JPH0710063B2 - 非符号化２進ビツト流の監視回路 - Google Patents
非符号化２進ビツト流の監視回路Info
- Publication number
- JPH0710063B2 JPH0710063B2 JP61279925A JP27992586A JPH0710063B2 JP H0710063 B2 JPH0710063 B2 JP H0710063B2 JP 61279925 A JP61279925 A JP 61279925A JP 27992586 A JP27992586 A JP 27992586A JP H0710063 B2 JPH0710063 B2 JP H0710063B2
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- output terminal
- read
- time window
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04J—MULTIPLEX COMMUNICATION
- H04J3/00—Time-division multiplex systems
- H04J3/02—Details
- H04J3/06—Synchronising arrangements
- H04J3/07—Synchronising arrangements using pulse stuffing for systems with different or fluctuating information rates or bit rates
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F5/00—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled
- G06F5/06—Methods or arrangements for data conversion without changing the order or content of the data handled for changing the speed of data flow, i.e. speed regularising or timing, e.g. delay lines, FIFO buffers; over- or underrun control therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Communication Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は入力端子及び出力端子を有し、エラスティック
ストアを経て搬送される非符号化２進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化２進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはｎ個の記憶位
置を具え、２進ビット流のｎビットは書込みレジスタに
よってエラスティックストアに常時直列に書き込まれる
と共に読出しストアによって再び直列に読出され、レジ
スタの１つをエラスティックストアの記憶の程度に応じ
て１ビット以上の期間に亘って停止するようにした監視
回路に関するものである。
ストアを経て搬送される非符号化２進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化２進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはｎ個の記憶位
置を具え、２進ビット流のｎビットは書込みレジスタに
よってエラスティックストアに常時直列に書き込まれる
と共に読出しストアによって再び直列に読出され、レジ
スタの１つをエラスティックストアの記憶の程度に応じ
て１ビット以上の期間に亘って停止するようにした監視
回路に関するものである。
PCM多重伝送システムにおいてはその送受信端に設けら
れたブロック変換器にエラスティックストアを設けてい
る。送信端ではエラスティックストアを、直列配置の等
化器、再生器及び２進出力信号を発生する復号器の後段
に設けている。従ってこの２進出力信号をエラスティッ
クストアの入力端子に供給する。エラスティックストア
の２進出力信号は伝送システムのマルチプレクサに供給
する。受信端ではデマルチプレクサの２進出力信号をエ
ラスティックストアの入力端子に供給する。このエラス
ティックストアの出力信号を符号化器に供給する。かか
る従来の装置はフィリップステレコミュニケーションズ
レビュー、第38巻、第１号、1980年１月、第11〜22頁に
記載されている。
れたブロック変換器にエラスティックストアを設けてい
る。送信端ではエラスティックストアを、直列配置の等
化器、再生器及び２進出力信号を発生する復号器の後段
に設けている。従ってこの２進出力信号をエラスティッ
クストアの入力端子に供給する。エラスティックストア
の２進出力信号は伝送システムのマルチプレクサに供給
する。受信端ではデマルチプレクサの２進出力信号をエ
ラスティックストアの入力端子に供給する。このエラス
ティックストアの出力信号を符号化器に供給する。かか
る従来の装置はフィリップステレコミュニケーションズ
レビュー、第38巻、第１号、1980年１月、第11〜22頁に
記載されている。
上述したPCM多重伝送システムでは周波数が互に僅かに
相違する多重化すべき２進ビット流を先ず最初共通の高
い速度で流すようにしている。この目的のためには、こ
れら２進ビット流の各々をそれ自体のクロック速度でエ
ラスティックストアに書込み、且つ共通の高い速度で読
出すようにしている。エラスティックストアが空になる
のを防止するためにはこの読出しクロックパルスを時と
して停止するようにする。この場合エラスティックスト
アの入り２進ビット流及び出２進ビット流間の時間関係
の変化を監視する必要はない。エラスティックストア
