JPH038140A - 評価用ディスク - Google Patents
評価用ディスクInfo
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- JPH038140A JPH038140A JP1142322A JP14232289A JPH038140A JP H038140 A JPH038140 A JP H038140A JP 1142322 A JP1142322 A JP 1142322A JP 14232289 A JP14232289 A JP 14232289A JP H038140 A JPH038140 A JP H038140A
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- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
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Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、コンパクトディスクプレーヤ等のプレイア
ビリティ−確認用の評価用ディスクに関する。
ビリティ−確認用の評価用ディスクに関する。
この発明は、評価用ディスクにおいて、読み取り面側の
所定の位置に、複数箇所半透明の被膜を設けることによ
り、読み取り面に細かい擦り傷が生じたような欠陥につ
いても、評価可能とするようにしたものである。
所定の位置に、複数箇所半透明の被膜を設けることによ
り、読み取り面に細かい擦り傷が生じたような欠陥につ
いても、評価可能とするようにしたものである。
コンパクトディスクの読み取り面には、ディスク成形時
の異物、ディスクの読み取り面に付着した指紋、ディス
クの読み取り面の傷等、種々の物理的欠陥が生じる可能
性がある。ディスクの読み取り面にこのような欠陥が生
じた場合、プレーヤの動作状態がどのようになるかのシ
ュミレーションを行う際に、評価用ディスクが用いられ
る。
の異物、ディスクの読み取り面に付着した指紋、ディス
クの読み取り面の傷等、種々の物理的欠陥が生じる可能
性がある。ディスクの読み取り面にこのような欠陥が生
じた場合、プレーヤの動作状態がどのようになるかのシ
ュミレーションを行う際に、評価用ディスクが用いられ
る。
つまり、従来の評価用ディスクの読み取り面には、ディ
スク成形時の異物を想定したブラックドツト、ディスク
の読み取り面に付着した指紋を想定した微細なドツトか
らなるフィンガープリント、ディスクの読み取り面の傷
を想定して光を乱発射させるようにしたインターラブジ
ョン等の擬似欠陥が設けられる。このような従来の評価
用ディスクをプレーヤに装着してみることで、ディスク
成形時の異物、ディスクの読み取り面に付着した指紋、
ディスクの読み取り面の傷に対するプレーヤの動作状態
のシュミレーションを行うことができる。
スク成形時の異物を想定したブラックドツト、ディスク
の読み取り面に付着した指紋を想定した微細なドツトか
らなるフィンガープリント、ディスクの読み取り面の傷
を想定して光を乱発射させるようにしたインターラブジ
ョン等の擬似欠陥が設けられる。このような従来の評価
用ディスクをプレーヤに装着してみることで、ディスク
成形時の異物、ディスクの読み取り面に付着した指紋、
ディスクの読み取り面の傷に対するプレーヤの動作状態
のシュミレーションを行うことができる。
Ｃ発明が解決しようとする課題〕
ところが、近年、従来の評価用ディスクではシュミレー
ションされない種類の欠陥の発生が問題となっている。
ションされない種類の欠陥の発生が問題となっている。
このような欠陥とは、粗雑な取扱いを繰り返しているう
ちに生じるディスクの読み取り面の細かい擦り傷や、デ
ィスクの読み取り面に例えば帯電防止スプレーを繰り返
しかけていくことにより生じる汚れである。特に、レン
タル用のディスクは、使用頻度が高く、その取扱いが粗
雑であることが多いため、このような欠陥が生しやすい
。
ちに生じるディスクの読み取り面の細かい擦り傷や、デ
ィスクの読み取り面に例えば帯電防止スプレーを繰り返
しかけていくことにより生じる汚れである。特に、レン
タル用のディスクは、使用頻度が高く、その取扱いが粗
雑であることが多いため、このような欠陥が生しやすい
。
したがって、この発明の目的は、ディスクの読み取り面
