JP2962014B2 - 端子圧着位置検査装置 - Google Patents
端子圧着位置検査装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は各種ワイヤハーネスの端
子圧着位置の自動検査に用いて有用な検査装置に関す
る。
子圧着位置の自動検査に用いて有用な検査装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図７に端子を圧着した多芯の被覆電線を
示す。図７において、端子１は第１つかみ部２と、第２
つかみ部３と、接続部４（図では筒状の雄形接続部）と
が順に形成されたものであり、被覆電線５に対して、第
１つかみ部２が被覆６上から環状に圧着され、第２つか
み部３が導体部７上に環状に圧着され、接続部４内に導
体部７の先端が入り込んでいる。
示す。図７において、端子１は第１つかみ部２と、第２
つかみ部３と、接続部４（図では筒状の雄形接続部）と
が順に形成されたものであり、被覆電線５に対して、第
１つかみ部２が被覆６上から環状に圧着され、第２つか
み部３が導体部７上に環状に圧着され、接続部４内に導
体部７の先端が入り込んでいる。
【０００３】被覆電線５に端子１を圧着する場合、両者
の位置関係が重要であり、図７（ａ）に示すように被覆
端部６Ａが第１つかみ部２から所定範囲Ｌだけ露出する
ように圧着する。これにより、第１つかみ部２が確実に
被覆６に圧着し、第２つかみ部３が確実に導体部７に圧
着する。同図７（ｂ）に示すように被覆端部６Ａが過大
に露出している場合は、被覆の除去不足等が原因のいわ
ゆる樹脂かみ不良であり、極端な場合は（ｃ）に示すよ
うに第２つかみ部３も被覆７上に圧着し、接触不良とな
る。逆に同図７（ｄ）に示すように被覆端部６Ａが第１
つかみ部２内にひっこんでいる場合は、被覆除去過剰等
が原因のいわゆる首つり不良であり、わずかな外力で被
覆６が端子１から抜けて導体部７が露出する恐れがあ
る。
の位置関係が重要であり、図７（ａ）に示すように被覆
端部６Ａが第１つかみ部２から所定範囲Ｌだけ露出する
ように圧着する。これにより、第１つかみ部２が確実に
被覆６に圧着し、第２つかみ部３が確実に導体部７に圧
着する。同図７（ｂ）に示すように被覆端部６Ａが過大
に露出している場合は、被覆の除去不足等が原因のいわ
ゆる樹脂かみ不良であり、極端な場合は（ｃ）に示すよ
うに第２つかみ部３も被覆７上に圧着し、接触不良とな
る。逆に同図７（ｄ）に示すように被覆端部６Ａが第１
つかみ部２内にひっこんでいる場合は、被覆除去過剰等
が原因のいわゆる首つり不良であり、わずかな外力で被
覆６が端子１から抜けて導体部７が露出する恐れがあ
る。
【０００４】そこで、端子圧着位置の良否を検査する必
要があるが、人間による目視検査を省くため、特開昭５
７−１７５９４２号公報や特開昭６０−１９８４７３号
公報に開示されるような光学的検査装置が開発されてき
た。
要があるが、人間による目視検査を省くため、特開昭５
７−１７５９４２号公報や特開昭６０−１９８４７３号
公報に開示されるような光学的検査装置が開発されてき
た。
【０００５】〔第１従来例〕 特開昭５７−１７５９４
２号公報の検査装置では、端子が圧着された被覆電線に
対して被覆表面の色と同一の色光をフィルタで作り第１
偏光板を通して照射し、その反射光を第１偏光板とは９
０度偏光方向が異なる第２偏光板を通して受光素子で受
光し、受光素子を走査したときの受光量の変化を予め定
めた変化パターンと比較して許容範囲内か否かにより良
否を判定する。つまり、被覆電線５の導体部７及び端子
１の各部２〜４は金属で表面がほぼ滑らかなので、これ
らからの反射光は第１偏光板による偏光状態にあり、従
って第２偏光板を通過できず、受光できる反射光が弱
い。これに対し、被覆６では乱反射するので反射光は第
２偏光板を通過でき、受光できる反射光が強い。従っ
