JPS62150538A

JPS62150538A - テストデイスク

Info

Publication number: JPS62150538A
Application number: JP29367685A
Authority: JP
Inventors: Sakae Okazawa; 栄岡沢
Original assignee: EEBETSUKUSU KENKYUSHO KK
Current assignee: EEBETSUKUSU KENKYUSHO KK
Priority date: 1985-12-24
Filing date: 1985-12-24
Publication date: 1987-07-04
Also published as: JPH0559496B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）ディスクに記録されている情報を光学的に読み取る光デ
ィスクシステムがデーＣスフの汚れや傷等がある場合に
どのような動作を行うがをテストするテストディスクに
関する。

（従来の技術）コンパクトディスク及びビデオディスク等の光ディスク
のトラックに沿った断面図を第４図に示す。同図におい
て１はディスク、２はビット、３は反射面、４は透明プ
ラスチック、５はレーベル面、６は信号の読取面である
。ディスク１はビット２でもって情報を記録しているも
ので、ビット２は透明プラスチック４の片面に刻まれ、
その上にアルミ蒸着による反射面３があり、更にそのう
えに保護層がある。透明プラスチック４のビット２を刻
んだ面の反対面は読取面６になっていて、レーザビーム
７が入射し、ビット２の有無による反射量の差異によっ
て記録情報を読み取っている。

各部の寸法はビットの深さが０．１１μ透明プラスチツ
ク４の厚みが１．２１１１１Ｉｌトラツクのピッチが１
．６μとなっている。光ディスクシステムはディスクが
半永久的な寿命を持つなどの大きな利点を有しているが
、その信号検出原理が光学的なものであることからディ
スクの読取面６の汚れ、傷等に対して無関心では有り得
ず、これらの汚れ。

傷等による検出情報の欠落要素が少なくない。このため
光ディスクシステムとしてＣＩＲＣ（クロス・インター
リーブ・リードソロモン・コード）方式等の強力なエラ
ー訂正方式等が採用され、符号訂正能力としては十分な
性能を有している。こように一度検出された信号に対し
ては強力な訂正能力があるにも拘らず、現実には取扱上
の不注意によりしばしば発生する程度の読取面６の汚れ
。

傷等によって゛トラック・ジ１？ンブ″と呼ばれるＬＰ
レコードの“針飛び”と同様の現象が発生する。この原
因は汚れ、傷等により発生する信号の欠落が符号訂正能
力内であっても、フォーカスサーボや、トラッキングサ
ーボ等の信号検出機構の異常を招くためであり、前記の
ようにトラックのピッチが僅か１．６μなので前記サー
ボ機構の異常がトラックの維持に影響を及ぼすのである
。その結果ユーザは正常な音や画面を得ることはできな
い。又、ビットは保護層に覆われており、その上に印刷
したレーベル面を形成している〜が、この保護層は硬質
材料で作られているもののレーベル面とビット間の厚み
は極めて薄く、僅かな傷でもビット面に届いてビットを
破壊する可能性がある。

読取面６における汚れ、傷は光の反射を妨害して誤読さ
Ｖるが、レーベル面５の傷はビットそのものを破壊して
しまう点で異なっている。従って、テストディスクとし
ては大菊してこの２種が必要である。

再生プレーヤの製造会社ではこの様な現象を電気的にシ
ミュレートしにくいため十分な検討が行われていないの
が実状である。

上述のように電気的なシミュレーションが困難なため、
汚れ等を故意に面上に作ったテストディスクによってそ
の汚れ等に対する再生プレーヤの対応を見ることが行わ
れている。現在作られているテストディスクには次のよ
うなものがある。

（１）汚れ、傷等を模擬したものを印刷したテストディ
スクこれは読取り面に精密印刷によって黒丸、黒線を印刷し
たものである。

（２）汚れ、傷等を模擬したものを貼布したテストディ
スクこれは黒丸、黒線状に加工した部材を接着剤によって貼
布したものである。

（３）ビット面に直接加工してビットを破壊したテスト
ディスク（発明が解決しようとする問題点）（１）汚れ、傷等を模擬したものを印刷したテストディ
スクこの種のテストディスクは印刷する線幅の管理が難しく
、テストディスクは成る量は同じものを作る必要がある
が、ディスク毎の再現性に問題があり、テストディスク
としては十分ではない。又、印刷をしたテストディスク
の場合、第５図に示すように印刷部位のエツジに乱れが
発生し易く、前）ホの場合と同様に再現性に問題がある
。更に線幅を変えたい場合に版下を作り写真撮影をし、
これを縮小して原版を作るなど手間が掛り、テストディ
スクのような大量生産をしないものについてはコスト高
となる。

（２）汚れ、傷等を模擬したものを貼布したテストディ
スクこの種のテストディスクでは貼布部位に接着剤のはみ出
しが起り易く、そのはみ出し部においてレーザ光に対す
る屈折率に変化を生じ、前記と同様に再現性に問題があ
る。

（３）ビット面に直接加工したテストディスクこれはレ
ーベル面に傷がついた場合を模擬したもので、ビット面
に保護層を作る前に、即ち、製造工程の途中で機械加工
など特殊な処理をするが、端面にぎざぎざが出来るなど
の再現性に問題がある点は前２者と同様である。又、型
を作ってプレスをすれば再現性は得られるが、専用の型
が必要になるので大量生産品ではないテストディスクに
とってはコスト高になることは避けられない。

