JPS6171952U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6171952U JPS6171952U JP15687284U JP15687284U JPS6171952U JP S6171952 U JPS6171952 U JP S6171952U JP 15687284 U JP15687284 U JP 15687284U JP 15687284 U JP15687284 U JP 15687284U JP S6171952 U JPS6171952 U JP S6171952U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- electron
- electron microscope
- bends
- current flowing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 8
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Description
図は、本考案の一実施例を示す構成図である。
1…電子銃、2…軸合せコイル、3,3′…電
子ビーム、4…集束レンズ、5…走査コイル、6
…対物レンズ、7…試料、8…試料台、9…2次
電子検出器、10…鏡筒、11…加速用電源、1
2…レンズ系電源、13…検出器用電源、14…
信号増幅器、15…制御部、16…操作表示部。
子ビーム、4…集束レンズ、5…走査コイル、6
…対物レンズ、7…試料、8…試料台、9…2次
電子検出器、10…鏡筒、11…加速用電源、1
2…レンズ系電源、13…検出器用電源、14…
信号増幅器、15…制御部、16…操作表示部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 電子銃から出射された電子ビームを集束し
て所定の方向に走査しながら試料に照射せしめ、
発生乃至は透過した電子を検出処理して表示手段
上に拡大画像を再生するように構成された電子顕
微鏡において、観察時の各種動作条件を変更した
時に、電子ビームを一時的に遮断する電子ビーム
遮断機構を設けたことを特徴とする電子顕微鏡。 (2) 前記電子ビーム遮断機構として、軸合せコ
イルに流す電流を制御して電子ビームを曲折せし
める機構を用いたことを特徴とする実用新案登録
請求の範囲第1項記載の電子顕微鏡。 (3) 前記電子ビーム遮断機構として、走査コイ
ルに流す電流を制御して電子ビームを曲折せしめ
る機構を用いたことを特徴とする実用新案登録請
求の範囲第1項記載の電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984156872U JPH04522Y2 (ja) | 1984-10-16 | 1984-10-16 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1984156872U JPH04522Y2 (ja) | 1984-10-16 | 1984-10-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6171952U true JPS6171952U (ja) | 1986-05-16 |
JPH04522Y2 JPH04522Y2 (ja) | 1992-01-09 |
Family
ID=30714878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1984156872U Expired JPH04522Y2 (ja) | 1984-10-16 | 1984-10-16 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04522Y2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5577000A (en) * | 1978-12-06 | 1980-06-10 | Hitachi Ltd | Electron beam radiation device |
JPS5957849U (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-16 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡等の試料交換装置 |
JPS60115468A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-21 | Fuji Xerox Co Ltd | プリンタ |
-
1984
- 1984-10-16 JP JP1984156872U patent/JPH04522Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5577000A (en) * | 1978-12-06 | 1980-06-10 | Hitachi Ltd | Electron beam radiation device |
JPS5957849U (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-16 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡等の試料交換装置 |
JPS60115468A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-21 | Fuji Xerox Co Ltd | プリンタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04522Y2 (ja) | 1992-01-09 |
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