JPS61177393A - リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法 - Google Patents
リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法Info
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- JPS61177393A JPS61177393A JP1683485A JP1683485A JPS61177393A JP S61177393 A JPS61177393 A JP S61177393A JP 1683485 A JP1683485 A JP 1683485A JP 1683485 A JP1683485 A JP 1683485A JP S61177393 A JPS61177393 A JP S61177393A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電子、電気機器部品に使用されるan又はSn
合金メ、キ(以下Snメッキという)を施したリン青銅
の製法に関するものである。
合金メ、キ(以下Snメッキという)を施したリン青銅
の製法に関するものである。
(従来の技術)
CuにSn l 〜8 % 、 P 0.01〜0.3
%を添加したリン青銅及びこのリン青銅の性能を改善
するためにNl 、 Cr r Co * Ti +
At * Fe r 81等′t−s加した合金(以下
これらを総称してリン青銅という)は強度差にバネ性に
優れているためコネクター、端子、スプリング、リード
フレーム、リード線等として電気、電子機器部品に広く
利用されている。
%を添加したリン青銅及びこのリン青銅の性能を改善
するためにNl 、 Cr r Co * Ti +
At * Fe r 81等′t−s加した合金(以下
これらを総称してリン青銅という)は強度差にバネ性に
優れているためコネクター、端子、スプリング、リード
フレーム、リード線等として電気、電子機器部品に広く
利用されている。
又上記りン背銅に耐食性、電気接続性(接点)及び半田
付は性を附与せしめるために、該リン青銅面にSn又は
5n−Pb (Pb 3〜80 wt%)Sn−Ni
(等モル)、5n−Co (等モル)、5n−8b(S
bO,5〜5%)、5n−Zn (Zn 1〜40%)
、などのSn合金によるメッキを施しているものである
。
付は性を附与せしめるために、該リン青銅面にSn又は
5n−Pb (Pb 3〜80 wt%)Sn−Ni
(等モル)、5n−Co (等モル)、5n−8b(S
bO,5〜5%)、5n−Zn (Zn 1〜40%)
、などのSn合金によるメッキを施しているものである
。
この場合通常リン青銅とSbメ、キとの密着性を向上せ
しめるためにCu又はCu合金の下地メ、キを行ってい
るものであり、メッキの厚さは通常anメメッのA程度
でありo、s〜2μである@然しなからCuの下地メッ
キを行り死後Snメ。
しめるためにCu又はCu合金の下地メ、キを行ってい
るものであり、メッキの厚さは通常anメメッのA程度
でありo、s〜2μである@然しなからCuの下地メッ
キを行り死後Snメ。
キを施したリン青銅を長期に亘り使用するとSnメッキ
層の剥離を生ずるという問題があった。
層の剥離を生ずるという問題があった。
特に100℃前後の比較的高温条件にて発生し易いもの
であった。このためCuの下地メッキを行うことなく直
接リン青銅にSnメ、キを施した後リメルティングする
方法が一部に試みられている。
であった。このためCuの下地メッキを行うことなく直
接リン青銅にSnメ、キを施した後リメルティングする
方法が一部に試みられている。
(発明が解決しようとする問題点)
このメッキ層の剥離現象は機器部品や電気部品の電気接
触が不良となシ且つ半田接合部の破壊となり重大な故障
をまねくものであった。従って長期使用によるもSnメ
ッキ層が剥離することなく持続性に優れた製品が要望さ
れているものであった。
触が不良となシ且つ半田接合部の破壊となり重大な故障
をまねくものであった。従って長期使用によるもSnメ
ッキ層が剥離することなく持続性に優れた製品が要望さ
れているものであった。
(問題点を解決するだめの手段)
本発明はリン青銅にSnメッキを施すに先立ち、0.0
1〜0,1μの薄いNi # Co又はこれらの合金の
メ、=?を施すものであ、9、Snメ、キは常法により
ホウ7ツ化物浴、硫酸浴、スルファミン酸浴、ビロリン
酸浴、中性有機酸浴、アルカリ性スズ酸浴などにより行
うものである。又Pb。
1〜0,1μの薄いNi # Co又はこれらの合金の
メ、=?を施すものであ、9、Snメ、キは常法により
ホウ7ツ化物浴、硫酸浴、スルファミン酸浴、ビロリン
酸浴、中性有機酸浴、アルカリ性スズ酸浴などにより行
うものである。又Pb。
Co t Ni r Sb r Zn等の併用により合
金メッキも可能である。
金メッキも可能である。
又Snメッキに先立ちリン背鋼上に施すNl。
Co又はこれらの合金メッキは塩化物浴、硫酸塩浴、ホ
ウ7ツ化物浴、スルファミン酸塩浴、ピロリン酸塩浴等
により行い、Ni * Co * N1−P(1−15
%)、N1−B (0,1〜2 cs)、Ni −Co
*Co−P (1−10%)、N1−Fe (5〜7
0%)、Ni−Zn (s 〜7on )などである。
ウ7ツ化物浴、スルファミン酸塩浴、ピロリン酸塩浴等
により行い、Ni * Co * N1−P(1−15
%)、N1−B (0,1〜2 cs)、Ni −Co
*Co−P (1−10%)、N1−Fe (5〜7
0%)、Ni−Zn (s 〜7on )などである。
本発明はその効果を有効に活用するため上記のNi等の
メッキに引続いてCu又はCu合金例えばCu−8n
(1−50% ) 、Cu−Ni (5−50%)Cu
−Zn (10−60%)などのメッキを行った後にS
nメツ中ヲ行う。このCuメツ中は硫酸浴、ホウフッ化
物浴、シアン浴、ピクリン酸塩浴、アミン浴等を使用す
る。これら一連のメッキを行った後必要に応じてリメル
ティング処理(970−処理)を行ってもよく、融点以
上に急加熱してSnメッキ層をメルトせしめた後、急冷
凝固せしめることによシメッキ時の応力を解放して光輝
な仕上面を形成する。Snホイスカーなどの防止に有効
な方法である。
メッキに引続いてCu又はCu合金例えばCu−8n
(1−50% ) 、Cu−Ni (5−50%)Cu
−Zn (10−60%)などのメッキを行った後にS
nメツ中ヲ行う。このCuメツ中は硫酸浴、ホウフッ化
物浴、シアン浴、ピクリン酸塩浴、アミン浴等を使用す
る。これら一連のメッキを行った後必要に応じてリメル
ティング処理(970−処理)を行ってもよく、融点以
上に急加熱してSnメッキ層をメルトせしめた後、急冷
凝固せしめることによシメッキ時の応力を解放して光輝
な仕上面を形成する。Snホイスカーなどの防止に有効
な方法である。
(作用)
本発明によってメッキ層の剥離が抑止されるメカニズム
について次の如く説明する。即ちCuとSnは常温附近
においても拡散反応し易く、この両者の境界面に金属間
化合物を生成する。
について次の如く説明する。即ちCuとSnは常温附近
においても拡散反応し易く、この両者の境界面に金属間
化合物を生成する。
これは一般に硬質で脆いが特にPが混入すると著しく脆
化する。
化する。
而してリン青銅中のP分はSnメツ中層との間にCu3
Snの金属化合物を濃縮状態に形成する。
Snの金属化合物を濃縮状態に形成する。
然しなから本発明においてはNi等の薄いメ。
キを施すことによ〕次の如き作用を呈する。
(1) NlはCuよりもSnと反応し難いが、Pと
は結合し易い。従って0.01〜0.1μのN1等のメ
ッキは一般にI−ラスであり、CuとPとがSnのメッ
キ層に向りて拡散するに際し、これを完全に抑止できな
いにしても拡散バリヤとして働く。更KCuはanと化
合し、Pは姐に補促されるため硬質脆弱なPの濃縮した
Cu−anの金属間化合物層の発生が抑制される。
は結合し易い。従って0.01〜0.1μのN1等のメ
ッキは一般にI−ラスであり、CuとPとがSnのメッ
キ層に向りて拡散するに際し、これを完全に抑止できな
いにしても拡散バリヤとして働く。更KCuはanと化
合し、Pは姐に補促されるため硬質脆弱なPの濃縮した
Cu−anの金属間化合物層の発生が抑制される。
(2) Niメッキはリン青銅中のCu +SnSn
メッキも著しく硬質であシブレス加工などでの曲げ或は
絞り加工にて割れを生ずる。しかし本発明における薄N
tメッキでは割れ難くたとえ割れを生じたとしてもSn
メッキ層をつきぬけてマイクロクラ、りには至らない。
メッキも著しく硬質であシブレス加工などでの曲げ或は
絞り加工にて割れを生ずる。しかし本発明における薄N
tメッキでは割れ難くたとえ割れを生じたとしてもSn
メッキ層をつきぬけてマイクロクラ、りには至らない。
(3)厚いNiメツ中を設けた場合には長期の使用にお
いてN1よりも更に硬質なN15Snの化合物が多量に
発生し易くこれがクラ、りや剥離の原因となる。
いてN1よりも更に硬質なN15Snの化合物が多量に
発生し易くこれがクラ、りや剥離の原因となる。
本発明において特にN1等のメッキ厚さを0.01〜0
.1μに限定したが0.01μ未満の場合には上記(1
)の効果を十分く発揮せしめることが出来ず又0.1μ
を越した場合には(2)及び(3)の如き不都合がおこ
る。本発明においてはN1等のメッキ厚を通常の下地メ
ツ中の厚さよりも遥かに薄くしたものであり、この薄さ
においてはじめて上記の如き効果が発現出来る。
.1μに限定したが0.01μ未満の場合には上記(1
)の効果を十分く発揮せしめることが出来ず又0.1μ
を越した場合には(2)及び(3)の如き不都合がおこ
る。本発明においてはN1等のメッキ厚を通常の下地メ
ツ中の厚さよりも遥かに薄くしたものであり、この薄さ
においてはじめて上記の如き効果が発現出来る。
又本発明はN1とCuとの2層のメッキ層を併用する理
由は、NiとSnとの中間にCuメッキ層が介在するこ
とによりSnと姐の直接反応が十分に防止することが出
来るため薄いNiメ、キをよシ有効に活用できる。なお
Cuメツ中層は厚さを0.1n以上に設けることが好ま
しい。
由は、NiとSnとの中間にCuメッキ層が介在するこ
とによりSnと姐の直接反応が十分に防止することが出
来るため薄いNiメ、キをよシ有効に活用できる。なお
Cuメツ中層は厚さを0.1n以上に設けることが好ま
しい。
(実施例)
(1)バネ用リン青銅板(Cu −8,18n−0,1
8P、0.12℃厚)を常法によりアルカリ脱脂、酸洗
いを行った後、第1表に示す各種の第1層及び第2層の
中間メッキを第2表に示すメッキ条件により夫々行い、
次いでSnメ、キを行りた。
8P、0.12℃厚)を常法によりアルカリ脱脂、酸洗
いを行った後、第1表に示す各種の第1層及び第2層の
中間メッキを第2表に示すメッキ条件により夫々行い、
次いでSnメ、キを行りた。
なお無光沢のSnメツ中の場合にはガスバーナ法により
リメルティング処理を行った。
リメルティング処理を行った。
第 2 表
(1)N五メッキ
Ni504250#/ぷ
Ni CL2301A
H,Bo、 5oyA
pH3,1
浴温 45℃
電流密度 2.5 A/dm2(2) Ni
−10Coメツ中 Nl5O425011/43 NiCl2 3011/J3Co 80 a
20 j’/AH3BO!l
301/句pH2,9 浴温 55℃ 電流密度 3A/dm2 (3) Coメッキ Co Soa 3001/J NaCL15 g/I) HsBO4451n句 pH5,5 浴温 25℃ 電me度 5A/dm2 (4) N1−3Bメツ中 実計製薬社製無電解N1−Bメ、キ浴 ナイクラ、ドー740 浴温77℃ pH4,5(5)
Snメ、キ SnSO48011/−13 H2aso450 i/に カワ 2.51 Bナフトール 0.2 浴温 15℃ 電流密度 3.5 A/dm2(6) a
n −5Pbメ、キ 5n(BFe)2(45%) 260g/Apb(Bp
e)2(45%) Loft/43HBF・
10011/If 5原製薬社製 UTB A 1 4011/13z 42
601/−8 ホルマリン 10cc/p 浴温 15℃ 電流密度 5A/dm2 斯くして得た本発明品及び比較例品についてリン青銅層
の加工性を試みるため第3表に示す如き(A) 、 (
B) 、 (Clの3条件によりW曲げ試験を行い、曲
げ部の割れの有無1X100倍の実体顕微鏡に検査した
。その結果は第4表に示した通りである。
−10Coメツ中 Nl5O425011/43 NiCl2 3011/J3Co 80 a
20 j’/AH3BO!l
301/句pH2,9 浴温 55℃ 電流密度 3A/dm2 (3) Coメッキ Co Soa 3001/J NaCL15 g/I) HsBO4451n句 pH5,5 浴温 25℃ 電me度 5A/dm2 (4) N1−3Bメツ中 実計製薬社製無電解N1−Bメ、キ浴 ナイクラ、ドー740 浴温77℃ pH4,5(5)
Snメ、キ SnSO48011/−13 H2aso450 i/に カワ 2.51 Bナフトール 0.2 浴温 15℃ 電流密度 3.5 A/dm2(6) a
n −5Pbメ、キ 5n(BFe)2(45%) 260g/Apb(Bp
e)2(45%) Loft/43HBF・
10011/If 5原製薬社製 UTB A 1 4011/13z 42
601/−8 ホルマリン 10cc/p 浴温 15℃ 電流密度 5A/dm2 斯くして得た本発明品及び比較例品についてリン青銅層
の加工性を試みるため第3表に示す如き(A) 、 (
B) 、 (Clの3条件によりW曲げ試験を行い、曲
げ部の割れの有無1X100倍の実体顕微鏡に検査した
。その結果は第4表に示した通りである。
なお、曲げ半径は板の1,5倍とした。又割れ部につい
てはケガΦ針を用いてメッキ層の剥離性を検証した。
てはケガΦ針を用いてメッキ層の剥離性を検証した。
第 3 表
体) メッキ上り
Q3) 100℃X2000hr 大気加熱(C
)150℃X500hr犬気加熱 第 4 表 ただし ○は割れを生ぜず、剥離なし Δは割れを生じた ×は割れ及び剥離を生じた (2) IcリードフレームにCu−2Sn−0,2
Cr −0,19Pからなる改良リン青銅を使用し、実
施例(1)と同様の方法により第5表に示す各種の第1
層及び第2層の中間メッキを行った後、Snnメツ上行
った。
)150℃X500hr犬気加熱 第 4 表 ただし ○は割れを生ぜず、剥離なし Δは割れを生じた ×は割れ及び剥離を生じた (2) IcリードフレームにCu−2Sn−0,2
Cr −0,19Pからなる改良リン青銅を使用し、実
施例(1)と同様の方法により第5表に示す各種の第1
層及び第2層の中間メッキを行った後、Snnメツ上行
った。
なお少量のCr’km加することにより2%Snでも4
%Sn合金に相当する強度を発揮できる。
%Sn合金に相当する強度を発揮できる。
リードフレームのアウターリードはグリント基板に実装
されるので半田メッキされる。
されるので半田メッキされる。
斯くして得た本発明品及び比較例品について実施例(1
)と同様の試験を行って曲げ部の割れの有無’kX10
0倍の実体顕微鏡にて検査した。
)と同様の試験を行って曲げ部の割れの有無’kX10
0倍の実体顕微鏡にて検査した。
その結果は第6表に示す通りである。
第 6 表
ただし ○は割れ音生ぜず剥離なし
Δは割れを生じ九
×は割れ及び剥離を生じた
リードフレームのアウターリード部は半田メツ中抜に曲
げ加工されてプリント回路への挿入ピントなるので加工
性が重要である。第6表に示す如く本発明品は比較例品
に比べて大巾に曲げ加工性に優れていることがわかる。
げ加工されてプリント回路への挿入ピントなるので加工
性が重要である。第6表に示す如く本発明品は比較例品
に比べて大巾に曲げ加工性に優れていることがわかる。
(効果)
以上詳述した如く本発明によれば電子機器部品に広く使
用されるSn又はSn合金メツキリン青銅に生起される
重大劣化故障を抑制し且つ精密部品としての高度の加工
や過剰な使用条件に耐えることを示した。又小型高密度
化するとエクトロニクスの部品や実装を経済的に実現す
る丸めに有効な材料を提供しうる等顕著な効果を有する
。
用されるSn又はSn合金メツキリン青銅に生起される
重大劣化故障を抑制し且つ精密部品としての高度の加工
や過剰な使用条件に耐えることを示した。又小型高密度
化するとエクトロニクスの部品や実装を経済的に実現す
る丸めに有効な材料を提供しうる等顕著な効果を有する
。
Claims (2)
- (1)リン青銅に0.01〜0.1μのNi、Co又は
これらの合金の内何れか1種によるメッキを行った後、
Sn又はSn合金をメッキすることを特徴とするリン青
銅のSn又はSn合金メッキ方法。 - (2)リン青銅に0.01〜0.1μのNi、Co又は
これらの合金の内何れか1種によるメッキを行い、その
上にCu又はCu合金のメッキを行った後、Sn又はS
n合金をメッキすることを特徴とするリン青銅のSn又
はSn合金メッキ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1683485A JPS61177393A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1683485A JPS61177393A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61177393A true JPS61177393A (ja) | 1986-08-09 |
JPH0148355B2 JPH0148355B2 (ja) | 1989-10-18 |
Family
ID=11927223
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1683485A Granted JPS61177393A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61177393A (ja) |
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JP2019019387A (ja) * | 2017-07-19 | 2019-02-07 | 第一精工株式会社 | 端子及び端子の製造方法 |
Families Citing this family (3)
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---|---|---|---|---|
JPH11135226A (ja) * | 1997-10-27 | 1999-05-21 | Harness Syst Tech Res Ltd | 嵌合型接続端子の製造方法 |
JP4814552B2 (ja) * | 2005-06-13 | 2011-11-16 | Dowaメタルテック株式会社 | 表面処理法 |
KR101900793B1 (ko) | 2017-06-08 | 2018-09-20 | 주식회사 풍산 | 전기·전자, 자동차 부품용 동합금의 주석 도금 방법 및 이로부터 제조된 동합금의 주석 도금재 |
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-
1985
- 1985-01-31 JP JP1683485A patent/JPS61177393A/ja active Granted
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