JPS61170994A - ダイナミツク型ram - Google Patents

ダイナミツク型ram

Info

Publication number
JPS61170994A
JPS61170994A JP60009046A JP904685A JPS61170994A JP S61170994 A JPS61170994 A JP S61170994A JP 60009046 A JP60009046 A JP 60009046A JP 904685 A JP904685 A JP 904685A JP S61170994 A JPS61170994 A JP S61170994A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
address
output
column
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60009046A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0652632B2 (ja
Inventor
Katsuyuki Sato
克之 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP60009046A priority Critical patent/JPH0652632B2/ja
Priority to US06/820,326 priority patent/US4758995A/en
Priority to KR1019860000382A priority patent/KR940001493B1/ko
Publication of JPS61170994A publication Critical patent/JPS61170994A/ja
Priority to US07/214,542 priority patent/US4899312A/en
Priority to US07/440,878 priority patent/US4984217A/en
Publication of JPH0652632B2 publication Critical patent/JPH0652632B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Memory System (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、ダイナミック型)CAM(ランダム・アク
セス・メモリ)忙関するもので、例えば、ニブルモード
動作が可能なダイナミック型RAMに利用して有効な技
術忙関するものである。
〔背景技術〕
例えば、ダイナミックfi RAMにおいては、1ビッ
トの単位でアクセスする方式の他、ニブルモードと呼ば
れるアクセス方式が提案されている(例えば、(株)日
立製作所が、昭和58年9月に発行した「日立ICメモ
リデータブック」の頁307〜頁320参照)。このニ
ブルモードにおいて、4ビツトのデータは、カラムアド
レスストローブ信号CASK同期し℃動作するシフトレ
ジスタ又はバイナリカウンタの計数出力により形成され
た選択信号によってシリアルに出力される。
上記ニブルモードでは、4ビツトのデータの読み出しに
次いて更に4ビツトの読み出しを行う必要がある場合、
カラム系の選択回路を一旦リセットしてイニシャルアド
レスを供給する必要がある。
しかしながら、この場合、4ビツトづつの読み出しの間
で、比較的長時間を費やすことになってしまう。
〔発明の目的〕 この発明の目的は、高速連続アクセス機能を行別したダ
イナミック型1’LAMY提供することKある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかkなるであ
ろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、読み出しそ−ドの時忙カラムアドレスストロ
ーブ信号の変化に同期して変化する内部アドレス信号に
従って複数の共通データ線に読み出された信号を増幅し
かつそれを保持する複数のメインアンプと、かかるメイ
ンアンプの出力を時系列的に出力させるメインアンプ制
御回路と、上記複数のメインアンプの時系列的な読み出
し動作の途中において、アドレス歩進動作を行う内蔵の
アドレスカウンタと、かかるアドレスカウンタによりて
カラムスイッチの切り換えを行5カラム選択回路とを設
けるものである。                −
〔実施例〕 第1図には、この発明に係るダイナミック型RAMのブ
ロック図が示されている。
この実施例の)CAMは、ロウ系アドレス信号及びカラ
ム系アドレス信号が多重化(マルチプレクサ)されて供
給されるアドレス端子群AT、回路の接地電位が供給さ
れる基準電位端子GND、+5ボルトのような電源電圧
が供給される電源端子■CC、ロウアドレスストローブ
(RAS)信号、カラムアドレスストローブ(CAS)
信号及びライトエネーブル(WE)信号が供給される制
御端1)out及びデータ入力端子Din″41:持つ
この実施例のRAMは、また、特KIIJ限されないが
、2つに分割されたメモリアレイM−A)tYl及びM
−A)LY2、メモリアレイM−ARYI及びM−AR
Y2のそれぞれに一対一対応にされたロウアドレスデコ
ーダR−DCRI及びR−DCH2、メモリアレイM−
ARYIとM−ARY2との間に配置されたカラムアド
レスデコーダC−DCR、ロウアドレスデコーダR−D
CRI及びR−DCH2に対応されたロウアドレスバッ
ファR−ADB、カラムアドレスデコーダC−DCHに
対応されたカラムアドレスバッファY−ADB、メイン
アンプMAOないしMA3、入出力回路I10、及び後
で説明するような種々のタイミング信号を形成するタイ
ミング発生回路TGを持つ。
この実施例のRAMは、高速連続アクセス動作を可能と
するために、更に、図示されるようなマルチプレクサM
PX及びカウンタC0UNTを持つO この実施例のRAMを構成する各回路素子は、公知の0
MO3(相補型MO8)集積回路の製造技術によって、
1個の単結晶シリコンのような半導体基板上において形
成される。
特に制限されないが、集積回路は、単結晶P型シリコン
からなる半導体基板く形成される。Nチャンネル絶縁ゲ
ート電界効果トランジスタ(以下MO8FETと称する
)は、かかる半導体基板表面に形成されたソース領域、
ドレイン領域及びソース領域とドレイン領域との間の半
導体基板表面に薄い厚さのゲート絶縁膜を介して形成さ
れたボリシリコンからなるようなゲート電極から構成さ
れる。PチャンネルMO5FETは、上記半導体基板表
面に形成されたN型ウェル領域に形成される。これによ
って、半導体基板は、その上に形成された複数のNチャ
ンネルMO8FETの共通の基板ゲートを構成する。N
型ウェル領域は、その上に形成されたPチャンネルMO
3FETの基板ゲートを構成する。PチャンネルMO8
FETの基板ゲートすなわちN型ウェル領域は、電源端
子Vccに結合される。特に制限されないが、図示しな
い内蔵の基板バックバイアス電圧発生回路は、集積回路
の外部端子を構成する電源端子Vccと基準電位端子も
しくはアース端子との間にガロえられる+5Vのような
正電源電圧に応答して、上記半導体基板に供給すべき負
のバックバイアス電圧を発生する。これによって、Nチ
ャンネルMO8FETの基板ゲートにバックバイアス電
圧が加えられる。その結果として、NチャンネルMO8
FETのソース、ドレインと半導体基板間の接合容量(
薔生容量)が減少させられるため、動作の高速化が図ら
れる。
メモリアレイM−ARY1は、特に制限されないが、2
交点方式もしくは折り返えしビット線(データa>方式
をもって構成され、図面の横方向に互いに平行に延長さ
れた複数の相補データ線もしくは相補ビット線と、図面
の縦方向に延長された複数のワード線WO,Wl、W2
及びダミーワード線を含むロウ系アドレス選択線と、そ
れぞれのデータ入出力端子がそれぞれ忙対応されたデー
タ線に結合されかつそれぞれの選択端子がそれに対応さ
れたワード線に結合された複数のメモリセルと、複数の
ダミーセルとから構成される。メモリセルのそれぞれは
、後で第2図によって詳細に説明するように、1MO8
)ランラスタ/セル構成のダイナミック型メモリセル、
すなわち、選択スイッチもしくは伝送ゲート素子として
のMOSFETと、それに直列接続された情報保持手段
      −としてのMOSキャパシタから構成され
る。
メモリアレイM−ARYIKは、センスアンプSAI、
プリチャージ回路PCI及びカラムスイッチ回路C−8
WIが結合されている。メモリアレイM−ARYI及び
それに結合された上記各回路の詳細は、後で第2図にも
とづいて詳細に説明される。
センスアンプSAI及びプリチャージ回路PC1の機能
は、良く知られたダイナミックメモリのそれと実質的に
同様である。
すなわち、プリチャーシロ路PCIは、メモリセルから
読み出される微小レベルのデータ信号の増幅が可能とな
るようKするために、メモリのアクセスの開始において
、メモリアレイM−ARY1の各相補データ線の電位を
プリチャージレベルにさせる。
センスアンプSAIは、データの書込み/読み出し動作
の時には、タイミング信号φpaにより選択的に動作状
態とされる。ワード線の選択動作によって一方のデータ
線に結合されたメモリセルから読み出された微小読み出
し電圧は、その電圧とダミーワード線の選択動作に裏っ
て他方のデータ線に結合されたダミーセルによって設定
された基準電圧と参照するセンスアンプによって増幅さ
れる。これによって相補データ線がハイレベル/ロウレ
ベルに増l1l18れる。特に制限されないが、このセ
ンスアンプを構成する単位の回路は、第2図から明らか
となるようにCMOSラッチ回路により構成される。
この実施例に従うと、特に111J@されないが、メモ
リアレイM−ARYIK対して同時IC2ビツトのデー
タをアクセスすることができるようにするために、メモ
リアレイM−ARY1に対して2組の共通相補データ線
、すなわちCDO,CDO。
CDI及びCDIが設けられて〜・る。カラムスイッチ
回路c−swtは、後で第2図ICよって説明するよう
に、それが動作されたときく、メモリアレイM−ARY
Iの2組の相補データ線を同時に2組の共通相補データ
線CDOないしCDIK結合させる構成忙されている。
メモリアレイM−ARY2は、メモリアレイM−ARY
1と同様な構成にされ、それに結合されるセンスアンプ
SA2、プリチャージ回路PC2及びカラムスイッチ回
路C−8W2は、メモリアレイM−ARYIに結合され
るそれぞれと同様な構成にされる。
この実施例のようなアドレスマルチプレクス方式のRA
Mにおいて、アドレス入力端子ATには、ロウアドレス
ストローブ信号RASK同期してロウアドレス信号(以
下アドレス信号AXのように記す)が供給され、カラム
アドレス信号CASに同期してカラムアドレス信号(以
下アドレス信号AYのよう忙記す)が供給される。
ロウアドレスバッファR−ADBは、その動作が、メモ
リのアクセスの開始時に発生されるタイミング信号φc
r、すなわちロウアドレスストローブ信号RASの立下
りに同期してタイミング発生回路TGから発生されるタ
イミング信号φcrによって制御される。これによって
ロウアドレスバッファR−ADBは、外部端子ATに供
給されるnビットのアドレス信号AXを、ロウアドレス
ストローブ信号RASに同期して取り込み、それに厄じ
て内部相補アドレス信号axo 〜aXn Y形成する
上記相補アドレス信号aXo−axnのうち、特定のビ
ット、例えば最上位ビットaxnを除いた相補アドレス
信号axO〜axn−1は、ロウアドレスデコーダR−
DCRI、)L−DCR2に送出される。1ビツトの内
部相補アドレス信号axmは、ニブル動作制御信号とみ
なされ、後述のカウンタC0UNT、タイミング発生回
路TC及びマルチプレクサMPXに供給される。なお、
例えば非反転アドレス信号axQと、これと逆相の反転
アドレス信号axQとを上記アドレス信号axQρよう
に表わす。
後で説明する他の信号も同様な表記法に従って以下の説
明及び図面において示されている。
ロウアドレスデコーダR−DCRIは、メモリアレイM
−ARYIのワード線WOないしW2及びダミーワード
akそれぞれ一対一対応をもって結合された複数の出力
端子を持って〜・る。ロウアドレスデコーダR−DCR
2は、同様k、メモリ       JアレイM−AR
Y2のワード線及びダミーワード線に結合された複数の
出力端子を持って(・る。
これらのロウアドレスデコーダR−DCI−Ll及びR
−DCR2は、その動作がワード線選択タイ。
ミンク信号φXによって制御され、ロウアドレスバッフ
ァR−ADBから供給される内部相補アドレス信号ax
Qないしaxn−1をデコードする。これkよつ℃、メ
モリアレイM−ARY1及びM−ARY2の複数のワー
ド線及びダミーワード線のうちの内部相補アドレス信号
axQないしaxn−1に対応された1本ずつのワード
線及びダミーワード線は、ワード線選択タイミング信号
φXに同期されて同時に選択レベルにされる。
カラムアドレスバッファC−ADBは、その動作がタイ
ミング発生回路TGのタイミング信号φCGによって制
御され、カラムアドレスストローブ信号CASK同期し
てアドレス入力端子釦供給されたアドレス信号AYを受
け、内部相補アドレス信号ayO〜aynを形成する。
タイミング信号φCCは、メモリのアクセスが開始され
たときのカラムアドレスストローブ信号CASの最初の
立下りに同期して発生される。内部相補アドレス信号の
実施例における最上位ビットの信号aynは、ニブル動
作制御信号とみなされる。内部相補アドレス信号ayQ
ないしayn−1は、マルチプレクサMPXの一方の入
力に供給される。%に制限されないがアドレス信号ay
nもまたマルチプレクサMPXの一方の入力端子忙供給
される。この相補アドレス信号ayO〜ayn−1及び
aynは、またアドレスカウンタC0UNTに初期値と
して供給される。
アドレスカウンタC0UNTは、2fl類のアドレスカ
ウンタCNT1及びCNT2から成る。
アドレスカウンタCNT1は、メモリのニブル動作及び
高速連続アクセスにおいて、4ビツト毎のデータの転送
を制御するために設けられている。
すなわち、4ビツトのデータのうちの転送されるべきデ
ータは、アドレスカウンタCNT1のカウント数によっ
て決定される。このカウンタCNT1は、特に制限され
ないが、4進カクンタを構成するようK、縦続接続され
た2ビツトのバイナリカウンタから構成される装 アドレスカウンタCNT1を構成する2ビツトのバイナ
リカウンタは、メモリのアクセスが開始されたときのロ
ウアドレスバッフ7R−AD]3及びカラムアドレスバ
ッファC−ADBから出力される内部相補アドレス信号
axn及びaynによってそれぞれの初期値が決定され
る。この実施例に従うと、特に制限されないが、カラム
アドレスバッファC−ADBの動作制御のためのタイミ
ング信号φCCは、アドレスカウンタC0UNTの初期
値入力制御信号として利用される。
アドレスカウンタCNTlは、タイミング発生回路TG
から出力される内部タイミング信号CIによって歩進さ
れる。内部タイミング信号C1は、外部端子)LASに
ロウアドレスストローブ信号(以下RASのように記す
)がロウレベルにされているときくおいて、カラムアド
レスストローブ信号CASがロウレベルにされると、そ
れに応答して発生される。従って、アドレスカウンタC
NT1は、実質的にカラムアドレスストローブ信号CA
Sによりて歩進されると理解されて良い。
アドレスカウンタCNT1から出力される2ビツトの信
号cxn及びcynは、メインアンプMAO〜MA3の
選択信号とみなされる。
アドレスカウンタCNT2は、データの高速連続アクセ
スを可能とするために設けられて〜・る。
アドレスカウンタCNT2は、カラムアドレスデコーダ
C−DCRで必要とされるビット数と等しいビット数n
−1のアドレス信号CyO〜cyn−1を出力するよう
に構成される。このアドレスカウンタCNT2は、特に
制限されないが、縦続接続されたn−1ビツトのバイナ
リカウンタから構成される。アドレスカウンタCNT2
は、メモリのアクセスが開始されたときに、カラムアド
レスバッファC−ADBから出力されている内部相補償
れるように構成される。
7svx07″CNT2”1・斜欽”1・7  −ドレ
スカウンタCNTlの4カウント毎、言〜・換えると、
アドレスカウンタCNTIKよって4ピツトのデータの
連続的な転送が実行される′Is忙、歩進される。しか
しながら、アドレスカウンタCNT2の歩進制御は、デ
ータの連続アクセスのより高速化を図るために、部分複
lakされる。
すなわち、アドレスカウンタCNT2は、後の説明から
明らかとなるように、データの書き込み動作において、
4ビツト毎のデータ転送の開始とともに、歩進される。
言い換えると、アドレスカウンタCNT2は、読み出し
動作において、4ビツト毎のデータの連続的な読み出し
が終了される前に歩進される。これKよって、以前にメ
インアンプMAOないしMA3に与えられた4ビツトデ
ータの読み出しが終了される前に、新しいカラム系アド
レス信号が、アドレスカウンタCNT2内に準備される
アドレスカウンタCNT2の歩進タイミングは、書き込
み動作におい℃、読み出し動作時の歩進タイミングに対
し、変更される。すなわち、アドレスカウンタCNT2
は、データの書き込みにおいて、4ビツト毎のデータの
連続的な書き込みが終了される毎に歩進される。データ
の書き込み動作において、アドレスカウンタCNT2の
歩進タイミングがこのよ5に遅延された場合であっても
、高速連続アクセスが可能となる理由は、後で説明され
る。
アドレスカウンタCNT2で必要とされる歩進パルスは
、タイミング発生回路TGから出力される。タイミング
発生回路TGは、かかる歩進パルスを形成するために、
その内部に、後で第4図に基づいて詳細に説明するよう
な2ビツトのバイナリカウンタCNT3を持つ。バイナ
リカウンタCNT3は、バイナリカウンタCNT1と同
期して歩進される。
なお、アドレスカウンタCNT2で必要とされる歩進パ
ルスは、カウンタCNT3が設けられなくても、例えば
次のようなアドレスカウンタCNT1を利用する構成に
よって、それを発生させることができる。
すなわち、例えば、アドレスカウンタCNTlとともに
、内部相補アドレス信号axn及びaynが初期値とし
てセットされるレジスタと、アドレスカウンタCNT1
の出力とかかるレジスタの出力とを受けるロジック回路
とが設けられる。かかるロジック回路は、アドレスカウ
ンタCNTlの出力と上記レジスタの出力を比較する構
成及びアドレスカウンタCNT1の出力とレジスタの内
容から1だけ減算された値とを比較する構成とされる。
レジスタにセラ)Cれたデータに対し1だけ減少された
数のデータは、レジスタから出力される2ピツトの比較
的単純な論理変換によって得ることができる。これによ
って、上記ロジック回路は、アドレスカウンタCNTl
の4力ウント動作毎に、歩進パルスを形成する。但し、
このようにする場合は、回路素子数の増力口に注意する
必要がある〇上記アドレスカウンタCNT21Cよって
形成された相補アドレス信号cyQ〜cyn−1は、マ
ルチプレクサMPXの他方の入力に供給される。特に制
限されないが、アドレスカウンタCNTlによって形成
された相補アドレス信号cyn及びCXnもまた、マル
チプレクサMPXの他方の入力に供給される。
マルチプレクサMPXは、その動作が、タイミング発生
回路TGから出力されるタイミング信号φmpx Kよ
って制御される。タイミング信号φmpxは、メモリの
アクセスの開始前及びメモリのアクセスが開始されたと
き、言い換えると、ロウアドレスストローブ信号RAS
がハイレベルに維持されているとき及びかかる信号RA
SがロウレベルVCすれたとぎ、アドレスバッファR二
ADB及びC−ADBの出力ayoないしayn及びa
xnを選択させるレベルにされる。タイミング信号φm
pxは、またロウアドレスストローブ信号RASとカラ
ムアドレスストローブ信号CASとの組み合せ和よって
ニブル動作そ−ドが指示されたとき、アドレスカウンタ
CNTl及びCNT2の出力を選択されたレベルにされ
る。これによって、マルチプレ及びmxniその出力端
子に出力する。マルチプレクサMPXを介し℃選択的に
出力される相補アドレス信号myO〜mynのうち、特
定のビット、例えば最上位ピッ)mynを除いた相補ア
ドレス信号myo〜myn−1は、カラムアドレスデコ
ーダC−DCRK供給される。相補アドレス信号myn
及びmxnは、メインアンプMAOないしMA3の動作
を制御するためのデコーダDECに供給される。
この実施例に従うと、マルチプレクサMPXは、メモリ
のアクセスが開始されてからアドレスカウンタCNT1
及びCNT2の出力が初期値にセットされるまでの遅延
時間を考慮することによって設けられている。すなわち
、メモリのアクセスが開始されたときにおいて、アドレ
スバッファR−ADB及びC−ADBから出力される内
部相補アドレス信号は、アドレスカウンタCNTl及び
CNT2を介することなく、カラムアドレスデコーダC
−DCR及びデコーダDECに供給される。
その結果、メモリの最初の動作の高速化が可能となる。
しかしながら、この実施例のメモリは、アドレスカウン
タCNTl及びCNT2の出力が直接にカラムアドレス
デコーダC−DCR及びデコーダDECに供給されても
動作する。このように変更された場合でも、最初の動作
を除く後の連続的なアクセス速度は、実質的に制限され
な〜・。それ故に、マルチプレクサMPXは、メモリの
より高速化を可能とする上で意味が有るが、本発明にと
つて本質的に必要とされるものではない、と理解された
〜)。
カラムアドレスデコーダC−DCRは、その動作がタイ
ミング発生回路TGから発生されるデータ線選択タイミ
ング信号もしくはカラム選択タイミング信号φy忙工つ
て制御され、マルチプレクサMPXから供給される内部
相補アドレス信号myOないしmyn−1をデコードす
る。これによって、カラムアドレスデコーダC−DCR
は、タイミング信号φyに同期してカラム選択信号を出
力する。
カラム選択タイミング信号φyは、読み出し動作がメモ
リに指示されているなら、すなわちライトエネイブル信
号WEがハイレベルに維持されているなら、第6図Hに
示されているようにカラムアドレスストローブ信号CA
Sが最初にロウレベルにされたときからかかるカラムア
ドレスストローブ信号CASがハイレベルにされるまで
の期間、及びアドレスカウンタCNT2が歩進されてか
らカラムアドレスストローブ信号CASKよって決めら
れるまでの期間ハイレベルにされるOカラムスイッチC
−8W1.C−8W2は、上記カラムアドレスデコーダ
C−DCRicJ:つ℃形成された選択信号を受け、メ
モリアレイM−ARY1及びメモリアレイM−ARY2
における上記2組の相補データ#iヲ対応する2組の共
通相補データCDO,CDI及びCD2.CD3にそれ
ぞれ結合させる。
デコーダDECは、マルチプレクサMPXから供給され
る2ビツトのアドレス信号axn及びaynをデコード
することによって、4つのメインアンプMAOないしM
A3を選択的に動作させるための制御信号を出力する。
デコーダDECの具体的回路は、メインアンプMAO及
び入出力回路I10とともに、後で第3図にもとづいて
詳細に説明される。
上記共通相補データ線CDO〜CD3は、それぞれメイ
ンアンプMA O−MA 3の入力端子に結合されてい
る。これらのメインアンプMAO〜M人3は、後で第3
図に基づいて詳細に説明するように、ラッチ回路を含ん
でいる。これらのメインアンプMAO〜MA3のラッチ
出力は、データ読み出しモード忙おいてデコーダDEC
により形成された選択信号と、カラムアドレスストロー
ブ信号CASとに同期されて時系列的に入出力回路I1
0に含まれる共通のデータ出力回路に伝えられる。
入出力回路I10は、読み出しのためのデータ出力回路
と、書込みのためのデータ入力回路とにより構成される
。ライトイネーブル信号WEのハイレベルによって読み
出し動作が指示されているなら、データ出力回路は、所
定のタイミングで動      −作状態にされる。こ
れによって、上記メインアンプMAO〜MA3の出力は
、出力回路によって増幅され、外部端子1)outへ送
出される。ライトイネーブル信号WEのロウレベルによ
って書き通入動作が指示されているなら、データ入力回
路が所定のタイミングで動作状態にされる。これによっ
て、外部端子Dinに供給されている入力データは、デ
ータ入力回路及びメインアンプ内の後述するような信号
選択回路(第1図では省略されている)′9I:介して
共通相補データ線CDO〜CD3の1つに転送される。
タイミング発生回路TGは、3つの外部制御信(カラム
アドレスストローブ信号)及びWE(9イトイネ一ブル
信号)を受けて、メモリ動作に必要な上記各種タイミン
グ信号を形成する。また、タイミング発生回路TGは、
前述のように2ビツトのバイナリ−カウンタ回路CNT
3を含んでいる。このカウンタ回路の計数出力は、連続
読み出し動作釦おけるカラム選択タイミング信号φy。
メインアンプ動作タイミング信号φma、及び上記アド
レスカウンタ回路CNT2に供給される歩進パルスを形
成するために利用される。
第2図には、メモリアレイM−ARYI、センスアンプ
SAI、プリチャージ回路PCI及びカラムスイッチ回
路C−8WIの具体的回路が示されている。
メモリアレイM−ARYIは、複数対のデータ線DO,
DoないしDk、Dk、複数のワード線WOないしW3
及び複数のメモリセルMOOな〜・しMk3に持つ。メ
モリセルMOOのように、各メそリセルは、スイッチM
osFETQmとそれに直列接続されたMOSキャパシ
タCmとかう構成されている。
各データ線と、それに交差されるダミーワード線DWO
及びDWlとの間には、ダミーセルDSIないしDS6
が設けられている。ダミーセルのそれぞれは、特VC?
IIIJ限されないが、MOSキャパシタから構成され
る。
センスアンプSAIは、図示のよ5に、各データ線対に
一対一対応をもって設けられた単位回路USAOないし
USAkと、パワースイッチMO3FETQI 04及
びQ105から成る6各単位回路は、図示のように、P
チャンネルMO8FETQ102.Q103、及びNチ
ャンネルMO8FETQ100.QIOIから成る入出
力共通のCMOSラッチ回路から成る。
プリチャージ回路PCIは、複数の単位回路UPCOな
いしUPCkから成り、各単位回路は、対のデータ線間
に接続されたイコライズMO8FETQ106、及び各
データ線と電源端子VCCとの間に接続されたプリチャ
ージ用MO8FETQ]07及びQ108から成る。
カラムスイッチ回路C−8WIは、それぞれカラム選択
信号YO,Yj によってスイッチ制御されるスイッチ
MO8FETQ109ないしQ114から成る。
かかる回路の動作は、次のようになる。
先ず、メモリがアクセスされていないとき、すなわちロ
ウアドレスストローブ信号RASがハイレベルにされて
いるとキ、センスアンプ5Al17)動作制御のための
タイミング信号φpa及びφpaはそれぞれロウレベル
、ハイレベルIICされ、プリチャージ回路の動作制御
のためのタイミング信号φpcはハイレベルにされてい
る。これにより、センスアンプSAIは、それにおける
パワースイッチMO8FETQ104及びQ105がオ
フ状態にされているので非動作状態に置かれる。各デー
タ線は、プリチャージ回路PCIがタイミング信号φp
cによって動作状態にされているので、はぼ電源電圧V
CCK等しいようなプリチャージレベルに置かれる。メ
モリがアクセスされていな(・ときは、またワード線W
OないしW3は、非選択レベルすなわちロウレベルにさ
れて(・る。ダミーワード線DWO及びDWlは、いず
れもハイレベルの非選択レベルにされる。
メモリのアクセスが開始されたなら、言い換えるとロウ
