JP3287789B2

JP3287789B2 - キャップ付き被覆電線の検査装置

Info

Publication number: JP3287789B2
Application number: JP17602297A
Authority: JP
Inventors: 永和陳; 敏寛上谷; 秀樹林
Original assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd; Hokuyo Automatic Co Ltd
Current assignee: Sumitomo Wiring Systems Ltd; Hokuyo Automatic Co Ltd
Priority date: 1997-07-01
Filing date: 1997-07-01
Publication date: 2002-06-04
Anticipated expiration: 2017-07-01
Also published as: JPH1123226A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被覆が剥ぎ取られた端
部にキャップを取付けた被覆電線を、高速送りしなが
ら、キャップ取付け状態及び被覆の剥き取り状態の良否
判定を行う検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】被覆電線の端部に取り付けた端子金具を
利用して、相手方の機器との電気的接続を行う場合にお
いて、予め、被覆電線の端部にキャップを嵌めておき、
端子金具を相手方端子と接続すると同時に、キャップを
相手方機器に設けたキャップ受けに嵌め合せて防水・防
塵を行う場合がある。

【０００３】このような被覆電線の端部加工を行う自動
機は、図９に示すような(a) 被覆電線の定寸での切断、
(b) キャップの装着、(c) 端部被覆の剥ぎ取り、及び
(d) 端子金具の固着を、図１０、図１１に示すような作
業工程により行っている。

【０００４】図１０において、直線上の被覆電線の通過
路の途中に、切断・キャップ装着・被覆剥ぎ取りポジシ
ョンＭ、端子金具のカシメ止めポジションＮがある。被
覆電線１は図中右側から長尺な状態で供給され、切断・
キャップ装着・被覆剥ぎ取りポジションＭに送られる。
ここで、切断用カッターで定寸に切断した後、キャップ
２を嵌め入れ、この後に剥ぎ取り用カッターで皮剥き部
分を把持し、被覆電線１をクランプしたスライダを引く
ことにより端部絶縁被覆１ａの皮剥きを行う。絶縁被覆
１ａが剥ぎ取られた被覆電線１は、クランパ３でクラン
プされた状態で、図１１に示すように、アーム回転によ
ってカシメ止めポジションＮに高速送りされ、皮剥きに
よって突出した芯線４に端子金具５がプレス機でカシメ
止めされる。

【０００５】上記被覆電線の自動機を使用すると、キャ
ップの取付けに関して、図１２に示すような、(a) 取付
位置不良、(b) キャップなし不良、(c) キャップ向き不
良が発生することがある。

【０００６】また、電線の皮剥きに関して、図１３に示
すように、(a) 被覆残り、(b) (c)芯線の一部を切り取
ってしまう剥き過ぎ、(d) 芯線をも切断する切り落と
し、(e) 芯線の広がり不良、(f) ひげ発生不良が発生す
ることがある。

【０００７】上記キャップの取付不良や皮剥き不良が発
生したときは、端子金具を取付けても不良品となってし
まう。したがって、キャップ取付けと皮剥きを行った直
後に不良検出を行なって不良品を加工ラインから排除
し、無駄な加工をなくし不良製品の発生を未然に防止す
る必要がある。

【０００８】従来、上記キャップの取付け不良を検出す
るセンサは知られていない。

【０００９】また、皮剥き不良の検出を行う装置とし
て、本出願人は、２次元ＣＣＤセンサを用いた被覆電線
の皮剥き不良検出器を出願している（特開平７−１９８
１９号公報）。

【００１０】この発明は、被覆電線端部の影を２次元Ｃ
ＣＤセンサで撮影し、これを２値化したデータをプログ
ラム処理して、皮剥き不良を検出している。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】キャップの取付不良を
検出するセンサがないと、皮剥き不良を検出していても
不良品を完全に加工ラインから排除できない。

【００１２】また、上記被覆電線の皮剥き不良検出器
は、(c) 芯線の先端部の一部切り落とし不良、(e) 芯線
の広がり不良、(f) ひげ発生不良を検出する機能がない
ため、不良品の排除に限界があった。

