JPS5923205A - 光デイスクの平担度検出装置 - Google Patents
光デイスクの平担度検出装置Info
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- JPS5923205A JPS5923205A JP13255982A JP13255982A JPS5923205A JP S5923205 A JPS5923205 A JP S5923205A JP 13255982 A JP13255982 A JP 13255982A JP 13255982 A JP13255982 A JP 13255982A JP S5923205 A JPS5923205 A JP S5923205A
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- Japan
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- pattern
- optical disk
- recording surface
- image receiving
- disk
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- Pending
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
本発明は光ディスクの記録面に所定のパターンを照射し
、該照射による反射ｆ家によって餠記針面の平担度を検
出する光ディスクの平担度検出装置に関する。
、該照射による反射ｆ家によって餠記針面の平担度を検
出する光ディスクの平担度検出装置に関する。
（ｂ） 従来技術と問題点
光ディスクは第１図の側面し１に示すように構成されて
いる。ガラス′または合成樹脂材によって形成された基
板ＩＡ、、ＩＢのそれぞれに感光層が積層された記録面
２Ａ、２Ｂを有する媒体を互いに記録面２Ａ、２Ｂを対
向さゼスペーザ３Ａ、３Ｂで所定間隔に同系されて形成
されている。
いる。ガラス′または合成樹脂材によって形成された基
板ＩＡ、、ＩＢのそれぞれに感光層が積層された記録面
２Ａ、２Ｂを有する媒体を互いに記録面２Ａ、２Ｂを対
向さゼスペーザ３Ａ、３Ｂで所定間隔に同系されて形成
されている。
このように構成された光ディスク４はレンズ１１を介し
てレーザビーム１０を記録面２Ａ、２Ｂに照射させてｎ
し録が行なわれる。このレーザビーム１０はｌシ：針面
２Ａ、２Ｂで所定のビーム祥になるようフォーカスサー
ボ機構によってレンズ１１は矢印Ｆに示す方向に律動さ
れるように配置転されている。
てレーザビーム１０を記録面２Ａ、２Ｂに照射させてｎ
し録が行なわれる。このレーザビーム１０はｌシ：針面
２Ａ、２Ｂで所定のビーム祥になるようフォーカスサー
ボ機構によってレンズ１１は矢印Ｆに示す方向に律動さ
れるように配置転されている。
一般的には基板ＩＡ、１Ｂは圧縮または射出成形後、機
械加工で製作されるため、歪などによって（ｂ）に示ず
ように記録面２Ａ、２ＢにノリなどによるうねりＡが生
じる。このようなうねりＡを有する記録［ｆｌ１２Ａ、
２Ｂに記昇される場合、前述のフォーカスサーボ機構が
うオコリＡにＩＤつ゛Ｃ追従され＼ば良いが、うねり一
が大きいと追従されなくなり、記録できない問題を有し
ていた。
械加工で製作されるため、歪などによって（ｂ）に示ず
ように記録面２Ａ、２ＢにノリなどによるうねりＡが生
じる。このようなうねりＡを有する記録［ｆｌ１２Ａ、
２Ｂに記昇される場合、前述のフォーカスサーボ機構が
うオコリＡにＩＤつ゛Ｃ追従され＼ば良いが、うねり一
が大きいと追従されなくなり、記録できない問題を有し
ていた。
従来はこのようなうねりＡを検出することはできないの
で、光ディスク４に記録再生を行つて、記録の可否によ
り１判別を行っていた。したかっって、光ｆイスク４が
完成され、記録再生して初めて良、不良の選択が行なわ
れるため、無駄な工数がか＼る欠点を有していた。
で、光ディスク４に記録再生を行つて、記録の可否によ
り１判別を行っていた。したかっって、光ｆイスク４が
完成され、記録再生して初めて良、不良の選択が行なわ
れるため、無駄な工数がか＼る欠点を有していた。
（０） 発明の目的
本発明の目的は記録面のうねりを定量的に検出すること
により前述の問題点を除去したものを提供するものであ
る。
により前述の問題点を除去したものを提供するものであ
る。
（ｄ） 発明の構成
本発明の目的は、記録面を露出するように保持された光
ディスクと、該記録面に所定の光パターンを照射する照
射部と、該記録面の反射光パターンを受像する受像部と
を備え、該照射パターンと核受峡パターンとを比較する
ことによって該記録面の平担度を検出することを特徴と
する元ディスクの平担度検出装置により達成される。
ディスクと、該記録面に所定の光パターンを照射する照
射部と、該記録面の反射光パターンを受像する受像部と
を備え、該照射パターンと核受峡パターンとを比較する
ことによって該記録面の平担度を検出することを特徴と
する元ディスクの平担度検出装置により達成される。
（ｅ） 発明の実施例
以下本発明をｇ２１ｉＱを参考に詳細に説明する。
第２図の（ａ）は本発明による光ディスクの平担度検出
装置の構成を示す斜視図、（ｂ）はうねり量の検出説明
図である。
装置の構成を示す斜視図、（ｂ）はうねり量の検出説明
図である。
光ディスク４をテーブル７に固着させ、光ディスクの記
録面に対向して照射部５と受１矛部６を配設し、照射部
５より所定のパターン５Ａを照射光７によって光ディス
ク４を照射させ、光ディスク４による反射光８は受像部
６に受像パターン６Ａが形成されるようにしたものであ
る。
録面に対向して照射部５と受１矛部６を配設し、照射部
５より所定のパターン５Ａを照射光７によって光ディス
ク４を照射させ、光ディスク４による反射光８は受像部
６に受像パターン６Ａが形成されるようにしたものであ
る。
このように構成されると光ディスク４にうねり４がある
と、反射によって受１よ部６に形成される受鐵パターン
６ＡにＢに示す変形を生じる。
と、反射によって受１よ部６に形成される受鐵パターン
６ＡにＢに示す変形を生じる。
飼えば変形Ｂは（ｂ）に示すように）１α射部５の照射
光７は元ディスク４の正規の平担面４−１によって反射
された反射光８−１は受像部６のＰｔ点に達する、しか
し、うねりによって正規の平担面４−１より突出した平
担面４−１によって反射された反射光８−２は受像部６
の■）２点に達するため、受像パターン６Ａは変形する
。
光７は元ディスク４の正規の平担面４−１によって反射
された反射光８−１は受像部６のＰｔ点に達する、しか
し、うねりによって正規の平担面４−１より突出した平
担面４−１によって反射された反射光８−２は受像部６
の■）２点に達するため、受像パターン６Ａは変形する
。
照射光７の照射角θとした時の変形ｉＬＸを測定すると
次の式に裏って平担ｔｈｉ ４−１の凹凸−ｉＶを其出
するＣとができるＯ ■−λｔａｎθ・・・・・・・・・・・・・・・・・（
１式）そこで、凹凸ｉＶの限竹を基準にして変形量ｘを
決めると、基板ＩＡ、 ＩＢ（７）製作時または光ディ
スク４に冗、成された時のいずれの場合でも検査を行う
ことができ、変形量Ｘを超えた不良品は製造工程の途中
または完成後の配録再生を行うことなく選別できる０ 尚、うねりの方向とパターン５Ａの形状との関係で猛Ｙ
量が測定困難な場合はパターンの形状を変更捷たはテー
ブル７を回動させると良い。
次の式に裏って平担ｔｈｉ ４−１の凹凸−ｉＶを其出
するＣとができるＯ ■−λｔａｎθ・・・・・・・・・・・・・・・・・（
１式）そこで、凹凸ｉＶの限竹を基準にして変形量ｘを
決めると、基板ＩＡ、 ＩＢ（７）製作時または光ディ
スク４に冗、成された時のいずれの場合でも検査を行う
ことができ、変形量Ｘを超えた不良品は製造工程の途中
または完成後の配録再生を行うことなく選別できる０ 尚、うねりの方向とパターン５Ａの形状との関係で猛Ｙ
量が測定困難な場合はパターンの形状を変更捷たはテー
ブル７を回動させると良い。
（ｆ） 発明の詳細
な説明したように本発明は用４創部５より所定パターン
５ＡＸｌｔ−ディスク４に胛、射させ、光ディスク４の
平担面によって反射された受像部６の受（象パターン６
Ａの変形によつ−Ｃ１平和而のうねりを検出するように
したものである。これにより、従来のように、完成され
た光ディスク４を記録再生して挟合の判別していたもの
は基板ＩＡ、ＩＢの製造工程の途中でも選別用能であり
、更に、完成後でも記録再生を行うことなく選別でき、
検査工数の削減が図れ実用効果は犬である０ 第」Ｉメ１の（８）は光ディスクの仙１而しＪ、 （ｂ
）はうねりの説明した斜視図、場２図の（ａ）は本発明
による光ディスクの平担ｊ焦検出装遣の構成を示すが［
祝図、（１］）は変形量の鏝、出説明図を示す０図中に
おいて、ＩＡ、ＩＢは基板、２Ａ、２Ｂは記録面、３Ａ
、３Ｂはスペーサ、ａｖｉ元ディスク、５は照０４部、
６は受１家都、７６まテーブル、７は照射ンし、８は反
射光を示す０
５ＡＸｌｔ−ディスク４に胛、射させ、光ディスク４の
平担面によって反射された受像部６の受（象パターン６
Ａの変形によつ−Ｃ１平和而のうねりを検出するように
したものである。これにより、従来のように、完成され
た光ディスク４を記録再生して挟合の判別していたもの
は基板ＩＡ、ＩＢの製造工程の途中でも選別用能であり
、更に、完成後でも記録再生を行うことなく選別でき、
検査工数の削減が図れ実用効果は犬である０ 第」Ｉメ１の（８）は光ディスクの仙１而しＪ、 （ｂ
）はうねりの説明した斜視図、場２図の（ａ）は本発明
による光ディスクの平担ｊ焦検出装遣の構成を示すが［
祝図、（１］）は変形量の鏝、出説明図を示す０図中に
おいて、ＩＡ、ＩＢは基板、２Ａ、２Ｂは記録面、３Ａ
、３Ｂはスペーサ、ａｖｉ元ディスク、５は照０４部、
６は受１家都、７６まテーブル、７は照射ンし、８は反
射光を示す０
Claims (1)
- 記録面を露出するように保持された元ディスクと、該記
録面に所定の元パターンを照射する照射部と、該記録面
の反射光パターンを受像する受像部とを備え、該照射パ
ターンと該受像パターンとを比較する事により該記録面
の平担匪を検出することを特徴とするブＣディスクの平
