JPH0324122B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の分野） この発明は、被覆剥取処理を施して芯線を裸出
させた電線端末の処理状態を検査する装置に関
し、特に自動端子圧着装置に用いられてそのよう
な検査を行なうための装置に関する。

（先行技術の説明） 電線端末の被覆を剥取る処理工程と、その剥取
部分に端子を圧着する処理工程とから成る端子圧
着処理を連続かつ自動的に行なうようにされた自
動端子圧着装置において、被覆剥取処理が良好に
行なわれたかどうかを検査するために、従来、例
えば第１図に示すような検出ブラシを用いた検査
が行なわれている。この検出ブラシは１対の板ば
ね電極１，２から構成され、これらの板ばね電極
１，２は、被覆が剥取られて裸出した芯線部分３
がその間を通過するように、自動端子圧着装置の
処理経路（電線端末の移送経路）上に配置され
る。

板ばね電極１，２は、例えば第１図に示すよう
に、常時は微小距離離間して非導通状態に保た
れ、その離間部分を両板ばね電極１，２を押分け
ながら芯線部分３が通過するとき、導通があれば
剥取良好と判別し、依然として非導通状態であれ
ば芯線が裸出していないものとして剥取不良と判
別している。また板ばね電極１，２は、常時は一
部接触して導通状態に保たれることもあり、この
場合はその接触部分を両板ばね電極１，２を押分
けながら芯線部分３が通過するとき、依然として
導通があれば剥取良好と判別し、非導通状態とな
れば剥取不良と判別する。

ところで、このような検出ブラシを用いた従来
の検査方法においては、検査ミスや後の端子圧着
処理工程における圧着不良の誘発を回避するた
め、電線の径や板ばね電極のばね定数（押付力）
に応じた微細な調整を行なう必要があり、煩雑で
あるとともに、微調整の程度により自動端子圧着
装置の作動の安定性が左右されるという問題点が
あつた。例えば、太径の電線で芯線のこしが強い
場合に板ばね電極の押付力を弱くすると、裸出芯
線部分３が片側の板ばね電極（例えば電極１）の
みを押上げて両板ばね電極１，２間を通過してし
まうことがあり、これにより検査ミスを発生する
ことがある。また逆に、芯線のこしに比べて板ば
ね電極の押付力が強いときは、裸出芯線部分３が
両板ばね電極１，２間を通過するときに芯線が押
し曲げられてしまい、後の処理工程において端子
圧着ミスを誘発する。

（発明の目的） それ故に、この発明の目的は、非接触で裸出芯
線に影響を及ぼさないとともに、任意の径の電線
に対し無調整で適用し得る、電線の端末処理状態
検査装置を提供することである。

（発明の構成） 上記目的を達成するため、この発明において
は、２つの検知手段を被覆剥取処理のための経路
上に配置するとともに、該検知手段の出力を判定
手段に入力して被覆剥取状態の良否を判定するよ
うな構成を採用している。上記２つの検知手段
は、上記経路上にて電線端末の裸出芯線部および
残留被覆部の通過をそれぞれ非接触で検知して、
その通過時間に対応した長さの第１および第２の
通過信号をそれぞれ導出するよう構成され、上記
判定手段は、第１および第２の通過信号の長さを
比較して、その差が所定値より大きいとき剥取良
と判定し、所定値以下のとき剥取不良と判定する
よう構成される。

（実施例の説明） 第２図は、この発明による電線の端末処理状態
検査装置の一実施例を示す概略説明図である。被
覆剥取処理が施された電線端末４は、一対の搬送
瓜５ａ，５ｂにより根元を把持されて、処理経路
６上を実線矢印で示す如く左側（上流）から右側
（下流）へと移送される。例えば、前述の自動端
子圧着装置であれば、図示の上流側には被覆剥取
処理部が存在し、下流側には端子圧着処理部が存
在する。

この発明による電線の端末処理状態検査装置
は、処理経路６に沿つて移送される電線端末４の
裸出芯線部７および残留被覆部８の通過をそれぞ
れ検知するための、１組の光電スイツチ９ａ，９
ｂを有している。光電スイツチ９ａは裸出芯線部
７の移動経路上に配置され、光電スイツチ９ｂは
残留被覆部８の移動経路上に配置される。

第３Ａ図は光電スイツチ９ａ，９ｂとして拡散
式反射型のものを用いた場合の配置図を示し、第
３Ｂ図は対向式のものを用いた場合の配置図を示
す。これら第３Ａ，Ｂ図は、第２図の移送経路６
の下流側から上流側を眺めた場合の、搬送瓜５
ａ，５ｂ（上流側搬送瓜５ａは下流側搬送瓜５ｂ
の背後に隠れて図には表われていない）に把持さ
れた電線端末４を描いたものであり、図示の場合
は電線端末４は光電スイツチ９ａ，９ｂと対向す
る位置まで来ている。

第３Ａ図に示すように、拡散式反射型の場合、
各光電スイツチ９ａ，９ｂはそれぞれ１個のスイ
ツチユニツトＡ，Ｂから成つており、これらのス
イツチユニツトＡ，Ｂは裸出芯線部７の移動経路
の上方および残留被覆部８の移動経路の上方にそ
れぞれ配設される。各スイツチユニツトＡ，Ｂは
投光器と受光器とを備えており、投光器から出た
光１０ａ，１０ｂは裸出芯線部７の表面および残
留被覆部８の表面でそれぞれ反射され、受光器は
この反射光をキヤツチすると検知信号を生じる。
これらの検知信号は反射光のキヤツチの間継続す
るので、その長さはそれぞれ裸出芯線部７および
残留被覆部８の通過の時間と対応したものとな
る。

また第３Ｂ図に示すように、対向式の場合は、
光電スイツチ９ａ，９ｂはそれぞれ投光器・受光
器の対Ａ１，Ａ２およびＢ１，Ｂ２から成つてい
る。これらの投光器・受光器の対Ａ１，Ａ２およ
びＢ１，Ｂ２は、それぞれ裸出芯線部７の移動経
路および残留被覆部８の移動経路をはさんで、光
軸が一致するよう対向して配置される。光軸が一
致しているので、投光器Ａ１，Ｂ１から出た光１
０ａ，１０ｂは常時は受光器Ａ２，Ｂ２にそれぞ
れ入射しているが、図示のように裸出芯線部７お
よび残留被覆部８がこの光１０ａ，１０ｂを遮断
すると、受光器Ａ２，Ｂ２は検知信号を生ずる。
これらの検知信号は光１０ａ，１０ｂが遮断され
ている間継続するので、その長さは第３Ａ図の場
合と同様それぞれ裸出芯線部７および残留被覆部
８の通過の時間と対応したものとなる。

このようにして光電スイツチ９ａ，９ｂから導
出された検知信号は、それぞれ裸出芯線部通過信
号および残留被覆部通過信号として後述の処理回
路に与えられ、剥取良否の判定のため利用に供さ
れる。

第４図はそのような処理回路を示す概略ブロツ
ク図であり、その各部の波形を第５図の波形図に
示す。処理回路は、第５図１に示すクロツクパル
スを発生するクロツク発生器と、光電スイツチ９
ａからの裸出芯線部通過信号および光電スイツチ
９ｂからの残留被覆部通過信号を上記クロツクと
それぞれAND処理するANDゲート１２ａ，１２
ｂと、ANDゲート１２ａ，１２ｂの出力をそれ
ぞれカウントするカウンタ１３ａ，１３ｂと、カ
ウンタ１３ａ，１３ｂの出力カウント値を比較す
る比較演算回路１４とから構成されており、被覆
剥取の良否を判定する判定手段として機能する。

被覆剥取が良好な場合の動作について述べれ
ば、この場合光電スイツチ９ａから導出される裸
出芯線部通過信号は第５図２の実線に示す如くな
り、光電スイツチ９ｂから導出される残留被覆部
通過信号は第５図４に示す如くなる。両通過信号
の時間幅は、第２図に示す裸出芯線部７および残
留被覆部８の横幅に対応するものである。

ANDゲート１２ａは、第５図１のクロツク信
号と第５図２実線の裸出芯線部通過信号とを受け
てAND処理し、第５図３実線に示す信号を出力
する。またANDゲート１２ｂは、第５図１のク
ロツク信号と第５図４の残留被覆部通過信号とを
受けてAND処理し、第５図５に示す信号を出力
する。これらANDゲート１２ａ，１２ｂの出力
信号に含まれているパルス数は、それぞれの通過
信号の時間幅に比例している。

これらのパルス数はカウンタ１３ａ，１３ｂに
おいてそれぞれカウントされ、そのカウント値は
比較演算回路１４に与えられる。比較演算回路１
４は両カウント値を比較し、その差が所定値より
も大きいかどうかを判別する。差が所定値よりも
大きいときは、芯線部と被覆部とでその横幅に十
分な差があり、被覆剥取が良好に行なわれたとい
うことがわかる。したがつてこの場合は、比較演
算回路１４から剥取良を示す判定信号が出力され
る。一方、差が所定値以下のときは、芯線部と被
覆部とでその横幅に十分な差がなく、被覆剥取が
良好に行なわれていないということがわかる。し
たがつてこの場合は、比較演算回路１４から剥取
不良を示す判定信号が出力される。例えば上記所
定値として最も簡単にゼロを選択すれば、両カウ
ント値が等しいか否かにより剥取の良否を判定す
ることになる。もちろん、電線の形状に応じて、
適当な所定値を予め設定するようにしてもよい。

いま、所定値としてゼロを選択していると仮定
すれば、第５図３実線および第５図５に示す
ANDゲート１２ａ，１２ｂの出力パルス数はそ
れぞれ６および12であるので、比較演算回路１４
は12−６＞０つまり12＞６と判定し、剥取良を示
す判定信号を出力する。

次に、被膜剥取が不良な場合について述べる。
この場合は裸出すべき芯線部に被覆がついたまま
になつており、光電スイツチ９ａから導出される
裸出芯線部通過信号は、第５図２点線に示す如
く、第５図４の残留被覆部通過信号と同様の時間
幅のものとなる。したがつて第５図３点線に示す
ように、ANDゲート１２ａの出力パルス数（＝
12）は、第５図５に示すANDゲート１２ｂの出
力パルス数（＝12）と等しくなる。比較演算回路
１４は12−12＝０つまり12＝12と判定し、剥取不
良を示す判定信号を出力する。

このようにして得られた被覆剥取を良否を示す
判定信号は、所定の制御を行なうために利用され
る。例えば、剥取不良を示す判定信号に応答し
て、自動端子圧着装置の作動を非常停止して不良
電線を手動除去可能とするとともに、警報器を作
動させてオペレータに剥取不良を通報するように
してもよい。また例えば、剥取不良を示す判定信
号に応答して不良電線が自動的に選別除去される
よう、自動端子圧着装置を構成することも可能で
ある。

第６図および第７図は、判定手段としての処理
回路（第４図）の別の実施例を示す概略ブロツク
図である。これらの処理回路は、第４図の処理回
路が芯線部、被覆部の幅をデイジタル値（パルス
数）に変換したのに対し、これらの幅を積分回路
１５ａ，１５ｂを通じてアナログ値（電圧値）に
変換するものである。

第６図の実施例において、積分回路１５ａ，１
５ｂは光電スイツチ９ａ，９ｂから第５図２，４
の通過信号をそれぞれ受けてこれを積分し、各通
過信号の時間幅に対応した大きさの電圧値に変換
する。これらの電圧値は、電圧比較器１６に与え
られる。電圧比較器１６はこれらの電圧値を比較
し、その差が所定値よりも大きいときは剥取良を
示す判定信号を出力し、所定値以下のときは剥取
不良を示す判定信号を出力する。この比較は上述
した比較演算回路１４（第４図）における比較と
同様であり、その説明は省略する。

第７図の実施例は、第６図の実施例と類似して
いるが、積分回路１５ａ，１５ｂの出力電圧値を
それぞれＡ／Ｄ変換器１７ａ，１７ｂを通じてデ
イジタル値に変換した後にこれらを比較するもの
であるという点において、第６図の実施例と異な
つている。Ａ／Ｄ変換器１７ａ，１７ｂの出力デ
イジタル値は、第５図２，４に示す光電スイツチ
９ａ，９ｂからの各通過信号の時間幅とそれぞれ
対応したものとなり、比較演算回路１８はこれら
のデイジタル値について上述と同様の比較動作を
行ない、剥取の良否を示す判定信号を出力する。

なお、上述の実施例においては、通過信号を導
出するための検知手段として最も簡便安価な光電
スイツチ９ａ，９ｂを用いたが、裸出芯線部７お
よび残留被覆部８の通過を非接触で検知し、該通
過の時間に対応した長さの通過信号を出力し得る
検知手段であれば光電スイツチに限らずどのよう
なものであつてもよい。例えば、光電スイツチの
検出ヘツド部に光フアイバを連結した光フアイバ
センサを使用すれば、設置スペースが狭い場合に
特に有効である。

（発明の効果） 以上説明したように、この発明においては電線
端末に非接触で検査を行なうようにしているの
で、従来の検出ブラシによる接触検査のように電
線端末、特に裸出芯線部に影響を与えることがな
い。したがつて、自動端子圧着装置においては、
次工程の端子圧着が確実となる。また、裸出芯線
部および残留被覆部の幅に対応した長さの通過信
号を導出して両者を比較するものであるため、電
線の太さが変つても調整が不要である。したがつ
て、従来のように調整不良による誤動作を生じる
ことはなく、作動が非常に安定している。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の検出ブラシを示す説明図、第２
図はこの発明の一実施例を示す概略説明図、第３
Ａ図および第３Ｂ図は光電スイツチの配置図、第
４図は判定手段としての処理回路を示す概略ブロ
ツク図、第５図は第４図各部の波形図、第６図お
よび第７図は処理回路の別の実施例を示す概略ブ
ロツク図である。 ４……電線端末、６……移送経路、７……裸出
芯線部、８……残留被覆部、９ａ，９ｂ……光電
スイツチ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被覆剥取処理を施して芯線を裸出させた電線
   端末の処理状態を検査する装置であつて、 被覆取離処理のための経路上に配置されて、前
   記電線端末の裸出芯線部および残留被覆部の通過
   をそれぞれ非接触で検知し、該通過の時間に対応
   した長さの第１および第２の通過信号をそれぞれ
   与える第１および第２の検知手段と、 前記第１および第２の通過信号の長さを比較し
   て、その差が所定値より大きいとき剥取良と判定
   し、所定値以下のとき剥取不良と判定する判定手
   段とを備える、電線の端末処理状態検査装置。 ２ 前記検知手段は光電スイツチである、特許請
   求の範囲第１項記載の電線の端末処理状態検査装
   置。 ３ 前記判定手段は、前記第１および第２の通過
   信号の期間だけ所定のクロツク信号をそれぞれカ
   ウントする第１および第２のカウンタと、前記第
   １および第２のカウンタのカウント値を比較する
   比較演算回路とを含む、特許請求の範囲第１項記
   載の電線の端末処理状態検査装置。 ４ 前記判定手段は、前記第１および第２の通過
   信号をそれぞれ積分する第１および第２の積分回
   路と、前記第１および第２の積分回路の出力電圧
   を比較する電圧比較器とを含む、特許請求の範囲
   第１項記載の電線の端末処理状態検査装置。 ５ 前記判定手段は、前記第１および第２の通過
   信号をそれぞれ積分する第１および第２の積分回
   路と、前記第１および第２の積分回路の出力電圧
   をそれぞれデイジタル値に変換する第１および第
   ２のＡ／Ｄ変換器と、前記デイジタル値を比較す
   る比較演算回路とを備える、特許請求の範囲第１
   項記載の電線の端末処理状態検査装置。