JP3205065B2 - チップ抵抗器のｔｖカメラ検査装置 - Google Patents
チップ抵抗器のｔｖカメラ検査装置Info
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- JP3205065B2 JP3205065B2 JP21527692A JP21527692A JP3205065B2 JP 3205065 B2 JP3205065 B2 JP 3205065B2 JP 21527692 A JP21527692 A JP 21527692A JP 21527692 A JP21527692 A JP 21527692A JP 3205065 B2 JP3205065 B2 JP 3205065B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はチップ抵抗器の検査装
置、特にＴＶカメラを用いてチップ抵抗器の電極ペース
ト不良を検査する装置に関する。
置、特にＴＶカメラを用いてチップ抵抗器の電極ペース
ト不良を検査する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】セラミック基板上の回路では厚膜印刷に
より抵抗体を容易に作成することができるが、１枚の基
板に種々の抵抗値を有する抵抗体を印刷しなければなら
ない場合、ペーストとマスクを交換し、印刷、乾燥を何
回か繰り返す必要がある。また、樹脂基板の場合には端
子付きの抵抗は基板に穴をあけ、この穴にリードを挿入
してはんだデップ後に不要なリード部分を切断するので
付帯作業が多く、作業時間の増大を招いてしまう。一
方、チップ抵抗器の場合には係る問題がなく、ハイブリ
ッドＩＣに広く用いられている。
より抵抗体を容易に作成することができるが、１枚の基
板に種々の抵抗値を有する抵抗体を印刷しなければなら
ない場合、ペーストとマスクを交換し、印刷、乾燥を何
回か繰り返す必要がある。また、樹脂基板の場合には端
子付きの抵抗は基板に穴をあけ、この穴にリードを挿入
してはんだデップ後に不要なリード部分を切断するので
付帯作業が多く、作業時間の増大を招いてしまう。一
方、チップ抵抗器の場合には係る問題がなく、ハイブリ
ッドＩＣに広く用いられている。
【０００３】チップ抵抗器は予め切断線の入った１枚の
基板に電極ペーストを塗布して多数の抵抗を形成し、最
後にこれを分割して作成されるが、チップ抵抗器の電極
ペーストの塗布不良はチップ抵抗器の特性を直接左右す
ることになるので、その不良検査は確実かつ迅速に行う
必要がある。
基板に電極ペーストを塗布して多数の抵抗を形成し、最
後にこれを分割して作成されるが、チップ抵抗器の電極
ペーストの塗布不良はチップ抵抗器の特性を直接左右す
ることになるので、その不良検査は確実かつ迅速に行う
必要がある。
【０００４】図６には従来の検査システムの一例が示さ
れている。棒状チップ抵抗器（分割前）１０の両端面に
は電極ペースト（銀ペースト等）が塗布形成されてい
る。そして、この棒状チップ抵抗器１０の下面から光を
入射させ、電極ペーストが塗布形成されている端面から
の光をファイバー束１４，１６で集め、そのファイバー
束の端部１４ａ，１６ａをカメラ１８で撮影する構成で
ある。
れている。棒状チップ抵抗器（分割前）１０の両端面に
は電極ペースト（銀ペースト等）が塗布形成されてい
る。そして、この棒状チップ抵抗器１０の下面から光を
入射させ、電極ペーストが塗布形成されている端面から
の光をファイバー束１４，１６で集め、そのファイバー
束の端部１４ａ，１６ａをカメラ１８で撮影する構成で
ある。
【０００５】電極ペーストが確実に塗布形成されている
場合には、光はその面から漏れ出ることはなく、従って
ファイバー束端部１４ａ，１６ａをカメラ１８で撮影し
てもその輝度は低いが、塗布不良が存在する場合には、
不良箇所から光が漏れ出るため、輝度は増大する。そこ
で、得られた画像を２値化処理し、所定のしきい輝度Ｖ