は、２進入力信号と２進出力信号とを比較することによ
り、エラスティックストアを経て搬送される際の２進ビ
ット流を監視しない。更に、エラスティックストアの通
過時２進ビット流は符号化されず、従って符号化規則の
妨害を監視して、ビット流の符号化により生ずる冗長度
を用いることはできない。
相違する多重化すべき２進ビット流を先ず最初共通の高
い速度で流すようにしている。この目的のためには、こ
れら２進ビット流の各々をそれ自体のクロック速度でエ
ラスティックストアに書込み、且つ共通の高い速度で読
出すようにしている。エラスティックストアが空になる
のを防止するためにはこの読出しクロックパルスを時と
して停止するようにする。この場合エラスティックスト
アの入り２進ビット流及び出２進ビット流間の時間関係
の変化を監視する必要はない。エラスティックストア
は、２進入力信号と２進出力信号とを比較することによ
り、エラスティックストアを経て搬送される際の２進ビ
ット流を監視しない。更に、エラスティックストアの通
過時２進ビット流は符号化されず、従って符号化規則の
妨害を監視して、ビット流の符号化により生ずる冗長度
を用いることはできない。
本発明の目的はエラスティックストアを通過する非符号
化２進ビット流を監視する回路配置を提供せんとするに
ある。
化２進ビット流を監視する回路配置を提供せんとするに
ある。
本発明は入力端子及び出力端子を有し、エラスティック
ストアを経て搬送される非符号化２進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化２進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはｎ個の記憶位
置を具え、２進ビット流のｎビットは書込みレジスタに
常時直列に書き込まれると共に再び直列に読出され、レ
ジスタの１つをエラスティックストアの記憶の程度に応
じて１ビット以上の期間に亘って停止するようにした監
視回路において、エラスティックストアの入力端子及び
出力端子を比較器のデータ入力端子に夫々接続し、メモ
リ位置を制御する書込みレジスタのクロック出力端子を
前記比較器の第１制御入力端子にも接続して、ｎビット
及び書込みレジスタが停止しているビット期間の数の和
より成る書込み時間窓を特定の繰返し比で開口し、書込
みレジスタの前記クロック出力端子に相当する読出しレ
ジスタのクロック出力端子を比較器の第２制御入力端子
に接続し、ｎビット及び読出しレジスタが停止している
ビット期間の数の和より成る読出し時間窓を所定の繰返
し比で開口し、前記比較器で前記読出し時間窓を前記書
込み時間窓と比較するようにしたことを特徴とする。
ストアを経て搬送される非符号化２進ビット流がエラス
ティックストアの入力端子に供給される速度を、エラス
ティックストアの出力端子の非符号化２進ビット流の速
度とは相違させ、エラスティックストアはｎ個の記憶位
置を具え、２進ビット流のｎビットは書込みレジスタに
常時直列に書き込まれると共に再び直列に読出され、レ
ジスタの１つをエラスティックストアの記憶の程度に応
じて１ビット以上の期間に亘って停止するようにした監
視回路において、エラスティックストアの入力端子及び
出力端子を比較器のデータ入力端子に夫々接続し、メモ
リ位置を制御する書込みレジスタのクロック出力端子を
前記比較器の第１制御入力端子にも接続して、ｎビット
及び書込みレジスタが停止しているビット期間の数の和
より成る書込み時間窓を特定の繰返し比で開口し、書込
みレジスタの前記クロック出力端子に相当する読出しレ
ジスタのクロック出力端子を比較器の第２制御入力端子
に接続し、ｎビット及び読出しレジスタが停止している
ビット期間の数の和より成る読出し時間窓を所定の繰返
し比で開口し、前記比較器で前記読出し時間窓を前記書
込み時間窓と比較するようにしたことを特徴とする。
図面につき本発明を説明する。
第１図に示す本発明監視回路では、エラスティックスト
アは10個の記憶個所を有するメモリ１と、書込みカウン
タ２と、読出しカウンタ３とを具える。データ入力信号
は入力端子５に供給し、データ出力信号は出力端子19か
ら取出す。書込みカンウタ２のクロック入力端子４には
例えば139264kHzの周波数の書込みクロックパルスを供
給する。読出しカウンタ３のクロック入力端子６には例
えば141248kHzの周波数の読出しクロックパルスを供給
する。書込みカウンタ２のクロック出力端子20〜29を夫
々エラスティックストア１の任意の記憶個所のクロック
入力端子に接続する。エラスティックストア１の記憶個
所のデータ出力端子を読出しゲート７〜16の任意のゲー
トのデータ入力端子に夫々接続する。読出しゲート７〜
16のデータ出力端子を相互接続してエラスティックスト
ア１のデータ出力端子19に接続する。又、エラスティッ
クストア１のデータ入力端子を相互接続してデータ入力
端子５に接続する。データ入力端子５を比較回路17の第
１信号入力端子40に接続し、この比較回路17の第２信号
入力端子41をデータ出力端子19に接続する。書込みカウ
ンタ２のクロック出力端子20を比較回路17の第２制御パ
ルス入力端子42に接続し、比較回路17の第２制御パルス
入力端子43を読出しカウンタ３のクロック出力端子30に
接続する。書込みカウンタ２のクロック出力端子29を比
較回路17の第３制御パルス入力端子44に接続する。
アは10個の記憶個所を有するメモリ１と、書込みカウン
タ２と、読出しカウンタ３とを具える。データ入力信号
は入力端子５に供給し、データ出力信号は出力端子19か
ら取出す。書込みカンウタ２のクロック入力端子４には
例えば139264kHzの周波数の書込みクロックパルスを供
給する。読出しカウンタ３のクロック入力端子６には例
えば141248kHzの周波数の読出しクロックパルスを供給
する。書込みカウンタ２のクロック出力端子20〜29を夫
々エラスティックストア１の任意の記憶個所のクロック
入力端子に接続する。エラスティックストア１の記憶個
所のデータ出力端子を読出しゲート７〜16の任意のゲー
