JPS62284206A - 半田仕上げ良否判別方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 ［発明の目的］ （産業上の利用弁む） この発明は、例えば点灯管ベースの半田仕上げの良否な
どを判別する半田仕上げ良否判別方法に関する。

（従来の技術） 例えば点灯管ではそのベースにアイレットが設けられ、
そのアイレットの先端部に半田を盛るようにしている。

従ってアイレットに対する半田の盛りが少なかったり、
ベースからのワイヤーが飛び出したりしていると通電不
良を起こす虞れがあり、また外観上も問題があり、この
ようなものは欠陥品となる。

このため半田の仕上げ具合を検査する必要があるが、従
来はこれを目視検査に頼っていたため見落としが多く、
確実な良否判別ができなかった。

また検査に時間がかかる問題もあった。

（発明が解決しようとする８題点） このため半田仕上げの良否判別を目視に頼らずに行なえ
ることが要望されていた。

この発明はこのような要望を満足するために為されたも
ので、半田仕上げの良否判別を自動的に行なうことがで
き、短時間で確実な良否判別ができる半田仕上げ良否判
別方法を提供することを目的とする。

（問題点を解決するための手段と作用）この発明は、半
田仕上げ部をｌＩｉ［！ｌして２値化画像信号を得、そ
の２値化画像信号から予め設定された同心円状に複数に
分割されたウィンドウパターンに基づいてそれぞれ半田
画像部の面積を算出し、その算出した各面積を各ウィン
ドウパターン毎に予め設定された規格値と比較し、各面
積がそれぞれ各規格値内になっているか否かを判別し、
その判別結果に基づいて半田仕上げの良否を判別してい
る。

（実施例） 以下、この発明の一実施例を図面を参照して説明する。

１は点灯装置２によって点灯制御されるリング状の光源
で、この光ａｉ１から一方の側にある点灯管３のベース
上の半田仕上げ部３ａに光を照射している。

前記光１１１１の他方の側には工業用のテレビジョンカ
メラ（イメージセンサ−）４が！Ｑｆｆｆされ、光源１
の中空部を介して前記半田仕上げ部３ａを撮像している
。

前記カメラ４からの映像信号を２値化回路５で２値化し
てセレクト回路６′に供給するとともに直接そのセレク
ト回路６に供給している。前記２値化回路５からの２１
ｉ１１化信号はまた画像メモリ７、位置検出回路８にも
供給している。

９は同期タイミング回路で、この回路９から同期タイミ
ング信号を前記カメラ４、画像メモリ７及び位置検出回
路８にそれぞれ供給している。

前記画像メモリ７は入力される２値化信号を同期タイミ
ング回路８からの同期タイミング信号と同期しながら順
次メモリに格納するようにしている。

前記位置検出回路８は入力される２１１化信号と同期タ
イミング信号によってｍ象点の位置を検出しその位置デ
ータをインターフェース１ｏを介してマイクロコンピュ
ータ１１に供給している。

前記画像メモリ７に格納された２値化信号はウィンドウ
内面積測定回路１２及び前記セレクト回路６にそれぞれ
供給している。

前記マイクロコンピュータ１１はインターフェース１０
を介してウィンドウパターンメモリ１３を制御し、その
メモリにウィンドウパターンデータを作成して前記ウィ
ンドウ内面積測定回路１２に供給し、かつその測定回路
１２から面積測定データをインターフェース１０を介し
て取込むようにしている。

作成されるウィンドウパターンとしては例えば第３図の
（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）、（ｄ）に斜線部で示すように
同心円状に４つに分割されたウィンドウパターンとなっ
ている。なお、このウィンドウパターンの農大外周部（
図中（ａ）のパターンの外周部）はベース上に形成され
ているアイレット部へを含まない、半田仕上げ部３ａに
対応した大きざになっている。

前記点灯管３のベースにおける半田仕上げ部３ａはアイ
レット部Ａの頂部に形成されるが、その位置検出は以下
のように行われる。すなわち、第２図に示すようにベー
スの裏面外部に基準点（○、Ｏ）を設け、その基準点か
ら点灯管の方向にＸ軸とＹ軸を設定する。前記アイレッ
ト部Ａは２　ｌａ化信号の黒レベルとして検出されるの
で、ある走査線１に対してｎ１ｌｌｌの連続した黒レベ
ルの画素が続き、そのとき最初に黒レベルとなるまでの
距離をＸｌとし黒レベルから外れるまでの距離をｘ２と
すると、半田仕上げ部３ａの中心位置（Ｘｃ　、　Ｙｃ
　）のＸｃは、Ｘｃ　＝Ｘ＋　＋　（Ｘ２−×１＞／２
によって求めることができる。また、ｙｌは走査線１の
位置を示し、ｙ２は黒レベル画素が連続してｎ個あった
ときの中心からの距離でこれは決められているので定数
となっている。従ってＹｃは、Ｙｃ＝’Ｊｘ＋Ｖ２で求
められる。

このようにして中心位置（Ｘｃ　、　Ｙｃ　）が求めら
れることによって、その中心位置にウィンドウパターン
の中心を重ねることにより各ウィンドウ毎の面積測定が
可能となる。

前記セレクト回路６は前記カメラ４からの映像信号、２
１ｉ化回路５からの２値化信号、画像メモリ７に格納さ
れた信号、ウィンドウパターンメモリ１３のパターンデ
ータを選択的にテレビジョンモニタ１４に供給して表示
させるものである。

