JPS62136940A - 非符号化2進ビツト流の監視回路 - Google Patents
非符号化2進ビツト流の監視回路Info
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- JPS62136940A JPS62136940A JP61279925A JP27992586A JPS62136940A JP S62136940 A JPS62136940 A JP S62136940A JP 61279925 A JP61279925 A JP 61279925A JP 27992586 A JP27992586 A JP 27992586A JP S62136940 A JPS62136940 A JP S62136940A
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- Japan
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- time window
- output terminal
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04J—MULTIPLEX COMMUNICATION
- H04J3/00—Time-division multiplex systems
- H04J3/02—Details
- H04J3/06—Synchronising arrangements
- H04J3/07—Synchronising arrangements using pulse stuffing for systems with different or fluctuating information rates or bit rates
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06F5/00—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled
- G06F5/06—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled for changing the speed of data flow, i.e. speed regularising or timing, e.g. delay lines, FIFO buffers; over- or underrun control therefor
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- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Communication Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は入力端子及び出力端子を有し、エラスティック
ストアを経て搬送される非符号化2進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化2進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはn個の記1.
α位置を具え、2進ビット流のnビットは書込みレジス
タによってエラスティックストアに常時直列に書き込ま
れると共に読出しストアによって再び直列に読出され、
レジスタの1つをエラスティックストアの記憶の程六に
応じて、1ビット以上の期間に亘って停止するようにし
た監視回路に関するものである。
ストアを経て搬送される非符号化2進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化2進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはn個の記1.
α位置を具え、2進ビット流のnビットは書込みレジス
タによってエラスティックストアに常時直列に書き込ま
れると共に読出しストアによって再び直列に読出され、
レジスタの1つをエラスティックストアの記憶の程六に
応じて、1ビット以上の期間に亘って停止するようにし
た監視回路に関するものである。
PCM多重伝送システムにおいてはその送受信端に設け
られたブロック変換器にエラスティックストアを設けて
いる。送信端ではエラスティックストアを、直列配置の
等化器、再生器及び2進出力信号を発生する復号器の後
段に設けている。従ってこの2進出力信号をエラスティ
ックストアの入力端子に供給する。エラスティックスト
アの2進出力信号は伝送システムのマルチプレクサに供
給する。受信端ではデマルチプレクサの2進出力信号を
エラスティックストアの入力端子に供給する。
られたブロック変換器にエラスティックストアを設けて
いる。送信端ではエラスティックストアを、直列配置の
等化器、再生器及び2進出力信号を発生する復号器の後
段に設けている。従ってこの2進出力信号をエラスティ
ックストアの入力端子に供給する。エラスティックスト
アの2進出力信号は伝送システムのマルチプレクサに供
給する。受信端ではデマルチプレクサの2進出力信号を
エラスティックストアの入力端子に供給する。
このエラスティックストアの出力信号を符号化器に供給
する。かかる従来の装置はフィリップステレコミュニケ
ーションズレビュー、第38L 第1号、1980年1
月、第11〜22頁に記載されている。
する。かかる従来の装置はフィリップステレコミュニケ
ーションズレビュー、第38L 第1号、1980年1
月、第11〜22頁に記載されている。
上述したPCM多重伝送システムでは周波数が互に僅か
に相違する多重化すべき2進ビット流を先ず最初共通の
高い速度で流すようにしている。この目的のためには、
これら2進ビット流の各々をそれ自体のクロック速度で
エラスティックストアに書込み、且つ共通の高い速度で
読出すようにしている。エラスティックストアが空にな
るのを防止するためにはこの読出しクロックパルスを時
として停止するようにする。この場合エラスティックス
