JPS61290817A - Cmos高電圧スイツチ - Google Patents

Cmos高電圧スイツチ

Info

Publication number
JPS61290817A
JPS61290817A JP61141204A JP14120486A JPS61290817A JP S61290817 A JPS61290817 A JP S61290817A JP 61141204 A JP61141204 A JP 61141204A JP 14120486 A JP14120486 A JP 14120486A JP S61290817 A JPS61290817 A JP S61290817A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
source
output
channel mos
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61141204A
Other languages
English (en)
Inventor
ウェイーティ・リュー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advanced Micro Devices Inc
Original Assignee
Advanced Micro Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advanced Micro Devices Inc filed Critical Advanced Micro Devices Inc
Publication of JPS61290817A publication Critical patent/JPS61290817A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/12Programming voltage switching circuits

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の背景] この発明は一般に、切換回路に関するものであって、特
に、デコーダの出力と、2つの分離した信号経路が設け
られているイレイザブルでプログラマブルなリードオン
リメモリ(EPROM)へ゛の入力の間をインターフェ
イスさせるための相補形金属酸化物半導体(CMOS)
高電圧スイッチに関するものである。
一般に既知のように、高電圧はEPROMセルをプログ
ラムしたり、または書込むことが所望されるとき典型的
に必要とされ、そして低電圧はEPROMセルを読出す
ことが所望されるとき、典型的に必要とされる。デコー
ダの出力とEPROMセルの間の接続に適合された従来
のCMOS高電圧スイッチは第1図に例示され、「先行
技術」と示されている。この先行技術のスイッチは、低
電圧信号経路と高電圧信号経路の両方が同じトランジス
タを、すなわち、PチャネルMOSトランジスタP4お
よびNチャネルMOSトランジスタN3を通過するとい
う不利な点がある。これらのトランジスタは直列に接続
されるため、それらのターン矛ン抵抗値は比較的高い。
その結果、スイッチの動作速度は比較的遅い。さらに、
低電圧動作の間、出力接続点4での電圧は電源電位vC
Cよりも1しきい値電圧降下分低いところにある。
それゆえ、本来のまたは空乏モード型のトランジスタを
含むようにスイッチの設計を修正することなく出力の接
続点で完全な電源電位を得ることはできないであろう。
しかしながら、そのようなトランジスタを製作するには
処理費用がかさむので、この設計を変えることは受は入
れ難い。
それゆえ、第1の、すなわちプログラム動作モードの間
、高電圧を収容するための第1の信号経路と、第2の、
すなわち読出し動作モードの間、低電圧を収容するため
の第2の信号経路を設けるために、すべてのMOS)−
ランジスタで実現された高電圧スイッチを設けることが
望ましく、それによって動作の速度は増加し、そしてラ
ッチアップの免疫性は改良される。
[発明の要約] したがって、この発明の一般の目的は、動作の速度が増
加し、そしてラッチアップの免疫性が改良される、改良
されたCMOS高電圧スイッチを提供することである。
この発明の目的は、デコーダの出力と、2つの分離した
信号経路を有するイレイザブルでプログラマブルなリー
ドオンリメモリへの入力との間をインターフェイスさせ
るためのCMOS高電圧スイッチを提供することである
この発明の別の目的は、プログラムの動作モードの間、
高電圧を収容するための第1の信号経路と、読出しの動
作モードの間、低電圧を収容するための第2の信号経路
を有するCMOS高電圧スイッチを提供することである
この発明のさらに別の目的は、出力接続点に接続された
切換素子を含み、第1の動作モードの間、出力接続点が