前記マイクロコンピュータ１１は第４図に示す処理を行
なう。先ず、アイレット部Ａの特定の位置を示すｘｌ　
、Ｘ２　、Ｖｌを読込み、中心位置（Ｘｃ　、　Ｙｃ　
）を求める。

次にウィンドウパターンの１つをパターンメモリ１３上
に作成し、そのウィンドウ内の面積測定データを面積測
定回路１２から読込む。そしてその面積測定データを予
め設定された規格データと比較し、規格内の場合にはパ
ターンメモリ１３に作成するウィンドウパターンを変え
て再度同様の処理を行なう。そして４つのウィンドウパ
ターンすべてについてそれぞれ設定されている規格デー
タ内のとき始めて良品と判別して良否判別信号を出力す
る。また、４つのウィンドウパターンのうち１つでも規
格データがいのちのがあれば不良品と判別して良否判別
信号を出力する。

このような構成の本実施例においては、テレビジョンカ
メラ４によって点灯管３のベースにおける半田仕上げ部
３ａｔｆｉ撮像され、２ｆｌＩ化回路５によって２１１
ｉ化されて画像メモリ７に格納される。

マイクロコンピュータ１１は位置検出回路８からの位置
データによって）ｌ　、Ｘ２　、Ｖｔをそれぞれ読込ん
で中心位！　（Ｘｃ　、　Ｙｃ　）を求める。続いてウ
ィンドウパターンメモリ１３を制御して先ず第３図の（
ａ）に示すパターンを作成する。そしてこのパターン部
分における画像メモリ７のデータの面積を面積測定回路
１２に測定させる。その測定結果を読込み対応する規格
データと比較する。そして測定結果が規格データ内にな
っていればパターン（ａ）に対応する部分の半田仕上げ
は良好であると判断する。

続いてウィンドウパターンメモリ１３を制御して第３図
の（ｂ）に示すパターンを作成する。そしてこのパター
ン部分における画像メモリ７のデータの面積を面積測定
回路１２に測定させる。その測定結果を読込み対応する
規格データと比較する。そして測定結果が規格データ内
になっていればパターン（１））に対応する部分の半田
仕上げも良好であると判断する。

続いてウィンドウパターンメモリ１３を制御して第３図
の（Ｃ）に示すパターンを作成する。そしてこのパター
ン部分における画像メモリ７のデータの面積を面積測定
回路１２に測定させる。その測定結果を読込み対応する
規格データと比較する。そして測定結果が規格データ内
になっていればパターン（Ｃ）に対応する部分の半田仕
上げも良好であると判断する。

ざらにウィンドウパターンメモリ１３を制御して第３図
の（ｄ）に示すパターンを作成する。そしてこのパター
ン部分における画像メモリ７のデータの面積を面積測定
回路１２に測定させる。その測定結果を読込み対応する
規格データと比較する。そして測定結果が規格データ内
になっていればパターン（ｄ）に対応する部分の半田仕
上げも良好であると判断する。

従って、例えば第５図の（ａ）に斜線で示すような反射
光パターンが得られた場合には良品として判別されるが
、第５図の（ｂ）に示すような部分的に反射光パターン
や第５図の（Ｃ）に示すようなワイヤーが飛出した反射
光パターンや第５図の（ｄ）に示すように何も半田が載
っていない反射パターンが得られた場合には不良品とし
て判別することができる。

こうして各パターン（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）、（ｄ）に
ついてすべて規格データ内であると判断してとき始めて
この点灯管３の半田仕上げは良好であると判断し良品￥
１１別信９を出力する。また、各パターン（ａ）、Ｎ）
）、（Ｃ）、（ｄ）のうち１つでも規格データ外のもの
があれば半田仕上げが不良であると判断して不良品判別
信号を出力する。

このように点灯管３のベースに対する半田仕上げの良否
判別を電気的に処理して自動的にできるので、短時間で
確実な半田仕上げの良否判別ができる。また、このよう
に処理が自動的にできることによって点灯管の製造ライ
ンに組込むことも容易にでき生産性を向上することがで
きる。

なお、前記実施例はこの発明を点灯管のベース部の半田
仕上げに適用したものについて述べたが必ずしもこれに
限定されるものではなく、半出仕上げする部材は何であ
ってもよい。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、半田仕上げの良
否判別を自助的に行なうことができ、短時間で確実な良
否判別ができる半田仕上げ良否判別方法を提供できるも
のである。

【図面の簡単な説明】

°図はこの発明の一実施例を示すもので、第１図はブロ
ック図、第２図は半田仕上げ部の中心位置を求めるため
の処理を説明するための図、第３図はウィンドウパター
ンの一例を示す図、第４図はマイクロコンピュータによ
る半田仕上げ判別処理を示す流れ図、第５図は半田仕上
げの各種例を示す図である。 １・・・リング状光源、３・・・点灯管、４・・・工業
用テレビジョンカメラ、５・・・２１［化回路、７・・
・画像メモリ、８・・・位置検出回路、１１・・・マイ
クロコンピュータ、１２・・・ウィンドウ内面積測定回
路、１３・・・ウィンドウパターンメモリ。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 第２図 （ａ）　　　　　　　（ｂ） 第３図 □ （ａ） （Ｃ） 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 半田仕上げ部を撮像して２値化画像信号を得、その２値
   化画像信号から予め設定された同心円状に複数に分割さ
   れたウィンドウパターンに基づいてそれぞれ半田画像部
   の面積を算出し、その算出した各面積を各ウィンドウパ
   ターン毎に予め設定された規格値と比較し、各面積がそ
   れぞれ各規格値内になっているか否かによつて半田仕上
   げの良否を判別することを特徴とする半田仕上げ良否判
   別方法。