JPS62154411A - 透明導電膜 - Google Patents
透明導電膜Info
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- JPS62154411A JPS62154411A JP29230385A JP29230385A JPS62154411A JP S62154411 A JPS62154411 A JP S62154411A JP 29230385 A JP29230385 A JP 29230385A JP 29230385 A JP29230385 A JP 29230385A JP S62154411 A JPS62154411 A JP S62154411A
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- conductive film
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は透明導電膜に関する。
一般に、透明な赤外線遮へい板や静電遮へい板や発熱体
やタッチスイッチあるいは液晶表示素子やエレクトロル
ミネッセンス表示素子等においては、透明導電膜が必要
不可欠であるが、この透明導電膜としては、従来、IT
O膜として知られている酸化インジウム−酸化スズ系透
明導電膜が汎用されている。
やタッチスイッチあるいは液晶表示素子やエレクトロル
ミネッセンス表示素子等においては、透明導電膜が必要
不可欠であるが、この透明導電膜としては、従来、IT
O膜として知られている酸化インジウム−酸化スズ系透
明導電膜が汎用されている。
しかしながら、このITO膜は、10−4Ω・−オーダ
ーの低抵抗率と80%以上の可視光透過率を有し、光学
特性及び電気特性並びに特性の安定性に浸れているが、
原材料のインジウムが希少金属であるため資源的な問題
から高価であシ、製造コストが高いという問題があった
。また、低抵抗率のITO膜を製造するためには、25
0〜600℃程度の高温処理が必要であるため、プラス
チックフィルムなど耐熱性に劣る基体上に形成できず、
また、エネルヤー消費量が多く製品コストが高くなると
いう問題があった。
ーの低抵抗率と80%以上の可視光透過率を有し、光学
特性及び電気特性並びに特性の安定性に浸れているが、
原材料のインジウムが希少金属であるため資源的な問題
から高価であシ、製造コストが高いという問題があった
。また、低抵抗率のITO膜を製造するためには、25
0〜600℃程度の高温処理が必要であるため、プラス
チックフィルムなど耐熱性に劣る基体上に形成できず、
また、エネルヤー消費量が多く製品コストが高くなると
いう問題があった。
他方、安価な酸化亜鉛が透明導電膜用材料として注目さ
れてはいるが、10 Ω・−オーダーの抵抗率しか得ら
れず、ITO膜のような低抵抗率のものを製造するのが
困難で、しかも製造条件に極めて敏感で再現性良く製造
することが極めて困難であった。
れてはいるが、10 Ω・−オーダーの抵抗率しか得ら
れず、ITO膜のような低抵抗率のものを製造するのが
困難で、しかも製造条件に極めて敏感で再現性良く製造
することが極めて困難であった。
また、更に、透明導電膜に所望される基本的性質として
、可視光を十分に透過することができ、しかも赤外線を
良好に反射させることが望まれる。
、可視光を十分に透過することができ、しかも赤外線を
良好に反射させることが望まれる。
本発明は、従来の問題点を解決し、低抵抗率でしかも可
視光透過率及び赤外線反射率の高い透明導電膜を提供す
べくなされたものである。
視光透過率及び赤外線反射率の高い透明導電膜を提供す
べくなされたものである。
本発明は、また、この様な優れた特性を製造条件に左右
されずに再現性良く発現することのできる透明導電膜を
提供すべくなされたものである。
されずに再現性良く発現することのできる透明導電膜を
提供すべくなされたものである。
即ち、本発明によって提供される透明導電膜は、酸化亜