て、走査時の受光量の変化から被覆端部６Ａの長さを知
ることができ、端子圧着位置の良否を判定できる。
２号公報の検査装置では、端子が圧着された被覆電線に
対して被覆表面の色と同一の色光をフィルタで作り第１
偏光板を通して照射し、その反射光を第１偏光板とは９
０度偏光方向が異なる第２偏光板を通して受光素子で受
光し、受光素子を走査したときの受光量の変化を予め定
めた変化パターンと比較して許容範囲内か否かにより良
否を判定する。つまり、被覆電線５の導体部７及び端子
１の各部２〜４は金属で表面がほぼ滑らかなので、これ
らからの反射光は第１偏光板による偏光状態にあり、従
って第２偏光板を通過できず、受光できる反射光が弱
い。これに対し、被覆６では乱反射するので反射光は第
２偏光板を通過でき、受光できる反射光が強い。従っ
て、走査時の受光量の変化から被覆端部６Ａの長さを知
ることができ、端子圧着位置の良否を判定できる。
【０００６】しかし、上述した第１従来技術には下記の
ような欠点がある。 （１）被覆電線５の種類やサイズ等の違いにより被覆表
面の色が異なると、色毎に余色のフィルタを交換する必
要があり、作業が面倒である。 （２）また、反射光の強弱により検査を行うため、被覆
電線５の位置や姿勢がわずかに変化しても反射光量が大
きく変わるので、検査が困難である。 （３）更に、被覆色がストライプ状またはドット状で、
１本の被覆電線に複数色が混在する場合は、検査をする
ことができない。
ような欠点がある。 （１）被覆電線５の種類やサイズ等の違いにより被覆表
面の色が異なると、色毎に余色のフィルタを交換する必
要があり、作業が面倒である。 （２）また、反射光の強弱により検査を行うため、被覆
電線５の位置や姿勢がわずかに変化しても反射光量が大
きく変わるので、検査が困難である。 （３）更に、被覆色がストライプ状またはドット状で、
１本の被覆電線に複数色が混在する場合は、検査をする
ことができない。
【０００７】〔第２従来技術〕 特開昭６０−１９８４
７３号公報の検査装置では、端子が圧着された被覆電線
に対して赤外線を照射し、その反射光をフィルタに通し
て受光し、受光素子を走査したときの受光量の変化を予
め定めた変化パターンと比較して許容範囲内か否かによ
り良否を判定する。つまり、被覆電線５の導体７及び端
子１の各部２〜４では金属材料のため赤外線の反射率が
高いが、被覆６では特定の波長で吸収があり反射率が低
いので、走査時の受光量の変化から被覆端部６Ａの長さ
を知ることができ、端子圧着位置の良否を判定すること
ができる。
７３号公報の検査装置では、端子が圧着された被覆電線
に対して赤外線を照射し、その反射光をフィルタに通し
て受光し、受光素子を走査したときの受光量の変化を予
め定めた変化パターンと比較して許容範囲内か否かによ
り良否を判定する。つまり、被覆電線５の導体７及び端
子１の各部２〜４では金属材料のため赤外線の反射率が
高いが、被覆６では特定の波長で吸収があり反射率が低
いので、走査時の受光量の変化から被覆端部６Ａの長さ
を知ることができ、端子圧着位置の良否を判定すること
ができる。
【０００８】しかし、上述した第２従来技術には下記の
ような欠点がある。 （１）被覆電線５の被覆材質により赤外線吸収波長が異
なるために反射率が異なる場合は、被覆材質毎にフィル
タを吸収波長に合ったものに交換する必要があり、作業
が面倒である。
ような欠点がある。 （１）被覆電線５の被覆材質により赤外線吸収波長が異
なるために反射率が異なる場合は、被覆材質毎にフィル
タを吸収波長に合ったものに交換する必要があり、作業
が面倒である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】第１，第２いずれの従
来技術でも、反射光の強さまたは多さの変化により、端
子１の各部２〜４、被覆電線５の被覆６、被覆端部６
Ａ、導体７を見分ける方法なので、これら反射部の被覆