【００１３】そこで、この発明は、キャップの取り付け
不良を検出できると同時に、(c) 芯線の先端部の一部切
り落とし不良、(e) 芯線の広がり不良、(f) ひげ発生不
良の検出も行なえるキャップ付き被覆電線の検査装置を
提供する。

【００１４】

【課題を解決するための手段】

(1) この発明は、キャップが取付けられた端部をフリー
な状態にしてクランパで定位置を把持され、このクラン
パによって所定の経路を高速移動中のキャップ付き被覆
電線に対して、キャップ取付状態を検査する検査装置と
して、次の構成を持つものを提供する。

【００１５】すなわち、上記被覆電線が、検査位置に達
したことを検出する同期検出センサと、この検出時に、
電子シャッタを開いて、電線端部の画像を撮影する２次
元ＣＣＤセンサと、

【００１６】２次元ＣＣＤセンサの出力を２値化し、影
となるキャップ及び電線端部とそれ以外の部分を区別す
る２値化回路と、上記２値化画像を記憶する静止画像メ
モリと、検査する被覆電線とキャップについて、電線外
径Ｅ、キャップ基端αからキャップの基端側測定部まで
の距離ｇ₀、キャップ先端βからキャップの先端側測定
部までの距離ｈ₀、上記２値化画像におけるキャップ先
端βの被覆電線先端方向への位置ずれ限界ラインＦを設
定する設定部と、

【００１７】上記２値化画像において、電線と直交する
方向の影の長さＬを、電線のクランパ側から電線端方向
に向かって逐時測定し、Ｌが電線外径Ｅ＋Δ（誤差を吸
収する固定値）より小さい値からこれを超える値に変化
する位置をキャップ基端αとして検出し、Ｌが電線外径
Ｅ＋Δより大きい値からこれより小さい値に変化する位
置をキャップ先端βとして検出するキャップ端検出手段
と、

【００１８】上記測定を位置ずれ限界ラインＦまで行な
っても、キャップ基端αとキャップ先端βが共に検出さ
れないとき、キャップなし又はキャップ位置不良として
出力するキャップ装着不良の検出手段と、

【００１９】上記キャップ基端αから電線端方向に上記
距離ｇ₀だけ離れた位置Ｇ₁から、さらに同方向に所定距
離ｇ₁だけ離れた位置Ｇ₂までの間で、電線と直交する方
向の影の長さＬを算出し、その平均長さＧを求める基端
側測定部の測長手段と、

【００２０】上記キャップ先端βから電線のクランプ位
置方向に上記距離ｈ₀だけ離れた位置Ｈ₁から、さらに同
方向に所定距離ｈ₁だけ離れた位置Ｈ₂までの間で、電線
と直交する方向の影の長さＬを算出し、その平均長さＨ
を算出する先端側測定部の測長手段と、

【００２１】上記平均長さの比Ｇ／Ｈを基準値と比較
し、基準値を満足しないときキャップ向き不良の出力を
発生するキャップ向き不良の検出手段とを具備したこと
を特徴とする。

【００２２】(2) 上記キャップの取付不良の検査装置
は、同時に皮剥き不良の検出を行なうようにすることが
できる。これは、上記キャップの取付不良の検査機能に
加えて、以下の構成手段を付加することによって行う。

【００２３】すなわち、上記２値化画像において、電線
端近傍で電線と直交するＣラインを設定する設定部と、
キャップ先端βとＣラインの間で、計測位置を電線の延
び方向に沿って変化させながら、電線と直交する方向の
影の長さＬを計測し、その長さの変化率が所定値を超え
かつ最大となる位置を、被覆の剥き取り境界Ａ′として
検出し、この境界Ａ′が見つからないときストリップ不
良信号を出力する剥き取り境界検出手段と、

【００２４】上記ストリップ境界Ａ′に対して、電線端
方向に微小距離だけ離れた位置をＢライン、クランプ位
置方向に微小距離だけ離れた位置をＡラインとして設定
し、Ｂラインの影の長さＬ_Bに対するＡラインの影の長
さＬ_Aの比Ｌ_B／Ｌ_Aが設定範囲内にないとき、皮剥き不
良又は剥き過ぎ不良として出力する皮剥き不良判定手段
を付加することにより、先に述べた(a) 被覆残り、(b)
剥き過ぎ、(d) 芯線をも切断する切り落としを検出す
る。

