圧着部は、第３図におい
て幅Ｗの範囲だけ照射されるべくなされている。

７は、投光軸Ｃ１に対する反射光軸ｃ２と同軸上に配置
したイメージセンサ（実施例ではラインイメージセンサ
）であり、図においてその下面が受光部７ａとして形成
され、計５１２個の受光素子が電線２の軸方向に配列さ
れている。７ｂは、受光部７ａを一定方向にスキャンす
る公知の走査手段である。なお受光部７ａの長さｔ３は
、実施例では１４ｍであり、幅Ｗより大である。

８は、端子圧着電線と受光部７ａとの間において、反射
光軸Ｃ２上に配置した第２偏光板である１゜、４ｉ５ 偏光板８は、第一１偏光板６とはほぼ９０度の偏光方向
差が与えられている。

９は、反射光軸Ｃ２上に、かつ受光部７ａと偏光板８と
の間に配置した集光レンズである。

そして前記７〜９の構成により受光系Ｂが構成されてい
る。

なおこの受光系Ｂにより、受光面７ａは、第３図のよう
に端子圧着部の照射幅Ｗとほぼ同じ幅だけが照射され得
るべくなされている。

Ｃは、七／す７からの出力情報と予め設定した情報とを
比較して、端子圧着電線の端子圧着状態の良否を判別す
る制御装置である。制御装置Ｃは、中央処理装置ＣＰＵ
とメモリＭＥＭとを含むコンピュータを主体とするもの
であり、そしてセンサ７により検出した２値化信号デー
タから、同−値一　　のデータの数を、値が変化するご
とに順次計数する手段ＰＩと、これら計数値と予め設定
した一定値Ｎ（ノイズとみなす最大値）とを順次比較す
る手段Ｐ２と、この比較結果、前記計数値が前記一定値
Ｎより小ならば、その計数値を、これに隣接する６ 前または後のいずれか一方（実施例では前）の計数値に
順次加算する手段Ｐ３と、この加算値と予め設定した許
容値（長さｔｌの最大許容値ＢＨおよび最小許容値ＢＬ
と、長さＬの最大許容値ＷＨおよび最小許容値ＷＬ）と
を比較する手段Ｐ４とが含まれている。

ｌＯは、手段Ｐ４の比較結果、端子圧着状態の良否を例
えばランプ表示する公知の警告装置である。

さらにこの実施例の作用を述べる。

まず端子圧着部＃（この実施例では被覆２８表面が赤色
のもの）を、第２図のように、所定の位置に、かつ端子
ｌの各つかみ部１ａ、１ｂの端部が上向きとなるように
して固定する。またコンピュータＣのメモリＭＥＭには
、（ｒ）つかみ部１ａの長さｔｌの最大許容値ＢＨ（例
えば２．０鴫としてピット数に変換すると２．ｓ４．ｇ
中７３）および最小許４ 容値ＢＬ（例えば１．６　ｗｍとしてビット数に変換す
ると１．６Ｘ　　　＝５９　）　、（ロ）被覆端部のつ
かみ部１４ ａからの突出長さしの最大許容値Ｗ　Ｈ［（ｔ２−０．
２）ＷＩの例えば２．３　ｍとしてピント数に変換する
と＆７ 目としてビット数に変換すると０．２　Ｘ−、−、−−
、−７）　ｓ（ハ）４ ノイズとみなす同一符号の最大データ数値Ｎ（例えば４
）、をそれぞれ初期設定しておく。

そして投光系Ａにより端子圧着電線の端子圧着部を下向
きに照射する。このとき筒体４からの光は、偏光板６に
より偏光状態となって前記端子圧着部を照射する。する
とその反射光は光軸Ｃ２に沿い、偏光板８、レンズ９を
経て受光部７ａに至る。