th以上の画素がしきい個数Ｎ以上あるか否かを判定する
ことにより電極ペーストの塗布形成不良を検査すること
ができる。
場合には、光はその面から漏れ出ることはなく、従って
ファイバー束端部１４ａ，１６ａをカメラ１８で撮影し
てもその輝度は低いが、塗布不良が存在する場合には、
不良箇所から光が漏れ出るため、輝度は増大する。そこ
で、得られた画像を２値化処理し、所定のしきい輝度Ｖ
th以上の画素がしきい個数Ｎ以上あるか否かを判定する
ことにより電極ペーストの塗布形成不良を検査すること
ができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の検査システムでは、ファイバー束がランダムな配列
となっているため、棒状チップ抵抗器のどの箇所に不良
が発生しているかを特定することはできない。また、実
際は良品と判定されるに足るにもかかわらず、微小欠陥
が多数存在するために不良品と判定されてしまう、ある
いはこのような判定エラーを防ぐためにしきい値を高く
すると今度は一カ所に致命的な欠陥があるにもかかわら
ず良品と判定してしまう等の問題があった。
来の検査システムでは、ファイバー束がランダムな配列
となっているため、棒状チップ抵抗器のどの箇所に不良
が発生しているかを特定することはできない。また、実
際は良品と判定されるに足るにもかかわらず、微小欠陥
が多数存在するために不良品と判定されてしまう、ある
いはこのような判定エラーを防ぐためにしきい値を高く
すると今度は一カ所に致命的な欠陥があるにもかかわら
ず良品と判定してしまう等の問題があった。
【０００７】本発明は上記従来技術の有する課題に鑑み
てなされたものであり、その目的はチップ抵抗器の電極
ペースト塗布形成不良を確実に検出することが可能なチ
ップ抵抗器のＴＶカメラ検査装置を提供することにあ
る。
てなされたものであり、その目的はチップ抵抗器の電極
ペースト塗布形成不良を確実に検出することが可能なチ
ップ抵抗器のＴＶカメラ検査装置を提供することにあ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明はＴＶカメラの水平走査方向に整列された複
数の棒状チップ抵抗器を撮影し、前記電極ペーストが形
成されている画素は第１レベル信号として出力し前記電
極ペーストが形成されていない画素は第２レベル信号と
して出力するＴＶカメラと、前記複数の画素の所定エリ
ア単位ｍ×ｎ毎に前記ＴＶカメラからの画像信号を順次
処理して第２レベル画素を検出する画像処理手段と、前
記ＴＶカメラからの水平同期信号をカウントする計数手
段と、検出された第２レベル画素の個数で電極ペースト
の形成不良の有無を判定するとともに、前記水平同期信
号のカウント値で形成不良が生じた棒状チップ抵抗器を
特定する判定手段とを有することを特徴とする。
に、本発明はＴＶカメラの水平走査方向に整列された複
数の棒状チップ抵抗器を撮影し、前記電極ペーストが形
成されている画素は第１レベル信号として出力し前記電
極ペーストが形成されていない画素は第２レベル信号と
して出力するＴＶカメラと、前記複数の画素の所定エリ
ア単位ｍ×ｎ毎に前記ＴＶカメラからの画像信号を順次
処理して第２レベル画素を検出する画像処理手段と、前
記ＴＶカメラからの水平同期信号をカウントする計数手
段と、検出された第２レベル画素の個数で電極ペースト
の形成不良の有無を判定するとともに、前記水平同期信
号のカウント値で形成不良が生じた棒状チップ抵抗器を
特定する判定手段とを有することを特徴とする。
【０００９】
【作用】上記構成において、マガジン上に整列された棒
状チップ抵抗器をＴＶカメラで撮影して電極ペースト形
成面の画像を得る。電極ペーストが形成されている画素
は第１レベル信号として出力され、形成されていない画
素は第２レベル信号として出力される。
状チップ抵抗器をＴＶカメラで撮影して電極ペースト形
成面の画像を得る。電極ペーストが形成されている画素
は第１レベル信号として出力され、形成されていない画
素は第２レベル信号として出力される。