【００２５】(3) 上記(2) の皮剥き不良検出の基本構成
には、次の手段を付加することができる。

【００２６】キャップ先端βとＣラインの間で、計測
位置を電線の延び方向に沿って変化させながら、電線と
直交する方向の影の長さＬを計測し、各計測ラインの影
の中に存在する光を通過させる穴を２値化データのドッ
ト数でカウントし、１ラインの計測時に、このカウント
数が所定数以上発生したとき(e) の芯線の広がり不良信
号を出力する広がり不良検出手段

【００２７】上記２値化画像において、電線端近傍で
電線から離隔して電線の延び方向と直交するＤラインを
設定部で設定し、Ｄライン中に、影となっている部分
が、２値化データのドット数で所定数以上あるとき、
(f) のひげ発生不良信号を出力するひげ発生不良検出手
段

【００２８】Ｃラインの影の長さＬ_CとＢラインの影
の長さＬ_Bの比が所定範囲にないとき、(e) の芯線の広
がり不良、又は(c) の芯線の一部切断不良として出力す
る芯線端部不良の検出手段

【００２９】

【実施例】図１は、この発明のキャップ付き被覆電線の
検査装置１０の全体構成を示すブロック図である。

【００３０】１１は、図１１に示すように、キャップ２
を嵌められ端部被覆をストリップされた状態で、クラン
パ３によって高速移動中の被覆電線１の端部の通過位置
に設置されるセンサ部で、同期検出センサ１２、電線端
部の画像を撮影する２次元ＣＣＤセンサ１４、２次元Ｃ
ＣＤセンサの出力を２値化する２値化回路１５を有す
る。この２次元ＣＣＤセンサ１４は、同期検出センサ１
２が電線を検出したとき瞬時に開く電子シャッタ１３を
備える。

【００３１】同期検出センサ１２は、透過型の光電スイ
ッチが使用され、その投光器１２ａと受光器１２ｂは、
図２に示すコ字型のセンサ部ケース１６の検出用凹部１
７の両側の面に対向して取付けられる。また、受光の有
無により被覆電線１の有無を判別する受光回路１２Ｃ
は、応答時間が、例えば２０μsec程度の高速動作する
ものが使用される。

【００３２】２次元ＣＣＤセンサ１４が有する電子シャ
ッタ１３は、例えば６４μsec程度の高速動作可能な電
子シャッタ１３を用い、図３(a) に示すように、検出用
凹部１７の一方の面の内側に取付けられる。

【００３３】２次元ＣＣＤセンサ１４は、例えばフォト
ダイオードを２次元配列し、各フォトダイオードが受光
量に応じて出力する電圧を、個別に順次取出せるように
したものである。検出用凹部１７において、この２次元
ＣＣＤセンサ１４が取付けられた面と反対側の面の内部
には、発光ダイオード等を光源１８ａとし、レンズ系１
８ｂにより平行光を得る平行光の照射部１８が組込まれ
る。この平行光の通過空間が図(b) に示す検知エリアと
なる。

【００３４】また、図３(c) に示すように、多数の光源
１８ａ′と拡散板２５を用いたバックライト照明１８′
により、被覆電線１とキャップをレンズ２６で結像させ
る光学系においても同等な効果が得られる。この場合、
結像レンズ２６と被覆電線１の距離が変動すると、像が
ぼけて不鮮明になったり、倍率が変動して真の電線径が
判定できなくなる。

【００３５】しかし、本装置は被覆電線１と２次元ＣＣ
Ｄセンサ１４が機械的に位置決めされているため（被覆
電線１はクランパ２で把持され、光軸方向に対し定位置
を通過する）、像がぼけ、検出が困難になることはな
い。

【００３６】２値化回路１５の２値化レベルは、周囲の
明るさ等に応じて最適値となるように調整可能である。

【００３７】図１に戻って、１９は上記２値化回路１５
から出力される２値化データ（例えば図４，図５，図６
に示すような明暗のビットイメージデータ）を記憶する
静止画像メモリ、２０は記憶された２値化データに対
し、後述するデータ処理を行なって良否判定を行う判定
部である。

