JPS6197899A - 電子部品の搬送装置 - Google Patents

電子部品の搬送装置

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JPS6197899A
JPS6197899A JP59217292A JP21729284A JPS6197899A JP S6197899 A JPS6197899 A JP S6197899A JP 59217292 A JP59217292 A JP 59217292A JP 21729284 A JP21729284 A JP 21729284A JP S6197899 A JPS6197899 A JP S6197899A
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JP
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electronic component
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JP59217292A
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真庭 友由
武 藤井
浩二 星
葉山 哲雄
藤井 曄
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Hitachi High Tech Corp
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Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、例えばICなどの電子部品を検査する装置に
関するものである。
〔発明の背景〕
電子部品の工業的生産においては、多数の電子部品を順
次に搬送しつつ、搬送ラインに沿って設けられた検査ス
テーションで該電子部品の検査を行うとともに、検査不
合格品を生産ラインから排除する作業が必要である。
上記の搬送ラインの設置所要面積を縮少する為に、該搬
送ラインのレイアウトを屈曲させ、若しくは折り返し個
所を設けることが一般に行われている。そして、搬送・
検査装置全体をコンパクトならしめるため、上記の折返
し搬送個所において    ゛も検査装置を設置しそス
ペースを有効に利用することが望ましい。
第4図は、互いに平行で方向が反対の搬入路1及び搬出
路2を備えた従来の検査・搬送装置3の1例を示す。
この従来技術に係る装置においては、搬入路1の終点と
搬出路2の始点とを結ぶ半円弧状乃至は馬蹄形の案内レ
ール4が設けられている。矢印Aの如(搬入された電子
部品5は案内レール4に沿って矢印Bの如く搬送され、
矢印Cの如く搬出される。
前記の案内レール4の途中に検査ステーション6が設け
られていて、電子部品はこの位置で一時的に停止して検
査を受ける。
電子部品5が前記の矢印Bに沿って移動するように、上
記矢印Bの接線方向(例えば矢印す、b’。
b″)の如く圧縮空気が吹きつけられる。
上記の従来装置(第4図)には次記のような技術的問題
が有る。
(i)電子部品5が案内レール4に沿って滑動するよう
、両者の間に空隙を設けなければならないが、このよう
にガタを付する為、検査ステーション6における位置決
め精度が低い。
(ii)X内レール4の全長にわたって圧縮空気を吹き
つける為のノズルを列設すると共にエア配管を施さねば
ならないので、検査ステーション6を設けるスペースが
制約される。
(石)圧縮空気の吹き付けは塵埃を舞い上がらせるので
好ましくない。
(iv )矢印Aの如く搬入される電子部品5と、矢印
Cの如く搬出される電子部品5′とは、図から明らかな
ように向きが反転している。このように電子部品の姿勢
が反転することは、支障を生じない場合も有るが支障を
生じる場合も少なくない。
〔発明の目的〕
本発明は上述の事情に鑑みて為されたものであって、そ
の目的とするところは、搬入時と搬出時とにおいて電子
部品の搬送方向が逆になり、しかも該電子部品の姿勢(
平面内における角位置)が不変で、その上、検査ステー
ションにおける位置決め精度が高く、かつ、複数個の検
査スペースをコンパクトに配置することができ、更に、
検査結果に従って検査不合格品を搬出ラインから排出す
ることのできる電子部品検査装置を提供しようとするに
ある。
〔発明の概要〕
上記の目的を達成する為、本発明の検査装置は、互いに
平行な搬入路と搬出路とを備えた電子部品7↑ の検査手段において、前記搬入路の終点及び搬出路の始
点にそれぞれ対向せしめて1対の回転テーブルを設けて
、これら1対の回転テーブルを互いに反対方向に間欠的
に回転せしめる駆動手段を設けると共に、上記1対の回
転テーブルの間に前記の搬入、出路とほぼ直交する搬送
レーンを設け、かつ、前記1対の回転テーブルに搭載さ
れて回転する電子部品に対向せしめて検査手段及び不良
品排出手段を設けたことを特徴とする。
〔発明の実施例〕
次に、本発明の1実施例を第1図乃至第3図について説
明する。第1図は平面図、第2図は第1図の8部付近の
斜視図、第3図は第1図のm−m断面を模式的に描いた
説明図である。
互いに平行に設けた搬入路1と搬出路2とは従来装置(
第4図)におけると類似の構成部材である。上記搬入路
1の終点に対向せしめて回転テーブル7を設け、搬出路
2の始点に対向せしめて回転テーブル8を設け、かつ、
回転テーブル7は矢印Rの如く時計方向に、回転テーブ
ル8は矢印りの如く反時計方向にそれぞれ回転させる駆
動手段(図示せず)を設ける。
本例の如(,1対の回転テーブル7.8を反対方向に回
転させる構造にすると、双方の回転軸にそれぞれ固着し
た歯車を直接噛合せしめて伝動できるので伝動部材の構
成が簡単で済む。
前記の回転テーブル7.8は、円周を4等分して電子部
品搭載用の座9を設けである。
前記の回転テーブル7に設けた4個の座9の内、S位置
にある座9の付近を第2図に示す。10はワ・−りであ
る電子部品の1例、11は送り爪である。
上記の送り爪は矢印イ9ロ、ハ、二の如(作動して電子
部品10を座9内に収納する。このように電子部品10
を送り爪11で送ると、圧縮空気で吹き送る場合に比し
て正確なストロークで精密に位置決めすることができる
0本発明を実施する際、座9の付近に磁石を埋設し、電
子部品を磁力吸着せしめて確実に保持することもできる
前記の回転テーブル7を時計回り方向に、90°。