第1のより高い電圧まで汲み上げられることを可能にし
、そして第2の動作モードの間、出力接続点を第2のよ
り低い電圧に維持するためのCMOS高電圧スイッチを
提供することである。
この発明のさらに別の目的は、PチャネルMOS切換ト
ランジスタおよびPチャネルMOS電流制限トランジス
タから形成される、切換素子を含み、第1と第2の動作
モードの間の出力接続点を切換えるためのCMOS’高
電圧スイッチを提供することである。
これらの狙いおよび目的に従えば、この発明はデコーダ
の出力と、デコーダの出力から入力信号を受取るための
入力手段を含むイレイザブルでプログラマブルなリード
オンリメモリへの入力との間をインターフェイスさせる
ためのCMOS高電圧スイッチの提供に関する。導通経
路とゲート電極を有する制御素子が設けられる。導通経
路の一方の端部は入力手段の出力に接続される。導通経
路の他方の端部は出力接続点に接続される。ゲート電極
は電源電位に接続される。汲み上げ手段は導通経路の他
方の端部へ接続され、第1の動作モードの間、第1のよ
り高い電圧まで出力接続点を汲み上げる。切換手段もま
た導通経路の他方の端部に接続され、第2の動作モード
の間、第2のより低い電圧に出力接続点を切換える。
この発明のこれらおよびその他の目的および利点は、す
べてにわたって同じ参照番号が対応する部品を示してい
る添付図面に関連して以下の詳細な説明を読むと、より
一層明らかになるであろう。
[好ましい実施例の説明] 図面を詳細に参照すると、第1図にはデコーダ12の出
力とイレイザブルでプログラブルなリードオンリメモリ
(EFROM)14の入力との間に相互接続された、先
行技術の従来のCMOS高電圧スイッチ10の略回路図
が例示される。接続点2のデコーダの出力は高電圧スイ
ッチ10の入力に接続される。デコーダ12が選択され
ているとき、その出力は零ボルトのオーダのローすなわ
ち「0」論理レベルである。デコーダが選択されでいな
いと門、その出力は約+5Vのハイすなわち「1」論理
レベルである。接続点4の高電圧スイッチ10の出力は
EPOM14の入力に接続される。
・高電圧スイッチは入力手段15と、制御素子17と、
汲み上げ手段19とを含む。入力手段15はPチャネル
MOS)ランジスタP4およびNチャネルMOS)ラン
ジスタN1から形成されるCMOSインバータ16から
なり、それらのゲート電極は一緒に、そして入力接続点
2に接続され、デコーダ12から入力信号を受取る。共
通のゲート電極はインバータ16の入力を規定する。ト
ランジスタP4およびN1のドレイン電極もまた、−緒
に接続され、そしてインバータ16の出力を規定する。
トランジスタP4のソースは典型的には+5Vで動作さ
れる、第1のより低い電源電位vCCに接続され、そし
てトランジスタN1のソースは接地電位に接続される。
制御索子17は導通経路とゲート電極とを有するNチャ
ネルMOSバストランジスタN3を含む。
トランジスタN3のドレインおよびソース電極は導通経
路のそれぞれの端部を規定する。トランジスタN3はそ
のゲートが第1のより低い電源電位vCCに接続され、
そのドレインがインバータ16の出力に接続され、そし
てそのソースは出力接続点4に接続される。
汲み上げ手段19はそのゲート電極がバストランジスタ
N3のソースに接続され、そしてそのドレイン電極が第
2のより高い電位vPPに接続されるNチャネルMOS
)ランジスタN2を含む。
第2の電源電位vPPはプログラムまたは書込動作モー
ドの間、約+10Vで典型的に動作され、そして読出動
作モードの間、はぼ+5Vで典型的に動作される。トラ
ンジスタN2は電流制限抵抗器としての働きをする。ト
ランジスタN2のソースは、ダイオードとして機能する
NチャネルMOS!荷転送トランジスタN5のドレイン
およびゲート電極と、コンデンサCの一方の端部とに接
続される。コンデンサCの他方の端部は入力接続点18
に接続され、自走発振器20からパルスPUMPXを受
取る。電荷転送トランジスタN5のソースはバストラン
ジスタN3のソースに接続される。
プログラムすなわち第1の動作モードの間、第2の電源
電位vppが約+tOVで、デコーダ12が選択されて
いると仮定するとき、PチャネルトランジスタP4はオ
ンにされ、そのためバストランジスタN3のドレインは
第1のより低い電源電位VCCのレベルになる。このよ
り低い電源電位vCCもまたバストランジスタN3のゲ
ートに与えられるので、それはオンになり、そして高電
圧スイッチの出力接続点4は最初は低い電源電位vCC
よりも工しきい値電圧降下分低いところにある。さらに
、接続点3は低い電源電位VCCよりも2しきい値電圧
降下分低く、すなわち約+3Vになるであろう。これは
各しきい値電圧降下刃(約+1vであることを仮定して
いる。こうして、接続点3の電圧は約+3vのこの電圧
からコンデンサCを介して発振器20によって汲み上げ
られ始める。接続点4の電圧は第2の電源電位vPPに