【００３８】２１は上記センサ部１１の取付位置の調整
等を行うモニターテレビで、記憶された静止画像を、現
在処理中の段差の検出位置および測長する２直線ととも
に表示する。２２は制御部で、装置全体のデータの受け
渡し、動作・処理のタイミングを管理する。２３は操作
パネルで、線種に応じた判定値の設定・選択機能、及び
各種データの表示機能を有する。２４は設定部で、操作
パネル２３の操作によって、検査するキャップと被覆電
線に応じた各種設定値を設定する。

【００３９】上記判定部２０は、２値化画像の影の長さ
Ｌの測定部２５を持ち、この測定データを用いて各種処
理を行う。この判定部２０は、キャップの取り付け不良
の検査に関して、キャップ端検出手段２６、キャップ装
着不良検出手段２７、基端側測定部の測長手段２８、先
端側測定部の測長手段２９、キャップ向き不良の検出手
段３０を備える。

【００４０】また、この判定部２０は、被覆の剥き取り
不良の検査に関して、剥き取り境界検出手段３１、皮剥
き不良検出手段３２、穴開きドット数のカウンタ３３、
広がり不良検出手段３４、ひげ発生不良検出手段３５、
芯線先端部不良の検出手段３６を備える。

【００４１】これら判定部２０内の各処理手段は、マイ
クロコンピュータのプログラムによって構成され、この
動作フローチャートを図７（キャップの装着不良検査）
及び図８（剥き取り不良検査）に示す。

【００４２】上記本発明装置の動作を説明する。動作の
準備として、検査に用いる基準データを入力する。この
データは、検査する被覆電線とキャップに対応して、図
４，図５、図６に示すように２値化画像上の影の位置と
大きさが異なるので、検査対象を変える毎に行う。

【００４３】この設定内容は、キャップの検査に関し
て、電線の被覆を含めた外径Ｅ、検査するキャップによ
って決まるキャップ基端αから基部側測定部までの距離
ｇ₀、キャップ先端βから先端側測定部までの距離ｈ₀、
キャップ先端の位置ずれ限界ラインＦである。また、皮
剥き不良の検査に関して、上記２値化画像において、電
線端近傍で電線と直交するＣラインと、電線端近傍で電
線から離隔して電線の延び方向と直交するＤラインであ
る。

【００４４】検査は次のように行われる。キャップ２を
嵌められ、皮剥きされた被覆電線１の先端がクランパ３
で把持されて、センサ部ケース１６の検出用凹部１７を
通過しようとすると、同期検出用センサ１２がその遮光
状態を高速検出し、電子シャッタ１３を所定時間開く。
これによって被覆電線１及びキャップ２を影とする静止
画像が取り込まれ、２値化回路１５により２値化されて
静止画像メモリ１９に記憶される。この画像データは図
４、図５、図６に示すような明暗の画像としてモニター
テレビ２１に映し出される。

【００４５】この２値化画像が静止画像メモリ１９に記
憶されると、制御部２２は判定部２０に、図７、図８に
示すような処理を実行させる。

【００４６】この２値化画像は、明暗のビットイメージ
データで、以下の説明で、電線と直交する方向を横方向
に表わし、電線の延び方向を縦方向（上側を端部方向と
する）に表わし、横方向の１ビットデータの連なりを１
ラインと呼ぶことにする。この１ラインは、例えばＣＣ
Ｄセンサの１走査ラインに対応させる。

【００４７】初めにキャップ端検出手段２６により、キ
ャップ基端αとキャップ先端βを検出する。

【００４８】これは、例えば図４の２値化画像に対し
て、ノイズの影響を排除するため、図中下側の１０ライ
ンをマスクし、そこから１ラインづつ上に測定位置を変
化させながら、各ラインの影の長さＬを測定して行く。

【００４９】この長さＬが電線外径Ｅ＋Δ（誤差を吸収
する固定値）より小さい値からこれを超える値に変化す
る位置をキャップ基端αとして検出する。

【００５０】キャップ基端αが検出されると、長さＬが
電線外径Ｅ＋Δより大きい値からこれより小さい値に変
化する位置をキャップ先端βとして検出する。

【００５１】上記キャップ端検出を、キャップずれ限界
ラインＦに達するまで行なっても、キャップ基端αとキ
ャップ先端βの両者が検出されないときは、キャップが
嵌められていないと判断でき、キャップ基端αのみが検
出されたときはキャップがＦ点にまで被さっている状態
と判断できる。この場合は、キャップ装着不良の検出手
段２７がキャップなし不良〔図１２(b)〕又は取付位置
不良〔図１２(a)〕として出力する。