の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れ
による欠陥についてもシュミレーションすることができ
る評価用ディスクを提供することにある。
の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れ
による欠陥についてもシュミレーションすることができ
る評価用ディスクを提供することにある。
この発明は、読み取り面側の所定の位置に、複数箇所半
透明の被膜を設けるようにした評価用ディスクである。
透明の被膜を設けるようにした評価用ディスクである。
ディスク上に擦り傷が生じた場合と非常に似がよった特
性が得られる半透明バンド３八〜３Ｇが設けられている
。この半透明バンド３Ａ〜３Ｇにより、ディスクの読み
取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的
な汚れによる欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態の
シュミレーションを行うことができる。
性が得られる半透明バンド３八〜３Ｇが設けられている
。この半透明バンド３Ａ〜３Ｇにより、ディスクの読み
取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的
な汚れによる欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態の
シュミレーションを行うことができる。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第１図は、この発明が適用された評価用ディスクの読み
取り面を示すものである。第１図に示すように、この評
価用ディスク１は例えば外径１２ｃｍ或いは８ｃｍのコ
ンパクトディスクと同様の形状とされており、評価用デ
ィスク１には評価用の信号がコンパクトディスクと同様
にビット列として記録されている。そして、この評価用
ディスク上の読み取り面には、起こり得る物理的欠陥を
想定して、種々の擬似欠陥が設けられている。
取り面を示すものである。第１図に示すように、この評
価用ディスク１は例えば外径１２ｃｍ或いは８ｃｍのコ
ンパクトディスクと同様の形状とされており、評価用デ
ィスク１には評価用の信号がコンパクトディスクと同様
にビット列として記録されている。そして、この評価用
ディスク上の読み取り面には、起こり得る物理的欠陥を
想定して、種々の擬似欠陥が設けられている。
つまり、第２図及び第３図は評価用ディスク１の各トラ
ックナンバーに記録されている信号と、各トラックナン
バーの位置に設けられている擬似欠陥を示すものである
。評価用ディスクｌには、第２図及び第３図に示すよう
に、トランクナンバーＴＮ２、ＴＮ４、ＴＮ ６−ＴＮ
３０ ノそれぞれに音楽信号Ｍが記録されており、そ
の後のトラックナンバーＴＮ３、ＴＮ５、ＴＮ７、・・
・ＴＮ３１に例えば周波数４００七の単一周波数信号ｆ
が記録されている。
ックナンバーに記録されている信号と、各トラックナン
バーの位置に設けられている擬似欠陥を示すものである
。評価用ディスクｌには、第２図及び第３図に示すよう
に、トランクナンバーＴＮ２、ＴＮ４、ＴＮ ６−ＴＮ
３０ ノそれぞれに音楽信号Ｍが記録されており、そ
の後のトラックナンバーＴＮ３、ＴＮ５、ＴＮ７、・・
・ＴＮ３１に例えば周波数４００七の単一周波数信号ｆ
が記録されている。
そして、評価用ディスク１の読み取り面には、トラック
ナンバーＴＮ２〜ＴＮｉ５に対応する位置に互いに幅の
異なるブラックバンド２Ａ〜２Ｇが設けられ、トランク
ナンバーＴＮ１６〜ＴＮ２９に対応する位１に互いに幅
の異なる半透明バンド３Ａ〜３Ｇが設けられ、トラック
ナンバーＴＮ３０、ＴＮ３１に対応する位置にフィンガ
ープリント４が設けられる。
ナンバーＴＮ２〜ＴＮｉ５に対応する位置に互いに幅の
異なるブラックバンド２Ａ〜２Ｇが設けられ、トランク
ナンバーＴＮ１６〜ＴＮ２９に対応する位１に互いに幅
の異なる半透明バンド３Ａ〜３Ｇが設けられ、トラック
ナンバーＴＮ３０、ＴＮ３１に対応する位置にフィンガ
ープリント４が設けられる。
プラットパン）’ ２ Ａ〜２Ｇは黒色の被膜からなる
擬似欠陥で、このブラットバンド２Ａ〜２Ｇは、ディス
ク成形時の異物の欠陥を想定したものである。第３図に
示すように、このブラットバンド２Ａ〜２Ｇの幅は、最
内周のトラックナンバーＴＮ２及びＴＮ３にあるブラッ
クバンド２人では０゜３ｍｍとされ、その次のブラック