鉛を主成分とし、周期律表第■族の元素の少々くとも1
種を亜鉛面子との原子総数に対して0、1〜20原子チ
含有することを特徴とするものである。
鉛を主成分とし、周期律表第■族の元素の少々くとも1
種を亜鉛面子との原子総数に対して0、1〜20原子チ
含有することを特徴とするものである。
本発明で使用する周期律表第■族の元素としては、ケイ
素、グルマニクム、チタン及びジルコニウムのうちの少
なくとも1mを用いるのが好ましく、所望により、炭素
、ヌズ、鉛、ハフニウム等信の第■族元素をも併用する
ことができる。ろるいは、また、本発明の目的を損わな
い範囲で、ホウ素、アルミニウム、ガリウム及びインジ
ウム等第■族元素以外の元素を所望により併用すること
もできる。周期律表第■族元素の含量は、原子数比で、
亜鉛と前記周期律表第■族元素の原子総数100に対す
る個数(本願明細書において原子係と表わしている)で
O,1〜20であることが必要である。0.1未満では
含有せしめる効果が不十分であシ、20全超えると結晶
性が著しく悪化し抵抗率が増大するからである。周期律
表第■族元素の含量のよシ好ましくは、1〜15原子チ
でおる。
素、グルマニクム、チタン及びジルコニウムのうちの少
なくとも1mを用いるのが好ましく、所望により、炭素
、ヌズ、鉛、ハフニウム等信の第■族元素をも併用する
ことができる。ろるいは、また、本発明の目的を損わな
い範囲で、ホウ素、アルミニウム、ガリウム及びインジ
ウム等第■族元素以外の元素を所望により併用すること
もできる。周期律表第■族元素の含量は、原子数比で、
亜鉛と前記周期律表第■族元素の原子総数100に対す
る個数(本願明細書において原子係と表わしている)で
O,1〜20であることが必要である。0.1未満では
含有せしめる効果が不十分であシ、20全超えると結晶
性が著しく悪化し抵抗率が増大するからである。周期律
表第■族元素の含量のよシ好ましくは、1〜15原子チ
でおる。
本発明の透明導電膜の製造法としては、スパッタ法、イ
オングレーティング法、真空蒸着法、化学気相成長法、
スプレー法、陽極酸化法、その他任意の公知の膜形成技
術によっC!M造できる。また、透明導電膜中に■族元
素全含有させる方法としては、膜形成過程で原材料の亜
鉛もしくは酸化亜鉛に■族元素を含む合金、水素化物、
酸化物、へロrン化物及び有機化合物等の形態で導入す
るのが好適であるが、透明導電膜を形成し念後、■族元
素を酸化亜鉛膜中に熱拡散したシイオン注入し7’lす
ることも可能である。
オングレーティング法、真空蒸着法、化学気相成長法、
スプレー法、陽極酸化法、その他任意の公知の膜形成技
術によっC!M造できる。また、透明導電膜中に■族元
素全含有させる方法としては、膜形成過程で原材料の亜
鉛もしくは酸化亜鉛に■族元素を含む合金、水素化物、
酸化物、へロrン化物及び有機化合物等の形態で導入す
るのが好適であるが、透明導電膜を形成し念後、■族元
素を酸化亜鉛膜中に熱拡散したシイオン注入し7’lす
ることも可能である。
また、スパッタ法によフ製造する場合は、ターゲット材
料として本発明の透明導電膜の前記組成と同じ組成の焼
結体を用いることができる。ターゲット材料の製造は、
従来公知の方法によって行なうことができる。
料として本発明の透明導電膜の前記組成と同じ組成の焼
結体を用いることができる。ターゲット材料の製造は、
従来公知の方法によって行なうことができる。
酸化亜鉛は真性格子欠陥でおる酸素空孔や格子間亜鉛に
よるドナー準位により縮退し7jn形半導体が比較的容
易に得られ、約1020ci’オーダの伝導電子密度を
実現できるが、抵抗率110−30・αオーダよシ低下
させることは困難である。しかしながら、■族元素を酸
化亜鉛薄膜中に導入すると、■族元素の原子がドナーと
して有効に拗くため、10CrLオーダの伝導電子密度
を実現でき、真性格子欠陥によるドナー及び不純物原子
によるドナーが共存する結果として伝導電子密度を約1
桁大きくできるので、電子移動度が大幅に変化せず、従
