JPH0687884U - 可変ピッチ機構を持った複数デバイス搬送装置 - Google Patents
可変ピッチ機構を持った複数デバイス搬送装置Info
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- JPH0687884U JPH0687884U JP3409993U JP3409993U JPH0687884U JP H0687884 U JPH0687884 U JP H0687884U JP 3409993 U JP3409993 U JP 3409993U JP 3409993 U JP3409993 U JP 3409993U JP H0687884 U JPH0687884 U JP H0687884U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本考案は、トレイ1からコンタクト・ソケッ
ト5への搬入、又、逆にコンタクト・ソケット5からト
レイ1への搬出を、同時に複数個のデバイスを搬送する
ことで時間短縮させる。 【構成】 複数個デバイスを同時に移動できるキャリア
・アーム2、X軸ピッチを可変できるバッファ・ステー
ジ3、Y軸ピッチを可変できるバッファ・アーム4から
なり、トレイ1上の被測定デバイスを複数個同時にコン
タクト・ソケット5に搬送する。又、逆にコンタクト・
ソケット5上の被測定デバイスを複数個同時にトレイ1
に搬送する。X軸Y軸の位置合わせには、左右ねじを使
用することができる。
ト5への搬入、又、逆にコンタクト・ソケット5からト
レイ1への搬出を、同時に複数個のデバイスを搬送する
ことで時間短縮させる。 【構成】 複数個デバイスを同時に移動できるキャリア
・アーム2、X軸ピッチを可変できるバッファ・ステー
ジ3、Y軸ピッチを可変できるバッファ・アーム4から
なり、トレイ1上の被測定デバイスを複数個同時にコン
タクト・ソケット5に搬送する。又、逆にコンタクト・
ソケット5上の被測定デバイスを複数個同時にトレイ1
に搬送する。X軸Y軸の位置合わせには、左右ねじを使
用することができる。
Description
【0001】
本考案は、ICハンドラ等の内部へ複数の被測定デバイスを同時に搬入及び逆 に外部へ同時に搬出するためのX軸Y軸の可変ピッチ機構を持った複数デバイス 搬送装置に関するものである。
【0002】
従来のICハンドラのデバイス搬送は、図2に示すような手順でおこなわれる 。つまり、トレイ1に並んだ被測定デバイスをX軸Y軸に自由に動作するキャリ ア・アーム2が1個づつ吸着しトレイ1のピッチと違うコンタクトソケット5へ 移している。トレイ1は、多数個の被測定デバイスを小さい面積に収納するため にピッチが小さく、又、コンタクト・ソケット5は、試験部の物理的な大きさの 制限によりピッチを小さくできないため、双方のピッチに違いがある。複数個の 被測定デバイスを同時に試験する場合、試験の前にコンタクトソケット5の数と 同数回キャリア・アーム2が被測定デバイスをトレイ1からコンタクトソケット 5へ1個づつ運ぶ必要がある。
【0003】
従来のICハンドラで、複数個の被測定デバイスを同時に試験する場合、キャ リア・アーム2がトレイ1より1個づつ被測定デバイスを吸着してコンタクト・ ソケット5にセットする。この為、同時に試験する被測定デバイスが増えるに従 い、試験するまでのセット時間が長くなる。
【0004】 本考案が解決しようとする課題は、トレイ1からコンタクト・ソケット5への 搬入時間、又、逆にコンタクト・ソケット5からトレイ1への搬出時間を短縮す ることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】 本考案は、以上のような課題を解決するものであって、次のようなものである 。すなわち、本考案は、図1のように複数個デバイスを同時に移動できるキャリ ア・アーム2と、X軸ピッチを可変できるバッファ・ステージ3と、Y軸ピッチ を可変できるバッファ・アーム4とからなる。
【0006】 又、移動できる被測定デバイスを2個以内に限定する場合には、バッファ・ス テージ3あるいはバッファ・アーム4のどちらか一方のピッチのみを可変する構 成としてもよい。
【0007】
上記のように構成された機構を使用する事で、ピッチの違うトレイ1とコンタ クト・ソケット5の間で複数個の被測定デバイスを同時に搬送することができる 。
【0008】
(実施例1) 実施例1を図1の時間の経過に伴う被測定デバイスの移動を示す説明図に基づ いて説明する。まず(a)に示すように、トレイ1のピッチに寸法が合う吸着機 構を持ったキャリア・アーム2により、4個の被測定デバイスを同時に吸着し、 バッファ・ステージ3に被測定デバイスを運び同時に開放する。
【0009】 そして(b)に示すように、バッファ・ステージ3は、バッファ・アーム4の 下方に位置を移動しながら、同時にコンタクト・ソケット5のX軸のピッチに合 うよう被測定デバイスを中央からX軸の両側に2個づつ移動する。
【0010】 そして(c)に示すように、バッファ・アーム4は、X軸に移動したバッファ ・ステージ3より被測定デバイスを同時に吸着し、コンタクト・ソケット5の上 方に移動する。又、同時にバッファ・アーム4は、コンタクト・ソケット5のY 軸のピッチに合うよう、中央からY軸の両側に被測定デバイスを2個づつ移動す る。