色、表面状況、被覆材質等の変化に対して反射光量が異
なり検査が不安定であり、安定化のためにフィルタ交換
が不可欠である。本発明は、このような従来技術の問題
点を解決した端子圧着位置検査装置を提供することを目
的とする。
来技術でも、反射光の強さまたは多さの変化により、端
子１の各部２〜４、被覆電線５の被覆６、被覆端部６
Ａ、導体７を見分ける方法なので、これら反射部の被覆
色、表面状況、被覆材質等の変化に対して反射光量が異
なり検査が不安定であり、安定化のためにフィルタ交換
が不可欠である。本発明は、このような従来技術の問題
点を解決した端子圧着位置検査装置を提供することを目
的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の端子圧着位置検
査装置の構成は、被覆電線の端子が圧着された被検査部
にほぼ真上方向から被検査部の長さ方向に沿ってスリッ
ト光を照射する光源と、被検査部表面のスリット光の光
跡を斜め横方向から撮影するカメラと、カメラが出力す
る画像信号より得られる光跡から端子圧着位置の良否を
判定する画像処理装置とを具備する端子圧着位置検査装
置において、前記画像処理装置が画像処理の画面上で複
数本の検査ウィンドウを発生し、前記複数本の検査ウィ
ンドウと前記画像信号より得られる光跡とが交差する位
置を検査点とし、各検査点毎に予め決まった判定基準で
端子圧着位置の良否を判定するものであることを特徴と
するものである。
査装置の構成は、被覆電線の端子が圧着された被検査部
にほぼ真上方向から被検査部の長さ方向に沿ってスリッ
ト光を照射する光源と、被検査部表面のスリット光の光
跡を斜め横方向から撮影するカメラと、カメラが出力す
る画像信号より得られる光跡から端子圧着位置の良否を
判定する画像処理装置とを具備する端子圧着位置検査装
置において、前記画像処理装置が画像処理の画面上で複
数本の検査ウィンドウを発生し、前記複数本の検査ウィ
ンドウと前記画像信号より得られる光跡とが交差する位
置を検査点とし、各検査点毎に予め決まった判定基準で
端子圧着位置の良否を判定するものであることを特徴と
するものである。
【００１１】
【作用】被検査部の外形には凹凸があるので、そこにほ
ぼ真上方向から長手方向に沿うスリット光を照射する
と、斜め横方向から見た光跡も段が付いた凹凸形状とな
る。そして、段の高さ、段と段の間隔は端子の圧着位置
に応じたものとなる。従って、光跡をカメラで撮影して
画像処理の画面上で複数本の検査ウィンドウを発生し、
前記複数本の検査ウィンドウと前記光跡とが交差する位
置を検査点とし、各検査点毎に予め決まった判定基準で
端子圧着位置の良否を判定するという、画像処理によ
り、光跡の形状から端子圧着位置の良否を判定すること
ができる。
ぼ真上方向から長手方向に沿うスリット光を照射する
と、斜め横方向から見た光跡も段が付いた凹凸形状とな
る。そして、段の高さ、段と段の間隔は端子の圧着位置
に応じたものとなる。従って、光跡をカメラで撮影して
画像処理の画面上で複数本の検査ウィンドウを発生し、
前記複数本の検査ウィンドウと前記光跡とが交差する位
置を検査点とし、各検査点毎に予め決まった判定基準で
端子圧着位置の良否を判定するという、画像処理によ
り、光跡の形状から端子圧着位置の良否を判定すること
ができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の端子圧着位置検査装置の一実
施例を、図面を参照して説明する。図１（斜視図）、図
２（側面図）及び図３（平面図）に示すように、端子圧
着位置検査装置は、スリット光１２を出力するレーザ光
源１３と、カメラ１４と、画像処理装置１５とからな
る。図中、被検査部１１は被覆電線５に端子１が圧着さ
れた部分であり、図２中左側から順に被覆電線５の被覆
６、端子１の第１つかみ部２、被覆端部６Ａ、導体部