トのデータ入力端子に夫々接続する。読出しゲート７〜
16のデータ出力端子を相互接続してエラスティックスト
ア１のデータ出力端子19に接続する。又、エラスティッ
クストア１のデータ入力端子を相互接続してデータ入力
端子５に接続する。データ入力端子５を比較回路17の第
１信号入力端子40に接続し、この比較回路17の第２信号
入力端子41をデータ出力端子19に接続する。書込みカウ
ンタ２のクロック出力端子20を比較回路17の第２制御パ
ルス入力端子42に接続し、比較回路17の第２制御パルス
入力端子43を読出しカウンタ３のクロック出力端子30に
接続する。書込みカウンタ２のクロック出力端子29を比
較回路17の第３制御パルス入力端子44に接続する。
第１図に示す回路の作動を第２図のタイムシーケンスダ
イアグラムを参照して説明する。第2a図はデータ入力端
子５に供給される到来２進ビット流を示し、第2f図はデ
ータ出力端子19から送出される２進ビット流を示す。書
込みカウンタ２の入力端子４には書込みクロックパルス
を供給する。この書込みクロックパルスのパルス繰返し
比を例えば139264kHzとする。各クロック出力端子20〜2
9には第2b図に示す形状のクロックパルス、即ち１デー
タビット周期に等しい時間周期に亘ってクロック出力端
子20からクロック出力端子29に向かう方向に各々がシフ
トされるクロックパルスを発生する。クロック出力端子
20〜29に存在するこれらクロックパルスを用いて10デー
タビットより成るパッケージの各々をエラスティックス
トア１の記憶位置に常時書込む。即ち、例えば、第2b図
の時間間隔T1〜T4に第2a図に示すような関連する10デー
タビットを書込む。例えばクロック出力端子20に存在す
るクロックパルスによって、時間間隔T1から第１のデー
タビット即ち論理値１をエラスティックストア１の関連
する位置に導入する。次いでクロック出力端子21に存在
するクロックパルスによって時間間隔T1から第２のデー
タビット即ち論理値１をエラスティックストア１の関連
する位置に導入し、かかる動作を繰返す。最後にクロッ
ク出力端子29に存在するクロックパルスによって第10番
目のデータビット即ち論理値０をエラスティックストア
１の関連する位置に導入する。
イアグラムを参照して説明する。第2a図はデータ入力端
子５に供給される到来２進ビット流を示し、第2f図はデ
ータ出力端子19から送出される２進ビット流を示す。書
込みカウンタ２の入力端子４には書込みクロックパルス
を供給する。この書込みクロックパルスのパルス繰返し
比を例えば139264kHzとする。各クロック出力端子20〜2
9には第2b図に示す形状のクロックパルス、即ち１デー
タビット周期に等しい時間周期に亘ってクロック出力端
子20からクロック出力端子29に向かう方向に各々がシフ
トされるクロックパルスを発生する。クロック出力端子
20〜29に存在するこれらクロックパルスを用いて10デー
タビットより成るパッケージの各々をエラスティックス
トア１の記憶位置に常時書込む。即ち、例えば、第2b図
の時間間隔T1〜T4に第2a図に示すような関連する10デー
タビットを書込む。例えばクロック出力端子20に存在す
るクロックパルスによって、時間間隔T1から第１のデー
タビット即ち論理値１をエラスティックストア１の関連
する位置に導入する。次いでクロック出力端子21に存在
するクロックパルスによって時間間隔T1から第２のデー
タビット即ち論理値１をエラスティックストア１の関連
する位置に導入し、かかる動作を繰返す。最後にクロッ
ク出力端子29に存在するクロックパルスによって第10番
目のデータビット即ち論理値０をエラスティックストア
１の関連する位置に導入する。
読出しカウンタ３のクロック入力端子６には読出しクロ
ックパルスを供給する。これらパルスのパルス繰返し比
を例えば141.248kHzとする。各クロック出力端子30〜39
には第2c図に示す形状のクロックパルス、即ち１データ
ビット周期に等しい時間間隔に亘ってクロック出力端子
30からクロック出力端子39に向かう方向に各々がシフト
されるクロックパルスを発生する。エラスティックスト
ア１の読出し比をその書込み比よりも高くするため、読
出しカウンタ３のクロック入力端子６の読出しクロック
パルスは１個以上のデータビット中時として停止してエ
ラスティックストア１が空になるのを防止する。かかる
状態を第２図の時間間隔Ｔに読出しクロックパルスがΔ
Ｔ＝３個のデータビットの時間周期に亘って停止する状
態で示す。クロック出力端子30〜39で得られるクロック
パルスによってエラスティックストア１の10個の記憶位
置を読出す。即ちクロック出力端子30で得られるクロッ
クパルスによってエラスティックストア１の関連する位
置に記憶された論理値１を読出しゲート16を経て読出
す。次いでクロック出力端子31で得られるクロックパル
スによってエラスティックストア１の関連する位置に記
憶された論理値１を読出しゲート15を経て読出し、以下
同様の動作を繰返す。最後にクロック出力端子39で得ら
れるクロックパルスによってエラスティックストア１の
関連する位置に記憶された論理値０を読出しゲート７を
経て読出す。
ックパルスを供給する。これらパルスのパルス繰返し比
を例えば141.248kHzとする。各クロック出力端子30〜39
には第2c図に示す形状のクロックパルス、即ち１データ
ビット周期に等しい時間間隔に亘ってクロック出力端子
30からクロック出力端子39に向かう方向に各々がシフト
されるクロックパルスを発生する。エラスティックスト
ア１の読出し比をその書込み比よりも高くするため、読
出しカウンタ３のクロック入力端子６の読出しクロック
パルスは１個以上のデータビット中時として停止してエ
ラスティックストア１が空になるのを防止する。かかる
状態を第２図の時間間隔Ｔに読出しクロックパルスがΔ
Ｔ＝３個のデータビットの時間周期に亘って停止する状
態で示す。クロック出力端子30〜39で得られるクロック
パルスによってエラスティックストア１の10個の記憶位