バンド２Ｂでは０．４ｍｍとされ、以下、外周に行く毎
に０． ５ｍｍ、０．６ｍｍ、０．７ｍｍ、０．８ｍｍ
、、０゜９ｍｍ、１．１ｍｍとブラックバンド２Ｃ〜２
Ｆの幅が順次広くされ、トラックナンバーＴＮ１４及び
ＴＮ１５にあるブラックバンド２Ｇの幅は１゜１ｍｍと
される。
擬似欠陥で、このブラットバンド２Ａ〜２Ｇは、ディス
ク成形時の異物の欠陥を想定したものである。第３図に
示すように、このブラットバンド２Ａ〜２Ｇの幅は、最
内周のトラックナンバーＴＮ２及びＴＮ３にあるブラッ
クバンド２人では０゜３ｍｍとされ、その次のブラック
バンド２Ｂでは０．４ｍｍとされ、以下、外周に行く毎
に０． ５ｍｍ、０．６ｍｍ、０．７ｍｍ、０．８ｍｍ
、、０゜９ｍｍ、１．１ｍｍとブラックバンド２Ｃ〜２
Ｆの幅が順次広くされ、トラックナンバーＴＮ１４及び
ＴＮ１５にあるブラックバンド２Ｇの幅は１゜１ｍｍと
される。
半透明バンド３Ａ〜３Ｇは例えば赤色等の半透明被膜か
らなる擬似欠陥で、この半透明バンド３Ａ〜３Ｇは、デ
ィスクの読み取り面の細がい擦り傷による欠陥や、ディ
スクの全体的な汚れによる欠陥を想定したものである。
らなる擬似欠陥で、この半透明バンド３Ａ〜３Ｇは、デ
ィスクの読み取り面の細がい擦り傷による欠陥や、ディ
スクの全体的な汚れによる欠陥を想定したものである。
第３図に示すように、この半透明バンド３Ａ〜３Ｇの幅
は、トラックナンバーＴＮ１６及びＴＮｌｌにある半透
明バンド３Ａでは０．３ｍｍとされ、その次の半透明バ
ンド３Ｂでは０．４ｍｍとされ、以下、外周に行く毎に
０．５ｍｍ、０．６ｍｍ、０．７ｍｍ、ｏ。
は、トラックナンバーＴＮ１６及びＴＮｌｌにある半透
明バンド３Ａでは０．３ｍｍとされ、その次の半透明バ
ンド３Ｂでは０．４ｍｍとされ、以下、外周に行く毎に
０．５ｍｍ、０．６ｍｍ、０．７ｍｍ、ｏ。
８ｍ、ｍ、０．９ｍｍ、１．１ｍｍと半透明バンド３０
〜３Ｆの幅が１１（資）次広くされ、トランクナンバー
ＴＮ２８及びＴＮ２９の半透明バンド３Ｇの幅はｌ、
１ｍｍとされる。
〜３Ｆの幅が１１（資）次広くされ、トランクナンバー
ＴＮ２８及びＴＮ２９の半透明バンド３Ｇの幅はｌ、
１ｍｍとされる。
フィンガープリント４は、ディスクの読み取り面に付着
した指紋を想定した擬似欠陥である。
した指紋を想定した擬似欠陥である。
半透明バンド３Ａ〜３Ｇは、第４図に示すように、例え
ば軟硬質塩化ビニルやポリカーボネート等を侵触、変色
、変形等の変質を起こさせ、遅乾メジウム等を含ませた
半透明インクでディスクの読み取り面の表面に印刷する
ことにより形成される。なお、第４図は評価用ディスク
１の断面を示し、第４図において、１１は保護膜、１２
はアルミニウム反射膜、１３はポリカーボネート基板で
ある。この半透明バンド３Ａ〜３Ｇを形成するための半
透明インクの透過率は、レーザー光Ａ１をアルミニウム
反射８１２で反射した時の反射光Ａ２で、４５％を中心
として３０％〜６０％の範囲内に設定される。このよう
な透過率の半透明インクで半透明バンド３Ａ〜３Ｇを形
成すると、ディスクの表面の擦り傷が生じた場合の状態
と類似してくる。すなわち、第５図Ａはこのような透過
率のインクで幅０．６ｍｍの半透明バンドをディスク上
に形成した時の再生ＲＦ信号を示し、第５図Ｂは実際に
ディスク上に擦り傷が生じた場合の再生ＲＦ信号を示す
ものである。第５図Ａと第５図Ｂとを比較すればわかる
よう、このような半透明バンドをディスク上に形成する
と、実際にディスク上に擦り傷が生じた場合と非常に似
かよった特性が得られる。
ば軟硬質塩化ビニルやポリカーボネート等を侵触、変色
、変形等の変質を起こさせ、遅乾メジウム等を含ませた
半透明インクでディスクの読み取り面の表面に印刷する
ことにより形成される。なお、第４図は評価用ディスク
１の断面を示し、第４図において、１１は保護膜、１２
はアルミニウム反射膜、１３はポリカーボネート基板で
ある。この半透明バンド３Ａ〜３Ｇを形成するための半
透明インクの透過率は、レーザー光Ａ１をアルミニウム
反射８１２で反射した時の反射光Ａ２で、４５％を中心
として３０％〜６０％の範囲内に設定される。このよう
な透過率の半透明インクで半透明バンド３Ａ〜３Ｇを形
成すると、ディスクの表面の擦り傷が生じた場合の状態
と類似してくる。すなわち、第５図Ａはこのような透過
率のインクで幅０．６ｍｍの半透明バンドをディスク上
に形成した時の再生ＲＦ信号を示し、第５図Ｂは実際に
ディスク上に擦り傷が生じた場合の再生ＲＦ信号を示す
ものである。第５図Ａと第５図Ｂとを比較すればわかる