向かって汲み上げられ、そしてその最終状態でそこに到
達するであろう。
読出しすなわち第2の動作モードの間、第2のより高い
電源電位は約+5Vで、デコーダ12が接続されている
と仮定するとき、PチャネルトランジスタP4は再びオ
ンとなり、そのため)くストランジスタN3のドレイン
は第1の電源電位vCCとなる。再び、バストランジス
タN3はオンになり、そのため出力接続点4は電源電位
vCCよりも工しきい値電圧降下分低いところに留まっ
ているであろう。
こうして、デコーダ12からの入力信号はプログラム動
作モードと読出動作モードの両方でPチャネルトランジ
スタP4とNチャネルバストランジスタN3の直列接続
を通って与えられなければならない。トランジスタP4
およびN3のターンオン抵抗値は比較的高いので、高電
圧スイッチ10の動作速度は減じられる。さらに、読出
モードの間、出力接続点4の最終電圧はバストランジス
タN3のためのしきい値電圧降下の損失のため、完゛全
な第16より低い電源電位vCCに達しない。
第2図はすべてのCMOS)ランジスタで実現されるこ
の発明の高電圧スイッチ110の略回路図である。高電
圧スイッチ110は第1図のスイッチ10を改良したも
ので、2つの分離した信号経路を設け、そこでは第1の
信号経路がプログラム動作モードの間用いられ、そして
第2の信号経路が読出動作モードの間用いられる。高電
圧スイッチ110は、スイッチ10の入力手段15、制
御素子17および汲み上げ手段19に含まれる回路要素
をすべて含み、さらに付加の構成要素として3つのPチ
ャネルMOSトランジスタPI、P6およびP7と、1
つのNチャネルMOS)ランジスタN8とを含む。第1
図と同じまたは同じように機能する構成要iは同じ参照
番号が与えられ、そして一般に1よ再び説明されない。
高電圧スイッチ110は第1図のスイッチ10を利用し
翫切換手段22とレベルシフト手段24をさらに含む。
切換手段22はPチャネルMOS切換トランジスタP1
とPチャネルMOS電流制限トランジスタP6によって
形成される。トランジスタP1はそのソースが第1のよ
り低い電源電位VCCに接続され、そのゲートは論理電
圧VPXCに接続され、そしてそのドレインがトランジ
スタP6のソースに接続される。トランジスタP6のゲ
ートはデコーダ12の出力に接続され、そしてトランジ
スタP6のドレインはトランジスタN2のゲートとトラ
ンジスタN3のソースに接続される出力接続点4に接続
される。
レベルシフト手段24はPチャネルMOS電流制限トラ
ンジスタP7とNチャネルMOS%荷転送トランジスタ
N8より形成されろ。電流制限トランジスタP7はその
ソースが第1のより低い電源電位vCCに接続され、そ
してそのゲートがデコーダ12の出力に接続される。ト
ランジスタP7のドレインはダイオードとして機能する
電荷転送トランジスタN8のゲートおよびドレイン電極
に接続される。トランジスタN8のソースはNチャネル
電荷転送トランジスタN5(接続点3)のゲートおよび
ドレイン電極に接続される。
プログラムすなわち第1の動作モードの間、第2のより
高い電源電位vPPは10ボルトで動作され、そして入
力端子26の論理電圧vpxcは切換トランジスタP1
をオフにするようにハイ論理レベルである。デコーダ1
2が選択される状態では、トランジスタP4はオンにさ
れ、そのためバストランジスタN3のドレインは第1の
より低い電源電位vCCになる。トランジスタN3のゲ
ートが電源電位vCCに接続されると、それはオンにな
り、そのため出力接続点4は電源電位vCCよりも工し
きい値電圧低いところにある。しかしながら、トランジ
スタP7とN8がオンとなるので、接続点3もまた、電
源電位VCCよりも1しきい値電圧降下低いところにあ
る。再びしきい値電圧降下が+1vと仮定すると、接続
点3は約+4Vとなる。その結果、接続点3の電圧は第
1図の+3ボルトに代わって+4vのこの電圧から汲み
上げられ始める。こうして、第2図の接続点3の電圧は
汲み上げられ、そして第1図よりも早く第2の電源電位
vPPに達し、より高い動作速度を達成する。
読出しすなわち第2の動作モードの間、第2の電源電位
vPPは+5Vで動作され、そして入力端子26の論理
電圧vpxcはトランジスタP1をオンにさせるように
ロー論理レベルとなる。トランジスタP6もまたオンと
なるので、完全な電源電位vCCはしきい値電圧降下を
損失することなく出力接続点4に達する。ここでわかる
ように、この第2の動作モードの間、第1の信号経路を
規定するトランジスタP4およびバストランジスタN3
を通った入力信号は、デコーダ12が選択されていない
ときは用いられず、デコーダが選択されていないときの
み用いられる。これに反して、デコーダが選択されてい
ると、第2の信号経路は切換トランジスタP1をオンに
するため用いられ、そのためラッチアップの免疫性を改
良すると同様動作の速度もより高くなる。