【００１０】そして、画像処理手段により所定エリアｍ
×ｎをテンプレートとして順次画像信号をスキャンし、
第２レベルが所定個数存在する場合には不良と判定す
る。また、画像信号をスキャンするときに水平同期信号
もカウントし、不良と判定されたときの水平同期信号の
カウント数から、不良チップ抵抗器を特定することがで
きる。
×ｎをテンプレートとして順次画像信号をスキャンし、
第２レベルが所定個数存在する場合には不良と判定す
る。また、画像信号をスキャンするときに水平同期信号
もカウントし、不良と判定されたときの水平同期信号の
カウント数から、不良チップ抵抗器を特定することがで
きる。
【００１１】
【実施例】以下、図面を用いながら本発明にかかるチッ
プ抵抗器の好適な実施例を説明する。なお、本実施例で
は画面を二値化し、第１レベルを黒レベル、第２レベル
を白レベルとしている。
プ抵抗器の好適な実施例を説明する。なお、本実施例で
は画面を二値化し、第１レベルを黒レベル、第２レベル
を白レベルとしている。
【００１２】図１には本発明のチップ抵抗器の検査装置
の全体構成が示されている。後述するマガジン上に整列
した複数の棒状チップ抵抗器をＴＶカメラ２０で撮影す
る。ＴＶカメラ２０からの画像信号は画像処理装置２２
を介してメモリ２４に順次格納される。そして、メモリ
２４に格納された画像信号は順次読み出され、所定エリ
アｍ×ｎ（ｍ，ｎは任意に設定可能）毎に白レベルの画
素を検出し、判定装置２６に検出信号を供給する。ま
た、画像処理装置２２では、同時に水平同期信号をカウ
ントし、判定装置にカウント数を供給する。判定装置２
６では白レベル画素数が所定数以上である場合に電極ペ
ーストの塗布不良があると判定するとともに、その時の
水平同期信号のカウント数からどの棒状チップ抵抗器に
不良が発生したかを特定する構成である。
の全体構成が示されている。後述するマガジン上に整列
した複数の棒状チップ抵抗器をＴＶカメラ２０で撮影す
る。ＴＶカメラ２０からの画像信号は画像処理装置２２
を介してメモリ２４に順次格納される。そして、メモリ
２４に格納された画像信号は順次読み出され、所定エリ
アｍ×ｎ（ｍ，ｎは任意に設定可能）毎に白レベルの画
素を検出し、判定装置２６に検出信号を供給する。ま
た、画像処理装置２２では、同時に水平同期信号をカウ
ントし、判定装置にカウント数を供給する。判定装置２
６では白レベル画素数が所定数以上である場合に電極ペ
ーストの塗布不良があると判定するとともに、その時の
水平同期信号のカウント数からどの棒状チップ抵抗器に
不良が発生したかを特定する構成である。
【００１３】図２には本実施例におけるマガジン上に整
列された複数の棒状チップ抵抗器が示されている。マガ
ジン２８には水平に棒状チップ抵抗器１０がクランプさ
れている。電極ペーストは図において棒状チップ抵抗器
の表面と裏面に塗布形成されている。なお、本実施例で
は、１個のマガジンに３４個の棒状チップ抵抗器１０が
クランプされている。
列された複数の棒状チップ抵抗器が示されている。マガ
ジン２８には水平に棒状チップ抵抗器１０がクランプさ
れている。電極ペーストは図において棒状チップ抵抗器
の表面と裏面に塗布形成されている。なお、本実施例で
は、１個のマガジンに３４個の棒状チップ抵抗器１０が
クランプされている。
【００１４】そして、このマガジン２８上の棒状チップ
抵抗器１０をＴＶカメラ２０で撮影する。図２には一点
鎖線でＴＶカメラ２０の撮影領域が示されており、１回
の撮影で１１本乃至１２本の棒状チップ抵抗器の１／２
を撮影し、合計６回の撮影で１個のマガジンの表面の撮
影が終了する。図３にはこの６回の撮影の撮影順序が示
されている。まず、１回目の撮影では、マガジン２８
上の３４本（これらを順に（１）−（３４）と番号付け
する）の棒状チップ抵抗器１０のうち、（１）−（１
１）までの棒状チップ抵抗器１１本の左半分を撮影す
る。次に、２回目の撮影では（１２）−（２３）まで
の棒状チップ抵抗器の左半分を撮影する。次に、３回目