【００５２】キャップ基端αとキャップ先端βが検出さ
れると、基端側測定部の測長手段２８と、先端側測定部
の測長手段２９によって、キャップ両端の外径Ｇ，Ｈを
測定する。

【００５３】基端側測定部の測長手段２８は、上記キャ
ップ基端αから電線端方向に上記距離ｇ₀だけ離れた位
置Ｇ₁から、さらに同方向に所定距離ｇ₁だけ離れた位置
Ｇ₂までの間で、電線と直交する方向の影の長さＬを算
出し、その平均長さＧを求める。

【００５４】先端側測定部の測長手段２９は、上記キャ
ップ先端βから電線のクランプ位置方向に上記距離ｈ₀
だけ離れた位置Ｈ₁から、さらに同方向に所定距離ｈ₁だ
け離れた位置Ｈ₂ までの間で、電線と直交する方向の影
の長さＬを算出し、その平均長さＨを求める。

【００５５】なお、上記距離ｇ₀，ｈ₀は外径が急変化す
るキャップ端の測定を行なわないようにキャップの形状
に応じて設定部２４で設定された値である。また、上記
ｇ₁，ｈ₁ は、各種キャップについて略一定の外径寸法
が測定できるように定めた定数である。

【００５６】さらに、キャップ向き不良の検出手段３０
は、上記平均長さの比Ｇ／Ｈを基準値と比較し、基準値
を満足しないときキャップ向き不良の出力を発生する。

【００５７】この基準値は、キャップの先端と基端に外
径の差があることを利用してキャップの向きを判定する
もので、例えば１．０を超えるとき正常と決められる。

【００５８】上記キャップの取付け不良の検査が終わる
と、図８に示す皮剥き不良の検査を行なう。

【００５９】初めに、剥き取り境界検出手段３１によっ
て、電線被覆の剥き取り境界Ａ′を検出する。

【００６０】これは、上記キャップ先端βから、ノイズ
による誤動作を防止するため所定ライン（例えば４ライ
ン）だけ上に進んだ位置（測定開始ラインβ′）から、
Ｃラインに向けて計測位置を１ラインづつ変化させなが
ら、電線１と直交する方向の影の長さＬを計測して行
く。

【００６１】このとき測定値Ｌの変化率が所定値を超
え、かつ最大となる位置を、被覆の剥き取り境界Ａ′と
して検出する。Ｃラインまで測定しても、この境界Ａ′
が見つからないときは、図１３(a) の被覆残りであるの
で、剥き取り不良信号を出力して、検査を終了する。

【００６２】剥き取り境界Ａ′が見つかると、皮剥き不
良検出手段３２によって、皮剥き不良又は剥き過ぎ不良
を検出する。

【００６３】これは、上記ストリップ境界Ａ′に対し
て、電線端方向に微小距離だけ離れた位置をＡライン、
クランプ位置方向に微小距離だけ離れた位置をＢライン
として設定し、Ａラインの影の長さＬ_Aに対するＢライ
ンの影の長さＬ_Bの比Ｌ_A／Ｌ_Bが設定範囲内にないと
き、図１３(b) の剥き過ぎ不良として出力する。

【００６４】この設定範囲は、検査する被覆電線の外径
に対する芯線径の比に応じて、上限値と下限値が設定さ
れるものである。また、上記微小距離は、剥き取り境界
Ａ′に対して、２値化画像上で、確実に芯線部分と被覆
部分を区別して捉えられる長さに決められている。

【００６５】さらに、広がり不良検出手段３３によっ
て、図１３(e) に示すような広がり不良を検出する。

【００６６】これは、キャップ先端βとＣラインの間
で、計測位置を電線端方向に変化させながら、電線と直
交する方向の影の長さＬを計測し、各計測ラインの影の
中に存在する光を通過させる穴を、穴開きドット数のカ
ウンタ３４によって２値化データのドット数でカウント
させる。

