JP2545570B2 - 画像処理による接続線の傾斜検査方法 - Google Patents
画像処理による接続線の傾斜検査方法Info
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- JP2545570B2 JP2545570B2 JP63044790A JP4479088A JP2545570B2 JP 2545570 B2 JP2545570 B2 JP 2545570B2 JP 63044790 A JP63044790 A JP 63044790A JP 4479088 A JP4479088 A JP 4479088A JP 2545570 B2 JP2545570 B2 JP 2545570B2
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 本発明は、画像処理によってプリント板の表面実装素
子（SMD）の方形平板パッケージ（QFP）の接続線の傾斜
を検査する画像処理による接続線の傾斜検査方法に関
し、 画像処理によって正確に接続線の傾斜を判定できる検
査方法を提供することを目的とし、 撮像した画像にXY座標系を設定して該画像の所定点の
座標データを抽出する手段と、 該座標データによる前記所定点間の距離を測定する手
段と、 該測定手段によって得られた測定値の計算処理を行う
手段と、 設定された座標軸を移動して座標系を変更し、前記座
標データを再構成する手段とを備えた画像処理装置によ
って、 複数の接続線が方形装置本体のそれぞれの辺に直角に
突出して設けられた方形装置における直交する第１と第
２の２辺を座標軸とするXY座標系を設定し、該方形装置
の少なくとも該直交２辺と該２辺の接続線を撮像して、
撮像された前記第１の辺の接続線それぞれの先端のＹ座
標値の平均値を基準線として座標系を変換し、該変換座
標系における前記基準線と前記第２の辺の特定接続線の
先端との距離を測定し、規定値と比較して検査すること
を特徴とする。
子（SMD）の方形平板パッケージ（QFP）の接続線の傾斜
を検査する画像処理による接続線の傾斜検査方法に関
し、 画像処理によって正確に接続線の傾斜を判定できる検
査方法を提供することを目的とし、 撮像した画像にXY座標系を設定して該画像の所定点の
座標データを抽出する手段と、 該座標データによる前記所定点間の距離を測定する手
段と、 該測定手段によって得られた測定値の計算処理を行う
手段と、 設定された座標軸を移動して座標系を変更し、前記座
標データを再構成する手段とを備えた画像処理装置によ
って、 複数の接続線が方形装置本体のそれぞれの辺に直角に
突出して設けられた方形装置における直交する第１と第
２の２辺を座標軸とするXY座標系を設定し、該方形装置
の少なくとも該直交２辺と該２辺の接続線を撮像して、
撮像された前記第１の辺の接続線それぞれの先端のＹ座
標値の平均値を基準線として座標系を変換し、該変換座
標系における前記基準線と前記第２の辺の特定接続線の
先端との距離を測定し、規定値と比較して検査すること
を特徴とする。
本発明は、画像処理によってプリント板の表面実装素
子（SMD）の方形平板パッケージ（QFP）の接続線の傾斜
を検査する画像処理による接続線の傾斜検査方法に関す
るものである。
子（SMD）の方形平板パッケージ（QFP）の接続線の傾斜
を検査する画像処理による接続線の傾斜検査方法に関す
るものである。
方形平板パッケージは、その本体から多数の接続線が
各辺から直角に突出している。
各辺から直角に突出している。
この方形平板パッケージが、製造者から出荷されて利
用者に運搬中になんらかの外力が接続線に加わり、接続
線変形、即ち、接続線の湾曲、反り、傾斜（全接続線が
１つの方向に略平行して曲がること）を生じ、自動機に
よるプリント板実装に支障をきたすので、このSMDを自
動機に搭載する前に接続線の検査を必要とする。
用者に運搬中になんらかの外力が接続線に加わり、接続
線変形、即ち、接続線の湾曲、反り、傾斜（全接続線が
１つの方向に略平行して曲がること）を生じ、自動機に
よるプリント板実装に支障をきたすので、このSMDを自
動機に搭載する前に接続線の検査を必要とする。
従来、このSMDの接続線の曲がり検査は、関連部分を
撮像し、画像処理による各接続線間の距離を測定点の座
標データから算出する測定手段によって行っているが、
接続線が全て一定の方向に一様に曲がっていた場合は局
所的視野における測定によっては傾きと判別できない。
撮像し、画像処理による各接続線間の距離を測定点の座
標データから算出する測定手段によって行っているが、