よう、このような半透明バンドをディスク上に形成する
と、実際にディスク上に擦り傷が生じた場合と非常に似
かよった特性が得られる。
なお、この半透明バンド３Ａ〜３Ｇを溶着、蒸着、或い
は接着により形成するようにしても良い。
は接着により形成するようにしても良い。
この評価用ディスク１には、このようにディスク上に擦
り傷が生じた場合と非常に似かよった特性が得られる半
透明バンド３Ａ〜３Ｇが設けられている。このため、デ
ィスクの読み取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディ
スクの全体的な汚れによる欠陥についてもシュミレーシ
ョンすることができる。
り傷が生じた場合と非常に似かよった特性が得られる半
透明バンド３Ａ〜３Ｇが設けられている。このため、デ
ィスクの読み取り面の細かい擦り傷による欠陥や、ディ
スクの全体的な汚れによる欠陥についてもシュミレーシ
ョンすることができる。
そして、この評価用ディスクｌには、トランクナンバー
Ｔ’Ｎ２、ＴＮ４、ＴＮ６・・・ＴＮ３０のそれぞれに
音楽信号Ｍが記録されており、その後のトランクナンバ
ーＴＮ３、ＴＮ５、ＴＮ７、・・・ＴＮ３１に例えば周
波数４００Ｈｚの単一周波数信号ｆが記録されている。
Ｔ’Ｎ２、ＴＮ４、ＴＮ６・・・ＴＮ３０のそれぞれに
音楽信号Ｍが記録されており、その後のトランクナンバ
ーＴＮ３、ＴＮ５、ＴＮ７、・・・ＴＮ３１に例えば周
波数４００Ｈｚの単一周波数信号ｆが記録されている。
このため、欠陥により生じるノイズの状態が確認し易い
。また、互いに幅の異なるブラックバンド２Ａ〜２Ｇ及
び半透明バイト３Ａ〜３Ｇに対して同様な単一周波数信
号が記録されているので、ノイズの状態が比較易い。
。また、互いに幅の異なるブラックバンド２Ａ〜２Ｇ及
び半透明バイト３Ａ〜３Ｇに対して同様な単一周波数信
号が記録されているので、ノイズの状態が比較易い。
更に、１つのトラックナンバーに１種類づつの擬似欠陥
が設けられているので、トラックナンバーを指定して再
生を行えば、対応するトラックナンバーの位置にあるよ
うな種類の欠陥が生じた場合のプレーヤの動作状態のシ
ュミレーションを直ちに行なえる。
が設けられているので、トラックナンバーを指定して再
生を行えば、対応するトラックナンバーの位置にあるよ
うな種類の欠陥が生じた場合のプレーヤの動作状態のシ
ュミレーションを直ちに行なえる。
なお、この発明は、音楽用のコンバク上ディスクの評価
用ディスクに限定されるものではなく、他のディスク、
例えばディジタルデータが記録されるＣＤ−ＲＯＭの評
価用ディスクにも同様に通用できる。
用ディスクに限定されるものではなく、他のディスク、
例えばディジタルデータが記録されるＣＤ−ＲＯＭの評
価用ディスクにも同様に通用できる。
（発明の効果）
この発明によれば、ディスク上に擦り傷が生した場合と
非常に似かよった特性が得られる半透明バンド３Ａ〜３
Ｇが設けられている。このため、ディスクの読み取り面
の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れ
による欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態のシュミ
レーションを行うことができる。
非常に似かよった特性が得られる半透明バンド３Ａ〜３
Ｇが設けられている。このため、ディスクの読み取り面
の細かい擦り傷による欠陥や、ディスクの全体的な汚れ
による欠陥が生じた場合のプレーヤの再生状態のシュミ
レーションを行うことができる。
第１図はこの発明の平面図、第２図及び第３図はこの発
明の一実施例の説明に用いる路線図、第４図はこの発明
の一実施例の断面図、第５図Ａ及び第５図Ｂはこの発明
の一実施例の説明に用いる波形図である。 図面における主要な符号の説明 １ ：評価用ディスク ２Ａ〜２Ｇニブラツクパン ト ３Ａ〜３Ｇ：半透明ハンド。 ４ ： フィンガー プリント。
明の一実施例の説明に用いる路線図、第４図はこの発明
の一実施例の断面図、第５図Ａ及び第５図Ｂはこの発明
の一実施例の説明に用いる波形図である。 図面における主要な符号の説明 １ ：評価用ディスク ２Ａ〜２Ｇニブラツクパン ト ３Ａ〜３Ｇ：半透明ハンド。 ４ ： フィンガー プリント。
Claims (1)
- 読み取り面側の所定の位置に、複数箇所半透明の被膜を
設けるようにした評価用ディスク。