７、第２つかみ部３、導体部７及び接続部４が存在して
いる。端子１が圧着された被覆電線５は図示省略の搬送
装置上に載置されて送られてくる。
施例を、図面を参照して説明する。図１（斜視図）、図
２（側面図）及び図３（平面図）に示すように、端子圧
着位置検査装置は、スリット光１２を出力するレーザ光
源１３と、カメラ１４と、画像処理装置１５とからな
る。図中、被検査部１１は被覆電線５に端子１が圧着さ
れた部分であり、図２中左側から順に被覆電線５の被覆
６、端子１の第１つかみ部２、被覆端部６Ａ、導体部
７、第２つかみ部３、導体部７及び接続部４が存在して
いる。端子１が圧着された被覆電線５は図示省略の搬送
装置上に載置されて送られてくる。
【００１３】レーザ光源１３は搬送装置の上方に設置
し、ほぼ真上方向から被検査部１１に対して、その長手
方向に沿ってスリット光１２を照射するようにしてあ
る。
し、ほぼ真上方向から被検査部１１に対して、その長手
方向に沿ってスリット光１２を照射するようにしてあ
る。
【００１４】カメラ１４はＣＣＤの二次元撮像素子１４
Ａにレンズ１４Ｂの他、適宜なフィルタ１４Ｃを設けた
ものであり、搬送装置の側方且つ上方に設置し、被検査
部表面でのスリット光１２の光跡１６を斜め横方向から
撮影するようにしてある。なお、フィルタ１４Ｃの色及
びレーザ光源１３の波長は被覆６の色に左右されるもの
ではなく、外乱光を除いてできるだけ光跡のみを撮影で
きるものであれば良い。
Ａにレンズ１４Ｂの他、適宜なフィルタ１４Ｃを設けた
ものであり、搬送装置の側方且つ上方に設置し、被検査
部表面でのスリット光１２の光跡１６を斜め横方向から
撮影するようにしてある。なお、フィルタ１４Ｃの色及
びレーザ光源１３の波長は被覆６の色に左右されるもの
ではなく、外乱光を除いてできるだけ光跡のみを撮影で
きるものであれば良い。
【００１５】画像処理装置１５はカメラ１４からのアナ
ログ画像信号を入力して、撮影した光跡の凹凸形状から
端子１の圧着位置の良否を判定するものであり、図４に
示すように、基本的にはＡ−Ｄ変換器１５Ａと、画像処
理部１５Ｂと、中央処理装置（ＣＰＵ）１５Ｃとで構成
してあるが、上部ＣＰＵ等の外部機器との情報授受のた
めに外部インターフェイス１５Ｄを有すると共に、カメ
ラ１４が撮影した光跡の画像処理後の映像をモニタ１７
に表示するためにＤ−Ａ変換器１５Ｅを有している。
ログ画像信号を入力して、撮影した光跡の凹凸形状から
端子１の圧着位置の良否を判定するものであり、図４に
示すように、基本的にはＡ−Ｄ変換器１５Ａと、画像処
理部１５Ｂと、中央処理装置（ＣＰＵ）１５Ｃとで構成
してあるが、上部ＣＰＵ等の外部機器との情報授受のた
めに外部インターフェイス１５Ｄを有すると共に、カメ
ラ１４が撮影した光跡の画像処理後の映像をモニタ１７
に表示するためにＤ−Ａ変換器１５Ｅを有している。
【００１６】次に、画像処理装置１５の動作を説明す
る。まず、被検査部１１の断面構造は図５（ａ）に示す
通りなので（但し、良品）、被検査部１１の表面でのス
リット光の光跡（反射光）は斜め横方向から見ると、図
５（ｂ）に示すような凹凸のもの１６となる。カメラ１
４は光跡１６のアナログ画像信号を出力するので、これ
をＡ−Ｄ変換器１５Ａでディジタル信号に変換し、画像
処理部１６Ｂで適宜な二値化処理を行ったのち、図５
（ｂ）に示すように、画像処理の画面上で複数本の検査
ウィンドウＷ１〜Ｗ６を発生し、光跡１６と交叉する位
置Ｐ１〜Ｐ６を検出する。なお、各検査ウィンドウＷ１
〜Ｗ６は１〜複数に画素幅で走査するものとしてあり、
そのうち検査ウィンドウＷ１は縦方向に走査して、端子
１の第２つかみ部３の画面中の高さＰ１を検出する。検
査ウィンドウＷ２はＰ１より数画素上の位置で横方向に
走査して、端子１の横方向基準位置Ｐ２（接続部４の左
外側付近）を検出する。検査ウィンドウＷ３は横方向基
準位置Ｐ２より数画素右側で縦方向に走査して、端子１