先の詳細な説明からこの発明はプログラム動作モードの
間、高電圧を収容するための第1の信号経路と、読出動
作モードの間、低電圧を収容するた−めの第2の信号経
路を含み、それによって動作の速度を増加し、そしてラ
ッチアップの免疫性を改良する改良されたCMOS高電
圧スイッチを提供することがわかる。この発明の高電圧
スイッチは、出力接続点に接続される切換手段を含み、
第1の動作モードの間、出力接続点が第1のより高い電
圧にまで汲み上げられることを可能にし、第2の動作モ
ードの間、出力モードを第2のより低い電圧に切換える
この発明の現在の好ましい実施例が例示され説明されて
きたが、発明の範囲から逸脱することなく、種々の変化
や修正がなされてもよく、同等のものがそれの要素に代
用されてもよいことは当業者によって理解されるであろ
う。さらに、それの中心の範囲から逸脱することなく、
発明の教示に特定の状況または材料を適合させるように
多くの修正をしてもよい。それゆえ、この発明はこの発
明を実施するために考えられる最善の方法として開示さ
れた特定の実施例に限定されはしないが、この発明が添
付の特許請求の範囲の範囲内にある実施例のすべてを含
むことが意図される。
【図面の簡単な説明】
第1図は先行技術の従来の0MOS高電圧スイッチの略
回路図である。 第2図はこの発明の原理に従って製造されたCMOS高
電圧スイッチの略回路図である。 図において、3および4は接続点、10は従来のCMO
S高電圧スイッチ、12はデコーダ、14はEFROM
セル、15は入力手段、16はCMOSインバータ、1
7は制御素子、18は入力接続点、19は汲み上げ手段
、20は自走発振器、110は0MOS高電圧スイッチ
、22は切換手段、24はレベルシフト手段、26は接
続点である。 特許出願人 アドバンスト・マイクロ・デイノくイシズ
・インコーホレーテッド

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)デコーダ出力と、イレイザブルでプログラマブル
    なリードオンリメモリへの入力との間をインターフェイ
    スさせるためのCMOS高電圧スイッチであって: デコーダの出力から入力信号を受取るための入力手段と
    ; 導通経路とゲート電極を有する制御素子とを含み、導通
    経路の一方の端部が前記入力手段の出力に接続され、導
    通経路の他方の端部が出力接続点に接続され、ゲート電
    極が第1のより低い電源電位に接続され; 導通経路の前記他方の端部に接続され、第1の動作モー
    ドの間、出力接続点を第1のより高い電圧にまで汲み上
    げるためのポンプ手段と; 導通経路の前記他方の端部にまた接続され、第2の動作
    モードの間、第2のより低い電圧に出力接続点を切換え
    るための切換手段とを含む、スイッチ。
  2. (2)前記入力手段が、PチャネルMOSトランジスタ
    とNチャネルMOSトランジスタからなるインバータで
    形成され、それらのゲート電極は一緒に接続されてその
    入力を規定し、それらのドレイン電極は一緒に接続され
    てその出力を規定し、前記Pチャネルトランジスタのソ
    ースは第1のより低い電源電位に接続され、Nチャネル
    トランジスタのソースは接地電位に接続される、特許請
    求の範囲第1項に記載のスイッチ。
  3. (3)前記制御素子が、そのドレインが前記インバータ
    の出力に接続され、そのソースが出力接続点に接続され
    るNチャネルMOSバストランジスタを含む、特許請求
    の範囲第2項に記載のスイッチ。
  4. (4)前記ポンプ手段がNチャンネルMOS電流制限ト
    ランジスタを含み、そのドレインは第2のより高い電源
    電位に接続され、そのゲートは前記バストランジスタの
    ソースに接続され、そのソースがダイオードとしての働
    きをする第1のNチャネルMOS電荷転送トランジスタ
    のゲートおよびドレイン電極に、そしてコンデンサの一
    方の端部に接続されており、前記第1の電荷転送トラン
    ジスタのソースは前記バストランジスタのソースに接続
    され、コンデンサの他方の端部は自走発振器に接続され
    る、特許請求の範囲第3項に記載のスイッチ。
  5. (5)前記切換手段がPチャネルMOS切換トランジス
    タと第1のPチャネルMOS電流制限トランジスタを含
    み、前記切換トランジスタはそのソースが第1のより低
    い電源電位に接続され、そのゲートが論理電圧に接続さ
    れ、そしてそのドレインが前記第1のPチャネル電流制
    限トランジスタのソースに接続され、前記第1のPチャ
    ネル電流制限トランジスタはそのゲートが前記デコーダ
    の出力に接続され、そしてそのドレインは出力接続点に
    接続される、特許請求の範囲第4項に記載のスイッチ。