接続線が全て一定の方向に一様に曲がっていた場合は局
所的視野における測定によっては傾きと判別できない。
そのため、接続線の傾斜に対しては、目視による検査
を行っており、検査の工数と、検査結果の信頼性に欠け
るという問題点があった。
を行っており、検査の工数と、検査結果の信頼性に欠け
るという問題点があった。
さらに、SMDの実装自動機の工程に人手が介入するの
は問題であった。
は問題であった。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたものであっ
て、画像処理によって正確に接続線の傾斜を判定できる
検査方法を提供することを目的としている。
て、画像処理によって正確に接続線の傾斜を判定できる
検査方法を提供することを目的としている。
上記した目的を達成するため、撮影した画像にXY座標
系を設定して該画像の所定点の座標データを抽出する手
段と、 該座標データによる前記所定点間の距離を測定する手
段と、 該測定手段によって得られた測定値の計算処理を行う
手段と、 設定された座標軸を移動して座標系を変更し、前記座
標データを再構成する手段とを備えた画像処理装置を
用いて検査を行う。
系を設定して該画像の所定点の座標データを抽出する手
段と、 該座標データによる前記所定点間の距離を測定する手
段と、 該測定手段によって得られた測定値の計算処理を行う
手段と、 設定された座標軸を移動して座標系を変更し、前記座
標データを再構成する手段とを備えた画像処理装置を
用いて検査を行う。
方形パッケージの直交する第１と第２の２辺を座標軸
とするXY座標系を設定し、方形パッケージの直交２辺と
その接続線を撮像する。
とするXY座標系を設定し、方形パッケージの直交２辺と
その接続線を撮像する。
撮像された第１の辺の接続線それぞれの先端のＹ座標
値を抽出し（の手段）、その平均値を算出し（の手
段）、その平均座標値をＹ基準線として座標系を変換す
る（の手段）。
値を抽出し（の手段）、その平均値を算出し（の手
段）、その平均座標値をＹ基準線として座標系を変換す
る（の手段）。
そして、変換座標系におけるＹ基準線と、第２の辺の
特定接続線の先端との距離を測定する（の手段）。
特定接続線の先端との距離を測定する（の手段）。
この測定によって、第１の辺の接続線先端にから第２
の辺の接続線先端の距離が測定され、この測定値と第１
の辺の接続線先端に対する第２の辺の接続線先端の距離
の規定値と比較して、第１の辺の接続線先端に対する第
２の辺の接続線先端の傾斜を検査する。
の辺の接続線先端の距離が測定され、この測定値と第１
の辺の接続線先端に対する第２の辺の接続線先端の距離
の規定値と比較して、第１の辺の接続線先端に対する第
２の辺の接続線先端の傾斜を検査する。
次いで、方形パッケージの同じ撮像位置において、第
２の辺の接続線の先端のＸ座標値を抽出し、その平均値
を算出し、その平均座標値をＸ基準線として第１の辺の
接続線先端に対する第２の辺の接続線先端の傾斜を検査
する。
２の辺の接続線の先端のＸ座標値を抽出し、その平均値
を算出し、その平均座標値をＸ基準線として第１の辺の
接続線先端に対する第２の辺の接続線先端の傾斜を検査
する。
このようにして、相対的傾斜を方形パッケージのそれ
ぞれの辺に対して検査し、方形パッケージの良否を判別
する。
ぞれの辺に対して検査し、方形パッケージの良否を判別
する。
第１図は本発明の画像処理による接続線の傾斜検査方
法の一実施例の手段構成を説明する図、 第２図は本発明の接続線傾斜検査を説明する図であ
る。
法の一実施例の手段構成を説明する図、 第２図は本発明の接続線傾斜検査を説明する図であ
る。
上記したように、画像処理装置は次の〜の手段を
備える。
備える。
は、撮像した画像にXY座標系を設定して画像の所定点
の座標データを抽出する手段、 は座標データによる所定点間の距離を測定する手段、 該測定手段によって得られた測定値の計算処理を行う
手段、 設定された座標軸を移動して座標系を変更し、前記座
標データを再構成する手段。
の座標データを抽出する手段、 は座標データによる所定点間の距離を測定する手段、 該測定手段によって得られた測定値の計算処理を行う
手段、 設定された座標軸を移動して座標系を変更し、前記座
標データを再構成する手段。
以下、検査方法のステップを〜の手段と対比して
説明する。
説明する。
画像処理装置の測定視野に、第２図のように方形パッ
ケージの直交する本体の２辺A,Bの交点Ｃ部分と、２辺
の接続線Ｌの所要数を包含して撮像する。
ケージの直交する本体の２辺A,Bの交点Ｃ部分と、２辺
の接続線Ｌの所要数を包含して撮像する。