45°、135°、90°の順に間欠的に駆動する。こ
れに伴って回転テーブル8は反時計回り方4向に90°
45°、135°、90°の順に間欠的に回転して、そ
れぞれの回転テーブルが1回転する。
第1図に示したS位置の座9に電子部品(図示せず)を
矢印A方向に送りこんで収納し、前述の如<90°回転
させると、電子部品を収納した座9は円弧矢印R9゜た
け回転して図示のT位置となる。
このT位置に対応せしめて電子部品の検査ステーション
12を設ける0次いで45°回転させると電子部品を収
納した座9は円弧矢印Rasだけ回動して0位置になる
。この0位置に対向せしめて不良品搬出路13を設ける
更に回転テーブル7を135°回動させると、電子部品
を収納した座9は円弧矢印RI3%だけ回動して図示の
E位置となる。
上記のE位置から、搬入、出路1.2とほぼ直角方向に
、回転テーブル8のS′位置の座9まで、搬送レーン1
4を設ける(第3図も参照)。
上記の回転テーブル8について、S′位置を出発転とし
て矢印L9゜の如り90°回動した位置T′に検査ステ
ーション12′を設け、更に矢印Lasの如<45°回
動した位RO′に不良品排出路13′を設ける。この0
′位置から更に矢印LI3Sの如く135°回転すると
、搬出路2に対向するE′位置となる。
前記の0位置、0′位置、E位置、E′位置、及びS′
位置には、それぞれ第2図に示したような送り爪11を
設けである。ただし、その作動方向は第2図に示した矢
印イ2ロ、ハ、ことは反対で、電子部品を半径方向に外
側へ送る構造である。
以上のように構成した検査装置を使用するには、(第1
図参照)f&送路1から矢印A方向に送られた電子部品
を送り爪11(いずれも第1図においては省略)で座9
 (S位置)に収納する。
矢印R9+1の如く回動してT位置になったとき、検査
ステーション12で検査(例えばマーキング状態の良否
検査)を行い、更に45°回動して不良品排出路13に
対向したとき、検査不合格品は排出し、検査合格品はそ
のまま保持する。
保持した検査合格品は、更に矢印RI3%の如く回動し
てE位置に達したとき搬送レーン14に送りこみ、矢印
りの如く搬送して回転テーブル8のS′位置の座9に収
納する。引き続き、前記と同様にしてT′位置で検査ス
テーション12′による検査(例えばリード曲がりのを
無の検査)を行い、更に45°回動してO位置で検査不
合格品を排出し、検査合格品はE′位置に達したとき搬
出路2に受は渡して矢印Cの如く送り出す。
説明の便宜上、第1図に付記したように直交座標x、x
’−y、y’を想定する。いま、S位置において電子部
品の成る特定部分がY方向を向いていたとする。この特
定部分はT位置ではX方間。
E位置ではX′力方向S′位置ではX′力方向T′位置
ではY′方向を向き、E′位置に達したときはS位置と
同じくY方向を向く、このようにして、1般入路1に送
り込まれた時と同じ姿勢(同一の角座標方向)で搬出路
2から搬出される。即ち、搬入方法と17出方向は正反
対の方向(矢印A、  C”)であり、電子部品の姿勢
(向き)は同じである。
また、前述の構成から明らかなように、本実施例の装置
は狭い設置面積の中に2カ所の検査ステーション及′び
2個の不良品排出路が合理的に配設されている。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く、本発明によれば、搬入、搬出時に於
て電子部品の搬送方向が逆になり、しかも該電子部品の
姿勢(平面内における角位置)が不変で、その上、検査
ステーションにおける位置決め精度が高く、かつ、複数
個の検査スペースをコンパクトに配置することができ、
更に、検査結果に従って検査不合格品を搬出ラインから
排出°することができるという優れた実用的効果を奏す
る。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明の電子部品検査装置の1実施
例を示し、第1図は平面図、第2図は第1図の8部付近
の斜視図、第3図は第1図のlll−■断面図を模式的
に描いた説明図である。第4図は従来の検査・搬送装置
の1例を示す平面図である。 ・1・・・搬入路、2・・・搬出路、4・・・案内レー
ル、7゜8・・・回転テーブル、9・・・電子部品を収
納1位置決めする座、11・・・送り爪、12.12’
検査ステーシヨン、13.13’・・・不良品排出路、
14・・・搬送レーン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 互いに平行な搬入路と搬出路とを備えた電子部品の検査
    装置において、前記搬入路の終点及び搬出路の始点にそ
    れぞれ対向せしめて1対の回転テーブルを設けて、これ
    ら1対の回転テーブルを互いに反対方向に間欠的に回転
    せしめる駆動手段を設けると共に、上記1対の回転テー
    ブルの間に前記の搬入、出路とほぼ直交する搬送レーン
    を設け、かつ、前記1対の回転テーブルに搭載されて回
    転する電子部品に対向せしめて検査手段及び不良品排出
    手段を設けたことを特徴とする電子部品検査装置。
JP59217292A 1984-10-18 1984-10-18 電子部品の搬送装置 Granted JPS6197899A (ja)

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JPS6197899A true JPS6197899A (ja) 1986-05-16
JPH0249539B2 JPH0249539B2 (ja) 1990-10-30

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4825185A (en) * 1987-02-19 1989-04-25 Kitagawa Industries Co., Ltd. Electric noise absorber
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US4972459A (en) * 1988-06-06 1990-11-20 Siemens Aktiengesellschaft Arc-preventing high voltage cable for an x-radiator
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