このとき金属である端子ｌおよび導体部２ｂはその表面
がほぼ平滑なる故、前記反射光のうちこれらからの反射
光は、はぼ偏光板６による前記偏光状態のまま反射され
るが、表面に凹凸のある被覆部２ａからの反射光は、乱
反射光となる。従って前記反射光が偏光板８を通過する
際には、偏光板８が偏光板６とは偏光方向差がほぼ９０
度あるこはほとんど通過せず、被覆部２ａからの反射光
（乱反射光）は偏光状態となって受光部７ａに到達、す
ることになる。

そして受光部７１Ｎで光電変換し、さらには手段７ｂに
より端子圧着電線の軸方向（第３図において右方向）に
スキャンすると、オシロスコープには、第５図（ハ）の
ような出力波形信号が得られる。

なお第５図（イ）は、スキャンスタート信号を、また第
５図（ロ）は、受光部７ａの受光素子に対応して手段７
ｂから発するクロック信号を、それぞれ示している。

そこで第５図（ハ）の信号を一定しベルＳＬでスライス
すると、第５図に）のような本来得られるはずの２値化
信号は得られず、第５図（ホ）のようなノイズ含みの２
値化信号が得られる。すなわち第５図において、被覆部
２ａの照射端や、つかみ部１ａの左右端および被覆部２
ａ端に相当する個所には、凸凹などが原因して前記ノイ
ズが生じる。従ってこのノイズを処理する必要がある。

そこでまずこのノイズ含みの２値化信号データを、前記
スキャンスタート時から次のスキャンスタート時までの
前記クロックごとに順次コンピュータＣのメモリＭＥＭ
に取込む（ステップＳ’　Ｔ　Ｉ　）　ｒ＋９ そしてそれら２値化信号データから、同一値の　　にス
ま １〜の７ の７ ときの記録は第６図（イ）のような結果であったとす　
　　で九る。すなわちアドレス２０００Ｈには、値Ｏの
デ　　入わ−タが１００、アドレス２００１Ｈには１．
値ｌの　　が、データが２、アドレス２００２Ｈに・は
、値Ｏのデ　　　イータが８、という具合に記録されて
いる。　　　　　　１′″：なおステップＳ　Ｔｌ　＋
　Ｓ　Ｔ２が、センサ７より検出　　ＳＴした２値化信
号データから、同一値のデータの数　　　イを、値が変
化するごとに順次計数する手段Ｐ１に相　　を１当して
いる。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　回に次
ＫＣＰＵにアドレス２０００Ｈを設定する（用ラステッ
プ５Ｔａ）。さらにそのアドレスの内容（計　　　彷数
値）と数値Ｎすなわち４とをＣＰＵで比較する　　納戸
（ステップ５Ｔ４）。がおこのステソゲＳ　Ｔ４が、手
　　（ロ）Ｃ段Ｐ２に相当している０、　　　　　　　
　　　　　　　　　ちツム１０ 、れておく（ステップ５Ｔｓ）。

た逆にアドレスの内容が４より小ならば、そ°ドレスの
内容をノイズとみなし、その１つ前′ドレスの内容と今
回比較した内容とをＣＰＵ１算し、その加算値を前記１
つ前のアドレスに、る（ステップ５Ｔｓ）。なおこのス
テップＳ　Ｔ６手段Ｐ３に相当している。

−してそのアドレス以降の各アドレスの内容を）ずつ１
つ前のアドレスに入換える（ステップ゛７）〇 −してステップＳ　ＴｓまたはＳ　Ｔ７の後、アドレス
つ更新し、そのアドレス更新回数が例えば１６：達する
までは、再度ステップＳ　Ｔ４〜Ｓ　Ｔｓの作・繰返す
（ステップｓ’ｒｓ）。