トアの入り2進ビット流及び出2進ビット流間の時間関
係の変化を監視する必要はない。エラスティックストア
は、2進入力信号と2進出力信号とを比較することによ
り、゛エラスティックストアを経て搬送される際の2進
°ビブト流を監視しない。更に、エラスティックストア
の通過時2進ビット流は符号化されず、従って符号化規
則の妨害を監視して、ビット流の符号化により生ずる冗
長度を用いることはできない。
に相違する多重化すべき2進ビット流を先ず最初共通の
高い速度で流すようにしている。この目的のためには、
これら2進ビット流の各々をそれ自体のクロック速度で
エラスティックストアに書込み、且つ共通の高い速度で
読出すようにしている。エラスティックストアが空にな
るのを防止するためにはこの読出しクロックパルスを時
として停止するようにする。この場合エラスティックス
トアの入り2進ビット流及び出2進ビット流間の時間関
係の変化を監視する必要はない。エラスティックストア
は、2進入力信号と2進出力信号とを比較することによ
り、゛エラスティックストアを経て搬送される際の2進
°ビブト流を監視しない。更に、エラスティックストア
の通過時2進ビット流は符号化されず、従って符号化規
則の妨害を監視して、ビット流の符号化により生ずる冗
長度を用いることはできない。
本発明の目的はエラスティックストアを通過する非符号
化2進ビット流を監視する回路配置を提供せんとするに
ある。
化2進ビット流を監視する回路配置を提供せんとするに
ある。
本発明は入力端子及び出力端子を有し、エラスティック
ストアを経て搬送される非符号化2進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化2進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはn個の記憶位
置を具え、2進ビット流のnビットは書込みレジスタに
常時直列に書き込まれると共に再び直列に読出され、レ
ジスタの1つをエラスティックストアの記憶の程度に応
じて1ビット以上の期間に亘って停止するようにした監
視回路において、エラスティックストアの入力端子及び
出力端子を比較器のデータ入力端子に夫々接続し、メモ
リ位置を制御する書込みレジスタのクロック出力端子を
前記比較器の第1制御入力端子にも接続して、nビット
及び書込みレジスタが停止しているビット期間の数の和
より成る書込み時間窓を特定の繰返し比で開口し、書込
みレジスタの前記クロック出力端子に相当する読出しレ
ジスタのクロック出力端子を比較器の第2制御入力端子
に接続し、nビット及び読出しレジスタが停止している
ビット期間の数の和より成る読出し時間窓を所定の繰返
し比で開口し、前記比較器で前記読出し時間窓を前記書
込み時間窓と比較するようにしたことを特徴とする。
ストアを経て搬送される非符号化2進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化2進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはn個の記憶位
置を具え、2進ビット流のnビットは書込みレジスタに
常時直列に書き込まれると共に再び直列に読出され、レ
ジスタの1つをエラスティックストアの記憶の程度に応
じて1ビット以上の期間に亘って停止するようにした監
視回路において、エラスティックストアの入力端子及び
出力端子を比較器のデータ入力端子に夫々接続し、メモ
リ位置を制御する書込みレジスタのクロック出力端子を
前記比較器の第1制御入力端子にも接続して、nビット
及び書込みレジスタが停止しているビット期間の数の和
より成る書込み時間窓を特定の繰返し比で開口し、書込
みレジスタの前記クロック出力端子に相当する読出しレ
ジスタのクロック出力端子を比較器の第2制御入力端子
に接続し、nビット及び読出しレジスタが停止している
ビット期間の数の和より成る読出し時間窓を所定の繰返
し比で開口し、前記比較器で前記読出し時間窓を前記書
込み時間窓と比較するようにしたことを特徴とする。
図面につき本発明を説明する。
第1図に示す本発明監視回路では、エラスティックスト
アは10個の記憶個所を有するメモリlと、書込みカウ
ンタ2と、読出しカウンタ3とを具える。データ入力信
号は入力端子5に供給し、データ出力信号は出力端子1
9から取出す。書込みカンウタ2のクロック入力端子4
には例えば139264kllzの周波数の書込みクロ
ックパルスを供給する。
アは10個の記憶個所を有するメモリlと、書込みカウ
ンタ2と、読出しカウンタ3とを具える。データ入力信
号は入力端子5に供給し、データ出力信号は出力端子1
9から取出す。書込みカンウタ2のクロック入力端子4
には例えば139264kllzの周波数の書込みクロ
ックパルスを供給する。
読出しカウンタ3のクロック入力端子6には例えば14
1248kHzの周波数の読出しクロックパルスを供給
する。書込みカウンタ2のクロック出力端子20〜29
を夫々エラスティックストア1の任意の記1、α個所の
クロック入力端子に接続する。エラスティックストア1
の記憶個所のデータ出力端子を読出しゲート7〜16の
任意のゲートのデータ入力端子に夫々接続する。読出し
ゲート7〜16のデータ出力端子を相互接続してエラス
ティックストア1のデータ出力端子19に接続する。又
、エラスティックストア1のデータ入力端子を相互接続
してデータ入力端子5に接続する。データ入力端子5を
比較回路17の第1信号入力端子40に接続し、この比
較回路17の第2信号入力端子41をデータ出力端子1
9に接続する。書込みカウンタ2のクロック出力端子2
0を比較回路17の第1制御パルス入力端子42に接続
し、比較回路17の第2制御パルス入力端子43を読出
しカウンタ3のクロック出力端子30に接続する。書込
みカウンタ2のクロック出力端子29を比較回路17の
第3制御パルス入力端子44に接続する。
1248kHzの周波数の読出しクロックパルスを供給
する。書込みカウンタ2のクロック出力端子20〜29
を夫々エラスティックストア1の任意の記1、α個所の