本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
、再現性があり、製造工程が簡単で製造コストの安価な
テストディスクを提供することである。

（問題点を解決するための手段）前記の問題点を解決する本発明は、ディスクに記録され
ている情報を光学的に読み取る光ディスクシステムがデ
ィスクの汚れや傷等がある場合にどのような動作を行う
かをテストするテストディスクにおいて、前記ディスク
の汚れや（Ｕ等に相当Ｊる加工傷をディスク面に設けた
ことを特徴とするものである。

く作用）ディスクの読取面及びレーベル面につけた加工傷は、読
取面の傷はその不透明のためにレーザ光がビット面に届
かないことから再生プレーヤに誤動作させ、レーベル面
につけた傷はビットを直接破壊することにより誤動作さ
せる。

（実施例）以下に図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。

第１図は本発明の一実施例を示すテストディスクの斜視
図である。図は読取面６に傷８をカッタでつ番プたテス
トディスク１を示している。この傷の方向１幅等は試験
的にディスク１に（１８をつけ、再生プレーヤで再生し
て誤動作をする状態を実験して定める。再生プレーヤの
品質向上に伴って傷８の幅は大きくする必要があると思
われる。読取面６に傷８をつけたテストディスク１の断
面図を第２図に示す。この図の符号は既に第４図及び第
１図で説明したものである。傷の幅は前）ホのように実
験の結果定めたものである。この傷をつけるのに用いる
カッタの一例を第３図に示す。（イ）は正面図、（ロ）
は下面図である。カッタ９の幅１１．１第１図、第２図
に示した爛の幅に等しく仕上げる。第６図は他の実施例
の断面図である。この図はレーベル面５に（１８をつけ
たテストディスクを示しており、傷８は一つのビット２
の上に重なってビット２を消滅させている。図に示すよ
うにレーベル面５とビット２との間隔は極めて小さいの
で、前記のカッタ９によって傷をつければ簡単に傷８は
ビット２の面に達し、面倒な工程を必要としない。カッ
タの幅ｔの管理は比較的容易で、完成したテストディス
クの線幅の誤差をミクロン単位で安定に管理でき、再現
性の高いテストディスクを作ることができる。又、傷の
幅の変更はカッタ幅の変更で容易にできる。この汚れ等
はカッタで実際につけた傷なので印刷又は貼布でつけた
汚れ等とは異なり、洗浄等を行っても消えたり線幅が変
化することはなく、テストディスクの寿命は長い。更に
製造工程が少なくて低価格で°あり、又、ビット面から
の加工も可能なため、ビット面を破壊したテストディス
クの需要には容易に応することができる。

（発明の効果）以上詳細に説明したように本発明によれば、次のような
効果が期待できる。

（１）カッタ幅ｔの管理は比較的容易で、テストディス
クの傷の線幅の誤差をミクロン単位で安定に管理でき、
再現性の高いテストディスクを得ることができる。

（２）傷の幅がＣＤプレーヤに対する外乱の大きさとな
るため、傷の幅も各種の大きさが要求されるが、本発明
によればカッタの幅の異なるものを用意するだけで簡単
に所望のテストディスクを得ることができる。

（３）テストディスクに付着したごみ、汚れ等を洗浄す
ることにより、前述の汚れ等を印刷又は貼布したテスト
ディスクでは徐々に付加した汚れ等が消えてゆき、線幅
が変化して外乱としての条件が一定でなくなるが、本発
明のテストディスクではこの様なことはな（長寿命が期
待できる。

（４）本発明のテストディスクは、従来の印刷。

貼布等により製作したテストディスク及びビット面に傷
をつけたテストディスクに比べて製造工程が著しく少な
く低価格で製造できる。

（５）ビット面からの加工をしたテストディスクも製造
が容易なため、たやすく需要に応することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例によるテストディスクの図、第
２図は本発明のテストディスクの断面図で読取面に傷を
つけたテストディスクの図、第３図はカッタの一例を示
す図、第４図は光ディスクのトラックに沿った断面図、
第５図は印刷により付加した汚れの印刷みだれを示す図
、第６図は本発明の他の実施例の断面図でレーベル面に
傷をつけたテストディスクの図である。１・・・テストディスク　２・・・ビット３・・・反射
面　　　　　４・・・透明プラスチック５・・・レーベ
ル面　　　６・・・読取面７・・・光ビーム　　　　８
・・・傷特許出願人　株式会社　エーペックス研究所代　　理　
　人　　　弁　　理　　士　　井　　島　　藤　　治外
１名第１図第３図（イ）（ロ）第４　図５；レーベル面第５図多葭６図６；読取面８；傷

Claims

【特許請求の範囲】

ディスクに記録されている情報を光学的に読み取る光デ
ィスクシステムがディスクの汚れや傷等がある場合にど
のような動作を行うかをテストするテストディスクにお
いて、前記ディスクの汚れや傷等に相当する加工傷をデ
ィスク面に設けたことを特徴とするテストディスク。