−ってアドレス更新回数が１６回に達すると、）アドレ
ス２０００Ｈ〜２０１０Ｈには第６図）ような数値が記
録されることになる。すなわ′ドレス２０００Ｈには、
第６図（イ）におけるアＡｌ１ ２００１Ｈには、第６図（イ）におけるアドレス２００
３Ｈ〜２００５Ｈの内容をすべて値ｌの計数値とみなし
て合計９４、さらにはアドレス２００２Ｈには、第６図
（イ）はおけるアドレス２００６Ｈ〜２００８　Ｈの内
容をすべて値０の計数値とみなして合計６５１、という
具合に記録される。なおこの第６図（ロ）の記録内容を
第５図の信号図に対応させて表示すると、第５図（へ）
のようになり、本来得られるべき第５図に）の２値化信
号と非常に近似することになる。

そしてアドレス２００２Ｈの内容（実施例では６５）と
最大許容値ＢＨ（実施例では７３）とをＣＰＵで比較し
くステップＳ　Ｔ９）　、その結果アドレス２００２Ｈ
の内容が最大許容値ＢＨより大ならば、つかみ部１ａの
つかみ状態が例えば第４図（ハ）のように不完全である
ことを赤ランプなどで警告する（ステップ５Ｔ１ｏ）。

逆にアドレス２００２Ｈの内容が最大許容値ＢＨより小
であれば、今度は、アドレス２００２Ｈの内容と最小許
容値ＢＬ（実施例では５９）とをＣＰＵで比較しくステ
ップ５ＴＨ）　、その結果アドレス２００２Ｈの内容が
最小許容値ＢＬより小であれば、前述ステップ５Ｔ１０
のように赤ランプなどの警告をする。

すなわちアドレス２００２Ｈの内容が最大許容値ＢＨと
最小許容値ＢＬとの間にろれば、つかみ部１ａのつかみ
状態が正常であることを意味し、そうでないときには、
つかみ部１ａのつかみ状態が不良であるということにな
る。

従ってこの実施例では、アドレス２００２Ｈの内容（６
５）が最大許容値（７８）と最小許容値（５９）との間
にあるので、つかみ部１ａのつかみ状態は正常というこ
とになる。

そしてアドレス２００２Ｈの内容が最小許容値ＢＬより
大々らば、アドレス２００ＢＨの内容（実施例では６４
）と最大許容値ＷＨ（実施例では８４）とをＣＰＵで比
較しくステップ５Ｔ１２）、アドレス２００８Ｈの内容
が最大許容値ＷＨより大ならば、被覆端部がつかみ部１
ａから突出し過かて、例えばつかみ部１ｂで被覆端部を
つかんだ状態となり、赤ランプなどで警告する（ステッ
プＳ烹１８ Ｔ＋；Ｉ）　０逆にアドレス２００ａＨの内容が最大許
容値ＷＨより小であれば、今度は、アドレス２００３Ｈ
の内容と最小許容値ＷＬ（実施例では７）とをＣＰＵで
比較しくステップＳ　Ｔ１４　）　、その結果アドレス
２００１Ｈの内容が最小許容値ＷＬより小であれば、被
覆端部のつかみ部１ａからの突出長さが不足していると
いうことになり、前述ステップＳ　Ｔ１３で赤ランプな
どの警告をする。

すなわちアドレス２００３Ｈの内容が最大許容イ（ｉＷ
Ｈと最小許容値ＷＬとの間にあれば、被覆端部のつかみ
部１ａからの突出長さが正常であることを意味し、そう
でないときには、不良であるということになる。従って
この実施例ではアドレス２００ＢＨの内容（６４）が最
大許容値（８４）と最小許容値（７）との間にあるので
、被覆端部のつかみ部１ａからの突出長さは正常という
ことになる。。

なおステップＳ　Ｔ９〜Ｓ　Ｔ１４が、手段Ｐ３におけ
る加算値と、予め設定した長さｔｌの最大最小許容値Ｂ
）ＩおよびＢＬや長さＬの最大最小許容値ＷＨおよ扁１
４ びＷＬとを比較する手段Ｐ４に相当している。