って、抵抗率が10−4Ω・儒オーダの透明導電膜を実
現できる。tた、これらの外因性ドナーは、酸化亜鉛の
真性格子欠陥による内因性ドナーと比較して、薄膜形成
過程で比較的安定に導入できるため、膜特性の再現性を
著しく向上させる。
よるドナー準位により縮退し7jn形半導体が比較的容
易に得られ、約1020ci’オーダの伝導電子密度を
実現できるが、抵抗率110−30・αオーダよシ低下
させることは困難である。しかしながら、■族元素を酸
化亜鉛薄膜中に導入すると、■族元素の原子がドナーと
して有効に拗くため、10CrLオーダの伝導電子密度
を実現でき、真性格子欠陥によるドナー及び不純物原子
によるドナーが共存する結果として伝導電子密度を約1
桁大きくできるので、電子移動度が大幅に変化せず、従
って、抵抗率が10−4Ω・儒オーダの透明導電膜を実
現できる。tた、これらの外因性ドナーは、酸化亜鉛の
真性格子欠陥による内因性ドナーと比較して、薄膜形成
過程で比較的安定に導入できるため、膜特性の再現性を
著しく向上させる。
以下1本発明の実施例について説明する。
実施例1
純度99.99%の酸化ケイ素(SiO□)、酸化ゲル
マニウム(Goo□)、酸化チタン(TiO2)もしく
は酸化ジルコニウム(ZrOz)の粉末を純度99.9
9%の酸化亜鉛(ZnO)の粉末に添加し、これを幅6
cm長さ10cmの長方形状に加圧成型したのち焼結さ
せ、この焼結体をターゲットとして外部磁界印加形高周
波マグネトロンスパッタ装置のマグネトロンカソード上
に装着し、スパッタガスとして純アルゴンを用いて、下
記条件下でスパッタリングを行ない、ターゲット表面に
対し垂直に配設したガラス基体上に透明導電膜を形成し
た。なお、基体は、特に加熱もしくは冷却など温度制御
することなく、常温から温度の自然変化のままスパッタ
リングしたため、90℃程度の温度上昇があった。また
、この時の成膜速度は30〜50 nrQ/minであ
った。
マニウム(Goo□)、酸化チタン(TiO2)もしく
は酸化ジルコニウム(ZrOz)の粉末を純度99.9
9%の酸化亜鉛(ZnO)の粉末に添加し、これを幅6
cm長さ10cmの長方形状に加圧成型したのち焼結さ
せ、この焼結体をターゲットとして外部磁界印加形高周
波マグネトロンスパッタ装置のマグネトロンカソード上
に装着し、スパッタガスとして純アルゴンを用いて、下
記条件下でスパッタリングを行ない、ターゲット表面に
対し垂直に配設したガラス基体上に透明導電膜を形成し
た。なお、基体は、特に加熱もしくは冷却など温度制御
することなく、常温から温度の自然変化のままスパッタ
リングしたため、90℃程度の温度上昇があった。また
、この時の成膜速度は30〜50 nrQ/minであ
った。
くスパッタ条件〉
アルゴンガス圧 = 6.5Pa
高周波電力 : 120W
プラズマ集束磁界 :5XIOT
基 体 : 3 Q wtr X
5 Q gガラス(タービット上32箇) 得られた透明導電膜の抵抗率及び可視光透過率(波長4
00〜800nm)i測定したところ、第1表に示す結
果が得られた。
5 Q gガラス(タービット上32箇) 得られた透明導電膜の抵抗率及び可視光透過率(波長4
00〜800nm)i測定したところ、第1表に示す結
果が得られた。
第1表
第1表の結果から明らかなように、いずれの場合も抵抗
率が10−4Ω・α以下で可視光透過率85%以上の透
明導電膜が得られる。
率が10−4Ω・α以下で可視光透過率85%以上の透
明導電膜が得られる。
また、伝導電子密度が10ノ オーダでケイ素全含有
する透明導電膜の可視光透過率と赤外線反射率全測定し
たところ、第1図に示す結果が得られた。他の■族元素
をドー・ぐントとして用いた透明導電膜でも、第1図と
同様な光学的特性が得られた。
する透明導電膜の可視光透過率と赤外線反射率全測定し
たところ、第1図に示す結果が得られた。他の■族元素
をドー・ぐントとして用いた透明導電膜でも、第1図と
同様な光学的特性が得られた。
これとは別に、ケイ素の添加量を種々に変えて酸化亜鉛
系透明導電膜を製造し、抵抗率とケイ素の含有量との関
係全測定した処、第2図に示す結果が得られた。他のド
ーパントの含有量を変えた場合にも同様な結果が得られ
た。
系透明導電膜を製造し、抵抗率とケイ素の含有量との関
係全測定した処、第2図に示す結果が得られた。他のド
ーパントの含有量を変えた場合にも同様な結果が得られ
た。
実施例2
実施例1における高周波マグネトロンスパッタ装着と8
1 iドーパントとするターケ゛ットを用い、ポリゾロ
ピレンフィルム、と化ガリウム(GaAs )及びシリ
コンの単結晶全それぞれ基体として実施例】と同様に透
明導t;i膜を形成した。得られた透明導電膜の電気的
特性及び光学的特性は、いずれもガラス基体上に形成し
たものと同程度で、基体の変形、変質は認められなかっ
た。
1 iドーパントとするターケ゛ットを用い、ポリゾロ
ピレンフィルム、と化ガリウム(GaAs )及びシリ
コンの単結晶全それぞれ基体として実施例】と同様に透
明導t;i膜を形成した。得られた透明導電膜の電気的
特性及び光学的特性は、いずれもガラス基体上に形成し
たものと同程度で、基体の変形、変質は認められなかっ
た。
実施例3
電子ビーム加熱高真空蒸着装置音用い、1.3X10
Paの真空度の下で純度99.99%の酸化亜鉛と、そ
れぞれ純度99.99チの酸化ケイ素、酸化ゲルマニウ
ム、酸化チタンまたは酸化ゾルコニウムk 別々の蒸着
セルに入れ、2源蒸着法によってガラス基体上に酸化亜
鉛系透明導電膜全形成した。基体は加熱ヒータによシ1
00〜300℃に維持し、約5rpmの速度で回転させ
ながら蒸着した。得られた各透明導電膜の抵抗率及び可
視光透過率を第2表に示す。
Paの真空度の下で純度99.99%の酸化亜鉛と、そ
れぞれ純度99.99チの酸化ケイ素、酸化ゲルマニウ
ム、酸化チタンまたは酸化ゾルコニウムk 別々の蒸着
セルに入れ、2源蒸着法によってガラス基体上に酸化亜
鉛系透明導電膜全形成した。基体は加熱ヒータによシ1
00〜300℃に維持し、約5rpmの速度で回転させ
ながら蒸着した。得られた各透明導電膜の抵抗率及び可
視光透過率を第2表に示す。
第2表
本発明は前記実施例のみに限定されるものではなく、種
々の方法によシ裂造できることは言うまでもない。例え
ば、前記実施例においては、ターゲット及び蒸着源とし
て酸化物を使用しているが、亜鉛と■族元素の合金をタ
ーゲットあるいは蒸着源として反応性スパッタリングあ
るいは反応性蒸着を実施しても良い。
々の方法によシ裂造できることは言うまでもない。例え
ば、前記実施例においては、ターゲット及び蒸着源とし
て酸化物を使用しているが、亜鉛と■族元素の合金をタ
ーゲットあるいは蒸着源として反応性スパッタリングあ
るいは反応性蒸着を実施しても良い。
また、実施例1においては、高周波電力を供給してスA
!ツタリングをしているが、これを直流に換えても良い
。
!ツタリングをしているが、これを直流に換えても良い
。
さらに、スパッタ法や蒸着法の代わシに、ジメチル亜鉛
やジエチル亜鉛にビー/4ントとしてシラン(S 1H
4)等の水素化物を混入させたガスの酸化反応による熱
化学気相成長法(CVD法)あるいはプラズマCVD法
を採用して製造することもできる。
やジエチル亜鉛にビー/4ントとしてシラン(S 1H
4)等の水素化物を混入させたガスの酸化反応による熱
化学気相成長法(CVD法)あるいはプラズマCVD法
を採用して製造することもできる。
本発明によれば、安価な酸化亜鉛を主原料として用いて
、ITO膜と同等以上の電気的特性及び光学的特性を有
する導N、膜を比較的容易に得ることができる。
、ITO膜と同等以上の電気的特性及び光学的特性を有
する導N、膜を比較的容易に得ることができる。
また、本発明の透明導電膜は、その主原料である亜鉛が
、ITO膜の主原料であるインジウムに比べて極めて安
価であるため、たとえ高価なチタンやジルコニウム全ド
ーパントとして使用しても、その必要量はITO膜の3
0分の1以下であシ、製造コストも著しく低減でき、ま
た亜鉛は資源的にも豊富であシ、公害を招くことも殆ど
無い。
、ITO膜の主原料であるインジウムに比べて極めて安
価であるため、たとえ高価なチタンやジルコニウム全ド
ーパントとして使用しても、その必要量はITO膜の3
0分の1以下であシ、製造コストも著しく低減でき、ま
た亜鉛は資源的にも豊富であシ、公害を招くことも殆ど
無い。
さらに、本発明の透明導電膜は、高温で製造する必要が
ないため、グラスチックフィルムなど耐熱性に劣る基体
上にも形成できる他、表面が極めて平滑で、基体に対す
る付着力が強く、熱的にも、化学的にも、また機械的に
も安定であるので、透明スイッチ用電極、透明電極、熱
線遮へい膜、静1!遮へい膜、透明と一タな°どの他、
多層コーティングを必要とする用途にも適用できるなど
優れた効果が得られる。
ないため、グラスチックフィルムなど耐熱性に劣る基体
上にも形成できる他、表面が極めて平滑で、基体に対す
る付着力が強く、熱的にも、化学的にも、また機械的に
も安定であるので、透明スイッチ用電極、透明電極、熱
線遮へい膜、静1!遮へい膜、透明と一タな°どの他、
多層コーティングを必要とする用途にも適用できるなど
優れた効果が得られる。
第1図は本発明の実施例で得られた透明導電膜の光学的
特性を示した曲線図、第2図はこの透明導電膜の抵抗率
とケイ素含量(S i/Zn )との関係を示した曲線
図である。 第1囚中、曲線】・・・可視光線透過率、曲線2・・・
赤外線反射率。
特性を示した曲線図、第2図はこの透明導電膜の抵抗率
とケイ素含量(S i/Zn )との関係を示した曲線
図である。 第1囚中、曲線】・・・可視光線透過率、曲線2・・・
赤外線反射率。
Claims (2)
- (1)酸化亜鉛を主成分とし、周期律表第IV族の元素の
少なくとも1種を亜鉛原子との原子総数に対して0.1
〜20原子%含有することを特徴とする透明導電膜。 - (2)周期律表第IV族の元素として、ケイ素、ゲルマニ
ウム、チタン及びジルコニウムのうち少なくとも1種を
含有する特許請求の範囲第(1)項記載の透明導電膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29230385A JPS62154411A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 透明導電膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29230385A JPS62154411A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 透明導電膜 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62154411A true JPS62154411A (ja) | 1987-07-09 |
JPH056766B2 JPH056766B2 (ja) | 1993-01-27 |
Family
ID=17780012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29230385A Granted JPS62154411A (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 透明導電膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62154411A (ja) |
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-
1985
- 1985-12-26 JP JP29230385A patent/JPS62154411A/ja active Granted
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