クロック入力端子に接続する。エラスティックストア1
の記憶個所のデータ出力端子を読出しゲート7〜16の
任意のゲートのデータ入力端子に夫々接続する。読出し
ゲート7〜16のデータ出力端子を相互接続してエラス
ティックストア1のデータ出力端子19に接続する。又
、エラスティックストア1のデータ入力端子を相互接続
してデータ入力端子5に接続する。データ入力端子5を
比較回路17の第1信号入力端子40に接続し、この比
較回路17の第2信号入力端子41をデータ出力端子1
9に接続する。書込みカウンタ2のクロック出力端子2
0を比較回路17の第1制御パルス入力端子42に接続
し、比較回路17の第2制御パルス入力端子43を読出
しカウンタ3のクロック出力端子30に接続する。書込
みカウンタ2のクロック出力端子29を比較回路17の
第3制御パルス入力端子44に接続する。
第1図に示す回路の作動を第2図のタイムシーケンスダ
イアグラムを参照して説明する。第2a図はデータ入力
端子5に供給される到来2進ビット流を示し、第2r図
はデータ出力端子19から送出される2進ビット流を示
す。書込みカウンタ2の入力端子4には書込みクロック
パルスを供給する。
イアグラムを参照して説明する。第2a図はデータ入力
端子5に供給される到来2進ビット流を示し、第2r図
はデータ出力端子19から送出される2進ビット流を示
す。書込みカウンタ2の入力端子4には書込みクロック
パルスを供給する。
この書込みクロックパルスのパルス繰返し比を例えば1
39264kHzとする。各クロック出力端子20〜2
9には第2b図に示す形状のクロックパルス、即ち1デ
一タビット周期に等しい時間周期に亘ってクロック出力
端子20からクロック出力端子29に向かう方向に各々
がシフトされるクロックパルスを発生する。クロック出
力端子20〜29に存在するこれらクロックパルスを用
いてIOデータビットより成るパッケージの各々をエラ
スティックストア1の記憶位置に常時書込む。即ち、例
えば、第2b図の時間間隔T、〜T4に第2a図に示す
ような関連するIOデータビットを書込む。例えばクロ
ック出力端子20に存在するクロックパルスによって、
時間間隔T1から第1のデータビット即ち論理値Iをエ
ラスティックストア1の関連する位置に導入する。次い
でクロック出力端子21に存在するクロックパルスによ
って時間間隔T、から第2のデータビット即ち論理値l
をエラスティックストアlの関連する位はに導入し、か
かる動作を繰返す。最後にクロック出力端子29に存在
するクロックパルスによって第1O番目のデータビット
即ち論理値0をエラスティックストアlの関連する位置
に導入する。
39264kHzとする。各クロック出力端子20〜2
9には第2b図に示す形状のクロックパルス、即ち1デ
一タビット周期に等しい時間周期に亘ってクロック出力
端子20からクロック出力端子29に向かう方向に各々
がシフトされるクロックパルスを発生する。クロック出
力端子20〜29に存在するこれらクロックパルスを用
いてIOデータビットより成るパッケージの各々をエラ
スティックストア1の記憶位置に常時書込む。即ち、例
えば、第2b図の時間間隔T、〜T4に第2a図に示す
ような関連するIOデータビットを書込む。例えばクロ
ック出力端子20に存在するクロックパルスによって、
時間間隔T1から第1のデータビット即ち論理値Iをエ
ラスティックストア1の関連する位置に導入する。次い
でクロック出力端子21に存在するクロックパルスによ
って時間間隔T、から第2のデータビット即ち論理値l
をエラスティックストアlの関連する位はに導入し、か
かる動作を繰返す。最後にクロック出力端子29に存在
するクロックパルスによって第1O番目のデータビット
即ち論理値0をエラスティックストアlの関連する位置
に導入する。
読出しカウンタ3のタロツク入力端子6には読出しクロ
ックパルスを供給する。これらパルスのパルス繰返し比
を例えば141.248kllzとする。各クロック出
力端子30〜39には第2C図に示す形状のクロックパ
ルス、即ち1デ一クビット周期に等しい時間間隔に亘っ
てクロック出力端子30からクロック出力端子39に向
かう方向に各々がシフトされるクロックパルスを発生す
る。エラスティックストア1の読出し比をその書込み比
よりも高くするため、読出しカウンタ3のクロック入力
端子6の読出しクロックパルスは1個以上のデータビッ
ト中時として停止してエラスティックストア1が空にな
るのを防止する。かかる状態を第2図の時間間隔Tに読
出しクロックパルスがAT=3個のデータビットの時間
周期に亘って停止する状態で示す。
ックパルスを供給する。これらパルスのパルス繰返し比
を例えば141.248kllzとする。各クロック出
力端子30〜39には第2C図に示す形状のクロックパ
ルス、即ち1デ一クビット周期に等しい時間間隔に亘っ
てクロック出力端子30からクロック出力端子39に向
かう方向に各々がシフトされるクロックパルスを発生す
る。エラスティックストア1の読出し比をその書込み比
よりも高くするため、読出しカウンタ3のクロック入力
端子6の読出しクロックパルスは1個以上のデータビッ
ト中時として停止してエラスティックストア1が空にな
るのを防止する。かかる状態を第2図の時間間隔Tに読
出しクロックパルスがAT=3個のデータビットの時間
周期に亘って停止する状態で示す。
クロック出力端子30〜39で得られるクロックパルス
によってエラスティックストアIの10個の記憶位置を
読出す。即ちクロック出力端子30で得られるクロック
パルスによってエラスティックストア1の関連する位置
に記憶された論理値1を読出しゲート16を経て読出す
。次いでクロック出力端子31で得られるクロックパル
スによってエラスティックストアlの関連する位置に記
憶された論理値1を読出しゲート15を経て読出し、以
下同様の動作を繰返す。最後にクロック出力端子39で
得られるクロックパルスによってエラスティックストア
1の関連する位置に記憶された論理値0を読出しゲート
7を経て読出す。
によってエラスティックストアIの10個の記憶位置を
読出す。即ちクロック出力端子30で得られるクロック