置を読出す。即ちクロック出力端子30で得られるクロッ
クパルスによってエラスティックストア１の関連する位
置に記憶された論理値１を読出しゲート16を経て読出
す。次いでクロック出力端子31で得られるクロックパル
スによってエラスティックストア１の関連する位置に記
憶された論理値１を読出しゲート15を経て読出し、以下
同様の動作を繰返す。最後にクロック出力端子39で得ら
れるクロックパルスによってエラスティックストア１の
関連する位置に記憶された論理値０を読出しゲート７を
経て読出す。
これがため、第2a及び第2b図に示すように時間間隔T1で
データパッケージ1100111100をエラスティックストア１
に導入する。第2c及び2f図に示すように時間間隔Ｔでは
このデータパッケージを再び読出す。従ってデータ出力
端子19にはデータパッケージ1100000111100が現れるよ
うになる。このパッケージでは３個の余分な論理値零が
追加されたことになる。その理由は、エラスティックス
トア１に対する事前の対策が行われないため、３個のデ
ータビットに等しい時間間隔に亘って読取りクロックパ
ルスが停止するからである。システムが更に下降する場
合には、これら３個の論理値零の代わりに管理ビットを
追加することができる。
データパッケージ1100111100をエラスティックストア１
に導入する。第2c及び2f図に示すように時間間隔Ｔでは
このデータパッケージを再び読出す。従ってデータ出力
端子19にはデータパッケージ1100000111100が現れるよ
うになる。このパッケージでは３個の余分な論理値零が
追加されたことになる。その理由は、エラスティックス
トア１に対する事前の対策が行われないため、３個のデ
ータビットに等しい時間間隔に亘って読取りクロックパ
ルスが停止するからである。システムが更に下降する場
合には、これら３個の論理値零の代わりに管理ビットを
追加することができる。
エラスティックストア１の第１記憶位置を制御する書込
みカウンタ２のクロック出力端子20で得られるクロック
パルスを用いて第2d図に示すように書込み時間窓Ｉ
（１）を開閉する。この開閉は或る繰返し比で行う。上
述した例では書込み時間窓Ｉ（１）を40ビットより成る
繰返し比で10ビットの長さとする。エラスティックスト
ア１の第１記憶位置を制御する読出しカウンタ３のクロ
ック出力端子30で得られるクロックパルスによって第2e
図に示すように読出し時間窓０（１）を開閉する。この
開閉は書込み時間窓Ｉ（１）の場合と同様の繰返し比で
行う。上述した例では読出し時間窓０（１）を、40ビッ
トより成る繰返し比で13ビットの長さとする。次いで例
えば縁部の数即ち奇偶性に関し、書込み時間窓Ｉ（１）
を読取り時間窓０（１）と比較する。従来例では奇偶性
のみの比較は不可能であった。その理由は読出しクロッ
クパルスが無駄となる時間周期中最終ビットが保持され
るからである。上述した場合にはこの最終ビットは奇偶
性に悪影響を与えない論理値０となる。しかし、この最
終ビットを１とする場合には３個の追加のビットも１と
なり従って奇偶性は実際上変化する。しかし、これらビ
ットを、奇偶性の比較により常時論理値０とすることが
できる。しかし、この場合には時間ΔＴ＝３ビット位置
に亘って読出しカウンタ３が停止するため、読出し時間
窓は書込み時間窓よりも３ビット位置長くなる。このΔ
Ｔ停止期間中データ出力端子19は、読出しカウンタ３が
停止した直前に到達したレベルの論理値を保持する。こ
れがためこの時間ΔＴ中出力信号には何等余分の縁部を
加える必要はない。
みカウンタ２のクロック出力端子20で得られるクロック
パルスを用いて第2d図に示すように書込み時間窓Ｉ
（１）を開閉する。この開閉は或る繰返し比で行う。上
述した例では書込み時間窓Ｉ（１）を40ビットより成る
繰返し比で10ビットの長さとする。エラスティックスト
ア１の第１記憶位置を制御する読出しカウンタ３のクロ
ック出力端子30で得られるクロックパルスによって第2e
図に示すように読出し時間窓０（１）を開閉する。この
開閉は書込み時間窓Ｉ（１）の場合と同様の繰返し比で
行う。上述した例では読出し時間窓０（１）を、40ビッ
トより成る繰返し比で13ビットの長さとする。次いで例
えば縁部の数即ち奇偶性に関し、書込み時間窓Ｉ（１）
を読取り時間窓０（１）と比較する。従来例では奇偶性
のみの比較は不可能であった。その理由は読出しクロッ
クパルスが無駄となる時間周期中最終ビットが保持され
るからである。上述した場合にはこの最終ビットは奇偶
性に悪影響を与えない論理値０となる。しかし、この最
終ビットを１とする場合には３個の追加のビットも１と
なり従って奇偶性は実際上変化する。しかし、これらビ
ットを、奇偶性の比較により常時論理値０とすることが
できる。しかし、この場合には時間ΔＴ＝３ビット位置
に亘って読出しカウンタ３が停止するため、読出し時間
窓は書込み時間窓よりも３ビット位置長くなる。このΔ
Ｔ停止期間中データ出力端子19は、読出しカウンタ３が
停止した直前に到達したレベルの論理値を保持する。こ
れがためこの時間ΔＴ中出力信号には何等余分の縁部を
加える必要はない。
第３図は第１図の比較器17の回路配置を示す。この比較
器17はＤ−フリップフロップ50,51,60及び61と、RS−フ
リップフロップ54及び57と、ゲート52,55,56,58,59,62
及び63とを具え、これら回路素子を図面に示すように接
続配置する。しかし、Ｄ−フリップフロップは、これが
セットされると、Ｄ入力端子に論理値０が得られ、且つ
クロック入力端子CLにクロックパルスを供給する際、Ｑ
＝１となり、フリップフロップがリセットされると、そ
のＤ入力端子に論理値１が得られ且つクロック入力端子
CLにクロックパルスを供給する際Ｑ＝０となる特性を有
する。従って両フリップフロップ50及び51を相互接続し
て４分の１分周器を形成し得るようにする。これがた
め、書込みカウンタ２のクロック出力端子20に得られる
クロックパルスを比較器の入力端子42に供給すると４つ
のフェーズ状態を得ることができる。即ち、第2b図に示
