JPS61154412A - 電線の端末処理状態検査装置 - Google Patents
電線の端末処理状態検査装置Info
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- JPS61154412A JPS61154412A JP59277694A JP27769484A JPS61154412A JP S61154412 A JPS61154412 A JP S61154412A JP 59277694 A JP59277694 A JP 59277694A JP 27769484 A JP27769484 A JP 27769484A JP S61154412 A JPS61154412 A JP S61154412A
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- electric wire
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- stripping
- wire terminal
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- Removal Of Insulation Or Armoring From Wires Or Cables (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の分野）
この発明は、被覆剥取処理を施して芯線を裸出させた電
線端末の処理状態を検査する装置に関し、特に自動端子
圧着装置に用いられてそのような検査を行なうための装
置に関する。
線端末の処理状態を検査する装置に関し、特に自動端子
圧着装置に用いられてそのような検査を行なうための装
置に関する。
（先行技術の説明）
電線端末の被覆を剥取る処理工程と、その剥取部分に端
子を圧着する処理工程とから成る端子圧着処理を連続か
つ自動的に行なうようにされた自動端子圧着装置におい
て、被覆剥取処理が良好に行なわれたかどうかを検査す
るために、従来、例えば第１図に示すような検出ブラシ
を用いた検査が行なわれている。この検出ブラシは１対
の板ばね電極１．２から構成され、これらの板ばね電極
１．２は、被覆が剥取られて裸出した芯線部分３がその
間を通過するように、自動端子圧着装置の処理経路（電
線端末の移送経路）上に配置される。
子を圧着する処理工程とから成る端子圧着処理を連続か
つ自動的に行なうようにされた自動端子圧着装置におい
て、被覆剥取処理が良好に行なわれたかどうかを検査す
るために、従来、例えば第１図に示すような検出ブラシ
を用いた検査が行なわれている。この検出ブラシは１対
の板ばね電極１．２から構成され、これらの板ばね電極
１．２は、被覆が剥取られて裸出した芯線部分３がその
間を通過するように、自動端子圧着装置の処理経路（電
線端末の移送経路）上に配置される。
板ばね電極１．２は、例えば第１図に示すように、常時
は微小距離離間して非導通状態に保たれ、その離間部分
を両板ばね電極１，２を押分けながら芯線部分３が通過
するとき、導通があれば剥取良好と判別し、依然として
非導通状態であれば芯線が裸出していないものとして剥
取不良と判別している。また板ばね電極１．２は、常時
は一部接触して導通状態に保たれることもあり、この場
合はその接触部分を両板ばね電極１，２を押分けながら
芯線部分３が通過するとき、依然として導通があれば剥
取良好と判別し、非導通状態となれば剥取不良と判別す
る。
は微小距離離間して非導通状態に保たれ、その離間部分
を両板ばね電極１，２を押分けながら芯線部分３が通過
するとき、導通があれば剥取良好と判別し、依然として
非導通状態であれば芯線が裸出していないものとして剥
取不良と判別している。また板ばね電極１．２は、常時
は一部接触して導通状態に保たれることもあり、この場
合はその接触部分を両板ばね電極１，２を押分けながら
芯線部分３が通過するとき、依然として導通があれば剥
取良好と判別し、非導通状態となれば剥取不良と判別す
る。
ところで、このような検出ブラシを用いた従来の検査方
法においては、検査ミスや後の端子圧着処理工程におけ
る圧着不良の誘発を回避するため、電線の径や板ばね電
極のばね定数（押付力）に応じた微細な調整を行なう必
要があり、煩雑であるとともに、微調整の程度により自