の縦方向基準位置Ｐ３（接続部４の高さ）を検出する。
検査ウィンドウＷ４は横方向基準位置Ｐ２より所定寸法
左側で縦方向に走査して、第２つかみ部３の左端外での
導体部７の高さＰ４を検出する。検査ウィンドウＷ５は
横方向基準位置Ｐ２より所定寸法左側で縦方向に走査し
て、第１つかみ部２の右側に隣接した被覆端部６Ａの高
さＰ５を検出する。検査ウィンドウＷ６はＰ５より数画
素下の位置で横方向に走査して、被覆端部６Ａと第２つ
かみ部３間での導体部７の横方向位置Ｐ６を検出する。
る。まず、被検査部１１の断面構造は図５（ａ）に示す
通りなので（但し、良品）、被検査部１１の表面でのス
リット光の光跡（反射光）は斜め横方向から見ると、図
５（ｂ）に示すような凹凸のもの１６となる。カメラ１
４は光跡１６のアナログ画像信号を出力するので、これ
をＡ−Ｄ変換器１５Ａでディジタル信号に変換し、画像
処理部１６Ｂで適宜な二値化処理を行ったのち、図５
（ｂ）に示すように、画像処理の画面上で複数本の検査
ウィンドウＷ１〜Ｗ６を発生し、光跡１６と交叉する位
置Ｐ１〜Ｐ６を検出する。なお、各検査ウィンドウＷ１
〜Ｗ６は１〜複数に画素幅で走査するものとしてあり、
そのうち検査ウィンドウＷ１は縦方向に走査して、端子
１の第２つかみ部３の画面中の高さＰ１を検出する。検
査ウィンドウＷ２はＰ１より数画素上の位置で横方向に
走査して、端子１の横方向基準位置Ｐ２（接続部４の左
外側付近）を検出する。検査ウィンドウＷ３は横方向基
準位置Ｐ２より数画素右側で縦方向に走査して、端子１
の縦方向基準位置Ｐ３（接続部４の高さ）を検出する。
検査ウィンドウＷ４は横方向基準位置Ｐ２より所定寸法
左側で縦方向に走査して、第２つかみ部３の左端外での
導体部７の高さＰ４を検出する。検査ウィンドウＷ５は
横方向基準位置Ｐ２より所定寸法左側で縦方向に走査し
て、第１つかみ部２の右側に隣接した被覆端部６Ａの高
さＰ５を検出する。検査ウィンドウＷ６はＰ５より数画
素下の位置で横方向に走査して、被覆端部６Ａと第２つ
かみ部３間での導体部７の横方向位置Ｐ６を検出する。
【００１７】画像処理部１５Ｂが検出した位置Ｐ１〜Ｐ
６から、ＣＰＵ１５Ｃが良否判定の演算を行う。下記
〜に、端子圧着不良の判定演算式の例を示す。また、
図６（ａ），（ｂ），（ｃ）に不良例を図示する。 Ｐ３−Ｐ１＞Ｇ3-1 （Ｇ3-1 は良品での高さＰ３と
Ｐ１の高さ差）：これは樹脂かみ不良であり、図６
（ａ）に示す如く極端な被覆除去不足のため、第２つか
み部３が被覆端部６Ａ上に圧着していることを示す。 Ｐ４−Ｐ１＞Ｇ4-1 （Ｇ4-1 は良品における高さＰ
４とＰ１の高さ差）：これも樹脂かみ不良であるが、こ
の場合は図６（ｂ）に示す如く被覆除去がわずかに不足
したため、その分被覆端部６Ａが長くなり、第２つかみ
部３が圧着した導体部７の傾斜が急峻であることを示
す。 Ｐ５＜Ｇ5 （Ｇ5 は良品でのＰ５の被覆高さ）：こ
れは首つり不良であり、図６（ｃ）に示す如く過剰な被
覆除去のため、被覆端部６Ａが第１つかみ部２内にもぐ
り込んでいることを示す。 Ｐ５−Ｐ１＞Ｇ5-1 （Ｇ5-1 は良品での高さＰ５と
Ｐ１の高さ差）：これも首つり不良であり、図６（ｃ）
に示す如く、過剰な被覆除去のため、本来は被覆端部６
Ａがあるべき位置で導体部７が露出して高さＰ５が低く
なっていることを示す。 Ｐ６〜Ｐ２の距離＞Ｇ6-2 （Ｇ6-2 は良品での位置
Ｐ６とＰ２の最大横方向位置差）：これも首つり不良で
あり、図６（ｃ）に示す如く、過剰な被覆除去のため、
導体部７の長さが長すぎることを示している。 Ｐ６〜Ｐ２の距離＜Ｇ′6-2 （Ｇ′6-2 は良品での
位置Ｐ６とＰ２の最小横方向位置差）：これは樹脂かみ
不良であり、図６（ａ）または（ｂ）に示す如く、被覆
除去不良のため、導体部７の長さが短かすぎることを示
している。
６から、ＣＰＵ１５Ｃが良否判定の演算を行う。下記
〜に、端子圧着不良の判定演算式の例を示す。また、