すように第１のフェーズ状態T1ではＱ（50）＝Ｑ（51）
＝０、第２のフェーズ状態T2ではＱ（50）＝１、Ｑ（5
1）＝０、第３のフェーズ状態T3ではＱ（50）＝Ｑ（5
1）＝１、及び第４のフェーズ状態T4ではＱ（50）＝
０、Ｑ（51）＝１が夫々得られる。パルスＱ（50）及び
Ｑ（51）をORゲート58の入力端子に供給する。ORゲート
58の出力端子66をＤフリップフロップ60のイネーブル入
力端子に接続する。このイネーブル入力端子に供給され
るパルス信号が低レベル（＝０）となって初めて、入力
データ信号はライン40を経てＤフリップフロップ60に転
送される。しかし、この状態は第１フェーズ状態T1中に
のみ発生する。その他のフェーズ状態T2，T3及びT4では
ゲート58の出力端子66に得られる論理信号は高レベル
（＝１）となり、従って入力データ信号は阻止される。
第１のフェーズ状態T1ではＤフリップフロップ60は入力
データ信号の各立下がり縁に応答して状態変化する。従
ってこのフェーズ状態の終りにはＤフリップフロップ60
のＱ出力は、第１フェーズ状態中入力データ信号の立下
り縁の数に応じて１又は０の論理値をとるようになる。
器17はＤ−フリップフロップ50,51,60及び61と、RS−フ
リップフロップ54及び57と、ゲート52,55,56,58,59,62
及び63とを具え、これら回路素子を図面に示すように接
続配置する。しかし、Ｄ−フリップフロップは、これが
セットされると、Ｄ入力端子に論理値０が得られ、且つ
クロック入力端子CLにクロックパルスを供給する際、Ｑ
＝１となり、フリップフロップがリセットされると、そ
のＤ入力端子に論理値１が得られ且つクロック入力端子
CLにクロックパルスを供給する際Ｑ＝０となる特性を有
する。従って両フリップフロップ50及び51を相互接続し
て４分の１分周器を形成し得るようにする。これがた
め、書込みカウンタ２のクロック出力端子20に得られる
クロックパルスを比較器の入力端子42に供給すると４つ
のフェーズ状態を得ることができる。即ち、第2b図に示
すように第１のフェーズ状態T1ではＱ（50）＝Ｑ（51）
＝０、第２のフェーズ状態T2ではＱ（50）＝１、Ｑ（5
1）＝０、第３のフェーズ状態T3ではＱ（50）＝Ｑ（5
1）＝１、及び第４のフェーズ状態T4ではＱ（50）＝
０、Ｑ（51）＝１が夫々得られる。パルスＱ（50）及び
Ｑ（51）をORゲート58の入力端子に供給する。ORゲート
58の出力端子66をＤフリップフロップ60のイネーブル入
力端子に接続する。このイネーブル入力端子に供給され
るパルス信号が低レベル（＝０）となって初めて、入力
データ信号はライン40を経てＤフリップフロップ60に転
送される。しかし、この状態は第１フェーズ状態T1中に
のみ発生する。その他のフェーズ状態T2，T3及びT4では
ゲート58の出力端子66に得られる論理信号は高レベル
（＝１）となり、従って入力データ信号は阻止される。
第１のフェーズ状態T1ではＤフリップフロップ60は入力
データ信号の各立下がり縁に応答して状態変化する。従
ってこのフェーズ状態の終りにはＤフリップフロップ60
のＱ出力は、第１フェーズ状態中入力データ信号の立下
り縁の数に応じて１又は０の論理値をとるようになる。
２個のNORゲート55及び56と組合せたフリップフロップ5
7によって通常クロック動作RSフリップフロップと称さ
れる論理回路を形成する。NORゲート52の２つの入力端
子には入力データ時間窓Ｉ（１）の第１フェーズ状態T1
の期間に亘り２個の論理０パルスが供給される。これが
ため、このフェーズ状態中のみフリップフロップ54のセ
ット入力端子Ｓに論理１信号が発生し、この信号をフリ
ップフロップ54のリセット入力端子Ｒに供給すると共に
ゲート55の入力端子にも供給する。比較器17の入力端子
43に供給される第１のクロックパルスによってフッリプ
フロップ57をセットする。従ってフリップフロップ57の
Ｑ出力端子には、フリップフロップ61のイネーブル入力
端子68に供給すべき論理０信号が発生する。これがた
め、出力データ時間窓が開口され、出力データ信号がラ
イン41を経てフリップフロップ62に転送される。入力デ
ータ時間窓が終了すると、フリップフロップ54のセット
入力端子Ｓに論理０信号が現われる。従ってフリップフ
ロップ54のリセット入力端子Ｒに論理１信号がえられ
る。これがためフリップフロップ54がリセットされるよ
うになる。このフリップフロップ54の出力端子Ｑの論理
０信号をゲート56の入力端子に供給する。ライン43を経
てゲート56に供給される第２クロックパルスによってフ
リップフロップ57をリセットする。これがため出力デー
タ時間窓０（１）が閉成され、フリップフロップ61には
何等出力データは転送されなくなる。出力データ時間窓
が開口されると、フリップフロップ61は出力データ信号
の各立下り縁に応答して状態変化する。出力データ時間
窓０（１）が閉成されると、フリップフロップ61のＱ出
力は、出力データ時間窓の立下り縁の数に応じて１又は
０の論理値となる。
7によって通常クロック動作RSフリップフロップと称さ
れる論理回路を形成する。NORゲート52の２つの入力端
子には入力データ時間窓Ｉ（１）の第１フェーズ状態T1
の期間に亘り２個の論理０パルスが供給される。これが
ため、このフェーズ状態中のみフリップフロップ54のセ
ット入力端子Ｓに論理１信号が発生し、この信号をフリ
ップフロップ54のリセット入力端子Ｒに供給すると共に
ゲート55の入力端子にも供給する。比較器17の入力端子
43に供給される第１のクロックパルスによってフッリプ
フロップ57をセットする。従ってフリップフロップ57の
Ｑ出力端子には、フリップフロップ61のイネーブル入力
端子68に供給すべき論理０信号が発生する。これがた
め、出力データ時間窓が開口され、出力データ信号がラ
イン41を経てフリップフロップ62に転送される。入力デ
ータ時間窓が終了すると、フリップフロップ54のセット
入力端子Ｓに論理０信号が現われる。従ってフリップフ
ロップ54のリセット入力端子Ｒに論理１信号がえられ
