JPS61177393A - リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法 - Google Patents

リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法

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JPS61177393A
JPS61177393A JP1683485A JP1683485A JPS61177393A JP S61177393 A JPS61177393 A JP S61177393A JP 1683485 A JP1683485 A JP 1683485A JP 1683485 A JP1683485 A JP 1683485A JP S61177393 A JPS61177393 A JP S61177393A
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Shoji Shiga
志賀 章二
Akitoshi Suzuki
昭利 鈴木
Toru Tanigawa
徹 谷川
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Furukawa Electric Co Ltd
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Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電子、電気機器部品に使用されるan又はSn
合金メ、キ(以下Snメッキという)を施したリン青銅
の製法に関するものである。
(従来の技術) CuにSn l 〜8 % 、 P 0.01〜0.3
 %を添加したリン青銅及びこのリン青銅の性能を改善
するためにNl 、 Cr r Co * Ti + 
At * Fe r 81等′t−s加した合金(以下
これらを総称してリン青銅という)は強度差にバネ性に
優れているためコネクター、端子、スプリング、リード
フレーム、リード線等として電気、電子機器部品に広く
利用されている。
又上記りン背銅に耐食性、電気接続性(接点)及び半田
付は性を附与せしめるために、該リン青銅面にSn又は
5n−Pb (Pb 3〜80 wt%)Sn−Ni 
(等モル)、5n−Co (等モル)、5n−8b(S
bO,5〜5%)、5n−Zn (Zn 1〜40%)
、などのSn合金によるメッキを施しているものである
この場合通常リン青銅とSbメ、キとの密着性を向上せ
しめるためにCu又はCu合金の下地メ、キを行ってい
るものであり、メッキの厚さは通常anメメッのA程度
でありo、s〜2μである@然しなからCuの下地メッ
キを行り死後Snメ。
キを施したリン青銅を長期に亘り使用するとSnメッキ
層の剥離を生ずるという問題があった。
特に100℃前後の比較的高温条件にて発生し易いもの
であった。このためCuの下地メッキを行うことなく直
接リン青銅にSnメ、キを施した後リメルティングする
方法が一部に試みられている。
(発明が解決しようとする問題点) このメッキ層の剥離現象は機器部品や電気部品の電気接
触が不良となシ且つ半田接合部の破壊となり重大な故障
をまねくものであった。従って長期使用によるもSnメ
ッキ層が剥離することなく持続性に優れた製品が要望さ
れているものであった。
(問題点を解決するだめの手段) 本発明はリン青銅にSnメッキを施すに先立ち、0.0
1〜0,1μの薄いNi # Co又はこれらの合金の
メ、=?を施すものであ、9、Snメ、キは常法により
ホウ7ツ化物浴、硫酸浴、スルファミン酸浴、ビロリン
酸浴、中性有機酸浴、アルカリ性スズ酸浴などにより行
うものである。又Pb。
Co t Ni r Sb r Zn等の併用により合
金メッキも可能である。
又Snメッキに先立ちリン背鋼上に施すNl。
Co又はこれらの合金メッキは塩化物浴、硫酸塩浴、ホ
ウ7ツ化物浴、スルファミン酸塩浴、ピロリン酸塩浴等
により行い、Ni * Co * N1−P(1−15
%)、N1−B (0,1〜2 cs)、Ni −Co
 *Co−P (1−10%)、N1−Fe (5〜7
0%)、Ni−Zn (s 〜7on )などである。
本発明はその効果を有効に活用するため上記のNi等の
メッキに引続いてCu又はCu合金例えばCu−8n 
(1−50% ) 、Cu−Ni (5−50%)Cu
−Zn (10−60%)などのメッキを行った後にS
nメツ中ヲ行う。このCuメツ中は硫酸浴、ホウフッ化
物浴、シアン浴、ピクリン酸塩浴、アミン浴等を使用す
る。これら一連のメッキを行った後必要に応じてリメル
ティング処理(970−処理)を行ってもよく、融点以
上に急加熱してSnメッキ層をメルトせしめた後、急冷
凝固せしめることによシメッキ時の応力を解放して光輝
な仕上面を形成する。Snホイスカーなどの防止に有効
な方法である。
(作用) 本発明によってメッキ層の剥離が抑止されるメカニズム
について次の如く説明する。即ちCuとSnは常温附近
においても拡散反応し易く、この両者の境界面に金属間
化合物を生成する。
これは一般に硬質で脆いが特にPが混入すると著しく脆
化する。
而してリン青銅中のP分はSnメツ中層との間にCu3
Snの金属化合物を濃縮状態に形成する。
然しなから本発明においてはNi等の薄いメ。
キを施すことによ〕次の如き作用を呈する。
(1)  NlはCuよりもSnと反応し難いが、Pと
は結合し易い。従って0.01〜0.1μのN1等のメ
ッキは一般にI−ラスであり、CuとPとがSnのメッ
キ層に向りて拡散するに際し、これを完全に抑止できな
いにしても拡散バリヤとして働く。更KCuはanと化
合し、Pは姐に補促されるため硬質脆弱なPの濃縮した
Cu−anの金属間化合物層の発生が抑制される。
(2)  Niメッキはリン青銅中のCu +SnSn
メッキも著しく硬質であシブレス加工などでの曲げ或は
絞り加工にて割れを生ずる。しかし本発明における薄N
tメッキでは割れ難くたとえ割れを生じたとしてもSn
メッキ層をつきぬけてマイクロクラ、りには至らない。
(3)厚いNiメツ中を設けた場合には長期の使用にお
いてN1よりも更に硬質なN15Snの化合物が多量に
発生し易くこれがクラ、りや剥離の原因となる。
本発明において特にN1等のメッキ厚さを0.01〜0
.1μに限定したが0.01μ未満の場合には上記(1
)の効果を十分く発揮せしめることが出来ず又0.1μ
を越した場合には(2)及び(3)の如き不都合がおこ
る。本発明においてはN1等のメッキ厚を通常の下地メ
ツ中の厚さよりも遥かに薄くしたものであり、この薄さ
においてはじめて上記の如き効果が発現出来る。
又本発明はN1とCuとの2層のメッキ層を併用する理
由は、NiとSnとの中間にCuメッキ層が介在するこ
とによりSnと姐の直接反応が十分に防止することが出
来るため薄いNiメ、キをよシ有効に活用できる。なお
Cuメツ中層は厚さを0.1n以上に設けることが好ま
しい。
(実施例) (1)バネ用リン青銅板(Cu −8,18n−0,1
8P、0.12℃厚)を常法によりアルカリ脱脂、酸洗
いを行った後、第1表に示す各種の第1層及び第2層の
中間メッキを第2表に示すメッキ条件により夫々行い、
次いでSnメ、キを行りた。
なお無光沢のSnメツ中の場合にはガスバーナ法により
リメルティング処理を行った。
第   2   表 (1)N五メッキ Ni504250#/ぷ Ni CL2301A H,Bo、       5oyA pH3,1 浴温     45℃ 電流密度     2.5 A/dm2(2)  Ni
−10Coメツ中 Nl5O425011/43 NiCl2      3011/J3Co 80 a
        20 j’/AH3BO!l    
    301/句pH2,9 浴温      55℃ 電流密度     3A/dm2 (3)  Coメッキ Co Soa     3001/J NaCL15 g/I) HsBO4451n句 pH5,5 浴温      25℃ 電me度      5A/dm2 (4)  N1−3Bメツ中 実計製薬社製無電解N1−Bメ、キ浴 ナイクラ、ドー740 浴温77℃ pH4,5(5)
  Snメ、キ SnSO48011/−13 H2aso450 i/に カワ      2.51 Bナフトール   0.2 浴温      15℃ 電流密度      3.5 A/dm2(6)  a
n −5Pbメ、キ 5n(BFe)2(45%) 260g/Apb(Bp
e)2(45%)  Loft/43HBF・    
10011/If 5原製薬社製 UTB A 1    4011/13z 42   
 601/−8 ホルマリン    10cc/p 浴温     15℃ 電流密度     5A/dm2 斯くして得た本発明品及び比較例品についてリン青銅層
の加工性を試みるため第3表に示す如き(A) 、 (
B) 、 (Clの3条件によりW曲げ試験を行い、曲
げ部の割れの有無1X100倍の実体顕微鏡に検査した
。その結果は第4表に示した通りである。
なお、曲げ半径は板の1,5倍とした。又割れ部につい
てはケガΦ針を用いてメッキ層の剥離性を検証した。
第  3  表 体) メッキ上り Q3)   100℃X2000hr  大気加熱(C
)150℃X500hr犬気加熱 第   4   表 ただし ○は割れを生ぜず、剥離なし Δは割れを生じた ×は割れ及び剥離を生じた (2)  IcリードフレームにCu−2Sn−0,2
Cr −0,19Pからなる改良リン青銅を使用し、実
施例(1)と同様の方法により第5表に示す各種の第1
層及び第2層の中間メッキを行った後、Snnメツ上行
った。
なお少量のCr’km加することにより2%Snでも4
%Sn合金に相当する強度を発揮できる。
リードフレームのアウターリードはグリント基板に実装
されるので半田メッキされる。
斯くして得た本発明品及び比較例品について実施例(1
)と同様の試験を行って曲げ部の割れの有無’kX10
0倍の実体顕微鏡にて検査した。
その結果は第6表に示す通りである。
第  6  表 ただし ○は割れ音生ぜず剥離なし Δは割れを生じ九 ×は割れ及び剥離を生じた リードフレームのアウターリード部は半田メツ中抜に曲
げ加工されてプリント回路への挿入ピントなるので加工
性が重要である。第6表に示す如く本発明品は比較例品
に比べて大巾に曲げ加工性に優れていることがわかる。
(効果) 以上詳述した如く本発明によれば電子機器部品に広く使
用されるSn又はSn合金メツキリン青銅に生起される
重大劣化故障を抑制し且つ精密部品としての高度の加工
や過剰な使用条件に耐えることを示した。又小型高密度
化するとエクトロニクスの部品や実装を経済的に実現す
る丸めに有効な材料を提供しうる等顕著な効果を有する

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)リン青銅に0.01〜0.1μのNi、Co又は
    これらの合金の内何れか1種によるメッキを行った後、
    Sn又はSn合金をメッキすることを特徴とするリン青
    銅のSn又はSn合金メッキ方法。
  2. (2)リン青銅に0.01〜0.1μのNi、Co又は
    これらの合金の内何れか1種によるメッキを行い、その
    上にCu又はCu合金のメッキを行った後、Sn又はS
    n合金をメッキすることを特徴とするリン青銅のSn又
    はSn合金メッキ方法。
JP1683485A 1985-01-31 1985-01-31 リン青銅のSn又はSn合金メツキ方法 Granted JPS61177393A (ja)

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