（１）先ずこの２辺A,Bを座標軸とするXY座標系を設定
する。
する。
（２）このＸ座標軸に平行な１辺Ａの接続線LA1,LA2・
・・の先端ＳのＹ座標値YA1,YA2・・・を求める
〔（１），（２）はの手段〕。
・・の先端ＳのＹ座標値YA1,YA2・・・を求める
〔（１），（２）はの手段〕。
（３）このＹ座標値の平均値〔の手段〕を求め、その
平均値を基準値YA0として、この座標系の座標データの
感を行う〔の手段〕。
平均値を基準値YA0として、この座標系の座標データの
感を行う〔の手段〕。
（４）変換した座標系におけるＹ軸に平行な辺Ｂの各接
続線の任意の１つの接続線の先端を特定してそのＹ座標
を求める。
続線の任意の１つの接続線の先端を特定してそのＹ座標
を求める。
通常、この特定接続線は２辺交点Ｃの最も近接する接
続線LB1を選択する。
続線LB1を選択する。
（５）基準値YA0と接続線LB1のＹ座標YB1との差を求め
る。
る。
即ち、基準値YA0と接続線LB1の先端との距離KABが測
定される〔（４），（５）はの手段〕。
定される〔（４），（５）はの手段〕。
（６）距離KABが、標準の規定値KAB0と比較される〔
の手段〕。
の手段〕。
即ち、|KAB−KAB0|≦α であれば、許容値α以内で検査は良となる。
（７）次いで、Ｘ座標軸に平行な１辺Ｂの接続線LB1,L
B2・・・の先端ＳのＸ座標値XB1,XB2・・・を求める
〔の手段〕。
B2・・・の先端ＳのＸ座標値XB1,XB2・・・を求める
〔の手段〕。
（８）この座標値XB1,XB2・・・の平均値を求め〔の
手段〕、その平均値を基準値XB0として、この座標系の
座標データの変換を行う〔の手段〕。
手段〕、その平均値を基準値XB0として、この座標系の
座標データの変換を行う〔の手段〕。
（９）変換した座標系におけるＸ軸に平行な辺Ａの各接
続線の任意の１つの接続線の先端のＸ座標を求める。
続線の任意の１つの接続線の先端のＸ座標を求める。
通常、この特定接続線は２辺交点Ｃの最も近接する接
続線LA1を選択する。
続線LA1を選択する。
（10）基準値XB0と接続線LA1のＸ座標XA1との差を求め
る。即ち、基準値と接続線の先端との距離KBAが測定さ
れる〔（９），（10）はの手段〕。
る。即ち、基準値と接続線の先端との距離KBAが測定さ
れる〔（９），（10）はの手段〕。
（11）距離KBAが、標準の規定値KBA0と比較される〔
の手段〕。
の手段〕。
即ち、|KAB−KAB0|≦α であれば、許容値α以内で検査は良となる。
（12）このステップ（１）〜（11）によって方形パッケ
ージの２つの辺A,Bの接続線の関係が検査され、方形パ
ッケージを90度回転させて、次の２辺の接続線の関係を
検査する。
ージの２つの辺A,Bの接続線の関係が検査され、方形パ
ッケージを90度回転させて、次の２辺の接続線の関係を
検査する。
このようにして、方形パッケージ４辺の接続線が２辺
ごとに検査されることなる。
ごとに検査されることなる。
方形パッケージで各辺対称なら規定値KAB0,KBA0・・
・は一定となり、各辺の接続線が１円周方向に傾斜して
いても傾斜を識別できる。
・は一定となり、各辺の接続線が１円周方向に傾斜して
いても傾斜を識別できる。
なお、上述したの手段はとの手段の組み合わせ
によっても、達成できるのはいうまでもない。
によっても、達成できるのはいうまでもない。
第３図は、本発明の画像処理を行うためのマイクロプ
ロセッサによって構成された回路構成例である。
ロセッサによって構成された回路構成例である。
マイクロプロセッサ１がビデオカメラ２から入力する
画像を画素データとして画像メモリ３に取り込み所定点
の座標を画素の濃度変化によってその先端座標を抽出す
る。
画像を画素データとして画像メモリ３に取り込み所定点
の座標を画素の濃度変化によってその先端座標を抽出す
る。
それら所定点の座標データは、上記の各処理手段と処
理ステップを指示するプログラムは主メモリ４に格納さ
れ、プログラムによって行われる座標データは処理メモ
リ５に格納される。
理ステップを指示するプログラムは主メモリ４に格納さ
れ、プログラムによって行われる座標データは処理メモ
リ５に格納される。
そして外部インタフェース６を介して検査結果が次段
の処理装置に送出される。
の処理装置に送出される。
また、実施例のパッケージが方形でなく、長方形であ
っても、本発明が適用されるのは明白である。
っても、本発明が適用されるのは明白である。
以上述べてきたように、本発明によれば、方形パッケ
ージの接続線傾斜の信頼性の向上と、検査の自動化が可
能となり、１度に２辺の接続線の検査ができるため、検
