JPH07117391B2 - 照明ランプにおける端子のカシメ部の検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、蛍光灯等の照明ランプにおける端子のカシ
メ部を検査するための検査装置に関するものである。

〔従来の技術〕

一般に、蛍光灯においては、第８図〜第10図に示すよう
に、ベース１の側端面に一対のリード線２が突出され、
そのリード線２に筒状の端子３がそれぞれ嵌合され、そ
の端子３の先端外面の一部をカシメピン４により押圧カ
シメすることにより、端子３がリード線２に接続固定さ
れていた。

そして、この端子３上に設けられた凹状のカシメ部５の
良否を検査する方法としては、第８図及び第９図に示す
ように、カシメ部５に検査針６を差し込んで、その検査
針６の差し込み深さを測定し、測定値が所定値以下のと
きに、カシメ部５が不良であると判別する方法が採用さ
れている。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、この従来の検査方法においては、検査針６が
細径の端子３上の小さなカシメ部５内に確実に差し込ま
れるように、蛍光灯の側面が突出した端子３を検査針６
に対して正確に位置決めしなければならず、その位置決
め装置が複雑かつ大型になって、コスト高になるという
問題点があった。

又、従来の検査方法においては、第10図に示すように、
カシメピン４の先端に欠け等の異常が生じて、カシメ部
５の一部にカシメ不良が発生している場合でも、検査針
６が所定深さまで差し込まれて、カシメ不良を検出する
ことができないという問題点があった。

この発明は、前記のような従来の技術に存在する問題点
に着目してなされたものであって、その目的とするとこ
ろは、照明ランプの端子を検出位置に正確に位置決めす
る必要がなく、位置決め装置を簡素化及び小型化して、
コストの低減を図ることができると共に、カシメピンの
先端に欠け等の異常が生じて、カシメ部の一部にカシメ
不良が生じている場合でも、そのカシメ不良を確実に検
出することができる照明ランプにおける端子のカシメ部
の検査装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記の目的を達成するために、本発明の照明ランプに設
けられた円筒状の端子の外周に形成されたカシメ部の良
否を検査する検査装置では、端子のカシメ部の対面方向
から光を照射する光源と、前記対面方向からカシメ部の
画像を写し撮るカメラと、そのカメラにより写し撮られ
た画像を２値化して端子の輪郭画像を除去する２値化手
段と、その２値化手段により得られた２値化信号画像の
うち、端子の外周頂面からの反射光による細幅線状の画
像を除去する第１の除去手段と、その第１の除去手段に
より細幅線状の画像を除去した後、面積の最も大きな円
形画像をカシメ部の画像と見なして、その他の画像を除
去する第２の除去手段と、その第２の除去手段により得
られたカシメ部の面積を計測する計測手段と、その計測
手段により計測された計測値と予め設定された基準値と
を比較して、カシメ部の良否を判別する判別手段とを設
けたものである。

〔作用〕 上記のように構成された検査装置によれば、端子のカシ
メ部の対面方向から光が照射されると共に、その対面方
向からカメラによりカシメ部の画像が写し撮られる。
又、カメラにより写し撮られた画像は２値化手段により
２値化され、端子の輪郭画像が除去される。その２値化
手段により得られた２値化信号画像のうち、端子の外周
頂面からの反射光による細幅線状の画像は第１の除去手
段により除去され、更に、第２の除去手段により、第１
の除去手段によってもなお残っている画像のうち、面積
の最も大きな円形画像がカシメ部の画像と見なされ、そ
の他の画像が除去される。このようにして得られたカシ
メ部の面積が計測手段により計測され、その計測手段に
より計測された計測値は判別手段により予め設定された
基準値と比較され、その比較結果によりカシメ部の良否
が判別される。

〔実施例〕

以下、この発明を具体化した照明ランプ（本実施例では
蛍光灯）における端子のカシメ部の検査装置の一実施例
を、第１図〜第４図及び第７図に基づいて説明する。

第１図に示すように、一対のハロゲンランプよりなる光
源11は端子３の設置位置の近傍に設けられ、これらの光
源11から発せられる光がハーフミラー12により反射され
て、一対の端子３のカシメ部５に対面方向の直上方から
それぞれ照射される。一対のカメラ13は各端子３のカシ
メ部に対向して設けられ、このカメラ13によりカシメ部
５の画像が対面方向の上方からレンズ14を介して写し撮
られる。

