JPS61285719A - ドライエツチング装置 - Google Patents

ドライエツチング装置

Info

Publication number
JPS61285719A
JPS61285719A JP12734285A JP12734285A JPS61285719A JP S61285719 A JPS61285719 A JP S61285719A JP 12734285 A JP12734285 A JP 12734285A JP 12734285 A JP12734285 A JP 12734285A JP S61285719 A JPS61285719 A JP S61285719A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
etching
variability
wafer
electrode plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12734285A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadahiko Murata
村田 孔彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP12734285A priority Critical patent/JPS61285719A/ja
Publication of JPS61285719A publication Critical patent/JPS61285719A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はドライエツチング装置に関し、特に平行平板型
ドライエツチング装置の電極板形状に関する。
〔従来の技術〕
従来微細加工技術として平行平板型の反応性イオンエツ
チング(RIE)装置がしばしば用いられる。このよう
な従来の平行平板型ドライエツチング装置のエツチング
深さバラツキの調整方法について説明する。
第2図に示す様に、平行平板型ドライエツチング装置の
カソードカップル方式の構造はエツチングウェハー21
を乗せるウェハーホルダー(カソード板)22と対向す
る電極板(アノード板)26を有し、所定の真空ポンプ
などで、チャンバー内を所定の真空度まで排気する。次
に反応ガスを導入パイプ24よシ導入し、カソード側に
ある高周波電極25よシ高周波を印加してプラズマを発
生させドライエツチングを行う。
この場合、エツチング深さにはバラツキが発生するため
アノード板26の距離(d)を調整してエツチング深さ
のバラツキを調整してイタ。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし乍ら上述した従来のエツチング深さのバラツキ調
整方法は、アノード板26の電極間距離(d)を調整す
るととKよシ、エツチング深さバラツキを調整するため
、電極間距離を任意に選ぶことができないという欠点が
ある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の目的は、上記欠点を除去し電極間距離は任意に
設定したままでエツチング深さバラツキを調整すること
ができる平行平板型ドライエツチング装置を提供するこ
とである。
本発明によれはウェハーホルダ(カソード板)K対抗す
る電極板(7ノード板)として2枚の電極板を有し、ウ
ェハーホルダ側に隣接した電極板は、パンチング板であ
シ他方の電極板は一枚の板であることを含むことを特徴
とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照にして説明する。
第1図は本発明の一実施例の平行平板型ドライエッチ装
置の断面図である。従来例と同様に1エツチングウエハ
ー11を乗せるウェハーホルダ(カソード板)12と対
向する電極板(7ノード板)として、パンチング板16
とあなの開いていない1枚板1フを有し、チャンバー内
を所定の真空度まで排気した後、反応ガスを導入パイプ
14よシ導入してカソード側にある高周波電源15よシ
高周波を印加してプラズマを発生させドライエツチング
を行う。
エツチング深さバラツキを調整する場合、パンチング板
16はエツチング特性上もりともいい場所に固定して、
1枚板17を調整することによシバラツキを調整する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ウェハーに対向する電極
板を2枚KL、ウェハーに隣接する側の電極板をパンチ
ング板にし、他方の電極板を一枚板圧するととKよシミ
極間距離(d)は、エツチング特性上量もいい距離にし
たtまで他方の一枚板を上下に調整するととKよりエツ
チングに必要なエッチャントの量を変化させ、エツチン
グ深さバラツキを調整できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す平行平板型ドライエツ
チング装置の断面図、第2図は従来の平行平板型ドライ
エツチング装置の断面図である。 11.21・・・・・・ウェハー、12,22−−−−
−−ウェハ−ホルダ(カソード板)、13.23・・・
・・・絶縁板、14゜24・・・・・・ガス導入パイプ
、15.25・・・・・・高周波電源、16.26・・
・・・・パンチング板(アノード板)、17・・・・・
・エツチング補正板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェハーホルダーに対向する電極として二枚の電極板を
    有し、その内の一方の半導体ウェハーに隣接した電極板
    はパンチング板であり、他方の電極板は一枚の板である
    ことを特徴とするドライエッチング装置。
JP12734285A 1985-06-12 1985-06-12 ドライエツチング装置 Pending JPS61285719A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12734285A JPS61285719A (ja) 1985-06-12 1985-06-12 ドライエツチング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12734285A JPS61285719A (ja) 1985-06-12 1985-06-12 ドライエツチング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61285719A true JPS61285719A (ja) 1986-12-16

Family

ID=14957547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12734285A Pending JPS61285719A (ja) 1985-06-12 1985-06-12 ドライエツチング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61285719A (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5450440A (en) * 1977-09-29 1979-04-20 Cho Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Plasma etching device
JPS557646B2 (ja) * 1974-07-12 1980-02-27
JPS5538043A (en) * 1978-09-12 1980-03-17 Fujitsu Ltd Dry etching device
JPS56158428A (en) * 1980-05-12 1981-12-07 Fujitsu Ltd Plasma etching device
JPS57117240A (en) * 1981-01-13 1982-07-21 Citizen Watch Co Ltd High-frequency sputtering etching device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS557646B2 (ja) * 1974-07-12 1980-02-27
JPS5450440A (en) * 1977-09-29 1979-04-20 Cho Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Plasma etching device
JPS5538043A (en) * 1978-09-12 1980-03-17 Fujitsu Ltd Dry etching device
JPS56158428A (en) * 1980-05-12 1981-12-07 Fujitsu Ltd Plasma etching device
JPS57117240A (en) * 1981-01-13 1982-07-21 Citizen Watch Co Ltd High-frequency sputtering etching device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5812347B2 (ja) プラズマエッチング装置
JPS627270B2 (ja)
JPH0653176A (ja) ドライエッチング装置
JP2000200698A (ja) プラズマ処理方法及び装置
JPS61285719A (ja) ドライエツチング装置
JPS6366909B2 (ja)
JPH07249614A (ja) プラズマエッチング方法及びその装置
KR20050013734A (ko) 플라즈마 식각장치
JPH10289881A (ja) プラズマcvd装置
JPH0573051B2 (ja)
JPS57210631A (en) Reactive type ion etching method
JP4576011B2 (ja) プラズマ処理装置
JPH01218024A (ja) ドライエッチング装置
JPS62274725A (ja) エツチング装置
JPH02195631A (ja) プラズマ発生装置
JPS57143827A (en) Parallel, flat electrode
JPH02294029A (ja) ドライエッチング装置
JPH0344028A (ja) プラズマエッチング装置
JPH05275194A (ja) プラズマ発生装置及びプラズマ発生方法
JPS63206484A (ja) 反応性イオンエツチング装置
JP2548164B2 (ja) ドライエッチング方法
JPS60242622A (ja) 反応性イオンエツチング装置
JPS6333821A (ja) 半導体製造装置
JPS62174391A (ja) プラズマエツチング装置
JPH03145125A (ja) プラズマエッチング装置