【００６７】広がり不良検出手段３３は、１ラインの計
測時に、このカウント数が所定数以上発生したとき芯線
の広がり不良信号を出力する。

【００６８】さらに、ひげ発生不良検出手段３５によっ
て、図１３(f) に示すように芯線の先端から、ひげが出
ていないか判定する。これは、Ｄライン中に、影となっ
ている部分が、２値化データのドット数で所定数以上あ
るとき、ひげ発生不良信号を出力するものである。

【００６９】さらに、芯線端部不良の検出手段３６によ
って、芯線の径の変化がないかを調べる。これは、Ｃラ
インの影の長さＬ_CとＢラインの影の長さＬ_Bを測定し、
この比Ｌ_C／Ｌ_Bが所定範囲にないとき、芯線の広がり不
良又は芯線の一部切断不良として出力する。すなわち、
図１２(e) の芯線の広がり不良のときは、許容範囲の上
限値より大きくなり、同図(c) の芯線の先端剥き過ぎ不
良のときは、許容範囲の下限値より小さいなる。

【００７０】上記検査において、キャップの取付け不良
又は被覆の剥き取り不良が検出された場合は、最後まで
検査を行なわないで、直ちに不良の電線を加工ラインか
ら排出させることができる。

【００７１】また、上記説明は、キャップの取付け不良
の検出と、被覆の剥き取り不良の検出を同時に行うもの
を説明したが、一方の検出だけを行う装置として利用又
は製作することが可能である。

【００７２】

【発明の効果】この発明のキャップ付き被覆電線の検査
装置は、２次元ＣＣＤセンサで高速撮影することによ
り、振動しているキャップ付き被覆電線を２値化静止画
像として取り込み、プログラム解析により、複数の検査
項目を同時に実行できるから、信頼性の高い検査を高速
に行なえ、キャップ付き被覆電線の端部加工が効率よく
行なえるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の全体構成を示すブロック図

【図２】この発明の一実施例の外観を示す斜視図

【図３】図２の構成のセンサ部の構造例を示し、その
(a) と(b) は、一実施例の側面図と検出面の正面図、そ
の(c) は他の実施例の側面図である。

【図４】この発明で２値化処理された静止画像の第１の
例を示す図

【図５】この発明で２値化処理された静止画像を第２の
例を示す図

【図６】この発明で２値化処理された静止画像を第３の
例を示す図

【図７】この発明のキャップ装着不良の検査内容を示す
フローチャート

【図８】この発明の被覆の剥き取り不良の検査内容を示
すフローチャート

【図９】キャップ付き被覆電線が皮剥きされ、端子金具
がカシメ止めされる工程を順に示す図

【図１０】図９の加工を行う皮剥き機の処理手順を示す
平面図

【図１１】図１０の装置の側面図

【図１２】キャップ装着不良の具体例を示す図

【図１３】皮剥き不良の具体例を示す図

【符号の説明】

１被覆電線１ａ絶縁被覆２キャップ３クランパ４芯線５端子金具１０被覆電線の皮剥き検査装置１１センサ部１２同期検出センサ１３電子シャッタ１４２次元ＣＣＤセンサ１５２値化回路１７検出用凹部１８，１８′ 照射部（バックライト照明）１９静止画像メモリ２０判定部２１モニターテレビ２２制御部２３操作用パネル２４設定部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者林秀樹大阪府大阪市北区曽根崎２丁目１番12号北陽電機株式会社内 (56)参考文献特開平７−19819（ＪＰ，Ａ) 特開昭61−165646（ＪＰ，Ａ) 特開平５−79824（ＪＰ，Ａ) 特開平５−296936（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01B 11/02 G01N 21/88