る。これがためフリップフロップ54がリセットされるよ
うになる。このフリップフロップ54の出力端子Ｑの論理
０信号をゲート56の入力端子に供給する。ライン43を経
てゲート56に供給される第２クロックパルスによってフ
リップフロップ57をリセットする。これがため出力デー
タ時間窓０（１）が閉成され、フリップフロップ61には
何等出力データは転送されなくなる。出力データ時間窓
が開口されると、フリップフロップ61は出力データ信号
の各立下り縁に応答して状態変化する。出力データ時間
窓０（１）が閉成されると、フリップフロップ61のＱ出
力は、出力データ時間窓の立下り縁の数に応じて１又は
０の論理値となる。
２個のフリップフロップ60及び61のＱ及び出力端子を
排他的ORゲート62の入力端子74〜７に夫々接続する。か
かる構成を第４図に示す。このゲートの入力端子74及び
77をANDゲート70の入力端子に夫々接続する。又、この
ゲートの入力端子75及び76をANDゲート71の入力端子に
夫々接続する。両ゲート70及び71の出力端子をNORゲー
ト72の入力端子に夫々接続する。２つのデータ時間窓Ｉ
（１）及び０（１）の閉成により出力端子Ｑ及びの論
理信号の値が異なる場合にはゲート62の出力端子78に、
ゲート63のイネーブル入力端子に供給すべき論理０信号
が現われる。第３のフェーズ状態T3では（50）＝
（51）＝０となる。これらの信号をゲート63のイネーブ
ル入力端子に夫々供給する。書込みカウンタ２のクロッ
ク出力端子29にクロックパルスが現われると、このパル
スはライン44を経てゲート63の信号入力端子に供給され
る。前述した第３のフェーズ状態T3ではこのクロックパ
ルスはゲート63の出力端子18に現われるようになる。こ
のパルスによって緊急回路を作動させることができる。
第４のフェーズ状態T4ではＱ（50）＝０及び（51）＝
０となる。これら信号をゲート59のイネーブル入力端子
に夫々供給する。しかし、書込みカンウタ２のクロック
出力端子26にクロックパルスが現われると、このパルス
はライン64を経てゲート59の信号入力端子にも供給され
るようになる。上述した第４のフェーズ状態T4ではこの
クロックパルスをゲート59の出力端子に供給する。この
クロックパルスを用いて、２個のフリップフロップ60及
び61をリセットし、上述した４つのフェーズ状態の新た
なサイクルを開始し得るようにする。
排他的ORゲート62の入力端子74〜７に夫々接続する。か
かる構成を第４図に示す。このゲートの入力端子74及び
77をANDゲート70の入力端子に夫々接続する。又、この
ゲートの入力端子75及び76をANDゲート71の入力端子に
夫々接続する。両ゲート70及び71の出力端子をNORゲー
ト72の入力端子に夫々接続する。２つのデータ時間窓Ｉ
（１）及び０（１）の閉成により出力端子Ｑ及びの論
理信号の値が異なる場合にはゲート62の出力端子78に、
ゲート63のイネーブル入力端子に供給すべき論理０信号
が現われる。第３のフェーズ状態T3では（50）＝
（51）＝０となる。これらの信号をゲート63のイネーブ
ル入力端子に夫々供給する。書込みカウンタ２のクロッ
ク出力端子29にクロックパルスが現われると、このパル
スはライン44を経てゲート63の信号入力端子に供給され
る。前述した第３のフェーズ状態T3ではこのクロックパ
ルスはゲート63の出力端子18に現われるようになる。こ
のパルスによって緊急回路を作動させることができる。
第４のフェーズ状態T4ではＱ（50）＝０及び（51）＝
０となる。これら信号をゲート59のイネーブル入力端子
に夫々供給する。しかし、書込みカンウタ２のクロック
出力端子26にクロックパルスが現われると、このパルス
はライン64を経てゲート59の信号入力端子にも供給され
るようになる。上述した第４のフェーズ状態T4ではこの
クロックパルスをゲート59の出力端子に供給する。この
クロックパルスを用いて、２個のフリップフロップ60及
び61をリセットし、上述した４つのフェーズ状態の新た
なサイクルを開始し得るようにする。
ほぼ１ビットの回路の固定遅延時間を除去するためには
読出しカウンタ３のクロック出力端子31の生ずるクロッ
クパルスによって出力データ時間窓を開閉し得るように
する。かかる状態を第１図に点線で示す。この場合には
比較器17の入力端子43をこのクロック出力端子31に接続
する。
読出しカウンタ３のクロック出力端子31の生ずるクロッ
クパルスによって出力データ時間窓を開閉し得るように
する。かかる状態を第１図に点線で示す。この場合には
比較器17の入力端子43をこのクロック出力端子31に接続
する。
第１図は本発明監視回路の構成を示す接続配置図、 第２図は第１図の回路の作動を示す時間波形図、 第３図は第１図の回路の１部分を詳細に示す接続配置
図、 第４図は第３図の回路の１部分である排他的ORゲートの
構成を示す接続配置図である。 １…エラスティックストア ２…書込みカウンタ ３…読出しカウンタ ４…クロック入力端子（２） ５…データ入力端子 ６…クロック入力端子（３） ７〜16…読出しゲート 17…比較回路、18…出力端子（63） 19…データ出力端子 20〜29…クロック出力端子（２） 30〜39…クロック出力端子（３） 40…第１信号入力端子（17） 41…第２信号入力端子（17） 42…第１制御パルス入力端子（17） 43…第２制御パルス入力端子（17） 44…第３制御パルス入力端子（17） 50,51,60,61…Ｄフリップフロップ 52,55,56,58,59,62,63…ゲート 54,57…RSフリップフロップ 66…出力端子（58） 70,71…ANDゲート 72…NORゲート 74〜77…入力端子（62） 78…出力端子（62）
図、 第４図は第３図の回路の１部分である排他的ORゲートの
