JPS61208233A - フラツトic用ハンドラ− - Google Patents
フラツトic用ハンドラ−Info
- Publication number
- JPS61208233A JPS61208233A JP4881985A JP4881985A JPS61208233A JP S61208233 A JPS61208233 A JP S61208233A JP 4881985 A JP4881985 A JP 4881985A JP 4881985 A JP4881985 A JP 4881985A JP S61208233 A JPS61208233 A JP S61208233A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flat
- air
- coil
- main body
- handler
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Gripping Jigs, Holding Jigs, And Positioning Jigs (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、IC試験治具に関し、特にフラットIC用ハ
ンドラーに関する。
ンドラーに関する。
従来のフラット IC用ハンドラーは、真空でICを吸
着し移動させる方式となっていた。
着し移動させる方式となっていた。
上述した従来のフラットIC用ハンドラーは、真空技術
を使用しているので装置が大きくなるという欠点がある
。
を使用しているので装置が大きくなるという欠点がある
。
本発明のフラットIC用ハンドラーは、中空構造を有す
る磁性体からなり、少なくとも電気的に断続可能々コイ
ルを有し、磁性体を磁化し、フラットICを吸着しうる
構造と、中空構造の一方の空気吸入口から空気をとり入
れフラットICの表面に供給し、他の一方の空気排出口
から空気を排出しうる構造、かつフラットIcのリード
部と接触する部分は絶縁性でおおわれている構造となっ
ている。
る磁性体からなり、少なくとも電気的に断続可能々コイ
ルを有し、磁性体を磁化し、フラットICを吸着しうる
構造と、中空構造の一方の空気吸入口から空気をとり入
れフラットICの表面に供給し、他の一方の空気排出口
から空気を排出しうる構造、かつフラットIcのリード
部と接触する部分は絶縁性でおおわれている構造となっ
ている。
次に、本発明の実施例につめて、図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図である。
空気吸入口1はフラットIC6を一定温度に保つためサ
ーモ・ストリームによって加熱、もしくは冷却されたド
ライ・エアtl−7ラツトIC5にふきつけるためにド
ライエアを通す穴である。コイル2は、本体3を磁化さ
せるために用いる。本体3は、コイル2で容易に磁化さ
せられる磁性体を用い、底面はフラッ)ICLSIにあ
わせて形づくる0 空気排出口4は、ドライエアを吸入するための空気吸入
口1よシ入れられたドライ−エアを排出するためのもの
である。絶縁体5は本体3とフラ。
ーモ・ストリームによって加熱、もしくは冷却されたド
ライ・エアtl−7ラツトIC5にふきつけるためにド
ライエアを通す穴である。コイル2は、本体3を磁化さ
せるために用いる。本体3は、コイル2で容易に磁化さ
せられる磁性体を用い、底面はフラッ)ICLSIにあ
わせて形づくる0 空気排出口4は、ドライエアを吸入するための空気吸入
口1よシ入れられたドライ−エアを排出するためのもの
である。絶縁体5は本体3とフラ。
) IC6とを電気的に接触させないためにある。
フラットlc6は、本体3でソケット7におしつけられ
てコンタクト8で接触し計測および評価を行なう。コン
タクト8は外部LSIテスター等につなげるだめのもの
である。ソケット7はフラットIC用ソケットである。
てコンタクト8で接触し計測および評価を行なう。コン
タクト8は外部LSIテスター等につなげるだめのもの
である。ソケット7はフラットIC用ソケットである。
フラットIC6を移動させるときの状態を示している。
コイル2に電流を流しフラットIC6を本体3に磁着し
ている。
ている。
本発明のフラッ)IC用ハンドラーは、磁力を用いてI
Cを移動することによシ真空吸着を使用する方法よりも
装置が小型にできるという効果があシまた、空気吸入口
を設けたことによシ、フラッ)ICを一定温度に保つこ
とができるという効果があり、空気排出口を設けたこと
によシ空気流入によるフラットICのずれをおさえると
いう効果があシ、絶縁体をフラットICの熾子のあたる
部分に使用することにより、端子間のシ目−トヲ防止す
る効果があシ、本体をフラッ)ICの形にあわせておく
ことによりフラットICの変形を防止できるという効果
がある。
Cを移動することによシ真空吸着を使用する方法よりも
装置が小型にできるという効果があシまた、空気吸入口
を設けたことによシ、フラッ)ICを一定温度に保つこ
とができるという効果があり、空気排出口を設けたこと
によシ空気流入によるフラットICのずれをおさえると
いう効果があシ、絶縁体をフラットICの熾子のあたる
部分に使用することにより、端子間のシ目−トヲ防止す
る効果があシ、本体をフラッ)ICの形にあわせておく
ことによりフラットICの変形を防止できるという効果
がある。
、第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2内は第
1図に示す実施例の測定時における縦断面図、第3図は
第1因に示す実施例の移動時における縦断面図である。 1・・・・・・空気吸入口、2・・・・・・コイル、3
・・・・・・本体、4・・・・・・空気排出口、5・・
・・・・絶縁体、6・・・・・・フラ。 )IC,7・・・・・・ソケット、8・・・・・・コン
タクト。 第1図 墾2図 第3図
1図に示す実施例の測定時における縦断面図、第3図は
第1因に示す実施例の移動時における縦断面図である。 1・・・・・・空気吸入口、2・・・・・・コイル、3
・・・・・・本体、4・・・・・・空気排出口、5・・
・・・・絶縁体、6・・・・・・フラ。 )IC,7・・・・・・ソケット、8・・・・・・コン
タクト。 第1図 墾2図 第3図
Claims (1)
- フラットICを移動し、評価、試験等に使用する治具で
あって、少なくとも電気的に断続可能なコイルと、上部
は中空構造をなし前記コイルで磁化され底面はフラット
ICLSIを吸着するに適した形状をなし、前記中空構
造の一方の空気吸入口から空気をとり入れフラットIC
LSIの表面に供給し他の一方の空気排出口から空気を
排出しうる本体と、前記フラットICLSIを吸着した
ときにリード部と接触する部分が前記本体と接触しない
ように設けられた絶縁体とを含むことを特徴とするフラ
ットIC用ハンドラー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4881985A JPS61208233A (ja) | 1985-03-12 | 1985-03-12 | フラツトic用ハンドラ− |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4881985A JPS61208233A (ja) | 1985-03-12 | 1985-03-12 | フラツトic用ハンドラ− |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61208233A true JPS61208233A (ja) | 1986-09-16 |
Family
ID=12813827
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4881985A Pending JPS61208233A (ja) | 1985-03-12 | 1985-03-12 | フラツトic用ハンドラ− |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61208233A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0266962U (ja) * | 1988-11-10 | 1990-05-21 |
-
1985
- 1985-03-12 JP JP4881985A patent/JPS61208233A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0266962U (ja) * | 1988-11-10 | 1990-05-21 | ||
JPH0511977Y2 (ja) * | 1988-11-10 | 1993-03-25 |
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