パルスによってエラスティックストア1の関連する位置
に記憶された論理値1を読出しゲート16を経て読出す
。次いでクロック出力端子31で得られるクロックパル
スによってエラスティックストアlの関連する位置に記
憶された論理値1を読出しゲート15を経て読出し、以
下同様の動作を繰返す。最後にクロック出力端子39で
得られるクロックパルスによってエラスティックストア
1の関連する位置に記憶された論理値0を読出しゲート
7を経て読出す。
これがため、第2a及び2b図に示すように時間間隔T
1でデータパッケージ1100111100をエラステ
ィックストア1に導入する。第20及び2r図に示すよ
うj二時間[1旧宥Tてはこのデータパッケージを再び
読出す。従ってデータ出力端子19にはデータパッケー
ジ1100000111100が現れるようになる。こ
のパッケージでは3個の余分な論理値零が追加されたこ
とになる。その理由は、エラスティックストア1に対す
る事前の対策が行われないため、3個のデータビットに
等しい時間間隔に亘って読取りクロツタパルスが停止す
るからである。システムが更に下降する場合には、これ
ら3個の論理値零の代わりに管理ビットを追加すること
ができる。
1でデータパッケージ1100111100をエラステ
ィックストア1に導入する。第20及び2r図に示すよ
うj二時間[1旧宥Tてはこのデータパッケージを再び
読出す。従ってデータ出力端子19にはデータパッケー
ジ1100000111100が現れるようになる。こ
のパッケージでは3個の余分な論理値零が追加されたこ
とになる。その理由は、エラスティックストア1に対す
る事前の対策が行われないため、3個のデータビットに
等しい時間間隔に亘って読取りクロツタパルスが停止す
るからである。システムが更に下降する場合には、これ
ら3個の論理値零の代わりに管理ビットを追加すること
ができる。
エラスティックストア1の第1記憶位置を制御する書込
みカウンタ2のクロック出力端子20で得られるクロッ
クパルスを用いて第2d図に示すように書込み時間窓I
(1)を開閉する。この開閉は成る繰返し比で行う。上
述した例では書込み時間窓■(1〉 を40ビットより
成る繰返し比で10ビットの長さとする。エラスティッ
クストア1の第1記憶位置を制御する読出しカウンタ3
のクロック出力端子30で得られるクロックパルスによ
って第2e図に示すように読出し時間窓0(1)を開閉
する。この開閉は書込み時間窓!(1)の場合と同喋の
繰返し比で行う。上述した例では読出し時間窓0(1)
を、40ビットより成る繰返し比で13ビットの長さと
する。次いで例えば縁部の数即ち奇偶性に関し、書込み
時間窓1(1)を読取り時間窓0(1)と比較する。従
来例では奇偶性のみの比較は不可能であった。その理由
は読出しクロックパルスが無駄となる時間周期中最終ビ
ットが保持されるからである。上述した場合にはこの最
終ビットは奇偶性に悪影響を与えない論理値0となる。
みカウンタ2のクロック出力端子20で得られるクロッ
クパルスを用いて第2d図に示すように書込み時間窓I
(1)を開閉する。この開閉は成る繰返し比で行う。上
述した例では書込み時間窓■(1〉 を40ビットより
成る繰返し比で10ビットの長さとする。エラスティッ
クストア1の第1記憶位置を制御する読出しカウンタ3
のクロック出力端子30で得られるクロックパルスによ
って第2e図に示すように読出し時間窓0(1)を開閉
する。この開閉は書込み時間窓!(1)の場合と同喋の
繰返し比で行う。上述した例では読出し時間窓0(1)
を、40ビットより成る繰返し比で13ビットの長さと
する。次いで例えば縁部の数即ち奇偶性に関し、書込み
時間窓1(1)を読取り時間窓0(1)と比較する。従
来例では奇偶性のみの比較は不可能であった。その理由
は読出しクロックパルスが無駄となる時間周期中最終ビ
ットが保持されるからである。上述した場合にはこの最
終ビットは奇偶性に悪影響を与えない論理値0となる。
しかし、この最終ビットを1とする場合には3個の追加
のビットも1となり従って奇偶性は実際上変化する。し
かし、これらビットを、奇偶性の比較により常時論理値
0とすることができる。しかし、この場合には時間AT
=3ビット位置に亘って読出しカンラフ3が停止するた
め、読出し時間窓は書込み時間窓よりも3ビット位置長
くなる。このAT停止期間中データ出力端子19は、読
出しカウンタ3が停止した直前に到達したレベルの論理
値を保持する。これがためこの時間AT中出力信号には
何等余分の1′号部を加える必要はない。
のビットも1となり従って奇偶性は実際上変化する。し
かし、これらビットを、奇偶性の比較により常時論理値
0とすることができる。しかし、この場合には時間AT
=3ビット位置に亘って読出しカンラフ3が停止するた
め、読出し時間窓は書込み時間窓よりも3ビット位置長
くなる。このAT停止期間中データ出力端子19は、読
出しカウンタ3が停止した直前に到達したレベルの論理
値を保持する。これがためこの時間AT中出力信号には
何等余分の1′号部を加える必要はない。
第3図は第1図の比較器17の回路配置を示す。
この比較器17はD−フリップフロップ50.51.6
0及び61と、R3−フリップフロップ54及び57と
、ゲー)52.55.56.5g、 59.62及び6
3とを具え、これら回路零子を図面に示すように接続配
置する。しかし、D−フリップフロップは、これがセッ
トされると、D入力端子に論理値0が得られ、且つクロ
ック入力端子CLにタロツクパルスを供給する際、Q=
1となり、フリップフロップがリセットされると、その
D入力端子に論理値1が得られ且つクロック人カク1M
子CLにクロックパルスを供給する際Q=Oとなる特性
を有する。従って両フリップフロップ50及び51を相
互接続して4分の1分周器を形成し得るようにする。こ
れがため、書込みカウンタ2のクロック出力端子20に
得られるクロックパルスを比較器の入力端子42に供給
すると4つのフェーズ状態を得ることができる。即ち、
第2b図に示すように第1のフェーズ状態T1ではQ
(50) =Q(51)=O1O2O3ェーズ状態T2
ではQ (50) =1、Q(51)−〇、第3のフェ