【0011】 バッファ・ステージ3とバッファ・アーム4の移動方向は、ちょうど90度違 っており、可変ピッチ機構になっているこの機構により移動後のバッファ・アー ム4の4個の被測定デバイスの位置を、コンタクト・ソケット5のソケット位置 に一致させている。
【0012】 そして(d)に示すように、バッファ・ア−ム4は、コンタクト・ソケット5 に被測定デバイス4個を同時に開放する。4個の被測定デバイスを同時に搬送す ることで、従来の1個搬送に比較して高速化した動作を可能にできる。
【0013】 (実施例2) 実施例1は、トレイ1からコンタクト・ソケット5へ4個の被測定デバイスを 同時に移動するものであるが、実施例2では実施例1と逆の順序により、コンタ クト・ソケット5からトレイ1へ4個の被測定デバイスを同時に移動させる。
【0014】 (実施例3) 実施例3を図3に基づいて説明する。実施例3は、2個の被測定デバイスを移 動させる。これは、バッファ・アームによるY軸の移動をなくしたもので、バッ ファ・ステージ3でコンタクト・ソケット5のピッチに合うよう中央からX軸の 両側に被測定デバイスを2個同時に移動させる。
【0015】 又、上記の方法とは逆の順序により、コンタクト・ソケット5からトレイ1へ 被測定デバイス2個を移動させることができる。
【0016】 (実施例4) 実施例4を図4に基づいて説明する。実施例4は、2個の被測定デバイスを移 動させる。これは、バッファ・ステージによるX軸の移動をなくしたもので、バ ッファ・アーム4でコンタクト・ソケット5のピッチに合うよう中央からY軸の 両側に被測定デバイスを2個同時に移動させる。
【0017】 又、上記の方法とは逆の順序により、コンタクト・ソケット5からトレイ1へ 被測定デバイス2個を移動させることができる。
【0018】 (実施例5) 実施例を図1及び図5より図7に基づいて説明する。これは、図1のピッチの 違うトレイ1よりコンタクト・ソケット5へ、X軸またはY軸に中心から対象的 に被搬送物を動かせることができる2本の左右ねじを使ってピッチを合わせ、4 個の搬送物を同時に搬送するものである。
【0019】 まず、図1のトレイ1と同じピッチの吸着機構を持ったキャリア・アーム2に より、トレイ1上の4個の被試験デバイスを同時に吸着し、バッファ・ステージ 3上に運ぶ。
【0020】 バッファ・ステージのY軸のピッチはキャリア・アーム2と同じになっており 、X軸のピッチはキャリア・アーム2と同じピッチに図5のモータ13により合 わせる。キャリア・アーム2は、ピッチが同じになったバッファ・ステージ3上 に被試験デバイスを同時に開放する。
【0021】 次にバッファ・ステージ3のX軸は、コンタクト・ソケット5と同じピッチに なっているバッファ・アーム4のX軸のピッチと同じになるように、図5のモー タ13によりサブ・ステージ19のピッチを合わせる。
【0022】 次に、バッファ・アーム4のY軸はバッファ・ステージ3のY軸ピッチに図6 のモータ17により合わせる。
【0023】 つづいてバッファ・アーム4はモータ15によりバッファ・ステージ上に移動 し、バッファ・ステージ上の被試験デバイス4個を同時に吸着する。
【0024】 バッファ・アーム4のX軸は、コンタクト・ソケット5のピッチと同じになっ ており、Y軸のピッチをコンタクト・ソケット5のY軸ピッチに図6のモータ1 7により合わせる。
【0025】 バッファ・アーム4は、X軸Y軸ともにピッチが同じになったコンタクト・ソ ケット5上に図6のモータ15により移動し、被試験デバイス4個を同時に開放 する。
【0026】 以上のようなX軸Y軸の位置合わせは、左右ねじ12及び16の一点を中心に 両方向へ移動する構造により達成している。
【0027】
本考案は、以上説明したように構成されているので、以下に記載されるような 効果を奏する。
【0028】 バッファ・ステージ3とバッファ・アーム4をトレイ1とコンタトソケット5 の間に介在させることで、ピッチの違うトレイ1とコンタクト・ソケット5間の 複数の被測定デバイスの移動を高速にできる。
【図1】本考案の複数デバイス搬送装置の時間の経過に
伴う被測定デバイスの移動を示す説明図である。
伴う被測定デバイスの移動を示す説明図である。
【図2】従来のデバイス搬送装置の動作説明図である。
【図3】バッファ・ステージ3を利用したデバイス2個
搬送装置の時間の経過に伴う被測定デバイスの移動を示
す説明図である。
搬送装置の時間の経過に伴う被測定デバイスの移動を示
す説明図である。
【図4】バッファ・アーム4を利用したデバイス2個搬
送装置の時間の経過に伴う被測定デバイスの移動を示す
説明図である。
送装置の時間の経過に伴う被測定デバイスの移動を示す
説明図である。
【図5】実施例5のバッファ・ステージの上面図であ
る。
る。
【図6】実施例5のバッファ・アームの上面図及び下面
図である。
図である。
【図7】キャリア・アームの下面図である。
1 トレイ 2 キャリア・アーム 3 バッファ・ステージ 4 バッファ・アーム 5 コンタクト・ソケット 11 被搬送物 12、16 左右ねじ 13、15、17、18 モータ 14 右ねじ 19 サブ・ステージ 20 吸着アーム
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年7月29日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図1】
【図6】
【図7】
Claims (3)
- 【請求項1】 トレイ(1)から複数個のデバイスを同
時に吸着しバッファ・ステージ(3)に移動させるキャ
リア・アーム(2)と、複数個のデバイスをX軸の方向
に移動するバッファ・ステージ(3)と、バッファ・ス
テージ(3)上の複数個のデバイスを同時に吸着しY軸
の方向に移動しコンタクト・ソケット(5)にデバイス
を開放するバッファ・アーム(4)とで構成される、X
軸Y軸の可変ピッチ機構を持った複数デバイス搬送装
置。 - 【請求項2】 X軸、又は、Y軸の、どちらか一方向に
のみ移動する請求項1記載の可変ピッチ機構を持った複
数デバイス搬送装置。 - 【請求項3】 X軸Y軸の位置合わせに、左右ねじ(1
2、16)を使用する請求項1又は請求項2記載の可変
ピッチ機構を持った複数デバイス搬送装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993034099U JP2599034Y2 (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 可変ピッチ機構を持った複数デバイス搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1993034099U JP2599034Y2 (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 可変ピッチ機構を持った複数デバイス搬送装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0687884U true JPH0687884U (ja) | 1994-12-22 |
JP2599034Y2 JP2599034Y2 (ja) | 1999-08-30 |
Family
ID=12404836
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1993034099U Expired - Lifetime JP2599034Y2 (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 可変ピッチ機構を持った複数デバイス搬送装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2599034Y2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007199064A (ja) * | 2006-01-25 | 2007-08-09 | Techwing Co Ltd | テストハンドラー及びテストハンドラーのローディング方法 |
JP2009047673A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Secron Co Ltd | テストハンドラーにおいて半導体装置を移送する方法及び装置 |
TWI660898B (zh) * | 2018-12-11 | 2019-06-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 電子元件移料裝置及其應用之作業分類設備 |
TWI669260B (zh) * | 2019-01-18 | 2019-08-21 | 鴻勁精密股份有限公司 | Electronic component variable distance device and operation classification device thereof |
-
1993
- 1993-05-31 JP JP1993034099U patent/JP2599034Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007199064A (ja) * | 2006-01-25 | 2007-08-09 | Techwing Co Ltd | テストハンドラー及びテストハンドラーのローディング方法 |
JP4652348B2 (ja) * | 2006-01-25 | 2011-03-16 | テクウィング コー リミティッド | テストハンドラー |
JP2009047673A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Secron Co Ltd | テストハンドラーにおいて半導体装置を移送する方法及び装置 |
TWI660898B (zh) * | 2018-12-11 | 2019-06-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 電子元件移料裝置及其應用之作業分類設備 |
TWI669260B (zh) * | 2019-01-18 | 2019-08-21 | 鴻勁精密股份有限公司 | Electronic component variable distance device and operation classification device thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2599034Y2 (ja) | 1999-08-30 |
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Legal Events
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