査時間が短縮され、工業的には極めて有用である。
ージの接続線傾斜の信頼性の向上と、検査の自動化が可
能となり、１度に２辺の接続線の検査ができるため、検
査時間が短縮され、工業的には極めて有用である。
第１図は本発明の画像処理による接続線傾斜検査方法の
一実施例の手段構成を説明する図、 第２図は本発明の接続線傾斜検査を説明する図、 第３図は画像処理装置の回路構成例を示す図である。 図において、 は座標データ抽出手段、 は所定点間距離測定手段、 測定値計算処理手段、 座標データ再構成手段である。
一実施例の手段構成を説明する図、 第２図は本発明の接続線傾斜検査を説明する図、 第３図は画像処理装置の回路構成例を示す図である。 図において、 は座標データ抽出手段、 は所定点間距離測定手段、 測定値計算処理手段、 座標データ再構成手段である。
Claims (2)
- 【請求項１】撮影した画像にXY座標系を設定して該画像
の所定点の座標データを抽出する手段（）と、 該座標データによる前記所定点間の距離を測定する手段
（）と、 該測定手段によって得られた測定値の計算処理を行う手
段（）とを備えた画像処理装置によって、 複数の接続線が方形装置のそれぞれの辺に直角に突出し
て設けられ、当該方形装置における４辺のうちの直交す
る隣接の第１と第２の２辺を座標軸とするXY座標系を設
定し、該方形装置の少なくとも直交する２辺と該２辺に
直角にそれぞれ突出して設けられた接続線を撮影し、撮
影された前記第１の辺の接続線それぞれの先端のＹ座標
値の平均値を基準線YA0とし、当該基準線YA0と前記第２
の辺に直角にそれぞれ突出して設けられた接続線のうち
特定の接続線である特定接続線の先端との距離を測定
し、この測定した距離と規定値とを比較して差が所定閾
値αＡ以下のときに良と検査することを特徴とする画像
処理における接続線の傾斜検査方法。 - 【請求項２】上記撮影された前記第２の辺の接続線それ
ぞれの先端のＸ座標値の平均値を基準線XB0とし、当該
基準線XB0と前記第１の辺に直角にそれぞれ突出して設
けられた接続線のうちの特定の接続線である特定接続線
の先端との距離を測定し、この測定した距離と規定値と
を比較して差が所定閾値αＢ以下のときに良と検査し、
前記基準線YA0をもとにした検査あるいは前記基準線XB0
をもとにした検査のうちの少なくともいずれか一方が良
でないときに接続線が傾斜していると判定することを特
徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の画像処理にお
ける接続線の傾斜検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63044790A JP2545570B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 画像処理による接続線の傾斜検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63044790A JP2545570B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 画像処理による接続線の傾斜検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01217682A JPH01217682A (ja) | 1989-08-31 |
| JP2545570B2 true JP2545570B2 (ja) | 1996-10-23 |
Family
ID=12701206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63044790A Expired - Lifetime JP2545570B2 (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 画像処理による接続線の傾斜検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2545570B2 (ja) |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP63044790A patent/JP2545570B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01217682A (ja) | 1989-08-31 |
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