図６（ａ），（ｂ），（ｃ）に不良例を図示する。 Ｐ３−Ｐ１＞Ｇ3-1 （Ｇ3-1 は良品での高さＰ３と
Ｐ１の高さ差）：これは樹脂かみ不良であり、図６
（ａ）に示す如く極端な被覆除去不足のため、第２つか
み部３が被覆端部６Ａ上に圧着していることを示す。 Ｐ４−Ｐ１＞Ｇ4-1 （Ｇ4-1 は良品における高さＰ
４とＰ１の高さ差）：これも樹脂かみ不良であるが、こ
の場合は図６（ｂ）に示す如く被覆除去がわずかに不足
したため、その分被覆端部６Ａが長くなり、第２つかみ
部３が圧着した導体部７の傾斜が急峻であることを示
す。 Ｐ５＜Ｇ5 （Ｇ5 は良品でのＰ５の被覆高さ）：こ
れは首つり不良であり、図６（ｃ）に示す如く過剰な被
覆除去のため、被覆端部６Ａが第１つかみ部２内にもぐ
り込んでいることを示す。 Ｐ５−Ｐ１＞Ｇ5-1 （Ｇ5-1 は良品での高さＰ５と
Ｐ１の高さ差）：これも首つり不良であり、図６（ｃ）
に示す如く、過剰な被覆除去のため、本来は被覆端部６
Ａがあるべき位置で導体部７が露出して高さＰ５が低く
なっていることを示す。 Ｐ６〜Ｐ２の距離＞Ｇ6-2 （Ｇ6-2 は良品での位置
Ｐ６とＰ２の最大横方向位置差）：これも首つり不良で
あり、図６（ｃ）に示す如く、過剰な被覆除去のため、
導体部７の長さが長すぎることを示している。 Ｐ６〜Ｐ２の距離＜Ｇ′6-2 （Ｇ′6-2 は良品での
位置Ｐ６とＰ２の最小横方向位置差）：これは樹脂かみ
不良であり、図６（ａ）または（ｂ）に示す如く、被覆
除去不良のため、導体部７の長さが短かすぎることを示
している。
【００１８】なお、カメラ１４と光源１３の位置を入れ
かえるなど、被検査部１１より上方であれば、これらの
位置は任意で良い。
かえるなど、被検査部１１より上方であれば、これらの
位置は任意で良い。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、反射光の強さや多さを
用いた検査ではなく、スリット光を上から照射したとき
の光跡を斜め横方向からカメラで撮影し、被検査部に凹
凸がある場合には光跡にも凹凸ができることに着目し
て、画像処理の画面上で複数本の検査ウィンドウを発生
し、前記複数本の検査ウィンドウと前記光跡とが交差す
る位置を検査点とし、各検査点毎に予め決まった判定基
準で端子圧着位置の良否を判定する。従い、電線の被覆
色に左右されずに検査することができる。また、電線被
覆の色、つや、ざらつきといった表面状況に左右されず
に検査することができる。また、電線被覆の材質や端子
の材質に左右されずに検査することができる。また、電
線や端子の種類が変ってもハードウェア構成の変更が不
要である。これらのため、端子圧着位置の自動的検査が
可能となる。更に、端子圧着位置検査として被検査部の
裏側から光を当てその透過光を表側からカメラでとら
え、シルエットの形状から良否を判定する透過光方式が
考えられるが、この場合は被検査部の搬送ラインと干渉
して一般的には光源及びカメラを設置できないのに対
し、本発明では光源もカメラも上方に位置するので搬送
ラインとの干渉が生じない。
用いた検査ではなく、スリット光を上から照射したとき
の光跡を斜め横方向からカメラで撮影し、被検査部に凹
凸がある場合には光跡にも凹凸ができることに着目し
て、画像処理の画面上で複数本の検査ウィンドウを発生
し、前記複数本の検査ウィンドウと前記光跡とが交差す
る位置を検査点とし、各検査点毎に予め決まった判定基
準で端子圧着位置の良否を判定する。従い、電線の被覆
色に左右されずに検査することができる。また、電線被
覆の色、つや、ざらつきといった表面状況に左右されず
に検査することができる。また、電線被覆の材質や端子
の材質に左右されずに検査することができる。また、電
線や端子の種類が変ってもハードウェア構成の変更が不
要である。これらのため、端子圧着位置の自動的検査が