ーズ状態T3ではQ(50) = Q (51) −1
、及び第4のフェーズ状態T4ではQ(50) = 0
、Q(51)=1が夫々得られる。パルスQ (50)
及びQ(51)をORゲート58の入力端子に供給する
。ORゲート58の出力端子66をDフリップフロップ
60のイネーブル入力端子に接続する。このイネーブル
入力端子に供給されるパルス信号が低レベル(−〇)と
なって初めて、人力データ信号はライン40を経てDフ
リップフロップ60に転送される。しかし、この状態は
第1フエーズ状態T1中にのみ発生する。その他のフェ
ーズ状態T2. T3及びT4ではゲート58の出力端
子66に得られる論理信号は高レベル(=1)となり、
従って人力データ信号は阻止される。第1のフェーズ状
FmT +ではDフリップフロップ60は人力データ信
号の各立下がり縁に応答して状態変化する。従ってこの
フェーズ状態の終りにはDフリップフロップ60のQ出
力は、第1フェーズ状態中人力データ信号の立下り縁の
数に応じて1又は0の論理値をとるようになる。
0及び61と、R3−フリップフロップ54及び57と
、ゲー)52.55.56.5g、 59.62及び6
3とを具え、これら回路零子を図面に示すように接続配
置する。しかし、D−フリップフロップは、これがセッ
トされると、D入力端子に論理値0が得られ、且つクロ
ック入力端子CLにタロツクパルスを供給する際、Q=
1となり、フリップフロップがリセットされると、その
D入力端子に論理値1が得られ且つクロック人カク1M
子CLにクロックパルスを供給する際Q=Oとなる特性
を有する。従って両フリップフロップ50及び51を相
互接続して4分の1分周器を形成し得るようにする。こ
れがため、書込みカウンタ2のクロック出力端子20に
得られるクロックパルスを比較器の入力端子42に供給
すると4つのフェーズ状態を得ることができる。即ち、
第2b図に示すように第1のフェーズ状態T1ではQ
(50) =Q(51)=O1O2O3ェーズ状態T2
ではQ (50) =1、Q(51)−〇、第3のフェ
ーズ状態T3ではQ(50) = Q (51) −1
、及び第4のフェーズ状態T4ではQ(50) = 0
、Q(51)=1が夫々得られる。パルスQ (50)
及びQ(51)をORゲート58の入力端子に供給する
。ORゲート58の出力端子66をDフリップフロップ
60のイネーブル入力端子に接続する。このイネーブル
入力端子に供給されるパルス信号が低レベル(−〇)と
なって初めて、人力データ信号はライン40を経てDフ
リップフロップ60に転送される。しかし、この状態は
第1フエーズ状態T1中にのみ発生する。その他のフェ
ーズ状態T2. T3及びT4ではゲート58の出力端
子66に得られる論理信号は高レベル(=1)となり、
従って人力データ信号は阻止される。第1のフェーズ状
FmT +ではDフリップフロップ60は人力データ信
号の各立下がり縁に応答して状態変化する。従ってこの
フェーズ状態の終りにはDフリップフロップ60のQ出
力は、第1フェーズ状態中人力データ信号の立下り縁の
数に応じて1又は0の論理値をとるようになる。
2個のNORゲート55及び56と組合せたフリップフ
ロップ57によって通常クロック動作RSフリップフロ
ップと弥される論理回路を形成する。NORゲート52
の2つの入力端子には入力データ時間窓■(1)の第1
フエーズ状態T1の期間に亘り2個の論理0パルスが供
給される。これがため、このフェーズ状態中のみフリッ
プフロップ54のセット入力端子Sに論理1信号が発生
し、この信号をフリップフロップ54のリセット入力端
子Rに供給すると共にゲート55の入力端子にも供給す
る。比較器17の入力端子l13に供給される第1のク
ロックパルスによってフッリプフロップ57をセットす
る。従ってフリップフロップ57のQ出力端子には、フ
リップフロップ61のイネーブル入力端子68に供給す
べき論理0信号が発生する。これがため、出力データ時
間窓が開口され、出力データ信号がライン41を経てフ
リップフロップ61に転送される。人力データ時間窓が
終了すると、フリップフロップ54のセット入力端子S
に論理0信号が現われる。従ってフリップフロップ54
のリセット入力端子Rに論理I L3号かえられる。こ
れがためフリップフロップ54がリセットされるように
なる。このフリップフロップ54の出力端子Qの論理0
信号をゲート56の人ノj端子に供給する。ライン43
を経てゲート56に供給される第2クロツクパルスによ
ってフリップフロップ57をリセットする。これがため
出力データ時間窓0(1)が閉成され、フリップフロッ
プ61に:ま何隻出力データは転送されなくなる。出力
データ時間窓が開口されると、フリップフロップ61は
出力データ信号の各立下り縁に応答して状態変化する。
ロップ57によって通常クロック動作RSフリップフロ
ップと弥される論理回路を形成する。NORゲート52
の2つの入力端子には入力データ時間窓■(1)の第1
フエーズ状態T1の期間に亘り2個の論理0パルスが供
給される。これがため、このフェーズ状態中のみフリッ
プフロップ54のセット入力端子Sに論理1信号が発生
し、この信号をフリップフロップ54のリセット入力端
子Rに供給すると共にゲート55の入力端子にも供給す
る。比較器17の入力端子l13に供給される第1のク
ロックパルスによってフッリプフロップ57をセットす
る。従ってフリップフロップ57のQ出力端子には、フ
リップフロップ61のイネーブル入力端子68に供給す
べき論理0信号が発生する。これがため、出力データ時
間窓が開口され、出力データ信号がライン41を経てフ
リップフロップ61に転送される。人力データ時間窓が
終了すると、フリップフロップ54のセット入力端子S
に論理0信号が現われる。従ってフリップフロップ54
のリセット入力端子Rに論理I L3号かえられる。こ
れがためフリップフロップ54がリセットされるように
なる。このフリップフロップ54の出力端子Qの論理0
信号をゲート56の人ノj端子に供給する。ライン43
を経てゲート56に供給される第2クロツクパルスによ
ってフリップフロップ57をリセットする。これがため