動端子圧着装置の作動の安定性が左右されるという問題
点があった。例えば、大径の電線で芯線のこしが強い場
合に板ばね電極の押付力を弱くすると、裸出芯線部分３
が片側の板ばね電極（例えば電極１）のみを押上げて両
板ばね電極１．２間を通過してしまうことがあり、これ
により検査ミスを発生することがある。また逆に、芯線
のこしに比べて板ばね電極の押付力が強いときは、裸出
芯線部分３が両板ばね電極１．２間を通過するときに芯
線が押し曲げられてしまい、後の処理工程において端子
圧着ミスを誘発する。
法においては、検査ミスや後の端子圧着処理工程におけ
る圧着不良の誘発を回避するため、電線の径や板ばね電
極のばね定数（押付力）に応じた微細な調整を行なう必
要があり、煩雑であるとともに、微調整の程度により自
動端子圧着装置の作動の安定性が左右されるという問題
点があった。例えば、大径の電線で芯線のこしが強い場
合に板ばね電極の押付力を弱くすると、裸出芯線部分３
が片側の板ばね電極（例えば電極１）のみを押上げて両
板ばね電極１．２間を通過してしまうことがあり、これ
により検査ミスを発生することがある。また逆に、芯線
のこしに比べて板ばね電極の押付力が強いときは、裸出
芯線部分３が両板ばね電極１．２間を通過するときに芯
線が押し曲げられてしまい、後の処理工程において端子
圧着ミスを誘発する。
（発明の目的）
それ故に、この発明の目的は、非接触で裸出芯線に影響
を及ぼさないとともに、任意の径の電線に対し無調整で
適用し得る、電線の端末処理状態検査装置を提供するこ
とである。
を及ぼさないとともに、任意の径の電線に対し無調整で
適用し得る、電線の端末処理状態検査装置を提供するこ
とである。
（発明の構成）
上記目的を達成するため、この発明においては、２つの
検知手段を被ｌ剥取処理のための経路上に配置するとと
もに、該検知手段の出力を判定手段に入力して被覆剥取
状態の良否を判定するような構成を採用している。上記
２つの検知手段は、上記経路トにて電線端末の裸出芯線
部および残留被覆部の通過をそれぞれ非接触で検知して
、その通過の時間に対応した良さの第１および第２の通
過信号をそれぞれ導出するよう構成され、上記判定手段
は、第１および第２の通過信号の長さを比較して、その
差が所定値より大きいとき剥取層と判定し、所定値以下
のとき剥取不良と判定するよう構成される。
検知手段を被ｌ剥取処理のための経路上に配置するとと
もに、該検知手段の出力を判定手段に入力して被覆剥取
状態の良否を判定するような構成を採用している。上記
２つの検知手段は、上記経路トにて電線端末の裸出芯線
部および残留被覆部の通過をそれぞれ非接触で検知して
、その通過の時間に対応した良さの第１および第２の通
過信号をそれぞれ導出するよう構成され、上記判定手段
は、第１および第２の通過信号の長さを比較して、その
差が所定値より大きいとき剥取層と判定し、所定値以下
のとき剥取不良と判定するよう構成される。
（実施例の説明）
第２図は、この発明による電線の端末処理状態検査装置
の一実施例を示す概略説明図である。被覆剥取処理が施
された電線端末４は、一対の搬送爪５ａ、５ｂにより根
元を把持されて、処理経路６上を実線矢印で示す如く左
側（上流）から右側（下流）へと移送される。例えば、
前述の自動端子圧着装置であれば、図示の上流側には被
覆剥取処理部が存在し、下流側には端子圧着処理部が存
在する。
の一実施例を示す概略説明図である。被覆剥取処理が施
された電線端末４は、一対の搬送爪５ａ、５ｂにより根
元を把持されて、処理経路６上を実線矢印で示す如く左
側（上流）から右側（下流）へと移送される。例えば、
前述の自動端子圧着装置であれば、図示の上流側には被
覆剥取処理部が存在し、下流側には端子圧着処理部が存
在する。
この発明による電線の端末処理状態検査装置は、処理経
路６に沿って移送される電線端末４の裸出芯線部７およ
び残留被覆部８の通過をそれぞれ検知するための、１組
の光電スイッチ９ａ、９ｂを有している。光電スイッチ
９ａは裸出芯線部７の移動経路上に配置され、光電スイ
ッチ９ｂは残留被覆部８の移動経路上に配置される。
路６に沿って移送される電線端末４の裸出芯線部７およ
び残留被覆部８の通過をそれぞれ検知するための、１組
の光電スイッチ９ａ、９ｂを有している。光電スイッチ
９ａは裸出芯線部７の移動経路上に配置され、光電スイ
ッチ９ｂは残留被覆部８の移動経路上に配置される。
第３Ａ図は光電スイッチ９ａ、９ｂとして拡散式反射型