可能となる。更に、端子圧着位置検査として被検査部の
裏側から光を当てその透過光を表側からカメラでとら
え、シルエットの形状から良否を判定する透過光方式が
考えられるが、この場合は被検査部の搬送ラインと干渉
して一般的には光源及びカメラを設置できないのに対
し、本発明では光源もカメラも上方に位置するので搬送
ラインとの干渉が生じない。
【図１】本発明の一実施例を示す斜視図。
【図２】同実施例の側面図。
【図３】同実施例の平面図。
【図４】画像処理装置の構成例を示す図。
【図５】画像処理の説明図。
【図６】不良判定例を示す断面図。
【図７】端子圧着例を示す図。
１ 端子 ２ 第１つかみ部 ３ 第２つかみ部 ４ 接続部 ５ 被覆電線 ６ 被覆 ６Ａ 被覆端部 ７ 導体部 １１ 被検査部 １２ スリット光 １３ レーザ光源 １４ カメラ １５ 画像処理装置 １６ 光跡 １７ モニタ
Claims (1)
- 【請求項１】 被覆電線の端子が圧着された被検査部に
ほぼ真上方向から被検査部の長さ方向に沿ってスリット
光を照射する光源と、被検査部表面のスリット光の光跡
を斜め横方向から撮影するカメラと、カメラが出力する
画像信号より得られる光跡から端子圧着位置の良否を判
定する画像処理装置とを具備する端子圧着位置検査装置
において、 前記画像処理装置が画像処理の画面上で複数本の検査ウ
ィンドウを発生し、前記複数本の検査ウィンドウと前記
画像信号より得られる光跡とが交差する位置を検査点と
し、各検査点毎に予め決まった判定基準で端子圧着位置
の良否を判定するものであることを特徴とする 端子圧着
位置検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3324608A JP2962014B2 (ja) | 1991-12-09 | 1991-12-09 | 端子圧着位置検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3324608A JP2962014B2 (ja) | 1991-12-09 | 1991-12-09 | 端子圧着位置検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05157526A JPH05157526A (ja) | 1993-06-22 |
| JP2962014B2 true JP2962014B2 (ja) | 1999-10-12 |
Family
ID=18167720
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3324608A Expired - Fee Related JP2962014B2 (ja) | 1991-12-09 | 1991-12-09 | 端子圧着位置検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2962014B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07243821A (ja) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Japan Tobacco Inc | 線状材の検査方法 |
| JP5619813B2 (ja) * | 2012-04-27 | 2014-11-05 | 古河電気工業株式会社 | 圧着形状情報取得方法、及び、圧着形状情報取得装置 |
-
1991
- 1991-12-09 JP JP3324608A patent/JP2962014B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05157526A (ja) | 1993-06-22 |
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