画像処理装置15は前記カメラ13に接続され、カメラ13に
より写し撮られたカシメ部５の画像信号をカメラインタ
ーフェイス16から入力すると共に、その画像信号を２値
化手段としての２値化処理回路17での２値化処理した
後、画像メモリ18及びビデオミキサ19を介してテレビモ
ニタ20に出力する。第１の除去手段，第２の除去手段，
計測手段及び判別手段としての中央処理装置（CPU）21
は画像処理装置15内に設けられ、このCPU21には画像処
理装置15全体の動作を制御するためのプログラム等を記
憶したリードオンリメモリ（ROM）22と、キーボード23
から入力される基準値等を記憶するためのランダムアク
セスメモリ（RAM）24とが接続されている。

前記CPU21は、２値化処理回路17で２値化処理された画
像信号から余分な画像信号を除去した後、その画像信号
中よりカシメ部５の面積を計測する。又、CPU21は、前
記のように計測された計測値とキーボード23からの入力
により予め設定された基準値とを比較して、カシメ部５
の良否を判別する。

次に、前記のように構成された検査装置の動作を、第４
図のフローチャートに従って説明する。

さて、この検査装置によって蛍光灯における端子３のカ
シメ部５を検査する場合には、第１図に示すように、一
対の端子３のカシメ部５を検査位置に位置決め配置する
と、一対の光源11からの光が各カシメ部５に対面方向の
直上方から照射されると共に、一対のカメラ13により各
カシメ部５の画像が対面方向の直上方から写し撮られる
（ステップS1）。

このカメラ13により写し撮られた画像は、画像処理装置
15に入力されてCPU21の制御のもとに画像処理され、第
３図（ａ）に示すように、端子３の輪郭画像ａ等を含む
生画像としてテレビモニタ20に写し出される。

その後、前記カメラ13により写し撮られた画像信号は、
画像処理装置15の２値化処理回路17により２値化され
て、端子３の輪郭画像ａ等がカットされ、第３図（ｂ）
に示すように、明暗の２値化信号画像としてテレビモニ
タ20に写し出される（ステップS2）。

この２値化信号画像中には、カシメ部５からの反射光に
よる円形の画像ｂのほかに、端子３の外周頂面からの反
射光による細幅線状の画像ｃも含まれており、この細幅
線状の画像ｃがカシメ部５に対応する円形画像ｂの検出
に邪魔になる。

そのため、第３図（ｃ）に示すように、前記２値化信号
画像に所定面積のウインドｄが設定された後、水平
（Ｘ）方向に連なる所定幅以下の画像信号がカットされ
て、端子３の外周頂面からの反射光による細幅線状の画
像ｃが除去される（ステップS3）。この画像信号のカッ
ト幅は、キーボード23からの入力によってRAM24に予め
記憶されており、必要に応じて任意に設定変更すること
ができる。

なお、場合によっては、第７図に示すように、２値化処
理後の画像中に、カシメ５に対応する大径円形状の画像
ｂ及び細幅線状の画像ｃのほかに、カシメ時に発生した
端子３上の傷に相当する小径円形状の画像ｆがあり、上
記ステップS3の処理ではこの画像ｆが除去できないこと
がある。この場合、ステップS3において細幅線状の画像
ｃを除去した後、面積の最も大きな円形画像ｂをカシメ
部５の画像と見なして、その他の円形画像ｆ等をカット
処理するようになっている。

以上のようにして不要な画像a,c,fを除去した状態で、
ウインドｄ内におけるカシメ部５の円形画像ｂの面積が
計測され、その計測値と予め設定された基準値とが比較
される。そして、計測値が基準値よりも大きいときに
は、カシメ部５が良品であると判別され、計測値が基準
値よりも小さいときには、カシメ部５が不良品であると
判別される（ステップS4及びS5）。この判別のための基
準値も、キーボード23からの入力によってRAM24に予め
記憶されており、必要に応じて任意に設定変更すること
ができる。

このように、この実施例の検査装置においては、端子３
のカシメ部５をその周辺を含めて広範囲に亘って写し撮
り、その写し撮られた画像中におけるカシメ部５の画像
面積を計測して、その計測値に基づきカシメ部５の良否
を判別するようになっているため、蛍光灯等の照明ラン
プにおける端子３のカシメ部５を検出位置に正確に位置
決めする必要がなく、カメラ13の撮影範囲内に大まかに
配置すればよい。従って、位置決め装置の構造が簡単で
小型になり、コストの低減を図ることができる。