出力データ時間窓0(1)が閉成され、フリップフロッ
プ61に:ま何隻出力データは転送されなくなる。出力
データ時間窓が開口されると、フリップフロップ61は
出力データ信号の各立下り縁に応答して状態変化する。
出力データ時間窓0(1)が閉成されると、フリップフ
ロップ61のQ出力は、出力データ時間窓の立下り縁の
数に応じてl又は0の論理値となる。
ロップ61のQ出力は、出力データ時間窓の立下り縁の
数に応じてl又は0の論理値となる。
2個のフリップフロップ60及び61のQ及びQ出力端
子を排他的ORゲート62の入力端子74〜77に夫々
接続する。かかる構成を第4図に示す。このゲートの入
力端子74及び77をANDゲート70の入力端子に夫
々接続する。又、このゲートの入力端子75及び76を
へNDゲー)71の入力端子に夫々接続する。
子を排他的ORゲート62の入力端子74〜77に夫々
接続する。かかる構成を第4図に示す。このゲートの入
力端子74及び77をANDゲート70の入力端子に夫
々接続する。又、このゲートの入力端子75及び76を
へNDゲー)71の入力端子に夫々接続する。
両ゲート70及び71の出力端子をNORゲート72の
入ノJ端子に夫々接続する。2つのデータ時間窓I(1
)及び0(1)の閉成により出力端子Q及びQの論理信
号の値が異なる場合にはゲート62の出力端子78に、
ゲート63のイネーブル入力端子に供給すべき論理0信
号が現われる。第3のフェーズ状態T3ではQ(50)
= Q (51) = 0となる。これらの信号をゲ
ート63のイネーブル入力端子に夫々供給する。
入ノJ端子に夫々接続する。2つのデータ時間窓I(1
)及び0(1)の閉成により出力端子Q及びQの論理信
号の値が異なる場合にはゲート62の出力端子78に、
ゲート63のイネーブル入力端子に供給すべき論理0信
号が現われる。第3のフェーズ状態T3ではQ(50)
= Q (51) = 0となる。これらの信号をゲ
ート63のイネーブル入力端子に夫々供給する。
書込みカウンタ2のクロック出力端子29にクロックパ
ルスが現われると、このパルスはライン44を経てゲー
ト63の信号入力端子に供給される。前述した第3のフ
ェーズ状態T3ではこのクロックパルスはゲート63の
出ノ)Q子18に現われるようになる。
ルスが現われると、このパルスはライン44を経てゲー
ト63の信号入力端子に供給される。前述した第3のフ
ェーズ状態T3ではこのクロックパルスはゲート63の
出ノ)Q子18に現われるようになる。
このパルスによって緊急回路を作動させることができる
。第4のフェーズ状態T4ではQ (50) = 0及
びQ(51)=0となる。これら信号をゲート59のイ
ネーブル入力端子に夫々供給する。しかし、書込みカン
ウタ2のクロック出力端子26にクロックパルスが現わ
れると、このパルスはライン64を経てゲート59の信
号入力端子にも供給されるようになる。上述した第!1
のフェーズ状態T4ではこのクロックパルスをゲート5
9の出力端子に供給する。このクロックパルスを用いて
、2個のフリップフロップ60及び61をリセットし、
上述した4つのフェーズ状態の新たなサイクルを開始し
得るようにする。
。第4のフェーズ状態T4ではQ (50) = 0及
びQ(51)=0となる。これら信号をゲート59のイ
ネーブル入力端子に夫々供給する。しかし、書込みカン
ウタ2のクロック出力端子26にクロックパルスが現わ
れると、このパルスはライン64を経てゲート59の信
号入力端子にも供給されるようになる。上述した第!1
のフェーズ状態T4ではこのクロックパルスをゲート5
9の出力端子に供給する。このクロックパルスを用いて
、2個のフリップフロップ60及び61をリセットし、
上述した4つのフェーズ状態の新たなサイクルを開始し
得るようにする。
はぼ1ビットの回路の固定遅延時間を除去するためには
読出しカウンタ3のクロック出力端子31に生ずるクロ
ックパルスによって出力データ時間窓を開閉し得るよう
にする。かかる状態を第1図に点線で示す。この場合に
は比較器17の入力端子、・13をこのクロック出力端
子31に接続する。
読出しカウンタ3のクロック出力端子31に生ずるクロ
ックパルスによって出力データ時間窓を開閉し得るよう
にする。かかる状態を第1図に点線で示す。この場合に
は比較器17の入力端子、・13をこのクロック出力端
子31に接続する。
第1図は本発明監視回路のhが成を示す接続配置図、
第2図は第1図の回路の作動を示す時間波形図、第3図
は第1図の回路の1部分を詳細に示す接続配置図、 第4図は第3図の回路の1部分である排他的ORゲート
の構成を示す接続配置図である。 1・・・エラスティックストア 2・・・書込みカウンタ 3・・・読出しカウンタ 4・・・クロック入力端子(2) 5・・・データ入力端子 6・・・クロック入力端子(3) 7〜16・・・読出しゲート 17・・・比較回路 18・・・出力端子(63
)19・・・データ出力端子 20〜29・・・クロック出力端子(2)30〜39・
・・クロック出力端子(3)40・・・第1信号入力端
子(17) 41・・・第2信号入力端子(17) 42・・・第1制御パルス入力端子(17)43・・・
第2制御パルス入力端子(17)44・・・第3制御パ
ルス入力端子(17)50、51.60.61・・・D
フリップフロップ52、55.56.58.59.62
.63・・・ゲート54、57・・・R3フリップフロ
ップ66・・・出力端子(58) 70、71 ・・・へNOゲート 72・・・NORゲート 74〜77・・・入力端子(62) 78・・・出力端子(62) 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
は第1図の回路の1部分を詳細に示す接続配置図、 第4図は第3図の回路の1部分である排他的ORゲート
の構成を示す接続配置図である。 1・・・エラスティックストア 2・・・書込みカウンタ 3・・・読出しカウンタ 4・・・クロック入力端子(2) 5・・・データ入力端子 6・・・クロック入力端子(3) 7〜16・・・読出しゲート 17・・・比較回路 18・・・出力端子(63