構成を示す接続配置図である。 １…エラスティックストア ２…書込みカウンタ ３…読出しカウンタ ４…クロック入力端子（２） ５…データ入力端子 ６…クロック入力端子（３） ７〜16…読出しゲート 17…比較回路、18…出力端子（63） 19…データ出力端子 20〜29…クロック出力端子（２） 30〜39…クロック出力端子（３） 40…第１信号入力端子（17） 41…第２信号入力端子（17） 42…第１制御パルス入力端子（17） 43…第２制御パルス入力端子（17） 44…第３制御パルス入力端子（17） 50,51,60,61…Ｄフリップフロップ 52,55,56,58,59,62,63…ゲート 54,57…RSフリップフロップ 66…出力端子（58） 70,71…ANDゲート 72…NORゲート 74〜77…入力端子（62） 78…出力端子（62）
Claims (3)
- 【請求項１】入力端子及び出力端子を有し、エラスティ
ックストアを経て搬送される非符号化２進ビット流がエ
ラスティックストアの入力端子に供給される速度を、エ
ラスティックストアの出力端子の非符号化２進ビット流
の速度とは相違させ、エラスティックストアはｎ個の記
憶位置を具え、２進ビット流のｎビットは書込みレジス
タに常時直列に書き込まれると共に再び直列に読出さ
れ、レジスタの１つをエラスティックストアの記憶の程
度に応じて１ビット以上の期間に亘って停止するように
した監視回路において、エラスティックストアの入力端
子及び出力端子を比較器のデータ入力端子に夫々接続
し、メモリ位置を制御する書込みレジスタのクロック出
力端子を前記比較器の第１制御入力端子にも接続して、
ｎビット及び書込みレジスタが停止しているビット期間
の数の和より成る書込み時間窓を特定の繰返し比で開口
し、書込みレジスタの前記クロック出力端子に相当する
読出しレジスタのクロック出力端子を比較器の第２制御
入力端子に接続し、ｎビット及び読出しレジスタが停止
しているビット期間の数の和より成る読出し時間窓を所
定の繰返し比で開口し、前記比較器で前記読出し時間窓
を前記書込み時間窓と比較するようにしたことを特徴と
する非符号化２進ビット流の監視回路。 - 【請求項２】読出し時間窓の縁部の数を書込み時間窓の
縁部の数と比較するようにしたことを特徴とする特許請
求の範囲第１項に記載の非符号化２進ビット流の監視回
路。 - 【請求項３】読出し時間窓の奇偶性を書込み時間窓の奇
偶性と比較するようにしたことを特徴とする特許請求の
範囲第１項に記載の非符号化２進ビット流の監視回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8503250A NL8503250A (nl) | 1985-11-26 | 1985-11-26 | Bewakingsschakeling voor een niet-gecodeerde binaire bitstroom. |
| NL8503250 | 1985-11-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62136940A JPS62136940A (ja) | 1987-06-19 |
| JPH0710063B2 true JPH0710063B2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=19846919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61279925A Expired - Lifetime JPH0710063B2 (ja) | 1985-11-26 | 1986-11-26 | 非符号化２進ビツト流の監視回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4860293A (ja) |
| EP (1) | EP0227145B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0710063B2 (ja) |
| DE (1) | DE3677355D1 (ja) |
| NL (1) | NL8503250A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4878219A (en) * | 1988-04-28 | 1989-10-31 | Digital Equipment Corporation | Method and apparatus for nodes in network to avoid shrinkage of an interframe gap |
| DE3843372C2 (de) * | 1988-12-23 | 1997-03-27 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Taktanpassung in der digitalen Nachrichtentechnik |
| US5274647A (en) * | 1989-02-13 | 1993-12-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Elastic buffer with error detection using a hamming distance circuit |
| US5200960A (en) * | 1990-09-21 | 1993-04-06 | Xerox Corporation | Streaming tape diagnostic |
| SE515563C2 (sv) * | 1995-01-11 | 2001-08-27 | Ericsson Telefon Ab L M | Dataöverföringssystem |
| US5835503A (en) * | 1996-03-28 | 1998-11-10 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and apparatus for serially programming a programmable logic device |