特に、カシメ部５の画像面積を計測するにあたり、端子
３の外周頂面からの反射光による細幅線状の画像ｃ、及
びカシメ時に発生した端子３上の傷に相当する小径円形
状の画像ｆといった不要な画像を効果的に除去して、確
実にカシメ部５を特定すると共にカシメ部５の占有面積
を特定できる。そのため、正確な検査を遂行することが
できる。

例えば、第10図に示すように、カシメピン４の先端に欠
け等の異常が生じて、カシメ部５の一部にカシメ不良が
発生している場合でも、カシメ部５の画像面積の不足に
より、そのカシメ不良を確実に検出することができるこ
ととなる。

〔別の実施例〕

次にこの発明の別の実施例を、第５図及び第６図に従っ
て説明する。

まず、第５図の実施例においては、前述した実施例のハ
ーフミラー12に代えて、各端子３のカシメ部５と対向す
る位置に一対のリング状の光ファイバ27が配設され、ハ
ロゲンランプよりなる光源11から発せられる光が、この
リング状の光ファイバ27を介して、カシメ部５に対面方
向の直上方から照射されるようになっている。

又、第６図の実施例においては、２値化処理後の画像中
から細幅線状の画像ｃが除去されるとき、カシメ部５に
対応する円形画像の上下両端部も除去されてしまうた
め、細幅線状画像ｃの除去後に、この除去された部分ｅ
を連続性解析処理により復元させるようになっている。
このように構成すれば、カシメ部５の良否の検査効率を
一層高めることができる。

なお、この発明は前記各実施例の構成に限定されるもの
ではなく、例えば、この発明を蛍光灯以外の照明ランプ
における端子のカシメ部の検査装置に実施する等、この
発明の趣旨から逸脱しない範囲で、各部の構成を任意に
変更して具体化することも可能である。

〔発明の効果〕

以上詳述したように、この発明によれば、照明ランプの
端子を正確に位置決めしなくとも確実にカシメ部を特定
し、しかも同カシメ部の面積を簡単な演算で確実に計測
することができるので、照明ランプの位置決め装置を簡
素化及び小型化してコスト低減を図ることができると共
にカシメ不良を簡単かつ確実に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明を具体化した一実施例に係る端子のカ
シメ部の検査装置を示す構成図、第２図はその端子のカ
シメ部を拡大して示す部分断面図、第３図（ａ）〜
（ｃ）は端子の検査過程においてテレビモニタに写し出
される画像を順に示す正面図、第４図は検査装置の動作
を説明するためのフローチャート、第５図はこの発明の
別の実施例を示す検査装置の部分斜視図、第６図はこの
発明のさらに別の実施例を示すテレビモニタ画像の部分
正面図、第７図はこの発明の一実施例に係るテレビモニ
タ画像の部分正面図、第８図は従来のカシメ部の検査装
置を示す部分斜視図、第９図はその端子のカシメ部を拡
大して示す部分断面図、第10図はカシメ不良状態を示す
カシメ部の部分断面図である。 ３……端子、５……カシメ部、11……光源、13……カメ
ラ、15……画像処理装置、17……２値化手段としての２
値化処理回路、21……第１の除去手段，第２の除去手
段，計測手段及び判別手段としてのCPU。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】照明ランプに設けられた円筒状の端子
   （３）の外周に形成されたカシメ部（５）の良否を検査
   する検査装置であって、 端子（３）のカシメ部（５）の対面方向から光を照射す
   る光源（11）と、 前記対面方向からカシメ部（５）の画像を写し撮るカメ
   ラ（13）と、 そのカメラ（13）により写し撮られた画像を２値化して
   端子（３）の輪郭画像を除去する２値化手段（17）と、 その２値化手段（17）により得られた２値化信号画像の
   うち、端子（３）の外周頂面からの反射光による細幅線
   状の画像（ｃ）を除去する第１の除去手段（21）と、 その第１の除去手段（21）により細幅線状の画像（ｃ）
   を除去した後、面積の最も大きな円形画像（ｂ）をカシ
   メ部（５）の画像と見なして、その他の画像（ｆ等）を
   除去する第２の除去手段（21）と、 その第２の除去手段（21）により得られたカシメ部
   （５）の面積を計測する計測手段（21）と、 その計測手段（21）により計測された計測値と予め設定
   された基準値とを比較して、カシメ部（５）の良否を判
   別する判別手段（21）と を設けたことを特徴とする照明ランプにおける端子のカ
   シメ部の検査装置。