Priority Applications (10)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1142322A JP2882588B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法 |
| AU55199/90A AU640928B2 (en) | 1989-06-05 | 1990-05-21 | Check disc |
| ES90305551T ES2072391T3 (es) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Discos de comprobacion. |
| AT90305551T ATE122814T1 (de) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Testscheiben. |
| DE69019419T DE69019419T2 (de) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Testscheiben. |
| EP90305551A EP0402002B1 (en) | 1989-06-05 | 1990-05-22 | Check discs |
| US07/527,383 US5258974A (en) | 1989-06-05 | 1990-05-23 | Optical read-out audio check disc with semitransparent defects or with single recorded tone |
| KR1019900007925A KR100233413B1 (ko) | 1989-06-05 | 1990-05-31 | 평가용 디스크 |
| CA002018168A CA2018168C (en) | 1989-06-05 | 1990-06-04 | Optical read-out audio check disc with semitransparent defects or with single recorded tone |
| BR909002641A BR9002641A (pt) | 1989-06-05 | 1990-06-04 | Disco de verificacao |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1142322A JP2882588B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH038140A true JPH038140A (ja) | 1991-01-16 |
| JP2882588B2 JP2882588B2 (ja) | 1999-04-12 |
Family
ID=15312658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1142322A Expired - Fee Related JP2882588B2 (ja) | 1989-06-05 | 1989-06-05 | 評価用光ディスクおよび評価用光ディスクの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2882588B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62150538A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-04 | Eebetsukusu Kenkyusho:Kk | テストデイスク |
-
1989
- 1989-06-05 JP JP1142322A patent/JP2882588B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62150538A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-04 | Eebetsukusu Kenkyusho:Kk | テストデイスク |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2882588B2 (ja) | 1999-04-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |