JPS61265798A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS61265798A
JPS61265798A JP60107824A JP10782485A JPS61265798A JP S61265798 A JPS61265798 A JP S61265798A JP 60107824 A JP60107824 A JP 60107824A JP 10782485 A JP10782485 A JP 10782485A JP S61265798 A JPS61265798 A JP S61265798A
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gate
node
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Junji Ogawa
淳二 小川
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
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    • GPHYSICS
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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ポインタ・シフトレジスタで6って、奇、偶段別に異な
るクロック(重なりがない2相クロツク)で駆動し、前
段出力で準備し、次段出方で復帰するよりにして回路構
成を簡単化し、またデータ転送上のロス期間を短かくし
て高速化を図る。
〔産業上の利用分野〕
本発明はシフトレジスタに係シ、特に高速シリアル・ア
クセス・メモリ(HAM)を有するビデオRAMにおφ
て、HAMの任意開始番地指定に必要なポインタ・シフ
トレジスタの新しし回路を提供する。
〔従来の技術〕
第5図゛は従来のポインタ・シフトレジスタの構成図で
めシ、P1.P2は2相のクロックであって、第6図の
ごとく互に重な)がない。シフトレジスタのSビット目
だけが11であり、4thのビーV卜H全て0”である
。このシフトレジスタのたソ1つのビット(5ビツト目
)の1′が2相クロックP1.Plが入る毎に、転送さ
れていく。
Plが出ている間5ビット目の“1”が出力されてお)
、Plはアクティブなりロックであって、Plはリセッ
トな準備のクロックでPlが出ている間はすべてのビッ
トで0”の期間となる(第6図参照)。
第7図に第1の従来例の回路図(1ビット分)が示され
ておシ、弊チャネルのMo5s )ランジスタQ+〜Q
+o+抵抗R1+容*C+02等で構成されている。
動作は、前段SL%−1が“1”でおったとすると、P
lがH”(J’2は′L”)の間前段%−1は“1′を
出力し、出力SL%−1は“H”、 SEL%=“L”
(ロ)であるから、QlはOFF”、 QCsはONで
ノードN6の電位は“L”に引かれQ8はQJP:F、
Q7はONとなシ、N5がチャージアップされ“H”に
なF)、Plが“H”になる時Q4が開いてN5からN
sに電荷が移動して、Nsのノードが“H″に準備され
る(このとき、Plは“LmだからQ4はOFF )。
次にPlが“Lmになjl)Plが“H”になると、始
めりFのQ2がOFF 、 QsがONであルノードN
1が“H″、出力SL%が“L”であったが、Qlのゲ
ートが準備され′H”であるから、 Plが“H”にな
るとこれが転送されて、出力のラッチのQ2−Qsが反
転して出力SL%が“1”になる。すなわち前段の1”
が当設(%)に転送されたことにな#)bp’が“1”
である間出力SL%は′1”が出力する。またこの間S
L%はQ9をON L、ノードN6を“H”にし、 Q
sをONさせてN5のチャージを抜き“Lmとし、次に
PlがH′となる時にNsのチャージを抜いて1L″と
する。なお% Q41QS゛は誤動作防止のトランジス
タでおる。′1”が出力されない大部分の期間、Nsは
′L“であるが、この間P2がL”でQ6が閉じ“LL
ルベルのフローティングになシ、次にPlがH″になる
時容量カップリングC#でブーストされてN、の電位が
上昇する為、それによ)、QlがON して誤動作の恐
れが生ずる。そこでPlが′H”となると同時にQ4を
oyL、この期間常時開いているQ5を介してNs t
 Vss @ (“L”)におさえておく。
第8図に他の従来例2を示してメジ、笛チャネルトラ/
ジスタQ1t〜Q24.抵抗R2,カップリングの容量
CS等でなる。図にお―てsrsが算段の出力、SK%
−1が前段の出力、81%はQtsのゲートOノードの
電位、81%−1は前段のそれでおる。
今、SX、、が“1”すなわちH′であるとすると、S
K?&は“0”すなわち“Lmでア)、アクティブなり
ロックP1が1H′の間出方SK%−1は“H′であ)
、Q24がON+Q+aがONで、ノードN、、 、 
N、は“L”であり−QnがON してN1oがチャー
ジアップされる。次にリセットなりロックP2が“H”
になると、Q2+1が開いてiるから(先にN1゜がチ
ャージアップされて)、sp%のノードがチャージアッ
プしくQCsは0FF)、Ql5がON l、てN9が
チャージアップして“H”になシ(このとき、Plが“
L”であるから5Kn−、は“0”すなわち“L”でQ
l4はOFFになっておシ、N11が“L”でQl7も
OFFでるる)、ケ)Ql4を介してN8が“H”にな
シ、準備完了する。
次にPlが入ル“H”となると、N、が“H”に準備さ
れて−るからQ1+がONl、、ηFが反転し、Qt、
がOFF、 Ql2がONテ、出方SK%が“H”すな
わち“1”になる。
同じ動作f:%+1段目が行ない、そのトランジスタC
hsのノードのSPn+ tが電位上昇すると、これが
欝段目の422(Dゲートにフィードバックし、Q22
をON してN11をチャージアップしく Q2! 、
Q24は0FF)、N1.が“H′となってQ21.Q
1@、Ql7をONし、/  l’Ntat/  )”
sPs+/−トNt’k”L’ニ落す。
なお、第7図、第8図で02+CMなる容量は各段の負
荷のドライブの波形の改善のためで本質的なものではな
い。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、上述の第7図及び第8図の回路では、各段に
2相のクロックP1.P2が必要であって、リセットな
りロックP2の期間はすべての段の出力が“0”でアシ
、この期間はデータの転送上の時間ロスになる。また、
Pl、P2二相のクロック制御が必要であって回路構成
が複雑となシ、また、Fl 、 Plの負荷が異なると
いう駆動上の欠点も生ずる。
さらに、第7図では、ゼロ・フローティングによる誤動
作を抑制するQa=Qsの精密なトリミングが必要で面
倒でめる。第7図、第8図の回路ともフローティングノ
ードが多く生じ、そのチャージを抜くための回路構成、
或いはチャージアップのための回路構成が複雑になる欠
点を持つ。
〔問題点を解決するための手段〕
第1図に本発明の概念を示してあシ、従来のように1段
の内にPl、12の2相の/はツクを入れるのではなく
、偶数と奇数段目で異なるクロックP1又はPlのいず
れか一方を入れるようにし、pHまたはPlの同じクロ
ックがアクティブ及びリセットt−兼ねるようにして直
接前段出力で準備し、次段出力で準備を解く。
〔作用〕
上記によシ、直接前段の出力(、N3−t)で当設(%
)の準備上行なうことができ、次段(1%+1)の出力
のフィードバックで直接当設のノードの電荷を抜くよう
な簡単な回路構成にな凱またゼロ・フローティングノー
ドのり2/グも容易となる。ま九。
クロックp1.P2の負荷は同じとなる。
さらに、第2図を参照すると明らかなように、従来の第
6図の全段が“0“になる期間が短縮され、転送速度向
上が可能になる。
〔実施例〕
第3図に実施例の1段分の回路を示し、第4図にはその
前!、後段がわかるような回路構成を示している。
第3図の回路は悴チャネルMOil )ランジスタQ2
5〜Qsz +抵抗R,,R,,容量C4で構成されて
いる。426.427は交差接続されて%段の出力SJ
%のラッチを構成し、該ラッチのノードSJ%は、トラ
ンスフ1ゲートの025を介してPlに接続する。
Q25のゲートのノードNIMは前段の出力5JS−、
をゲート入力とするトランジスタQ29によシ、トラン
ジスタQ2sを介して“H”レベルに準備される。
Q、。は次段の出力SJ%+1が“H”になった時#1
41JV +Sのノードのチャージを抜くトランジスタ
でらシ、交差接続のトランジスタQ st t Q i
2はj/14 + JVlsの“L”レベルでの70−
テイ/グを抑えるためのラッチを構成している。なお、
C4は第7.8図の02+C5と同等で発明の本質に関
係しない。
動作は以下のごとくである。
■ %段目(81%のビット)はPlが入力し、餡−1
、外+1段はPlが入力する。
■ 今P2が出ていて(“H”)、81%−1が出力さ
れ、SJ、$−1=“1”(=“H”)とする。このと
き81%、SJ針1は出力されず“0”(=“L”)で
るる。
■ 前段の出力が出てSJ、−1が“H′″でQ2?が
ONしN1aがチャージアップされる。その時NIsの
ノードもQ28を通してチャージアップされる。この間
Qst r Qszは反転し、Qs+がON、 Qsz
がOFFシ。
またQ10はl/R+1が“L”でOFF している。
■ しかし、Plは出ていない(“L″)からQ2Sが
ON しても81%は変化しない。
ω Plが立下がってそれにともない81%−1も“L
”になる。しかしs Qso+Qs+は状態をラッテし
ているからN1. 、 N1.は■で準備されたとおシ
の状態である。
の 次に、Plと入れ換わシにPlが立上がると、N1
.の状態を受けてN1sは高いレベルにブーストされ、
PlはQ25によシ速かにトランス71される。そして
h Qu+Q2yを反転するとともに、出力SJ%が“
H”になシ“1″を出力する。
0 このとき%−1ビット目(前段)の050相当のト
ランジスタのゲートに81%が入力してiるから、それ
によシ前段(%−1ビット)ON’s r N1a相当
のノードはディスチャージされh Qs1+ Qsz相
当のトランジスタはその状態(N14が“L”)を2ツ
チする。
以上の実施例によれば、隣接段間のクロックが共通でな
く、各段において1相のクロックがアクティブ及びリセ
ットヲ兼ねるように作用するから、前段出力をQ2?に
直接式れるだけで準備ができ、一方、次段出力tQs。
のゲートにフィードバックすることによシチャージを抜
くという単純な構成が可能になる。
〔発明の効果〕
以上のことから明らかなように1本発明によれば以下の
利点が得られる。
(1)  回路が簡単′lJ:、2相クロック制御であ
る。
(2)  クロックP1.P2の負荷が同じである。
(3) ボイ/り出力全てが全部“0”になる時間を短
くすることができる。
(4)大多数の“01はスタティックにラッテされてい
て長時間たりても“1”に化することはなめ。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の概念図、 第2図は本発明の波形図、 第5図及び第4図は本発明の実施例の回路部分図(1段
)及び隣接段を含む回路図、 第5図及び第6図は従来例のそれぞれ構成図及び波形図
、 第7図及び第8図は従来例1及び20回路図ヶ(主な符
号) 025″−Qsz・・・譜チャネルMO8ト2ンジスタ
R,HE4・・・抵抗 81%、”s−t + 81%+1・・・出力p1.P
2・・・(2相)クロック N12〜N、・・・ノード

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  互いに重なりのない第1及び第2の2相のクロック・
    ラインとシフトレジスタとを有し、 第1のクロック・ラインをシフトレジスタの偶数段また
    は奇数段に接続し、第2のクロック・ラインを奇数段ま
    たは偶数段に接続してなり、前記シフトレジスタの各段
    は、出力側のラッチ回路と、該ラッチ回路と第1または
    第2のクロックとの間に介在するゲートと、前段出力を
    制御入力として前段の出力時に該ゲートの制御ノードを
    プリチャージするチャージアップ回路と、次段出力を帰
    還して前記ゲートの制御ノードのチャージを抜くディス
    チャージ回路とを含むことを特徴とする半導体記憶装置
JP60107824A 1985-05-20 1985-05-20 半導体記憶装置 Granted JPS61265798A (ja)

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JP60107824A JPS61265798A (ja) 1985-05-20 1985-05-20 半導体記憶装置
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KR1019860003929A KR900006142B1 (ko) 1985-05-20 1986-05-20 두 위상 클록신호 공급 쉬프트 레지스터형 반도체 메모리장치

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JPS61265798A true JPS61265798A (ja) 1986-11-25
JPH0377598B2 JPH0377598B2 (ja) 1991-12-11

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ID=14468965

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EP (1) EP0202912A3 (ja)
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