)19・・・データ出力端子 20〜29・・・クロック出力端子(2)30〜39・
・・クロック出力端子(3)40・・・第1信号入力端
子(17) 41・・・第2信号入力端子(17) 42・・・第1制御パルス入力端子(17)43・・・
第2制御パルス入力端子(17)44・・・第3制御パ
ルス入力端子(17)50、51.60.61・・・D
フリップフロップ52、55.56.58.59.62
.63・・・ゲート54、57・・・R3フリップフロ
ップ66・・・出力端子(58) 70、71 ・・・へNOゲート 72・・・NORゲート 74〜77・・・入力端子(62) 78・・・出力端子(62) 特許出願人 エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、入力端子及び出力端子を有し、エラスティックスト
アを経て搬送される非符号化2進ビット流がエラスティ
ックストアの入力端子に供給される速度を、エラスティ
ックストアの出力端子の非符号化2進ビット流の速度と
は相違させ、エラスティックストアはn個の記憶位置を
具え、2進ビット流のnビットは書込みレジスタに常時
直列に書き込まれると共に再び直列に読出され、レジス
タの1つをエラスティックストアの記憶の程度に応じて
1ビット以上の期間に亘って停止するようにした監視回
路において、エラスティックストアの入力端子及び出力
端子を比較器のデータ入力端子に夫々接続し、メモリ位
置を制御する書込みレジスタのクロック出力端子を前記
比較器の第1制御入力端子にも接続して、nビット及び
書込みレジスタが停止しているビット期間の数の和より
成る書込み時間窓を特定の繰返し比で開口し、書込みレ
ジスタの前記クロック出力端子に相当する読出しレジス
タのクロック出力端子を比較器の第2制御入力端子に接
続し、nビット及び読出しレジスタが停止しているビッ
ト期間の数の和より成る読出し時間窓を所定の繰返し比
で開口し、前記比較器で前記読出し時間窓を前記書込み
時間窓と比較するようにしたことを特徴とする非符号化
2進ビット流の監視回路。 2、読出し時間窓の縁部の数を書込み時間窓の縁部の数
と比較するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載の非符号化2進ビット流の監視回路。 3、読出し時間窓の奇偶性を書込み時間窓の奇偶性と比
較するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項に記載の非符号化2進ビット流の監視回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8503250A NL8503250A (nl) | 1985-11-26 | 1985-11-26 | Bewakingsschakeling voor een niet-gecodeerde binaire bitstroom. |
NL8503250 | 1985-11-26 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62136940A true JPS62136940A (ja) | 1987-06-19 |
JPH0710063B2 JPH0710063B2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=19846919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61279925A Expired - Lifetime JPH0710063B2 (ja) | 1985-11-26 | 1986-11-26 | 非符号化2進ビツト流の監視回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4860293A (ja) |
EP (1) | EP0227145B1 (ja) |
JP (1) | JPH0710063B2 (ja) |
DE (1) | DE3677355D1 (ja) |
NL (1) | NL8503250A (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4878219A (en) * | 1988-04-28 | 1989-10-31 | Digital Equipment Corporation | Method and apparatus for nodes in network to avoid shrinkage of an interframe gap |
DE3843372C2 (de) * | 1988-12-23 | 1997-03-27 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Taktanpassung in der digitalen Nachrichtentechnik |
US5274647A (en) * | 1989-02-13 | 1993-12-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Elastic buffer with error detection using a hamming distance circuit |
US5200960A (en) * | 1990-09-21 | 1993-04-06 | Xerox Corporation | Streaming tape diagnostic |
SE515563C2 (sv) * | 1995-01-11 | 2001-08-27 | Ericsson Telefon Ab L M | Dataöverföringssystem |
US5835503A (en) * | 1996-03-28 | 1998-11-10 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and apparatus for serially programming a programmable logic device |