のものを用いた場合の配置図を示し、第３Ｂ図は対向式
のものを用いた場合の配置図を示す。これら第３Ａ、８
図は、第２図の移送経路６の下流側から上流側を眺めた
場合の、搬送爪５ａ。
のものを用いた場合の配置図を示し、第３Ｂ図は対向式
のものを用いた場合の配置図を示す。これら第３Ａ、８
図は、第２図の移送経路６の下流側から上流側を眺めた
場合の、搬送爪５ａ。
５ｂ（上流側搬送爪５ａは下流側搬送爪５ｂの背後に隠
れて図には表われていない）に把持された電Ｓ端末４を
描いたものであり、図示の場合は電線端末４は充電スイ
ッチ９ａ、９ｂと対向する位置まで来ている。
れて図には表われていない）に把持された電Ｓ端末４を
描いたものであり、図示の場合は電線端末４は充電スイ
ッチ９ａ、９ｂと対向する位置まで来ている。
第３Ａ図に示すように、拡散式反射型の場合、各光電ス
イッチ９ａ、９ｂはそれぞれ１個のスイッチユニットＡ
、Ｂから成っており、これらのスイッチユニットＡ、Ｂ
は裸出芯線部７の移動経路の上方および残留被覆部８の
移動経路の上方にそれぞれ配設される。各スイッチユニ
ットＡ、Ｂは投光器と受光器とを備えており、投光器か
ら出た光１０ａ、１０ｂは裸出芯線部７の表面および残
留被覆部８の表面でそれぞれ反射され、受光器はこの反
射光をキャッチすると検知信号を生じる。
イッチ９ａ、９ｂはそれぞれ１個のスイッチユニットＡ
、Ｂから成っており、これらのスイッチユニットＡ、Ｂ
は裸出芯線部７の移動経路の上方および残留被覆部８の
移動経路の上方にそれぞれ配設される。各スイッチユニ
ットＡ、Ｂは投光器と受光器とを備えており、投光器か
ら出た光１０ａ、１０ｂは裸出芯線部７の表面および残
留被覆部８の表面でそれぞれ反射され、受光器はこの反
射光をキャッチすると検知信号を生じる。
これらの検知信号は反射光のキャッチの間継続するので
、その長さはそれぞれ裸出芯線部７および残留被覆部８
の通過の時間と対応したちのどなる。
、その長さはそれぞれ裸出芯線部７および残留被覆部８
の通過の時間と対応したちのどなる。
また第３Ｂ図に示すように、対向式の場合は、光電スイ
ッチ９ａ、９ｂはそれぞれ投光器・受光器の対Ａ１・Ａ
２およびＢ１・Ｂ２から成っている。これらの投光器・
受光器の対Ａ１・Ａ２およびＢ１・Ｂ２は、それぞれ裸
出芯線部７の移動経路および残留被覆部８の移動経路を
はさんで、光軸が一致するよう対向して配置される。光
軸が一致しているので、投光器Ａ１．Ｂ１から出た光１
０ａ、１０ｂは常時は受光器Ａ２．８２にそれぞれ入射
しているが、図示のように裸出芯線部７および残留被覆
部８がこの光１０ａ、１０ｂを遮断すると、受光器Ａ２
．８２は検知信号を生ずる。
ッチ９ａ、９ｂはそれぞれ投光器・受光器の対Ａ１・Ａ
２およびＢ１・Ｂ２から成っている。これらの投光器・
受光器の対Ａ１・Ａ２およびＢ１・Ｂ２は、それぞれ裸
出芯線部７の移動経路および残留被覆部８の移動経路を
はさんで、光軸が一致するよう対向して配置される。光
軸が一致しているので、投光器Ａ１．Ｂ１から出た光１
０ａ、１０ｂは常時は受光器Ａ２．８２にそれぞれ入射
しているが、図示のように裸出芯線部７および残留被覆
部８がこの光１０ａ、１０ｂを遮断すると、受光器Ａ２
．８２は検知信号を生ずる。
これらの検知信号は光１０ａ、１０ｂが遮断されている
間継続するので、その長さは第３Ａ図の場合と同様それ
ぞれ裸出芯線部７および残留被覆部８の通過の時間と対
応したものとなる。
間継続するので、その長さは第３Ａ図の場合と同様それ
ぞれ裸出芯線部７および残留被覆部８の通過の時間と対
応したものとなる。
このようにして光電スイッチ９ａ、９ｂから導出された
検知信号は、それぞれ裸出芯線部通過信号および残留被
覆部通過信号として後述の処理回路に与えられ、剥取良
否の判定のため利用に供される。
検知信号は、それぞれ裸出芯線部通過信号および残留被
覆部通過信号として後述の処理回路に与えられ、剥取良
否の判定のため利用に供される。
Ｎ４図はそのような処理回路を示す概略ブロック図であ
り、その各部の波形を第５図の波形図に示す。処理回路
は、第５図（１）に示すクロックパルスを発生するクロ
ック発生器と、光電スイッチ９ａからの裸出芯線部通過
信号および光電スイッチ９ｂからの残留被覆部通過信号
をヒ記クロックとそれぞれＡＮＤ処理するＡＮＤゲート
１２ａ。
り、その各部の波形を第５図の波形図に示す。処理回路
は、第５図（１）に示すクロックパルスを発生するクロ