  6. (6)前記論理電圧がハイすなわち「1」論理レベルで
    第1の動作モードを生み出し、そして前記論理電圧がロ
    ーすなわち「0」論理レベルで第2の動作モードを生み
    出す、特許請求の範囲第5項に記載のスイッチ。
  7. (7)前記スイッチ手段が第2のPチャネルMOS電流
    制限トラジスタとダイオードとして働く第2のNチャネ
    ルMOS電荷転送トランジスタからなるレベルシフト手
    段をさらに含み、前記第2のPチャネル電流制限トラン
    ジスタはそのソースが第1のより低い電源電位に接続さ
    れ、そのゲートがデコーダの出力に接続され、そしてそ
    のドレインが第2の電荷転送トランジスタのゲートとド
    レインに接続され、第2の電荷転送トランジスタのソー
    スは前記第1の電荷転送トランジスタのゲートとドレイ
    ンに接続される、特許請求の範囲第6項に記載のスイッ
    チ。
  8. (8)第1の電源電位が約+5Vで、第2の電源電位が
    約+10Vである、特許請求の範囲第7項に記載のスイ
    ッチ。
  9. (9)第2の動作モードの間、出力接続点の第2のより
    低い電圧がしきい値電圧降下の損失なしに第1の電源電
    位に近い、特許請求の範囲第8項に記載のスイッチ。
  10. (10)デコーダが選択されているとき、入力信号がロ
    ーすなわち「0」論理レベルである、特許請求の範囲第
    9項に記載のスイッチ。
  11. (11)デコーダの出力と、イレイザブルでプログラマ
    ブルなリードオンリメモリへの入力との間をインターフ
    ェイスさせるためのCMOS高電圧スイッチであって: デコーダの出力から入力信号を受取るための入力手段と
    ; 導通経路とゲート電極を有する制御素子とを含み、導通
    経路の一方の端部が前記入力手段の出力に接続され、導
    通経路の他方の端部が出力接続点に接続され、ゲート電
    極が第1のより低い電源電位に接続され; 導通経路の前記他方の端部に接続され、第1の動作モー
    ドの間、出力接続点を第1のより高い電圧にまで汲み上
    げるための汲み上げ手段と;さらに 第2の動作モードの間、出力接続点を第2のより低い電
    圧に切換えるためのPチャネルMOS切換トランジスタ
    を含む切換手段を含み、前記切換トランジスタは論理電
    圧に応答して第1の動作モードと第2の動作モードの間
    で切換わる、スイッチ。
  12. (12)前記入力手段がPチャネルMOSトランジスタ
    とNチャネルMOSトランジスタからなるインバータで
    形成され、それらのゲート電極は一緒に接続されてその
    入力を規定し、そしてそれらのドレイン電極は一緒に接
    続されてその出力を規定し、前記Pチャネルトランジス
    タのソースは第1のより低い電源電位に接続され、Nチ
    ャネルトランジスタのソースは接地電位に接続される、
    特許請求の範囲第11項に記載のスイッチ。
  13. (13)前記制御素子が、そのドレインが前記インバー
    タの出力に接続され、そしてそのソースが出力接続点に
    接続されるNチャネルMOSバストランジスタを含む、
    特許請求の範囲第11項に記載のスイッチ。
  14. (14)前記ポンプ手段がNチャネルMOS電流制限ト
    ランジスタを含み、そのドレインは第2のより高い電源
    電位に接続され、そのゲートは前記バストランジスタの
    ソースに接続され、そのソースがダイオードとしての働
    きをする第1のNチャネルMOS電荷転送トランジスタ
    のゲートおよびドレイン電極に、そしてコンデンサの一
    方の端部に接続され、前記第1の電荷転送トランジスタ
    のソースは前記バストランジスタのソースに接続され、
    コンデンサの他方の端部は自走発振器に接続される、特
    許請求の範囲第13項に記載のスイッチ。
  15. (15)前記切換手段が第1のPチャネルMOS電流制
    限トランジスタをさらに含み、前記Pチャネル切換トラ
    ンジスタは、そのソースが第1の電源電位に接続され、
    そのゲートが論理電圧に接続され、そしてそのドレイン
    が前記第1のPチャネル電流制限トランジスタのソース
    に接続され、前記第1のPチャネル電流制限トランジス
    タはそのゲートが前記デコーダの出力に接続され、そし
    てそのドレインが出力接続点に接続される、特許請求の
    範囲第11項に記載のスイッチ。
  16. (16)前記論理電圧がハイすなわち「1」論理レベル
    で第1の動作モードを生み出し、そして前記論理電圧が
    ローすなわち「0」論理レベルで第2の動作モードを生
    み出す、特許請求の範囲第15項に記載のスイッチ。
  17. (17)前記切換手段が第2のPチャネルMOS電流制
    限トランジスタとダイオードとしての働きをする第2の
    NチャネルMOS電荷転送トランジスタからなるレベル
    シフト手段をさらに含み、前記第2のPチャネル電流制
    限トランジスタはそのソースが第1のより低い電源電位
    に接続され、そのゲートがデコーダの出力に接続され、
    そしてそのドレインが第2の電荷転送トランジスタのゲ
    ートおよびドレインに接続され、第2の電荷転送トラン
    ジスタのソースは前記第1の電荷転送トランジスタのゲ
    ートおよびドレインに接続される、特許請求の範囲第1
    6項に記載のスイッチ。
  18. (18)第1の電源電位が約+5Vで、第2の電源電位
    が約+10Vである、特許請求の範囲第14項に記載の
    スイッチ。
  19. (19)第2の動作モードの間、出力接続点の第2のよ
    り低い電圧がしきい値電圧降下の損失なく第1の電源電
    位に近い、特許請求の範囲第18項に記載のスイッチ。
  20. (20)デコーダが選択されているとき、入力信号がロ
    ーすなわち「0」論理レベルである、特許請求の範囲第
    11項に記載のスイッチ。
JP61141204A 1985-06-17 1986-06-16 Cmos高電圧スイツチ Pending JPS61290817A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US745568 1985-06-17
US06/745,568 US4689495A (en) 1985-06-17 1985-06-17 CMOS high voltage switch

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61290817A true JPS61290817A (ja) 1986-12-20

Family

ID=24997255

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61141204A Pending JPS61290817A (ja) 1985-06-17 1986-06-16 Cmos高電圧スイツチ

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4689495A (ja)
EP (1) EP0206710A3 (ja)
JP (1) JPS61290817A (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0209805B1 (en) * 1985-07-22 1993-04-07 Hitachi, Ltd. Semiconductor device having bipolar transistor and insulated gate field effect transistor
US5197033A (en) * 1986-07-18 1993-03-23 Hitachi, Ltd. Semiconductor device incorporating internal power supply for compensating for deviation in operating condition and fabrication process conditions
JPS6252797A (ja) * 1985-08-30 1987-03-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
IT1204375B (it) * 1986-06-03 1989-03-01 Sgs Microelettronica Spa Generatore di polarizzazione di sorgenti per transistori naturali in circuiti integrati digitali in tecnologia mos
US4814647A (en) * 1987-04-06 1989-03-21 Texas Instruments Incorporated Fast rise time booting circuit
JPH0748310B2 (ja) * 1987-04-24 1995-05-24 株式会社東芝 半導体集積回路
US4805152A (en) * 1987-09-03 1989-02-14 National Semiconductor Corporation Refresh cell for a random access memory
US4943961A (en) * 1988-05-05 1990-07-24 Rca Licensing Corporation Memory retention system for volatile memory devices
JPH077912B2 (ja) * 1988-09-13 1995-01-30 株式会社東芝 昇圧回路
IT1228166B (it) * 1988-10-06 1991-05-31 Sgs Thomson Microelectronics Circuito programmabile di selezione statica per dispositivi programmabili
US4954731A (en) * 1989-04-26 1990-09-04 International Business Machines Corporation Wordline voltage boosting circuits for complementary MOSFET dynamic memories
US4999529A (en) * 1989-06-30 1991-03-12 At&T Bell Laboratories Programmable logic level input buffer
US4963765A (en) * 1989-07-03 1990-10-16 Texas Instruments Incorporated High speed CMOS transition detector circuit
DE69118214T2 (de) * 1990-01-23 1996-10-31 Nippon Electric Co Digitaler Halbleiterschaltkreis
US5038325A (en) * 1990-03-26 1991-08-06 Micron Technology Inc. High efficiency charge pump circuit
US5023465A (en) * 1990-03-26 1991-06-11 Micron Technology, Inc. High efficiency charge pump circuit
US5157280A (en) * 1991-02-13 1992-10-20 Texas Instruments Incorporated Switch for selectively coupling a power supply to a power bus
KR940008206B1 (ko) * 1991-12-28 1994-09-08 삼성전자 주식회사 고전압 스위치 회로
GB2291296B (en) * 1991-12-28 1996-04-17 Samsung Electronics Co Ltd Switching circuit
JP3890614B2 (ja) * 1995-06-19 2007-03-07 富士通株式会社 昇圧電圧供給回路
JP3431774B2 (ja) * 1995-10-31 2003-07-28 ヒュンダイ エレクトロニクス アメリカ 混合電圧システムのための出力ドライバ
US5767734A (en) * 1995-12-21 1998-06-16 Altera Corporation High-voltage pump with initiation scheme
JP4043060B2 (ja) * 1996-06-14 2008-02-06 富士通株式会社 トランジスタのしきい値補正回路及び半導体記憶装置並びにしきい値補正方法
US6188265B1 (en) 1997-12-12 2001-02-13 Scenix Semiconduction, Inc. High-voltage NMOS switch
US6388475B1 (en) * 1999-12-29 2002-05-14 Intle Corporation Voltage tolerant high drive pull-up driver for an I/O buffer
US6559690B2 (en) * 2001-03-15 2003-05-06 Micron Technology, Inc. Programmable dual drive strength output buffer with a shared boot circuit
JP4199765B2 (ja) * 2005-12-02 2008-12-17 マイクロン テクノロジー,インコーポレイテッド 高電圧スイッチング回路
JP4357546B2 (ja) * 2007-06-07 2009-11-04 株式会社東芝 半導体装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2089612B (en) * 1980-12-12 1984-08-30 Tokyo Shibaura Electric Co Nonvolatile semiconductor memory device
GB2094086B (en) * 1981-03-03 1985-08-14 Tokyo Shibaura Electric Co Non-volatile semiconductor memory system
JPS5891680A (ja) * 1981-11-26 1983-05-31 Fujitsu Ltd 半導体装置
JPS58114396A (ja) * 1981-12-26 1983-07-07 Toshiba Corp 不揮発性メモリ−
US4441172A (en) * 1981-12-28 1984-04-03 National Semiconductor Corporation Semiconductor memory core program control circuit
US4442481A (en) * 1982-04-07 1984-04-10 Honeywell Inc. Low power decoder circuit
JPS58185091A (ja) * 1982-04-24 1983-10-28 Toshiba Corp 昇圧電圧出力回路および昇圧電圧出力回路を備えたアドレスデコ−ド回路
JPS59124095A (ja) * 1982-12-29 1984-07-18 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
EP0137245B1 (en) * 1983-08-30 1990-03-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit
JPS6052112A (ja) * 1983-08-31 1985-03-25 Toshiba Corp 論理回路
US4638182A (en) * 1984-07-11 1987-01-20 Texas Instruments Incorporated High-level CMOS driver circuit

Also Published As

Publication number Publication date
EP0206710A2 (en) 1986-12-30
EP0206710A3 (en) 1988-10-26
US4689495A (en) 1987-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61290817A (ja) Cmos高電圧スイツチ
US5422590A (en) High voltage negative charge pump with low voltage CMOS transistors
US5365121A (en) Charge pump with controlled ramp rate
JPS6238617A (ja) 出力回路装置
JPH0584597B2 (ja)
JPH09198887A (ja) 高電圧発生回路
US4725746A (en) MOSFET buffer circuit with an improved bootstrapping circuit
JPH11273384A (ja) 半導体装置
KR930001654B1 (ko) 반도체 메모리 집적회로
EP0259861A1 (en) Buffer circuit operable with reduced power consumption
KR100308208B1 (ko) 반도체집적회로장치의입력회로
US4317051A (en) Clock generator (buffer) circuit
RU2137294C1 (ru) Моп-устройство включения высоких напряжений на полупроводниковой интегральной схеме
EP0063357B1 (en) Drive circuit
US4451748A (en) MOS High voltage switching circuit
JPS6237472B2 (ja)
JPH0252460B2 (ja)
US20030094971A1 (en) Voltage translator
EP0068892A2 (en) Inverter circuit
WO2023107885A1 (en) Active bootstrapping drivers
EP0045751A4 (en) BUFFER SWITCHING.
US4525640A (en) High performance and gate having an "natural" or zero threshold transistor for providing a faster rise time for the output
KR100358254B1 (ko) 반도체칩상에서비교적높은전압을스위칭하기위한회로장치및상기회로장치를동작시키기위한방법
JP3369771B2 (ja) 半導体集積回路
JPS59231916A (ja) 半導体回路