US5805794A (en) * | 1996-03-28 | 1998-09-08 | Cypress Semiconductor Corp. | CPLD serial programming with extra read register |
US5815510A (en) * | 1996-03-28 | 1998-09-29 | Cypress Semiconductor Corp. | Serial programming of instruction codes in different numbers of clock cycles |
US5768288A (en) * | 1996-03-28 | 1998-06-16 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and apparatus for programming a programmable logic device having verify logic for comparing verify data read from a memory location with program data |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3134091A (en) * | 1957-07-02 | 1964-05-19 | Ibm | Means to read out less than all bits in a register |
DE1549053B2 (de) * | 1967-10-13 | 1970-11-05 | Siemens AG, 1000 Berlin u. 8000 München | Schaltungsanordnung zur Überwachung von Einschreibvorgängen bei Speichern |
ES444381A1 (es) * | 1975-01-16 | 1977-12-16 | Standard Electrica Sa | Un circuito almacenador de canal de datos digitales para transmision y recepcion. |
US4314355A (en) * | 1977-05-18 | 1982-02-02 | Martin Marietta Corporation | Apparatus and method for receiving digital data at a first rate and outputting the data at a different rate |
US4175287A (en) * | 1978-01-23 | 1979-11-20 | Rockwell International Corporation | Elastic store slip control circuit apparatus and method for preventing overlapping sequential read and write operations |
US4193123A (en) * | 1978-03-20 | 1980-03-11 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Fault detection in data rate conversion systems using a first-in, first-out buffer |
DE3213345C2 (de) * | 1982-04-08 | 1984-11-22 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Datenübertragungseinrichtung zwischen zwei asynchron gesteuerten Datenverarbeitungssystemen |
US4580279A (en) * | 1984-04-16 | 1986-04-01 | At&T Bell Laboratories | Elastic store slip control and maintenance circuit |
JPS61109155A (ja) * | 1984-11-01 | 1986-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | パリテイ検出回路 |
-
1985
- 1985-11-26 NL NL8503250A patent/NL8503250A/nl not_active Application Discontinuation
-
1986
- 1986-11-03 US US06/926,476 patent/US4860293A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-24 DE DE8686202085T patent/DE3677355D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-11-24 EP EP86202085A patent/EP0227145B1/en not_active Expired
- 1986-11-26 JP JP61279925A patent/JPH0710063B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0710063B2 (ja) | 1995-02-01 |
EP0227145B1 (en) | 1991-01-30 |
NL8503250A (nl) | 1987-06-16 |
US4860293A (en) | 1989-08-22 |
EP0227145A1 (en) | 1987-07-01 |
DE3677355D1 (de) | 1991-03-07 |
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