の撮影では（２４）−（３４）までの棒状チップ抵抗
器の左半分を撮影する。
抵抗器１０をＴＶカメラ２０で撮影する。図２には一点
鎖線でＴＶカメラ２０の撮影領域が示されており、１回
の撮影で１１本乃至１２本の棒状チップ抵抗器の１／２
を撮影し、合計６回の撮影で１個のマガジンの表面の撮
影が終了する。図３にはこの６回の撮影の撮影順序が示
されている。まず、１回目の撮影では、マガジン２８
上の３４本（これらを順に（１）−（３４）と番号付け
する）の棒状チップ抵抗器１０のうち、（１）−（１
１）までの棒状チップ抵抗器１１本の左半分を撮影す
る。次に、２回目の撮影では（１２）−（２３）まで
の棒状チップ抵抗器の左半分を撮影する。次に、３回目
の撮影では（２４）−（３４）までの棒状チップ抵抗
器の左半分を撮影する。
【００１５】左半分の撮影が全て終了した後、４回目の
撮影では（２４）−（３４）の棒状チップ抵抗器の右
半分を撮影する。５回目の撮影では（１２）−（２
３）の棒状チップ抵抗器の右半分を撮影する。最後に、
６回目の撮影で（１）−（１１）の棒状チップ抵抗器
の右半分を撮影してマガジン２８上の全ての棒状チップ
抵抗器１０の撮影が終了する。
撮影では（２４）−（３４）の棒状チップ抵抗器の右
半分を撮影する。５回目の撮影では（１２）−（２
３）の棒状チップ抵抗器の右半分を撮影する。最後に、
６回目の撮影で（１）−（１１）の棒状チップ抵抗器
の右半分を撮影してマガジン２８上の全ての棒状チップ
抵抗器１０の撮影が終了する。
【００１６】図４には１回の撮影で得られる画像の一例
が示されている。左端には棒状チップ抵抗器１０の端部
が撮影されており、この端部は電極ペーストが塗布形成
されておらず、基体材料が露出している。そして、電極
ペーストが塗布形成された棒状チップ抵抗器が等間隔で
配列している。この画像は２５６×２５６の画素に分割
され、各画素は白または黒レベルに２値化される。２値
化された画像信号はメモリ２４に順次格納される。
が示されている。左端には棒状チップ抵抗器１０の端部
が撮影されており、この端部は電極ペーストが塗布形成
されておらず、基体材料が露出している。そして、電極
ペーストが塗布形成された棒状チップ抵抗器が等間隔で
配列している。この画像は２５６×２５６の画素に分割
され、各画素は白または黒レベルに２値化される。２値
化された画像信号はメモリ２４に順次格納される。
【００１７】そして、メモリ２４に格納された画像信号
は順次読み出されて画像処理装置２２に供給され、予め
設定されたｍ×ｎ（本実施例では３×２）のエリア内の
白レベル画素を検出する。図５には３×２のエリアの場
合が示されており、このエリアを水平方向及び垂直方向
に１画素ずつ順次移動させてスキャンする。スキャン方
法としては、例えば本願発明者が先に特開昭６１−２６
９７８４号で提案した方法を用いることができる。ここ
で、画面内における棒状チップ抵抗器１０の水平位置は
一義的に決定されるため、（０）−（２５５）のどの水
平走査ライン上に１１本乃至１２本の棒状チップ抵抗器
の各棒状チップ抵抗器が位置するかわかることになる。
従って、画像処理装置２２では、スキャンすると同時に
水平同期信号をカウントすることにより、現在どの棒状
チップ抵抗器を検査しているかがわかる。
は順次読み出されて画像処理装置２２に供給され、予め
設定されたｍ×ｎ（本実施例では３×２）のエリア内の
白レベル画素を検出する。図５には３×２のエリアの場
合が示されており、このエリアを水平方向及び垂直方向
に１画素ずつ順次移動させてスキャンする。スキャン方
法としては、例えば本願発明者が先に特開昭６１−２６
９７８４号で提案した方法を用いることができる。ここ
で、画面内における棒状チップ抵抗器１０の水平位置は
一義的に決定されるため、（０）−（２５５）のどの水
平走査ライン上に１１本乃至１２本の棒状チップ抵抗器
の各棒状チップ抵抗器が位置するかわかることになる。
従って、画像処理装置２２では、スキャンすると同時に
水平同期信号をカウントすることにより、現在どの棒状
チップ抵抗器を検査しているかがわかる。
【００１８】３×２のエリアを用いてビデオレートでス
キャンした結果は判定装置２６に供給される。判定装置
２６では３×２の画素全てが白レベルである場合には、
電極ペーストの形成が不良で基体のセラミックが露出し
ていると判定する。そして、この不良箇所が検出された
時の水平同期信号のカウント数から棒状チップ抵抗器の
番号（１）−（３４）を特定して出力する。なお、前述
したように、各棒状チップ抵抗器１０は左半分及び右半
分を別々に撮影するため、棒状チップ抵抗器を特定する
場合には、撮影画像−を検査した時の不良チップ抵
抗器をメモリに格納しておき、撮影画像−を検査し
た時の結果と合成して不良チップ抵抗器を特定すればよ
い。そして、同様の検査をマガジンの裏面に設置された
ＴＶカメラからの画像に対して行うことにより、棒状チ
ップ抵抗器の表裏の電極ペースト形成不良を確実に検出
することができる。
キャンした結果は判定装置２６に供給される。判定装置
２６では３×２の画素全てが白レベルである場合には、
電極ペーストの形成が不良で基体のセラミックが露出し
ていると判定する。そして、この不良箇所が検出された
時の水平同期信号のカウント数から棒状チップ抵抗器の
番号（１）−（３４）を特定して出力する。なお、前述
したように、各棒状チップ抵抗器１０は左半分及び右半
分を別々に撮影するため、棒状チップ抵抗器を特定する
場合には、撮影画像−を検査した時の不良チップ抵
抗器をメモリに格納しておき、撮影画像−を検査し
た時の結果と合成して不良チップ抵抗器を特定すればよ
い。そして、同様の検査をマガジンの裏面に設置された
ＴＶカメラからの画像に対して行うことにより、棒状チ
ップ抵抗器の表裏の電極ペースト形成不良を確実に検出
することができる。
【００１９】なお、本実施例では、特に３×２のエリア
の白レベルを検出することにより不良検出を行ったが、
このエリアは必要に応じてユーザが設定することができ
るのは言うまでもなく、例えばより精密な検査を行う場
合には２×２のエリアを用いることができる。
の白レベルを検出することにより不良検出を行ったが、
このエリアは必要に応じてユーザが設定することができ
るのは言うまでもなく、例えばより精密な検査を行う場
合には２×２のエリアを用いることができる。
【００２０】また、本実施例では電極ペーストの塗布不
良を検出する場合を示したが、本発明の検査装置はマガ
ジン上にクランプされた棒状チップ抵抗器のクランプ不
良検査にも適用することができる。すなわち、ＴＶカメ
ラ２０で撮影した撮影画像−のすべての白レベル領
域を測定し、これが一定基準値以上となっている場合に
は棒状チップ抵抗器の電極ペースト塗布面以外の面がマ
ガジン上にあると判断でき、従ってクランプ不良を検出
することができる。
良を検出する場合を示したが、本発明の検査装置はマガ
ジン上にクランプされた棒状チップ抵抗器のクランプ不
良検査にも適用することができる。すなわち、ＴＶカメ
ラ２０で撮影した撮影画像−のすべての白レベル領
域を測定し、これが一定基準値以上となっている場合に
は棒状チップ抵抗器の電極ペースト塗布面以外の面がマ
ガジン上にあると判断でき、従ってクランプ不良を検出
することができる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るチッ
プ抵抗器のＴＶカメラ検査装置によれば、作業者の目視
による検査が不要となり、また、用いるエリアを適宜変
更することにより不良とノイズを区別することもでき、
正確な不良検出が可能となる。また、本実施例では不良
なチップ抵抗器を特定することができるので、不良チッ
プ抵抗器のみを排除するようにピックアップ装置等に指
令することができる。さらに、チップ抵抗器のマガジン
上の整列状況も把握できるため、電極ペースト形成不良
以外の不良、例えばマガジン上への不良整列も検出する
ことができる。
プ抵抗器のＴＶカメラ検査装置によれば、作業者の目視
による検査が不要となり、また、用いるエリアを適宜変
更することにより不良とノイズを区別することもでき、
正確な不良検出が可能となる。また、本実施例では不良
なチップ抵抗器を特定することができるので、不良チッ
プ抵抗器のみを排除するようにピックアップ装置等に指
令することができる。さらに、チップ抵抗器のマガジン
上の整列状況も把握できるため、電極ペースト形成不良
以外の不良、例えばマガジン上への不良整列も検出する
ことができる。
【図１】本発明の一実施例の構成ブロック図である。
【図２】同実施例のマガジン上に整列された棒状チップ
抵抗器の説明図である。
抵抗器の説明図である。
【図３】同実施例の撮影順序を示す説明図である。
【図４】同実施例の一撮影画面の説明図である。
【図５】同実施例のスキャンエリアの説明図である。
【図６】従来の検査システムの構成図である。
１０ 棒状チップ抵抗器 ２０ ＴＶカメラ ２２ 画像処理装置 ２４ メモリ ２６ 判定装置 ２８ マガジン
Claims (1)
- 【請求項１】 チップ抵抗器に形成された電極ペースト
の形成不良の有無を検査するチップ抵抗器のＴＶカメラ
検査装置であって、 ＴＶカメラの水平走査方向に整列された複数の棒状チッ
プ抵抗器を撮影し、前記電極ペーストが形成されている
画素は第１レベル信号として出力し前記電極ペーストが
形成されていない画素は第２レベル信号として出力する
ＴＶカメラと、 前記複数の画素の所定エリア単位ｍ×ｎ（ｍ，ｎ：整
数）毎に前記ＴＶカメラからの画像信号を順次処理して
第２レベル画素を検出する画像処理手段と、 前記ＴＶカメラからの水平同期信号をカウントする計数
手段と、 検出された第２レベル画素の個数で電極ペーストの形成
不良の有無を判定するとともに、前記水平同期信号のカ
ウント値で形成不良が生じた棒状チップ抵抗器を特定す
る判定手段と、 を有することを特徴とするチップ抵抗器のＴＶカメラ検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21527692A JP3205065B2 (ja) | 1992-08-12 | 1992-08-12 | チップ抵抗器のｔｖカメラ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21527692A JP3205065B2 (ja) | 1992-08-12 | 1992-08-12 | チップ抵抗器のｔｖカメラ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0662405A JPH0662405A (ja) | 1994-03-04 |
| JP3205065B2 true JP3205065B2 (ja) | 2001-09-04 |
Family
ID=16669635
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21527692A Expired - Fee Related JP3205065B2 (ja) | 1992-08-12 | 1992-08-12 | チップ抵抗器のｔｖカメラ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3205065B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002237403A (ja) * | 2001-02-07 | 2002-08-23 | Atc Protech Kk | 電子部品素体への電極付け方法および装置 |
-
1992
- 1992-08-12 JP JP21527692A patent/JP3205065B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0662405A (ja) | 1994-03-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |