JPS61265798A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPS61265798A JPS61265798A JP60107824A JP10782485A JPS61265798A JP S61265798 A JPS61265798 A JP S61265798A JP 60107824 A JP60107824 A JP 60107824A JP 10782485 A JP10782485 A JP 10782485A JP S61265798 A JPS61265798 A JP S61265798A
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- JP
- Japan
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- stage
- gate
- node
- preparation
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/28—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using semiconductor elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/18—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages
- G11C19/182—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages in combination with semiconductor elements, e.g. bipolar transistors, diodes
- G11C19/184—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages in combination with semiconductor elements, e.g. bipolar transistors, diodes with field-effect transistors, e.g. MOS-FET
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Shift Register Type Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ポインタ・シフトレジスタで6って、奇、偶段別に異な
るクロック(重なりがない2相クロツク)で駆動し、前
段出力で準備し、次段出方で復帰するよりにして回路構
成を簡単化し、またデータ転送上のロス期間を短かくし
て高速化を図る。
るクロック(重なりがない2相クロツク)で駆動し、前
段出力で準備し、次段出方で復帰するよりにして回路構
成を簡単化し、またデータ転送上のロス期間を短かくし
て高速化を図る。
本発明はシフトレジスタに係シ、特に高速シリアル・ア
クセス・メモリ(HAM)を有するビデオRAMにおφ
て、HAMの任意開始番地指定に必要なポインタ・シフ
トレジスタの新しし回路を提供する。
クセス・メモリ(HAM)を有するビデオRAMにおφ
て、HAMの任意開始番地指定に必要なポインタ・シフ
トレジスタの新しし回路を提供する。
第5図゛は従来のポインタ・シフトレジスタの構成図で
めシ、P1.P2は2相のクロックであって、第6図の
ごとく互に重な)がない。シフトレジスタのSビット目
だけが11であり、4thのビーV卜H全て0”である
。このシフトレジスタのたソ1つのビット(5ビツト目
)の1′が2相クロックP1.Plが入る毎に、転送さ
れていく。
めシ、P1.P2は2相のクロックであって、第6図の
ごとく互に重な)がない。シフトレジスタのSビット目
だけが11であり、4thのビーV卜H全て0”である
。このシフトレジスタのたソ1つのビット(5ビツト目
)の1′が2相クロックP1.Plが入る毎に、転送さ
れていく。
Plが出ている間5ビット目の“1”が出力されてお)
、Plはアクティブなりロックであって、Plはリセッ
トな準備のクロックでPlが出ている間はすべてのビッ
トで0”の期間となる(第6図参照)。
、Plはアクティブなりロックであって、Plはリセッ
トな準備のクロックでPlが出ている間はすべてのビッ
トで0”の期間となる(第6図参照)。
第7図に第1の従来例の回路図(1ビット分)が示され
ておシ、弊チャネルのMo5s )ランジスタQ+〜Q
+o+抵抗R1+容*C+02等で構成されている。
ておシ、弊チャネルのMo5s )ランジスタQ+〜Q
+o+抵抗R1+容*C+02等で構成されている。
動作は、前段SL%−1が“1”でおったとすると、P
lがH”(J’2は′L”)の間前段%−1は“1′を
出力し、出力SL%−1は“H”、 SEL%=“L”
(ロ)であるから、QlはOFF”、 QCsはONで
ノードN6の電位は“L”に引かれQ8はQJP:F、
Q7はONとなシ、N5がチャージアップされ“H”に
なF)、Plが“H”になる時Q4が開いてN5からN
sに電荷が移動して、Nsのノードが“H″に準備され
る(このとき、Plは“LmだからQ4はOFF )。
lがH”(J’2は′L”)の間前段%−1は“1′を
出力し、出力SL%−1は“H”、 SEL%=“L”
(ロ)であるから、QlはOFF”、 QCsはONで
ノードN6の電位は“L”に引かれQ8はQJP:F、
Q7はONとなシ、N5がチャージアップされ“H”に
なF)、Plが“H”になる時Q4が開いてN5からN
sに電荷が移動して、Nsのノードが“H″に準備され
る(このとき、Plは“LmだからQ4はOFF )。
次にPlが“Lmになjl)Plが“H”になると、始
めりFのQ2がOFF 、 QsがONであルノードN
1が“H″、出力SL%が“L”であったが、Qlのゲ
ートが準備され′H”であるから、 Plが“H”にな
るとこれが転送されて、出力のラッチのQ2−Qsが反
転して出力SL%が“1”になる。すなわち前段の1”
が当設(%)に転送されたことにな#)bp’が“1”
である間出力SL%は′1”が出力する。またこの間S
L%はQ9をON L、ノードN6を“H”にし、 Q
sをONさせてN5のチャージを抜き“Lmとし、次に
PlがH′となる時にNsのチャージを抜いて1L″と
する。なお% Q41QS゛は誤動作防止のトランジス
タでおる。′1”が出力されない大部分の期間、Nsは
′L“であるが、この間P2がL”でQ6が閉じ“LL
ルベルのフローティングになシ、次にPlがH″になる
時容量カップリングC#でブーストされてN、の電位が
上昇する為、それによ)、QlがON して誤動作の恐
れが生ずる。そこでPlが′H”となると同時にQ4を
oyL、この期間常時開いているQ5を介してNs t
Vss @ (“L”)におさえておく。
めりFのQ2がOFF 、 QsがONであルノードN
1が“H″、出力SL%が“L”であったが、Qlのゲ
ートが準備され′H”であるから、 Plが“H”にな
るとこれが転送されて、出力のラッチのQ2−Qsが反
転して出力SL%が“1”になる。すなわち前段の1”
が当設(%)に転送されたことにな#)bp’が“1”
である間出力SL%は′1”が出力する。またこの間S
L%はQ9をON L、ノードN6を“H”にし、 Q
sをONさせてN5のチャージを抜き“Lmとし、次に
PlがH′となる時にNsのチャージを抜いて1L″と
する。なお% Q41QS゛は誤動作防止のトランジス
タでおる。′1”が出力されない大部分の期間、Nsは
′L“であるが、この間P2がL”でQ6が閉じ“LL
ルベルのフローティングになシ、次にPlがH″になる
時容量カップリングC#でブーストされてN、の電位が
上昇する為、それによ)、QlがON して誤動作の恐
れが生ずる。そこでPlが′H”となると同時にQ4を
oyL、この期間常時開いているQ5を介してNs t
Vss @ (“L”)におさえておく。
第8図に他の従来例2を示してメジ、笛チャネルトラ/
ジスタQ1t〜Q24.抵抗R2,カップリングの容量
CS等でなる。図にお―てsrsが算段の出力、SK%
−1が前段の出力、81%はQtsのゲートOノードの
電位、81%−1は前段のそれでおる。
ジスタQ1t〜Q24.抵抗R2,カップリングの容量
CS等でなる。図にお―てsrsが算段の出力、SK%
−1が前段の出力、81%はQtsのゲートOノードの
電位、81%−1は前段のそれでおる。
今、SX、、が“1”すなわちH′であるとすると、S
K?&は“0”すなわち“Lmでア)、アクティブなり
ロックP1が1H′の間出方SK%−1は“H′であ)
、Q24がON+Q+aがONで、ノードN、、 、
N、は“L”であり−QnがON してN1oがチャー
ジアップされる。次にリセットなりロックP2が“H”
になると、Q2+1が開いてiるから(先にN1゜がチ
ャージアップされて)、sp%のノードがチャージアッ
プしくQCsは0FF)、Ql5がON l、てN9が
チャージアップして“H”になシ(このとき、Plが“
L”であるから5Kn−、は“0”すなわち“L”でQ
l4はOFFになっておシ、N11が“L”でQl7も
OFFでるる)、ケ)Ql4を介してN8が“H”にな
シ、準備完了する。
K?&は“0”すなわち“Lmでア)、アクティブなり
ロックP1が1H′の間出方SK%−1は“H′であ)
、Q24がON+Q+aがONで、ノードN、、 、
N、は“L”であり−QnがON してN1oがチャー
ジアップされる。次にリセットなりロックP2が“H”
になると、Q2+1が開いてiるから(先にN1゜がチ
ャージアップされて)、sp%のノードがチャージアッ
プしくQCsは0FF)、Ql5がON l、てN9が
チャージアップして“H”になシ(このとき、Plが“
L”であるから5Kn−、は“0”すなわち“L”でQ
l4はOFFになっておシ、N11が“L”でQl7も
OFFでるる)、ケ)Ql4を介してN8が“H”にな
シ、準備完了する。
次にPlが入ル“H”となると、N、が“H”に準備さ
れて−るからQ1+がONl、、ηFが反転し、Qt、
がOFF、 Ql2がONテ、出方SK%が“H”すな
わち“1”になる。
れて−るからQ1+がONl、、ηFが反転し、Qt、
がOFF、 Ql2がONテ、出方SK%が“H”すな
わち“1”になる。
同じ動作f:%+1段目が行ない、そのトランジスタC
hsのノードのSPn+ tが電位上昇すると、これが
欝段目の422(Dゲートにフィードバックし、Q22
をON してN11をチャージアップしく Q2! 、
Q24は0FF)、N1.が“H′となってQ21.Q
1@、Ql7をONし、/ l’Ntat/ )”
sPs+/−トNt’k”L’ニ落す。
hsのノードのSPn+ tが電位上昇すると、これが
欝段目の422(Dゲートにフィードバックし、Q22
をON してN11をチャージアップしく Q2! 、
Q24は0FF)、N1.が“H′となってQ21.Q
1@、Ql7をONし、/ l’Ntat/ )”
sPs+/−トNt’k”L’ニ落す。
なお、第7図、第8図で02+CMなる容量は各段の負
荷のドライブの波形の改善のためで本質的なものではな
い。
荷のドライブの波形の改善のためで本質的なものではな
い。
ところが、上述の第7図及び第8図の回路では、各段に
2相のクロックP1.P2が必要であって、リセットな
りロックP2の期間はすべての段の出力が“0”でアシ
、この期間はデータの転送上の時間ロスになる。また、
Pl、P2二相のクロック制御が必要であって回路構成
が複雑となシ、また、Fl 、 Plの負荷が異なると
いう駆動上の欠点も生ずる。
2相のクロックP1.P2が必要であって、リセットな
りロックP2の期間はすべての段の出力が“0”でアシ
、この期間はデータの転送上の時間ロスになる。また、
Pl、P2二相のクロック制御が必要であって回路構成
が複雑となシ、また、Fl 、 Plの負荷が異なると
いう駆動上の欠点も生ずる。
さらに、第7図では、ゼロ・フローティングによる誤動
作を抑制するQa=Qsの精密なトリミングが必要で面
倒でめる。第7図、第8図の回路ともフローティングノ
ードが多く生じ、そのチャージを抜くための回路構成、
或いはチャージアップのための回路構成が複雑になる欠
点を持つ。
作を抑制するQa=Qsの精密なトリミングが必要で面
倒でめる。第7図、第8図の回路ともフローティングノ
ードが多く生じ、そのチャージを抜くための回路構成、
或いはチャージアップのための回路構成が複雑になる欠
点を持つ。
第1図に本発明の概念を示してあシ、従来のように1段
の内にPl、12の2相の/はツクを入れるのではなく
、偶数と奇数段目で異なるクロックP1又はPlのいず
れか一方を入れるようにし、pHまたはPlの同じクロ
ックがアクティブ及びリセットt−兼ねるようにして直
接前段出力で準備し、次段出力で準備を解く。
の内にPl、12の2相の/はツクを入れるのではなく
、偶数と奇数段目で異なるクロックP1又はPlのいず
れか一方を入れるようにし、pHまたはPlの同じクロ
ックがアクティブ及びリセットt−兼ねるようにして直
接前段出力で準備し、次段出力で準備を解く。
上記によシ、直接前段の出力(、N3−t)で当設(%
)の準備上行なうことができ、次段(1%+1)の出力
のフィードバックで直接当設のノードの電荷を抜くよう
な簡単な回路構成にな凱またゼロ・フローティングノー
ドのり2/グも容易となる。ま九。
)の準備上行なうことができ、次段(1%+1)の出力
のフィードバックで直接当設のノードの電荷を抜くよう
な簡単な回路構成にな凱またゼロ・フローティングノー
ドのり2/グも容易となる。ま九。
クロックp1.P2の負荷は同じとなる。
さらに、第2図を参照すると明らかなように、従来の第
6図の全段が“0“になる期間が短縮され、転送速度向
上が可能になる。
6図の全段が“0“になる期間が短縮され、転送速度向
上が可能になる。
第3図に実施例の1段分の回路を示し、第4図にはその
前!、後段がわかるような回路構成を示している。
前!、後段がわかるような回路構成を示している。
第3図の回路は悴チャネルMOil )ランジスタQ2
5〜Qsz +抵抗R,,R,,容量C4で構成されて
いる。426.427は交差接続されて%段の出力SJ
%のラッチを構成し、該ラッチのノードSJ%は、トラ
ンスフ1ゲートの025を介してPlに接続する。
5〜Qsz +抵抗R,,R,,容量C4で構成されて
いる。426.427は交差接続されて%段の出力SJ
%のラッチを構成し、該ラッチのノードSJ%は、トラ
ンスフ1ゲートの025を介してPlに接続する。
Q25のゲートのノードNIMは前段の出力5JS−、
をゲート入力とするトランジスタQ29によシ、トラン
ジスタQ2sを介して“H”レベルに準備される。
をゲート入力とするトランジスタQ29によシ、トラン
ジスタQ2sを介して“H”レベルに準備される。
Q、。は次段の出力SJ%+1が“H”になった時#1
41JV +Sのノードのチャージを抜くトランジスタ
でらシ、交差接続のトランジスタQ st t Q i
2はj/14 + JVlsの“L”レベルでの70−
テイ/グを抑えるためのラッチを構成している。なお、
C4は第7.8図の02+C5と同等で発明の本質に関
係しない。
41JV +Sのノードのチャージを抜くトランジスタ
でらシ、交差接続のトランジスタQ st t Q i
2はj/14 + JVlsの“L”レベルでの70−
テイ/グを抑えるためのラッチを構成している。なお、
C4は第7.8図の02+C5と同等で発明の本質に関
係しない。
動作は以下のごとくである。
■ %段目(81%のビット)はPlが入力し、餡−1
、外+1段はPlが入力する。
、外+1段はPlが入力する。
■ 今P2が出ていて(“H”)、81%−1が出力さ
れ、SJ、$−1=“1”(=“H”)とする。このと
き81%、SJ針1は出力されず“0”(=“L”)で
るる。
れ、SJ、$−1=“1”(=“H”)とする。このと
き81%、SJ針1は出力されず“0”(=“L”)で
るる。
■ 前段の出力が出てSJ、−1が“H′″でQ2?が
ONしN1aがチャージアップされる。その時NIsの
ノードもQ28を通してチャージアップされる。この間
Qst r Qszは反転し、Qs+がON、 Qsz
がOFFシ。
ONしN1aがチャージアップされる。その時NIsの
ノードもQ28を通してチャージアップされる。この間
Qst r Qszは反転し、Qs+がON、 Qsz
がOFFシ。
またQ10はl/R+1が“L”でOFF している。
■ しかし、Plは出ていない(“L″)からQ2Sが
ON しても81%は変化しない。
ON しても81%は変化しない。
ω Plが立下がってそれにともない81%−1も“L
”になる。しかしs Qso+Qs+は状態をラッテし
ているからN1. 、 N1.は■で準備されたとおシ
の状態である。
”になる。しかしs Qso+Qs+は状態をラッテし
ているからN1. 、 N1.は■で準備されたとおシ
の状態である。
の 次に、Plと入れ換わシにPlが立上がると、N1
.の状態を受けてN1sは高いレベルにブーストされ、
PlはQ25によシ速かにトランス71される。そして
h Qu+Q2yを反転するとともに、出力SJ%が“
H”になシ“1″を出力する。
.の状態を受けてN1sは高いレベルにブーストされ、
PlはQ25によシ速かにトランス71される。そして
h Qu+Q2yを反転するとともに、出力SJ%が“
H”になシ“1″を出力する。
0 このとき%−1ビット目(前段)の050相当のト
ランジスタのゲートに81%が入力してiるから、それ
によシ前段(%−1ビット)ON’s r N1a相当
のノードはディスチャージされh Qs1+ Qsz相
当のトランジスタはその状態(N14が“L”)を2ツ
チする。
ランジスタのゲートに81%が入力してiるから、それ
によシ前段(%−1ビット)ON’s r N1a相当
のノードはディスチャージされh Qs1+ Qsz相
当のトランジスタはその状態(N14が“L”)を2ツ
チする。
以上の実施例によれば、隣接段間のクロックが共通でな
く、各段において1相のクロックがアクティブ及びリセ
ットヲ兼ねるように作用するから、前段出力をQ2?に
直接式れるだけで準備ができ、一方、次段出力tQs。
く、各段において1相のクロックがアクティブ及びリセ
ットヲ兼ねるように作用するから、前段出力をQ2?に
直接式れるだけで準備ができ、一方、次段出力tQs。
のゲートにフィードバックすることによシチャージを抜
くという単純な構成が可能になる。
くという単純な構成が可能になる。
以上のことから明らかなように1本発明によれば以下の
利点が得られる。
利点が得られる。
(1) 回路が簡単′lJ:、2相クロック制御であ
る。
る。
(2) クロックP1.P2の負荷が同じである。
(3) ボイ/り出力全てが全部“0”になる時間を短
くすることができる。
くすることができる。
(4)大多数の“01はスタティックにラッテされてい
て長時間たりても“1”に化することはなめ。
て長時間たりても“1”に化することはなめ。
第1図は本発明の概念図、
第2図は本発明の波形図、
第5図及び第4図は本発明の実施例の回路部分図(1段
)及び隣接段を含む回路図、 第5図及び第6図は従来例のそれぞれ構成図及び波形図
、 第7図及び第8図は従来例1及び20回路図ヶ(主な符
号) 025″−Qsz・・・譜チャネルMO8ト2ンジスタ
R,HE4・・・抵抗 81%、”s−t + 81%+1・・・出力p1.P
2・・・(2相)クロック N12〜N、・・・ノード
)及び隣接段を含む回路図、 第5図及び第6図は従来例のそれぞれ構成図及び波形図
、 第7図及び第8図は従来例1及び20回路図ヶ(主な符
号) 025″−Qsz・・・譜チャネルMO8ト2ンジスタ
R,HE4・・・抵抗 81%、”s−t + 81%+1・・・出力p1.P
2・・・(2相)クロック N12〜N、・・・ノード
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 互いに重なりのない第1及び第2の2相のクロック・
ラインとシフトレジスタとを有し、 第1のクロック・ラインをシフトレジスタの偶数段また
は奇数段に接続し、第2のクロック・ラインを奇数段ま
たは偶数段に接続してなり、前記シフトレジスタの各段
は、出力側のラッチ回路と、該ラッチ回路と第1または
第2のクロックとの間に介在するゲートと、前段出力を
制御入力として前段の出力時に該ゲートの制御ノードを
プリチャージするチャージアップ回路と、次段出力を帰
還して前記ゲートの制御ノードのチャージを抜くディス
チャージ回路とを含むことを特徴とする半導体記憶装置
。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60107824A JPS61265798A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 半導体記憶装置 |
US06/864,248 US4720815A (en) | 1985-05-20 | 1986-05-19 | Semiconductor memory device in form of shift register with two-phase clock signal supply |
EP86303815A EP0202912A3 (en) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | Semiconductor memory device in form of shift register with two-phase clock signal supply |
KR1019860003929A KR900006142B1 (ko) | 1985-05-20 | 1986-05-20 | 두 위상 클록신호 공급 쉬프트 레지스터형 반도체 메모리장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60107824A JPS61265798A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61265798A true JPS61265798A (ja) | 1986-11-25 |
JPH0377598B2 JPH0377598B2 (ja) | 1991-12-11 |
Family
ID=14468965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60107824A Granted JPS61265798A (ja) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | 半導体記憶装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4720815A (ja) |
EP (1) | EP0202912A3 (ja) |
JP (1) | JPS61265798A (ja) |
KR (1) | KR900006142B1 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5544101A (en) | 1994-03-28 | 1996-08-06 | Texas Instruments Inc. | Memory device having a latching multiplexer and a multiplexer block therefor |
US6320797B1 (en) | 1999-02-24 | 2001-11-20 | Micron Technology, Inc. | Method and circuit for regulating the output voltage from a charge pump circuit, and memory device using same |
US6160723A (en) * | 1999-03-01 | 2000-12-12 | Micron Technology, Inc. | Charge pump circuit including level shifters for threshold voltage cancellation and clock signal boosting, and memory device using same |
KR100430099B1 (ko) * | 1999-03-02 | 2004-05-03 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 쉬프트 레지스터 회로 |
US6985388B2 (en) | 2001-09-17 | 2006-01-10 | Sandisk Corporation | Dynamic column block selection |
US7170802B2 (en) * | 2003-12-31 | 2007-01-30 | Sandisk Corporation | Flexible and area efficient column redundancy for non-volatile memories |
US6560146B2 (en) * | 2001-09-17 | 2003-05-06 | Sandisk Corporation | Dynamic column block selection |
US7447066B2 (en) * | 2005-11-08 | 2008-11-04 | Sandisk Corporation | Memory with retargetable memory cell redundancy |
US8102705B2 (en) * | 2009-06-05 | 2012-01-24 | Sandisk Technologies Inc. | Structure and method for shuffling data within non-volatile memory devices |
US8027195B2 (en) * | 2009-06-05 | 2011-09-27 | SanDisk Technologies, Inc. | Folding data stored in binary format into multi-state format within non-volatile memory devices |
US7974124B2 (en) * | 2009-06-24 | 2011-07-05 | Sandisk Corporation | Pointer based column selection techniques in non-volatile memories |
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