以上のようにして端子圧着電線の端子圧着状態の良否を
判別することができる。

前述説明は実施例であり１例えばステップＳ　Ｔ３のア
ドレスは、２０１０Ｈに設定し、ステップＳ　Ｔ６はノ
イズとみなした計数値を１つ前のアドレスの計数値に加
算するのではなく、その逆に１つ後のアドレスの計数値
に加算して、その加算値を前記１つ後のアドレスに入れ
るようにし、そしてステさらにはステップＳ　Ｔｓはア
ドレスを１つ前にもどすようにしてもよい。ｔｆｃ走査
手段７ｂは、電気らには光源８は白色光源とし、偏光板
６．８の代わりに被覆２ａに対する余色フィルタを設け
て、投光系Ａおよび受光系Ｂを構成してもよい。各構成
の均等物との置換もこの発明の技術範囲に含まれること
はもちろんである。

４１５ この発明は前述したように、センサ７により検出された
波形信号を２値化すると、どうしても第５図（ホ）のよ
うにノイズが含まれてしまい、そのノイズが端子圧着電
線の端子圧着状態の良否判別に非常に厄介な存在となる
けれども、それらノイズとなる信号をその前隣りまたは
後隣りの正規の信号に含ませることによって、第５図（
へ）のような２値化信号に変化させ、第５図に）に示す
本来得られるべき２値化信号に近似させるべくしたので
、前記端子圧着状態の良否を簡単に、かつ正確確実に検
査できるっ

【図面の簡単な説明】

図はいずれもこの発明の一実施例を示し、第１図は検査
すべき端子圧着電線の説明図、第２図は全体概略説明図
、第８薗は受光系鴬の説明図、第４図はそれぞれ端子圧
着電線の端子圧着状態図であ−７て、（イ）は被覆部の
第１つかみ部からの突出長さが最大許容値にある状態図
、（ロ）は被覆部の第１つかみ部からの突出長さが最小
許容値にある状態図、（ハ）は第１つかみ部の被覆部つ
かみ不良の状態化信号図、第６図は第５図（ホ）および
（へ）に対応するデータ図、第７図は′作用説明用のフ
ローチャートである。 図におい、て、ｌ・・・端子、２・・・被覆電線：８・
・・光源、６・・・第１偏光板、Ａ・・・投光系、７・
・・イメージセンサ・７　ａ−受光部、７ｂ・・・走査
手段、８・・・第２偏光板、Ｂ・・・受光系、Ｃ・・・
制御装置、１０・・・警告手段％Ｐ１・・・茎ンサ７に
より検出した２値化信号データから、同一符号のデータ
数を各符号変化ごとに順次計数する手段、Ｐ２・・・手
段Ｐｌにおける各計数値と予め設定した一定値（ノイズ
とみなす最大値）とを順次比較する手段、Ｐ３・・・手
段Ｐ２における比較結果、計数値が一定値より小ならば
、その計数値をノイズとみなして、これに隣接する前ま
たは後のいずれか一方の計数値に順次加算する手段、Ｐ
４・・・手段Ｐ３における加□算゛″値と予め設定した
許容値とを比較する手段、である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 被照射物である端子圧着電線の端子圧着部につい゛〔そ
   の端子圧着電線の軸方向に走査する手段と、この走査手
   段からの出力情報と予め設定した情報とを比較して、前
   記端子圧着電線の端子圧着状態の良否を判別する制御装
   置とを備え、この制御装置は、前記走査手段により検出
   した２値化信号デタから、同一値のデータの数を、前記
   値が変化するごとに順次計数する手段と、これら計数値
   と予め設定した一定値とを順次比較する手段と、この比
   較結果、前記計数値が前記一定値より小ならば、その計
   数値を、これに隣接する前または後のいずれか一方の計
   数値に順次加算する手段と、この加算値と予め設定した
   許容値とを比較する手段とを含んでなる、端子圧着電線
   の端子圧着状態検査に１４．。