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】キャップが取付けられた端部をフリーな
状態にしてクランパで定位置を把持され、このクランパ
によって所定の経路を高速移動中のキャップ付き被覆電
線に対して、キャップ取付状態を検査する検査装置であ
って、上記被覆電線が、検査位置に達したことを検出する同期
検出センサと、この検出時に、電子シャッタを開いて、電線端部の画像
を撮影する２次元ＣＣＤセンサと、２次元ＣＣＤセンサの出力を２値化し、影となるキャッ
プ及び電線端部とそれ以外の部分を区別する２値化回路
と、上記２値化画像を記憶する静止画像メモリと、検査する被覆電線とキャップについて、電線外径Ｅ、キ
ャップ基端αからキャップの基端側測定部までの距離ｇ
₀、キャップ先端βからキャップの先端側測定部までの
距離ｈ₀、上記２値化画像におけるキャップ先端βの被
覆電線先端方向への位置ずれ限界ラインＦを設定する設
定部と、上記２値化画像において、電線と直交する方向の影の長
さＬを、電線のクランパ側から電線端方向に向かって逐
時測定し、Ｌが電線外径Ｅ＋Δ（誤差を吸収する固定
値）より小さい値からこれを超える値に変化する位置を
キャップ基端αとして検出し、Ｌが電線外径Ｅ＋Δより
大きい値からこれより小さい値に変化する位置をキャッ
プ先端βとして検出するキャップ端検出手段と、上記測定を位置ずれ限界ラインＦまで行なっても、キャ
ップ基端αとキャップ先端βが共に検出されないとき、
キャップなし又はキャップ位置不良として出力するキャ
ップ装着不良の検出手段と、上記キャップ基端αから電線端方向に上記距離ｇ₀だけ
離れた位置Ｇ₁から、さらに同方向に所定距離ｇ₁だけ離
れた位置Ｇ₂までの間で、電線と直交する方向の影の長
さＬを算出し、その平均長さＧを求める基端側測定部の
測長手段と、上記キャップ先端βから電線のクランプ位置方向に上記
距離ｈ₀だけ離れた位置Ｈ₁から、さらに同方向に所定距
離ｈ₁だけ離れた位置Ｈ₂までの間で、電線と直交する方
向の影の長さＬを算出し、その平均長さＨを算出する先
端側測定部の測長手段と、上記平均長さの比Ｇ／Ｈを基準値と比較し、基準値を満
足しないときキャップ向き不良の出力を発生するキャッ
プ向き不良の検出手段とを具備したことを特徴とするキ
ャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項２】上記２値化画像において、電線端近傍で
電線と直交するＣラインを設定する設定部と、キャップ先端βとＣラインの間で、計測位置を電線の延
び方向に沿って変化させながら、電線と直交する方向の
影の長さＬを計測し、その長さの変化率が所定値を超え
かつ最大となる位置を、被覆の剥き取り境界Ａ′として
検出し、この境界Ａ′が見つからないときストリップ不
良信号を出力する剥き取り境界検出手段と、上記剥き取り境界Ａ′に対して、電線端方向に微小距離
だけ離れた位置をＢライン、クランプ位置方向に微小距
離だけ離れた位置をＡラインとして設定し、Ｂラインの
影の長さＬ_Bに対するＡラインの影の長さＬ_Aの比Ｌ_B／
Ｌ_Aが設定範囲内にないとき、剥き過ぎ不良として出力
する皮剥き不良判定手段とを具備したことを特徴とする
請求項１記載のキャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項３】キャップ先端βとＣラインの間で、計測位
置を電線の延び方向に沿って変化させながら、電線と直
交する方向の影の長さＬを計測し、各計測ラインの影の
中に存在する光を通過させる穴を２値化データのドット
数でカウントし、１ラインの計測時に、このカウント数
が所定数以上発生したとき芯線の広がり不良信号を出力
する広がり不良検出手段を具備したことを特徴とする請
求項２記載のキャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項４】上記２値化画像において、電線端近傍で
電線から離隔して電線の延び方向と直交するＤラインを
設定する設定部と、Ｄライン中に、影となっている部分が、２値化データの
ドット数で所定数以上あるとき、ひげ発生不良信号を出
力するひげ発生不良検出手段を具備したことを特徴とす
る請求項２記載のキャップ付き被覆電線の検査装置。
【請求項５】Ｃラインの影の長さＬ_CとＢラインの影の
長さＬ_Bの比が所定範囲にないとき、芯線の広がり不良
又は芯線の一部切断不良として出力する芯線端部不良の
検出手段を具備したことを特徴とする請求項２記載のキ
ャップ付き被覆電線の検査装置。