JPH0457767U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0457767U JPH0457767U JP10077090U JP10077090U JPH0457767U JP H0457767 U JPH0457767 U JP H0457767U JP 10077090 U JP10077090 U JP 10077090U JP 10077090 U JP10077090 U JP 10077090U JP H0457767 U JPH0457767 U JP H0457767U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact pin
- magnetic
- tip
- electrical conductor
- magnetic pole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 12
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims 3
- 230000001846 repelling effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
添付図面は本考案の実施例を示し、第１図から
第６図までは本考案の第１実施例であり、第１図
、第２図は自動検査機の構成図、第３図は本体内
部の構成図、第４図は検査対象の電気導体付近の
拡大平面図、第５図は同じく拡大側面図、第６図
は検査対象の構成図、第７図から第１０図までは
本考案の第２実施例であり、第７図は自動検査機
の構成図、第８図は応用例の構成図、第９図は検
査対象の構成図、第１０図は検査対象の電気導体
付近の拡大側面図であり、図中１は検査対象、２
は電気導体、３は接触ピン、４は磁石、５はブロ
ツク、６は本体、７はマグネツト吸着手段である
。
第６図までは本考案の第１実施例であり、第１図
、第２図は自動検査機の構成図、第３図は本体内
部の構成図、第４図は検査対象の電気導体付近の
拡大平面図、第５図は同じく拡大側面図、第６図
は検査対象の構成図、第７図から第１０図までは
本考案の第２実施例であり、第７図は自動検査機
の構成図、第８図は応用例の構成図、第９図は検
査対象の構成図、第１０図は検査対象の電気導体
付近の拡大側面図であり、図中１は検査対象、２
は電気導体、３は接触ピン、４は磁石、５はブロ
ツク、６は本体、７はマグネツト吸着手段である
。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 液晶表示パネルやプリント回路基板の電気
導体に接触せしめる接触ピンを有し、この接触ピ
ンに給電することにより、上記液晶表示パネルや
プリント回路基板の電気導体のシヨートやオープ
ン並びに動作確認等を電気的に検査する電気回路
の自動検査機に於いて； 上記接触ピン３の先端４は磁化され、その磁化
された接触ピン３の先端４に磁気作用を及ぼしう
るマグネツト吸着手段７を備え、上記液晶表示パ
ネルやプリント回路基板等の検査対象１を所定位
置にセツトした状態に於いて、上記マグネツト吸
着手段７の上記接触ピン３の先端４の磁極を吸着
しうる磁極を接触ピン３の方向に近づけることに
よつて、上記接触ピン３の先端４を検査対象１の
電気導体２に接触せしめると共に、上記マグネツ
ト吸着手段７の上記接触ピン３の先端４の磁極を
反発しうる磁極を接触ピン３の方向に近づけるこ
とによつて、上記接触ピン３の先端４を検査対象
１の電気導体２から離すようにしたことを特徴と
する電気回路のマグネツト式自動検査機。 (2) 上記マグネツト吸着手段７は回転マグネツ
トであり、Ｓ極、Ｎ極に分極されていることを特
徴とする請求項第１項記載の電気回路のマグネツ
ト式自動検査機。 (3) 上記接触ピン３の先端４は先端側４ＳがＳ
極、Ｎ極のいずれか一方の磁極に磁化され、奥側
４Ｎが他方の磁極に磁化されていることを特徴と
する請求項第１項記載の電気回路のマグネツト式
自動検査機。 (4) 上記検査対象１の電気導体２の−側に上記
接触ピン３を配し、他側に上記マグネツト吸着手
段である回転マグネツト７を配し、回転マグネツ
ト７の接触ピン３の先端側の磁極を吸着する磁極
が上記電気導体２側に位置したとき、上記接触ピ
ン３の先端４が上記電気導体２に接触し、回転マ
グネツト７の接触ピン３の先端側の磁極を反発す
る磁極が上記電気導体２側に位置したとき、上記
接触ピン３の先端４が上記電気導体２から離れる
ようにしたことを特徴とする請求項第２，３項記
載の電気回路のマグネツト式自動検査機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10077090U JPH0457767U (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10077090U JPH0457767U (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0457767U true JPH0457767U (ja) | 1992-05-18 |
Family
ID=31843671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10077090U Pending JPH0457767U (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0457767U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000275274A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 回路の検査方法とこの検査方法に対応した回路基板 |
-
1990
- 1990-09-26 JP JP10077090U patent/JPH0457767U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000275274A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 回路の検査方法とこの検査方法に対応した回路基板 |
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