| US5768288A (en) * | 1996-03-28 | 1998-06-16 | Cypress Semiconductor Corp. | Method and apparatus for programming a programmable logic device having verify logic for comparing verify data read from a memory location with program data |
| US5805794A (en) * | 1996-03-28 | 1998-09-08 | Cypress Semiconductor Corp. | CPLD serial programming with extra read register |
| US5815510A (en) * | 1996-03-28 | 1998-09-29 | Cypress Semiconductor Corp. | Serial programming of instruction codes in different numbers of clock cycles |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3134091A (en) * | 1957-07-02 | 1964-05-19 | Ibm | Means to read out less than all bits in a register |
| DE1549053B2 (de) * | 1967-10-13 | 1970-11-05 | Siemens AG, 1000 Berlin u. 8000 München | Schaltungsanordnung zur Überwachung von Einschreibvorgängen bei Speichern |
| ES444381A1 (es) * | 1975-01-16 | 1977-12-16 | Standard Electrica Sa | Un circuito almacenador de canal de datos digitales para transmision y recepcion. |
| US4314355A (en) * | 1977-05-18 | 1982-02-02 | Martin Marietta Corporation | Apparatus and method for receiving digital data at a first rate and outputting the data at a different rate |
| US4175287A (en) * | 1978-01-23 | 1979-11-20 | Rockwell International Corporation | Elastic store slip control circuit apparatus and method for preventing overlapping sequential read and write operations |
| US4193123A (en) * | 1978-03-20 | 1980-03-11 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Fault detection in data rate conversion systems using a first-in, first-out buffer |
| DE3213345C2 (de) * | 1982-04-08 | 1984-11-22 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Datenübertragungseinrichtung zwischen zwei asynchron gesteuerten Datenverarbeitungssystemen |
| US4580279A (en) * | 1984-04-16 | 1986-04-01 | At&T Bell Laboratories | Elastic store slip control and maintenance circuit |
| JPS61109155A (ja) * | 1984-11-01 | 1986-05-27 | Mitsubishi Electric Corp | パリテイ検出回路 |
-
1985
- 1985-11-26 NL NL8503250A patent/NL8503250A/nl not_active Application Discontinuation
-
1986
- 1986-11-03 US US06/926,476 patent/US4860293A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-11-24 DE DE8686202085T patent/DE3677355D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-11-24 EP EP86202085A patent/EP0227145B1/en not_active Expired
- 1986-11-26 JP JP61279925A patent/JPH0710063B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0227145A1 (en) | 1987-07-01 |
| EP0227145B1 (en) | 1991-01-30 |
| JPS62136940A (ja) | 1987-06-19 |
| DE3677355D1 (de) | 1991-03-07 |
| NL8503250A (nl) | 1987-06-16 |
| US4860293A (en) | 1989-08-22 |
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