担度検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13255982A JPS5923205A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 光デイスクの平担度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13255982A JPS5923205A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 光デイスクの平担度検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923205A true JPS5923205A (ja) | 1984-02-06 |
Family
ID=15084120
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13255982A Pending JPS5923205A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 光デイスクの平担度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923205A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6188842A (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-07 | Showa Sangyo Kk | 繊維状食品素材の製法 |
| US4895448A (en) * | 1988-01-13 | 1990-01-23 | Laird Richard P | Method and apparatus for determining the surface quality of an object |
| US5075562A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for absolute Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5075560A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5414518A (en) * | 1992-08-10 | 1995-05-09 | Chrysler Corporation | Method and apparatus for the evaluation of reflective surfaces |
| US5471307A (en) * | 1992-09-21 | 1995-11-28 | Phase Shift Technology, Inc. | Sheet flatness measurement system and method |
| JPH11148813A (ja) * | 1997-07-02 | 1999-06-02 | Asahi Glass Co Ltd | 表面形状の評価方法および評価装置 |
-
1982
- 1982-07-29 JP JP13255982A patent/JPS5923205A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6188842A (ja) * | 1984-10-09 | 1986-05-07 | Showa Sangyo Kk | 繊維状食品素材の製法 |
| JPH0586169B2 (ja) * | 1984-10-09 | 1993-12-10 | Showa Sangyo Co | |
| US4895448A (en) * | 1988-01-13 | 1990-01-23 | Laird Richard P | Method and apparatus for determining the surface quality of an object |
| US5075562A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for absolute Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5075560A (en) * | 1990-09-20 | 1991-12-24 | Eastman Kodak Company | Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface |
| US5414518A (en) * | 1992-08-10 | 1995-05-09 | Chrysler Corporation | Method and apparatus for the evaluation of reflective surfaces |
| US5471307A (en) * | 1992-09-21 | 1995-11-28 | Phase Shift Technology, Inc. | Sheet flatness measurement system and method |
| JPH11148813A (ja) * | 1997-07-02 | 1999-06-02 | Asahi Glass Co Ltd | 表面形状の評価方法および評価装置 |
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