ック発生器と、光電スイッチ９ａからの裸出芯線部通過
信号および光電スイッチ９ｂからの残留被覆部通過信号
をヒ記クロックとそれぞれＡＮＤ処理するＡＮＤゲート
１２ａ。
１２ｂと、ＡＮＤゲート１２ａ、１２ｂの出力をそれぞ
れカウントするカウンタ１３ａ、１３ｂと、カウンタ１
３ａ、１３ｂの出力カウント値を比較する比較演算回路
１４とから構成されており、被覆剥取の良否を判定する
判定手段として機能する。
れカウントするカウンタ１３ａ、１３ｂと、カウンタ１
３ａ、１３ｂの出力カウント値を比較する比較演算回路
１４とから構成されており、被覆剥取の良否を判定する
判定手段として機能する。
被覆剥取が良好な場合の動作について述べれば、この場
合光電スイッチ９ａがら導出される裸出芯線部通過信号
は第５図（２）の実線に示す如くなり、光電スイッチ９
ｂから導出される残留被覆部通過信号は第５図（４）に
示す如くなる。両通過信号の時間幅は、第２図に示す裸
出芯線部７および残留被覆部８の横幅に対応するもので
ある。
合光電スイッチ９ａがら導出される裸出芯線部通過信号
は第５図（２）の実線に示す如くなり、光電スイッチ９
ｂから導出される残留被覆部通過信号は第５図（４）に
示す如くなる。両通過信号の時間幅は、第２図に示す裸
出芯線部７および残留被覆部８の横幅に対応するもので
ある。
ＡＮＤゲート１２ａは、第５ ｋ （１）のクロック信
号と第５図（２）実線の裸出芯線部通過信号とを受けて
ＡＮＤ処理し、第５図（３）実線に示す信号を出力する
。またＡＮＤゲート１２ｂは、第５図（１）のクロック
信号と第５図（４）の残留被覆部通過信号とを受けてＡ
ＮＤ処理し、第５図（５）に示す信号を出力する。これ
らＡＮＤゲート１２ａ。
号と第５図（２）実線の裸出芯線部通過信号とを受けて
ＡＮＤ処理し、第５図（３）実線に示す信号を出力する
。またＡＮＤゲート１２ｂは、第５図（１）のクロック
信号と第５図（４）の残留被覆部通過信号とを受けてＡ
ＮＤ処理し、第５図（５）に示す信号を出力する。これ
らＡＮＤゲート１２ａ。
１２ｂの出力信号に含まれているパルス数は、それぞれ
の通過信号の時間幅に比例している。
の通過信号の時間幅に比例している。
これらのパルス数はカウンタ１３ａ、１３ｂにおいてそ
れぞれカウントされ、そのカウント値は比較演算回路１
４に与えられる。比較演算回路１４は両カウント値を比
較し、その差が所定値よりも大きいかどうかを判別する
。差が所定値よりも大きいときは、芯線部と被覆部とで
その横幅に十分な差があり、被覆剥取が良好に行なわれ
たということがわかる。したがってこの場合は、比較演
算回路１４から剥取良を示す判定信号が出力される。一
方、差が所定値以下のときは、芯線部と被覆部とでその
横幅に十分な差がなく、被覆剥取が良好に行なわれてい
ないということがわかる。したがってこの場合は、比較
演算回路１４から剥取不良を示す判定信号が出力される
。例えば上記所定値として最も簡単にピロを選択すれば
、両カウント値が等しいか否かにより剥取の良否を判定
することになる。もちろん、電線の形状に応じて、適当
な所定値を予め設定するようにしてもよい。
れぞれカウントされ、そのカウント値は比較演算回路１
４に与えられる。比較演算回路１４は両カウント値を比
較し、その差が所定値よりも大きいかどうかを判別する
。差が所定値よりも大きいときは、芯線部と被覆部とで
その横幅に十分な差があり、被覆剥取が良好に行なわれ
たということがわかる。したがってこの場合は、比較演
算回路１４から剥取良を示す判定信号が出力される。一
方、差が所定値以下のときは、芯線部と被覆部とでその
横幅に十分な差がなく、被覆剥取が良好に行なわれてい
ないということがわかる。したがってこの場合は、比較
演算回路１４から剥取不良を示す判定信号が出力される
。例えば上記所定値として最も簡単にピロを選択すれば
、両カウント値が等しいか否かにより剥取の良否を判定
することになる。もちろん、電線の形状に応じて、適当
な所定値を予め設定するようにしてもよい。
いま、所定値としてゼロを選択していると仮定すれば、
第５図（３）実線および第５図（５）に示すＡＮＤゲー
ト１２ａ、１２ｂの出力パルス数はそれぞれ６および１
２であるので、比較演算回路１４は１２−６＞０つまり
１２〉６と判定し、剥取良を示す判定信号を出力する。
第５図（３）実線および第５図（５）に示すＡＮＤゲー
ト１２ａ、１２ｂの出力パルス数はそれぞれ６および１
２であるので、比較演算回路１４は１２−６＞０つまり
１２〉６と判定し、剥取良を示す判定信号を出力する。
次に、被覆剥取が不良な場合について述べる。
この場合は裸出すべぎ芯線部に被覆がついたままになっ
ており、光電スイッチ９ａから導出される裸出芯線部通
過信号は、第５図（２）点線に示す如く、第５図（４）
の残留被覆部通過信号と同様の時間幅のものとなる。し
たがって第５図（３）点線に示すように、ＡＮＤゲート
１２ａの出力パルス数（＝１２）は、第５図（５）に示
すＡＮＤゲート１２ｂの出力パルス数（＝１２）と等し
くなる。比較演算回路１４は１２−１２＝Ｏつまり１２
＝１２と判定し、剥取不良を示す判定信号を出力する。
ており、光電スイッチ９ａから導出される裸出芯線部通
過信号は、第５図（２）点線に示す如く、第５図（４）
の残留被覆部通過信号と同様の時間幅のものとなる。し
たがって第５図（３）点線に示すように、ＡＮＤゲート
１２ａの出力パルス数（＝１２）は、第５図（５）に示
すＡＮＤゲート１２ｂの出力パルス数（＝１２）と等し
くなる。比較演算回路１４は１２−１２＝Ｏつまり１２
＝１２と判定し、剥取不良を示す判定信号を出力する。
このようにして得られた被覆剥取の良否を示す判定信号
は、所定の制御を行なうために利用される。例えば、剥
取不良を示す判定信号に応答して、自動端子圧着装置の
作動を非常停止して不良電線を手動除去可能とするとと
もに、警報器を作動させてオペレータに剥取不良を通報
するようにしてもよい。また例えば、剥取不良を示す判
定信号に応答して不良電線が自動的に選別除去されるよ
う、自動端子圧着装置を構成することも可能である。
は、所定の制御を行なうために利用される。例えば、剥
取不良を示す判定信号に応答して、自動端子圧着装置の
作動を非常停止して不良電線を手動除去可能とするとと
もに、警報器を作動させてオペレータに剥取不良を通報
するようにしてもよい。また例えば、剥取不良を示す判
定信号に応答して不良電線が自動的に選別除去されるよ
う、自動端子圧着装置を構成することも可能である。
第６図および第７図は、判定手段としての処理回路（第
４図）の別の実施例を示す概略ブロック図である。これ
らの処理回路は、第４図の処理回路が芯線部、被覆部の
幅をディジタル値（パルス数）に変換したのに対し、こ
れらの幅を積分回路１５ａ、１５ｂを通じてアナログＩ
Ｉ（ｌ圧ｍｌ）に変換するものである。
４図）の別の実施例を示す概略ブロック図である。これ
らの処理回路は、第４図の処理回路が芯線部、被覆部の
幅をディジタル値（パルス数）に変換したのに対し、こ
れらの幅を積分回路１５ａ、１５ｂを通じてアナログＩ
Ｉ（ｌ圧ｍｌ）に変換するものである。
第６図の実施例において、積分回路１５ａ、１５ｂは光
電スイッチ９ａ、９ｂから第５図（２）。
電スイッチ９ａ、９ｂから第５図（２）。
（４）の通過信号をそれぞれ受けてこれを積分し、各通
過信号の時間幅に対応した大きさの電圧値に変換する。
過信号の時間幅に対応した大きさの電圧値に変換する。
これらの電圧値は、電圧比較器１６に与えられる。電圧
比較器１６はこれらの電圧値を比較し、その差が所定値
よりも大きいときは剥取良を示す判定信号を出力し、所
定値以下のときは剥取不良を示す判定信号を出力する。
比較器１６はこれらの電圧値を比較し、その差が所定値
よりも大きいときは剥取良を示す判定信号を出力し、所
定値以下のときは剥取不良を示す判定信号を出力する。
この比較は上述した比較演算回路１４（第４図）におけ
る比較と゛同様であり、その説明は省略する。
る比較と゛同様であり、その説明は省略する。
第７図の実施例は、第６図の実施例と類似しているが、
積分回路１５ａ、１５ｂの出力電圧値をそれぞれＡ／Ｄ
変換器１７ａ、１７ｂを通じてディジタル値に変換した
後にこれらを比較するものであるという点において、第
６図の実施例と異なっている。Ａ／Ｄ変換器１７ａ、１
７ｂの出力ディジタル値は、第５図（２）、（４）に示
す光電スイッチ９ａ、９ｂからの各通過信号の時間幅と
それぞれ対応したものとなり、比較演算回路１８はこれ
らのディジタル値について上述と同様の比較動作を行な
い、剥取の良否を示す判定信号を出力する。
積分回路１５ａ、１５ｂの出力電圧値をそれぞれＡ／Ｄ
変換器１７ａ、１７ｂを通じてディジタル値に変換した
後にこれらを比較するものであるという点において、第
６図の実施例と異なっている。Ａ／Ｄ変換器１７ａ、１
７ｂの出力ディジタル値は、第５図（２）、（４）に示
す光電スイッチ９ａ、９ｂからの各通過信号の時間幅と
それぞれ対応したものとなり、比較演算回路１８はこれ
らのディジタル値について上述と同様の比較動作を行な
い、剥取の良否を示す判定信号を出力する。
なお、上述の実施例においては、通過信号を導出するた
めの検知手段として最も簡便安価な光電スイッチ９ａ、
９ｂを用いたが、裸出芯線部７および残留被覆部８の°
通過を非接触で検知し、該通過の時間に対応した長さの
通過信号を出力し得る検知手段であれば光電スイッチに
限らずどのようなものであってもよい。例えば、光電ス
イッチの検出ヘッド部に光ファイバを連結した光フアイ
バセンサを使用すれば、設置スペースが狭い場合に特に
有効である。
めの検知手段として最も簡便安価な光電スイッチ９ａ、
９ｂを用いたが、裸出芯線部７および残留被覆部８の°
通過を非接触で検知し、該通過の時間に対応した長さの
通過信号を出力し得る検知手段であれば光電スイッチに
限らずどのようなものであってもよい。例えば、光電ス
イッチの検出ヘッド部に光ファイバを連結した光フアイ
バセンサを使用すれば、設置スペースが狭い場合に特に
有効である。
（発明の効果）
以上説明したように、この発明においては電線端末に非
接触で検査を行なうようにしているので、従来の検出ブ
ラシによる接触検査のように電線端末、特に裸出芯線部
に影響を与えることがない。
接触で検査を行なうようにしているので、従来の検出ブ
ラシによる接触検査のように電線端末、特に裸出芯線部
に影響を与えることがない。
したがって、自動端子圧着装置においては、次工程の端
子圧着が確実となる。また、裸出芯線部および残留被覆
部の幅に対応した長さの通過信号を導出して両者を比較
するものであるため、電線の太さが変っても調整が不要
である。したがって、従来のように調整不良による誤動
作を生じることはなく、作動が非常に安定している。
子圧着が確実となる。また、裸出芯線部および残留被覆
部の幅に対応した長さの通過信号を導出して両者を比較
するものであるため、電線の太さが変っても調整が不要
である。したがって、従来のように調整不良による誤動
作を生じることはなく、作動が非常に安定している。
第１図は従来の検出ブラシを示す説明図、第２図はこの
発明の一実施例を示す概略説明図、第３Ａ図および第３
Ｂ図は光電スイッチの配置図、第４図は判定手段として
の処理回路を示す概略ブロック図、第５図は第４同各部
の波形図、第６図および第７図は処理回路の別の実施例
を示す概略ブロック図である。
発明の一実施例を示す概略説明図、第３Ａ図および第３
Ｂ図は光電スイッチの配置図、第４図は判定手段として
の処理回路を示す概略ブロック図、第５図は第４同各部
の波形図、第６図および第７図は処理回路の別の実施例
を示す概略ブロック図である。
Claims (5)
- （１）被覆剥取処理を施して芯線を裸出させた電線端末
の処理状態を検査する装置であつて、被覆剥取処理のた
めの経路上に配置されて、前記電線端末の裸出芯線部お
よび残留被覆部の通過をそれぞれ非接触で検知し、該通
過の時間に対応した長さの第１および第２の通過信号を
それぞれ与える第１および第２の検知手段と、 前記第１および第２の通過信号の長さを比較して、その
差が所定値より大きいとき剥取良と判定し、所定値以下
のとき剥取不良と判定する判定手段とを備える、電線の
端末処理状態検査装置。 - （２）前記検知手段は光電スイッチである、特許請求の
範囲第１項記載の電線の端末処理状態検査装置。 - （３）前記判定手段は、前記第１および第２の通過信号
の期間だけ所定のクロック信号をそれぞれカウントする
第１および第２のカウンタと、前記第１および第２のカ
ウンタのカウント値を比較する比較演算回路とを含む、
特許請求の範囲第１項記載の電線の端末処理状態検査装
置。 - （４）前記判定手段は、前記第１および第２の通過信号
をそれぞれ積分する第１および第２の積分回路と、前記
第１および第２の積分回路の出力電圧を比較する電圧比
較器とを含む、特許請求の範囲第１項記載の電線の端末
処理状態検査装置。 - （５）前記判定手段は、前記第１および第２の通過信号
をそれぞれ積分する第１および第２の積分回路と、前記
第１および第２の積分回路の出力電圧をそれぞれディジ
タル値に変換する第１および第２のＡ／Ｄ変換器と、前
記ディジタル値を比較する比較演算回路とを備える、特
許請求の範囲第１項記載の電線の端末処理状態検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59277694A JPS61154412A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 電線の端末処理状態検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59277694A JPS61154412A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 電線の端末処理状態検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61154412A true JPS61154412A (ja) | 1986-07-14 |
| JPH0324122B2 JPH0324122B2 (ja) | 1991-04-02 |
Family
ID=17586998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59277694A Granted JPS61154412A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 電線の端末処理状態検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61154412A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63229379A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-26 | Nippon Autom Mach Kk | 被覆電線用の検出センサ |
| JPH0291411U (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-19 | ||
| US5038457A (en) * | 1988-04-27 | 1991-08-13 | Shin Meiwa Industry Co., Ltd. | Harness producing apparatus |
| JPH0574119U (ja) * | 1992-03-10 | 1993-10-08 | 新明和工業株式会社 | 電線の端末処理状態検査装置 |
| JP2008286541A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Japan Automat Mach Co Ltd | 電線端末部の芯線検査装置および検査方法 |
-
1984
- 1984-12-27 JP JP59277694A patent/JPS61154412A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63229379A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-26 | Nippon Autom Mach Kk | 被覆電線用の検出センサ |
| US5038457A (en) * | 1988-04-27 | 1991-08-13 | Shin Meiwa Industry Co., Ltd. | Harness producing apparatus |
| JPH0291411U (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-19 | ||
| JPH0574119U (ja) * | 1992-03-10 | 1993-10-08 | 新明和工業株式会社 | 電線の端末処理状態検査装置 |
| JP2008286541A (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-27 | Japan Automat Mach Co Ltd | 電線端末部の芯線検査装置および検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0324122B2 (ja) | 1991-04-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |