JPH08170975A - 電機機器の部分放電検出回路 - Google Patents
電機機器の部分放電検出回路Info
- Publication number
- JPH08170975A JPH08170975A JP6339392A JP33939294A JPH08170975A JP H08170975 A JPH08170975 A JP H08170975A JP 6339392 A JP6339392 A JP 6339392A JP 33939294 A JP33939294 A JP 33939294A JP H08170975 A JPH08170975 A JP H08170975A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- winding
- circuit
- partial discharge
- capacitor
- impulse
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電機機器の巻線中などの微少な部分放電、短
絡を確実に検出し、この種の製品の長年月の使用におけ
る絶縁破壊の予知、予防を可能にすること。 【構成】 インパルス電圧発生回路１と、前記インパル
ス電圧発生回路に直列に接続された供試品３と、前記供
試品３の両端に跨って接続されたコンデンサ９またはイ
ンパルス発生回路１の出力部に接続されている波頭調整
用コンデンサ５の接続部の回路にパルスＣＴの巻線４を
挿入して供試品３の部分放電が発生したとき、供試品３
に供給される供絡電流を検出するようにした電機機器の
部分放電検出回路。
絡を確実に検出し、この種の製品の長年月の使用におけ
る絶縁破壊の予知、予防を可能にすること。 【構成】 インパルス電圧発生回路１と、前記インパル
ス電圧発生回路に直列に接続された供試品３と、前記供
試品３の両端に跨って接続されたコンデンサ９またはイ
ンパルス発生回路１の出力部に接続されている波頭調整
用コンデンサ５の接続部の回路にパルスＣＴの巻線４を
挿入して供試品３の部分放電が発生したとき、供試品３
に供給される供絡電流を検出するようにした電機機器の
部分放電検出回路。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、各種電気機器のインパ
ルス電圧試験における巻線中などの微少な部分放電、短
絡など層間部分放電を検出する検出回路に関する。
ルス電圧試験における巻線中などの微少な部分放電、短
絡など層間部分放電を検出する検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】電気機器、例えばリアクトルなどの各種
巻線機器の巻線層間のインパルス電圧試験は、一般的に
図２に示すような回路で、インパルス電圧発生回路１に
試験される巻線機器である供試品３をリード線２、２を
介して接続すると共に、リード線２、２の適宜個所（図
２のＣ点）にパルスＣＴの巻線４を挿入し、インパルス
電圧発生回路１から供試品３にインパルス電流を流し、
供試品３に流れるインパルス電流をパルスＣＴの巻線４
で検出し、この検出電流を測定用ケーブルを介して測定
用オシロスコープ（図示なし）に伝送し、インパルス電
圧波形歪により巻線層間の部分放電を測定している。例
えば供試品３の巻線６の一部（巻線間の分布キャパシタ
ンス７の矢印部分）が短絡すると、この短絡時検出され
た電圧はインパルス電圧発生回路１の出力電圧に比し低
くなり、これにより巻線層間の部分放電が測定される。
巻線機器の巻線層間のインパルス電圧試験は、一般的に
図２に示すような回路で、インパルス電圧発生回路１に
試験される巻線機器である供試品３をリード線２、２を
介して接続すると共に、リード線２、２の適宜個所（図
２のＣ点）にパルスＣＴの巻線４を挿入し、インパルス
電圧発生回路１から供試品３にインパルス電流を流し、
供試品３に流れるインパルス電流をパルスＣＴの巻線４
で検出し、この検出電流を測定用ケーブルを介して測定
用オシロスコープ（図示なし）に伝送し、インパルス電
圧波形歪により巻線層間の部分放電を測定している。例
えば供試品３の巻線６の一部（巻線間の分布キャパシタ
ンス７の矢印部分）が短絡すると、この短絡時検出され
た電圧はインパルス電圧発生回路１の出力電圧に比し低
くなり、これにより巻線層間の部分放電が測定される。
【０００３】ところで、近年、巻線中の微少な部分放
電、短絡などが電気機器製品の長年月の使用において
は、重大な絶縁破壊の原因となり得ることが判明され、
この巻線中の微少な部分放電、短絡などを工場試験時に
確実に検出する必要が生じてきている。しかし、前記の
ようなインパルス電流測定では、供試品３に流れるイン
パルス電流を直接測定することになるので供試品３の多
数ターンの内の１ターンに部分放電が起こっても、この
部分放電を検出することは極めて困難なものである。例
えば１０００ターンの中の１ターンに部分放電が起こっ
たとした場合、リード線２に流れるインパルス電流は１
／１０００しか変化しないため、この１／１０００の変
化をパルスＣＴの巻線４により検出してオシロスコープ
などの画面で判別することは不可能である。
電、短絡などが電気機器製品の長年月の使用において
は、重大な絶縁破壊の原因となり得ることが判明され、
この巻線中の微少な部分放電、短絡などを工場試験時に
確実に検出する必要が生じてきている。しかし、前記の
ようなインパルス電流測定では、供試品３に流れるイン
パルス電流を直接測定することになるので供試品３の多
数ターンの内の１ターンに部分放電が起こっても、この
部分放電を検出することは極めて困難なものである。例
えば１０００ターンの中の１ターンに部分放電が起こっ
たとした場合、リード線２に流れるインパルス電流は１
／１０００しか変化しないため、この１／１０００の変
化をパルスＣＴの巻線４により検出してオシロスコープ
などの画面で判別することは不可能である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記に鑑み
なされたもので、電機機器の巻線中などの微少な部分放
電、短絡などを確実に検出し、この種の製品の長年月の
使用における絶縁破壊の予知、予防を可能にすることを
目的とする。
なされたもので、電機機器の巻線中などの微少な部分放
電、短絡などを確実に検出し、この種の製品の長年月の
使用における絶縁破壊の予知、予防を可能にすることを
目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的は、インパルス
電圧発生回路と、前記インパルス電圧発生回路に直列に
接続された電機機器供試品と、前記電機機器供試品の両
端に跨って接続されたコンデンサ回路とを有し、前記コ
ンデンサ回路に前記コンデンサに流れる電流を検出する
検出器を設けることにより達成される。
電圧発生回路と、前記インパルス電圧発生回路に直列に
接続された電機機器供試品と、前記電機機器供試品の両
端に跨って接続されたコンデンサ回路とを有し、前記コ
ンデンサ回路に前記コンデンサに流れる電流を検出する
検出器を設けることにより達成される。
【０００６】
【作用】インパルス電圧発生回路から電機機器供試品に
インパルス電流が供給されたとき、電機機器供試品の一
部に微少な部分放電あるいは短絡が生じると、その放電
あるいは短絡に相当する分印加されたインパルス電圧に
対して電機機器供試品の両端の電圧が極僅か一時低下し
て印加されたインパルス電圧に復帰する。この電圧の低
下の際、電機機器供試品の両端に跨って接続されたコン
デンサと電機機器供試品とからなる閉回路にコンデンサ
により供絡電流が流れる。この供絡電流には、電機機器
供試品に流れるインパルス電流が含まれず、この供絡電
流を検出することによって電機機器供試品の微少な部分
放電あるいは短絡を高感度に検出することができる。
インパルス電流が供給されたとき、電機機器供試品の一
部に微少な部分放電あるいは短絡が生じると、その放電
あるいは短絡に相当する分印加されたインパルス電圧に
対して電機機器供試品の両端の電圧が極僅か一時低下し
て印加されたインパルス電圧に復帰する。この電圧の低
下の際、電機機器供試品の両端に跨って接続されたコン
デンサと電機機器供試品とからなる閉回路にコンデンサ
により供絡電流が流れる。この供絡電流には、電機機器
供試品に流れるインパルス電流が含まれず、この供絡電
流を検出することによって電機機器供試品の微少な部分
放電あるいは短絡を高感度に検出することができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例を図を参照して説明す
る。図１は、本発明の一実施例の電機機器の巻線におけ
る部分放電検出回路で、１はインパルス電圧発生回路で
その回路の出力部に波頭調整用コンデンサ５が接続され
ている。６は試験される供試品３の巻線でその端部はそ
れぞれリード線２、２によりインパルス電圧発生回路１
の波頭調整用コンデンサ５のそれぞれの端部に接続され
ている。７は供試品３の巻線間の分布キャパシタンスを
示し、８はリード線２、２の分布インダクタンスを示し
ている。９は供試品３の巻線の両端に跨って接続されて
いるコンデンサであり、このコンデンサ９の分岐回路
（図１のＡ点）にパルスＣＴの巻線４が挿入されてい
る。そしてパルスＣＴの巻線４は図２で示すものと同様
に測定用オシロスコープに接続された測定用ケーブル
（図示なし）に接続されている。
る。図１は、本発明の一実施例の電機機器の巻線におけ
る部分放電検出回路で、１はインパルス電圧発生回路で
その回路の出力部に波頭調整用コンデンサ５が接続され
ている。６は試験される供試品３の巻線でその端部はそ
れぞれリード線２、２によりインパルス電圧発生回路１
の波頭調整用コンデンサ５のそれぞれの端部に接続され
ている。７は供試品３の巻線間の分布キャパシタンスを
示し、８はリード線２、２の分布インダクタンスを示し
ている。９は供試品３の巻線の両端に跨って接続されて
いるコンデンサであり、このコンデンサ９の分岐回路
（図１のＡ点）にパルスＣＴの巻線４が挿入されてい
る。そしてパルスＣＴの巻線４は図２で示すものと同様
に測定用オシロスコープに接続された測定用ケーブル
（図示なし）に接続されている。
【０００８】このように構成された部分放電検出回路に
おいて、インパルス発生回路１によりインパルス電圧が
供試品３の巻線６に印加されたとき、供試品３の巻線６
の一部に放電が発生すると、放電が生じている巻線間の
分布キャパシタンスが短絡された状態になり、その放電
に相当する分印加されたインパルス電圧に対して供試品
３の巻線６の両端の電圧が低下する。この電圧の低下に
対して、供試品３の巻線６の両端に跨って接続されてい
るコンデンサ９．巻線６・コンデンサ９の回路および波
頭調整用コンデンサ５・リード線２・巻線６・リード線
２・コンデンサ５の回路によりコンデンサ９および波頭
調整用コンデンサ５から供絡電流（図中矢印）が巻線６
に流れ、巻線６の両端間の電圧は印加されているインパ
ルス電圧に復帰する。パルスＣＴの巻線４は供試品３の
巻線６の両端に跨って接続されているコンデンサ９の分
岐回路に挿入されていて、この分岐回路に流れる供絡電
流のみを検出することができる。
おいて、インパルス発生回路１によりインパルス電圧が
供試品３の巻線６に印加されたとき、供試品３の巻線６
の一部に放電が発生すると、放電が生じている巻線間の
分布キャパシタンスが短絡された状態になり、その放電
に相当する分印加されたインパルス電圧に対して供試品
３の巻線６の両端の電圧が低下する。この電圧の低下に
対して、供試品３の巻線６の両端に跨って接続されてい
るコンデンサ９．巻線６・コンデンサ９の回路および波
頭調整用コンデンサ５・リード線２・巻線６・リード線
２・コンデンサ５の回路によりコンデンサ９および波頭
調整用コンデンサ５から供絡電流（図中矢印）が巻線６
に流れ、巻線６の両端間の電圧は印加されているインパ
ルス電圧に復帰する。パルスＣＴの巻線４は供試品３の
巻線６の両端に跨って接続されているコンデンサ９の分
岐回路に挿入されていて、この分岐回路に流れる供絡電
流のみを検出することができる。
【０００９】したがって、図２に示すような従来のイン
パルス電流を検出するものでは、供試品３の微少な巻線
６の一部の放電、例えば１０００ターンの巻線の中の１
ターンの部分放電が発生してもインパルス電流の変化が
１／１０００と極めて小さくその検出が困難であるが、
本発明はインパルス電流を含まない供絡電流のみを検出
することになり、このような微少な部分放電あるいは短
絡をも感度良く検出することができる。
パルス電流を検出するものでは、供試品３の微少な巻線
６の一部の放電、例えば１０００ターンの巻線の中の１
ターンの部分放電が発生してもインパルス電流の変化が
１／１０００と極めて小さくその検出が困難であるが、
本発明はインパルス電流を含まない供絡電流のみを検出
することになり、このような微少な部分放電あるいは短
絡をも感度良く検出することができる。
【００１０】なお、この実施例では、供試品３の巻線６
に直接コンデンサ９を並列に接続して小さなサージイン
ピーダンスのパルス電流回路を構成し、これにより検出
感度を高めているが、コンデンサ９の回路を用いないで
インパルス発生回路１の出力部に接続されている波頭調
整用コンデンサ５の接続部の回路（図１のＢ点）にパル
スＣＴの巻線４を挿入して供絡電流を検出しても良く、
また、検出器としてパルスＣＴに代えシャント抵抗を用
いても良い。また、供試品として巻線機器に限らず、コ
ンデンサなどでも良い。
に直接コンデンサ９を並列に接続して小さなサージイン
ピーダンスのパルス電流回路を構成し、これにより検出
感度を高めているが、コンデンサ９の回路を用いないで
インパルス発生回路１の出力部に接続されている波頭調
整用コンデンサ５の接続部の回路（図１のＢ点）にパル
スＣＴの巻線４を挿入して供絡電流を検出しても良く、
また、検出器としてパルスＣＴに代えシャント抵抗を用
いても良い。また、供試品として巻線機器に限らず、コ
ンデンサなどでも良い。
【００１１】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、供絡電流
を直接検出しているので供試品の微少な部分放電が検出
できる。これにより電気機器製品の長年月における絶縁
破壊の予知予防ができる。
を直接検出しているので供試品の微少な部分放電が検出
できる。これにより電気機器製品の長年月における絶縁
破壊の予知予防ができる。
【図１】本発明の一実施例の部分放電検出回路図。
【図２】従来の部分放電検出回路図。
１ インパルス電圧発生回路 ２ リード線 ３ 供試品 ４ パルスＣＴ ５ 波頭調整用コンデンサ ６ 供試品の巻線 ７ 供試品の巻線の分布キャパシタンス ８ リード線の分布インダクタンス ９ コンデンサ
Claims (1)
- 【請求項１】 インパルス電圧発生回路と、前記インパ
ルス電圧発生回路に直列に接続された電機機器供試品
と、前記電機機器供試品の両端に跨って接続されたコン
デンサ回路とを有し、前記コンデンサ回路に前記コンデ
ンサに流れる電流を検出する検出器を設けたことを特徴
とする電機機器の部分放電検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6339392A JPH08170975A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 電機機器の部分放電検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6339392A JPH08170975A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 電機機器の部分放電検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08170975A true JPH08170975A (ja) | 1996-07-02 |
Family
ID=18327045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6339392A Pending JPH08170975A (ja) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | 電機機器の部分放電検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08170975A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012229951A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Nissin Electric Co Ltd | インパルス電圧試験装置及びその試験方法 |
| JP2013145142A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Azusa Tech Co | 巻線検査装置 |
| US8816694B2 (en) | 2004-07-28 | 2014-08-26 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co., Ltd. | Apparatus and method for detecting partial discharge at turn-to-turn insulation in motor |
-
1994
- 1994-12-16 JP JP6339392A patent/JPH08170975A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8816694B2 (en) | 2004-07-28 | 2014-08-26 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co., Ltd. | Apparatus and method for detecting partial discharge at turn-to-turn insulation in motor |
| JP2012229951A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Nissin Electric Co Ltd | インパルス電圧試験装置及びその試験方法 |
| JP2013145142A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Azusa Tech Co | 巻線検査装置 |
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