JPS61176165A - 光半導体装置 - Google Patents
光半導体装置Info
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- JPS61176165A JPS61176165A JP60015328A JP1532885A JPS61176165A JP S61176165 A JPS61176165 A JP S61176165A JP 60015328 A JP60015328 A JP 60015328A JP 1532885 A JP1532885 A JP 1532885A JP S61176165 A JPS61176165 A JP S61176165A
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、入射光を電気信号(変換する光半導体装置に
関する。
関する。
従来、光半導体装置はその受光素子である光電変換素子
の入射光路に光学フィルタを有するものであった。すな
わち、従来の光半導体装置の構成は、第1図に示す如く
、光電変換素子1をリードフレーム2に固着し、ワイヤ
ゴンrイング3を施す。次に透明度の高い光透過性樹脂
においてもわずかに黄色をしておシ見かけ上の透明度を
上げる働きを有するC、1.(力2−インf”qクス:
国際規格)ディス/9−スプルー(C−1,Disp@
ra@B1u+s)を5 X I O−’程度加えた光
透過性樹脂6により封止成形し、更に光電変換素子1の
入射光路の樹脂6上に入射光のうち任意の波長のみを透
過する働きを有する光学フィルタ7を固着する。その結
果、光学フィルタ7の取付けに関し、特殊な技術を必要
とする上、工程数が多く、コストの高いものであった。
の入射光路に光学フィルタを有するものであった。すな
わち、従来の光半導体装置の構成は、第1図に示す如く
、光電変換素子1をリードフレーム2に固着し、ワイヤ
ゴンrイング3を施す。次に透明度の高い光透過性樹脂
においてもわずかに黄色をしておシ見かけ上の透明度を
上げる働きを有するC、1.(力2−インf”qクス:
国際規格)ディス/9−スプルー(C−1,Disp@
ra@B1u+s)を5 X I O−’程度加えた光
透過性樹脂6により封止成形し、更に光電変換素子1の
入射光路の樹脂6上に入射光のうち任意の波長のみを透
過する働きを有する光学フィルタ7を固着する。その結
果、光学フィルタ7の取付けに関し、特殊な技術を必要
とする上、工程数が多く、コストの高いものであった。
また、入射光の補正の為には光学フィルタを選択した上
調整しなければならない欠点が6りた・ 〔発明の目的〕 本発明の目的は、前述の欠点を解消した、入射光補正を
任意に且つ容易に行うことのできる、低コストで製造の
容品な光半導体装置を提供することである。
調整しなければならない欠点が6りた・ 〔発明の目的〕 本発明の目的は、前述の欠点を解消した、入射光補正を
任意に且つ容易に行うことのできる、低コストで製造の
容品な光半導体装置を提供することである。
本発明の光半導体装置は、光電変換素子の光路が色素を
含有せる樹脂により封止されていることを特徴としてい
る。
含有せる樹脂により封止されていることを特徴としてい
る。
以下、本発明を図面に従って具体的に説明する。
尚、各図の符号は、同一成分・物質については同じもの
が用いられている。
が用いられている。
第2図は本発明の実施態様の一つであル、−重モールド
での実施例である。第2図において、受光素子である光
電変換素子lは基板となるリードフレーム2に固定され
、必要な部分はワイヤメンディング3が行なわれる。次
に色素、例えばC,I。
での実施例である。第2図において、受光素子である光
電変換素子lは基板となるリードフレーム2に固定され
、必要な部分はワイヤメンディング3が行なわれる。次
に色素、例えばC,I。
ディスパ−スゲリーン(C−I 、Disp@ra@G
reen )を含有した光透過性樹脂4で封止される。
reen )を含有した光透過性樹脂4で封止される。
今この装置に入射光があると、赤外域の光は、モールド
樹脂滅透過性樹脂4)中のC,1,7’イスノ母−スゲ
リーンに吸収されることにより、力、トされる。
樹脂滅透過性樹脂4)中のC,1,7’イスノ母−スゲ
リーンに吸収されることにより、力、トされる。
第3図は本発明の他の実施態様の一つであシ、二重モー
ルドでの実施例である。第3図に・おいて、光電変換素
子1は基板となるリードフレーム2に固定され、必要な
部分はワイヤざンディング3が行なわれる。次にC,1
,ディスパースグリーンを含有した光透過性樹脂5で光
電変換素子1の周囲のみを封止し、その上から更に別の
光透過性樹脂6で封止成形する。
ルドでの実施例である。第3図に・おいて、光電変換素
子1は基板となるリードフレーム2に固定され、必要な
部分はワイヤざンディング3が行なわれる。次にC,1
,ディスパースグリーンを含有した光透過性樹脂5で光
電変換素子1の周囲のみを封止し、その上から更に別の
光透過性樹脂6で封止成形する。
入射光中の赤外域の光がカットされる過程は−1モール
ドにおけるそれと同様である。
ドにおけるそれと同様である。
本発明は更に、三重、四重の多重モールドについても同
様に実施可能である。
様に実施可能である。
又、以上の例では、周辺回路をもたない光電変換素子に
ついて述べたが、本発明が周辺回路を同時に封止する必
要のある光半導体装置に適用できることも明らかである
。
ついて述べたが、本発明が周辺回路を同時に封止する必
要のある光半導体装置に適用できることも明らかである
。
モールド樹脂中の色素の濃度は必要に応じて設定される
が、例えばC,1,7″イスノ4−スゲリーンでlXl
0 wt%程度である。
が、例えばC,1,7″イスノ4−スゲリーンでlXl
0 wt%程度である。
なお、本発明に用いられる色素としては目的に応じ適宜
選択される。例えば、C,1,5″イスt4−スゲリー
ン3 B 1C01,7” 4 ス/4’ /(しy
P l 、 C−Lディスツク−スプルー1、ディス
パースバイオレット1等である。
選択される。例えば、C,1,5″イスt4−スゲリー
ン3 B 1C01,7” 4 ス/4’ /(しy
P l 、 C−Lディスツク−スプルー1、ディス
パースバイオレット1等である。
本発明の光半導体装置は、上述の色素のm類及び含有)
を変えることにより、吸収、力、トシたい光の波長を簡
単にしかも広範囲に11Jnすることができる点におい
て光学フィルタを用いる従来のものに較べて優れている
。
を変えることにより、吸収、力、トシたい光の波長を簡
単にしかも広範囲に11Jnすることができる点におい
て光学フィルタを用いる従来のものに較べて優れている
。
本発明に用いられる樹脂としては、光半導体装置の封入
に用いられる樹脂の中から適宜選択される。例えば、工
Iキシ樹脂、クリコン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミ
ド樹脂等である。二重モールドの実施態様に用いられる
樹脂としては耐湿性が良い点でポリイミド樹脂が好まし
い。
に用いられる樹脂の中から適宜選択される。例えば、工
Iキシ樹脂、クリコン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミ
ド樹脂等である。二重モールドの実施態様に用いられる
樹脂としては耐湿性が良い点でポリイミド樹脂が好まし
い。
本発明に用いられる光電変換素子としては、光半導体装
置に用いられる光電変換素子の中から適宜選択される。
置に用いられる光電変換素子の中から適宜選択される。
例えば、シリコン、GaAs系光電変換素子が例示され
る。
る。
以上、説明した様に、本発明によれば、入射光補正を任
意に且つ容易に調整できる製造の容易な光半導体装置を
提供することができる。
意に且つ容易に調整できる製造の容易な光半導体装置を
提供することができる。
第1図は、従来の光半導体装置の縦断面図である。
第2図、第3図は本発明に係る光半導体装置の実施態様
の例を示す縦断面図である。 1・・・光電変換素子、2・・・リードフレーム、3・
・・ワイヤがンディング、4,5.6・・・光透過性樹
脂、7・・・光学フィルタ。
の例を示す縦断面図である。 1・・・光電変換素子、2・・・リードフレーム、3・
・・ワイヤがンディング、4,5.6・・・光透過性樹
脂、7・・・光学フィルタ。
Claims (4)
- (1)光電変換素子の光路が色素を含有せる樹脂により
封止されていることを特徴とする光半導体装置。 - (2)上記色素が、C.I.ディスパースブルーである
特許請求の範囲第1項に記載の光半導体装置。 - (3)上記C.Iディスパースブルーの含有量が1×1
0^−^2重量%以上である特許請求の範囲第2項に記
載の光半導体装置。 - (4)光電変換素子が受光素子である特許請求の範囲第
1項、2項及び3項記載の光半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60015328A JPS61176165A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 光半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60015328A JPS61176165A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 光半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61176165A true JPS61176165A (ja) | 1986-08-07 |
Family
ID=11885708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60015328A Pending JPS61176165A (ja) | 1985-01-31 | 1985-01-31 | 光半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61176165A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6331735B1 (en) * | 1998-09-25 | 2001-12-18 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method to improve chip scale package electrostatic discharge performance and suppress marking artifacts |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5457983A (en) * | 1977-10-18 | 1979-05-10 | Toshiba Corp | Optical semiconductor device |
-
1985
- 1985-01-31 JP JP60015328A patent/JPS61176165A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5457983A (en) * | 1977-10-18 | 1979-05-10 | Toshiba Corp | Optical semiconductor device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6331735B1 (en) * | 1998-09-25 | 2001-12-18 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method to improve chip scale package electrostatic discharge performance and suppress marking artifacts |
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