アドレスストローブ信号)LASがロウレベルにされた
なら、それに同期して先ずタイミング信号φpcが°つ
V −C/I/ K−され・プリチ゛−ジ回     
J路PCIが非動作状態にされる。プリチャージ回路P
C1が非動作状態にされた後に、ワード線選択タイミン
グ信号φX (第1図)がノ・イレベルにされ、第1図
のロウアドレスデコーダ)t −DCRIが動作状態に
される。これに応答し℃ワード線WOないしW3のうち
の1つが選択レベルにされる。ワード線が選択されるこ
とによってメモリセルのデータが、これに対応されたデ
ータmVc与えられる。例えばワードSWOが選択され
たなら、メモリセルMOO,M10及びMkOのデータ
が、データiDO,Di及びDkに与えられる。ダミー
ワード!DWO及びDWIは、ワード線の選択タイミン
グと同期してその一方が選がレベルすなわちロウレベル
にされる。例えば上記のようにワード線WOが選択され
るなら、それに対応してダミーワード!DWOが選択レ
ベルにされる。その結果、それぞれ対にされたデータ線
、すなわち相補データ線の一方に、ダミーセルによって
参照電位が与えられる。特に制限されないが、参照電位
が、メモリセルによってデータ線に与えられるレベル振
幅の中間の値を取るようにするために、及び集積回路製
造上のばらつきによって生ずるメモリセルのキャパシタ
Cmとダミーセルのキャパシタとの相対的ばらつきをで
きるだけ小さくさせるために、ダミーセルのキャパシタ
は、メモリセルのそれと実質的に同じサイズにされ、ダ
ミーワード線に与えられるレベル振幅は、選択ワード線
に与えられるそれに対して半分にされる。
タイミング信号φpa及びφpaは、ワード線及びダミ
ーワード線が選択された後、言〜゛換えると、タイミン
グ信号φXがハイレベルにされた後に、それぞれハイレ
ベル、ロウレベルにされる。これによって、センスアン
プSAIは動作開始され、メモリセルから各データ線に
与えられたデータ信号は増l!される。
カラム選択信号YOないしYjは、予めロウレベルの非
選択レベルにされている。ロウアドレスストローブ信号
RASがロウレベルにされた後にカラムアドレスストロ
ーブ信号CASがロウレベルに′:8れると、それから
適当な遅延時間の後に、タイミング信号φyがハイレベ
ルにされ、カラムアドレスデコーダC−DEC(第1図
)の動作が開始される。その結果、カラム選択信号YO
ないシYjノウチの1つがハイレベルの選択レベルにさ
れ、カラムスイッチMO8FETがオン状態にされる。
すなわち、複数の相補データ線のうちの2組の相補デー
タ線がカラムスイッチ回路C−8W1を介して共通相補
データ線CDOないしCDIに結合されるようになる。
第3図には、データの入力及び出力系の一実施例の回路
図が示されている。
代表として示された共通相補データ線cDO。
CDOは、メインアンプMAOの入力端子に結合される
。メインアンプMAOは、増幅回路AMP。
ラッチ回路FF及び出力選択回路SLとから構成される
増幅回路AMPは、特に制限されないが、大きい利得を
持つように、2段の縦続接続された増幅回路1st及び
2ndから構成される。これに、よって、増幅回路AM
Pは、共通相補データMCDOとCDOとの間に与えら
れるデータ信号が充分に大きいレベルに変化されていな
いタイミングにおいても、充分なレベルの信号を出力す
るようになる。
これに応じ℃、メモリは、高速動作が可能となる。
増幅回路tst及び2ndのそれぞれは、ノイズに対す
る感度を低下させるため、全差動増幅回路構成、すなわ
ち一対の相補入力端子とともに一対の相補出力端子を持
つ構成にされて℃・る。これらの回路のそれぞれは、ま
たそれぞれの利得を増大させるために、カレントミラー
負荷を持つ一対の差動増幅回路から構成される。
すなわち、初段増幅回路1stにお〜・て、それを構成
する一対の差動増幅回路のうちの一方は、図示されて〜
・るよ5VC%Nチャンネル差動増幅MO8FIli:
TQ7.G8と、そのドレインと電源電圧Vccとの間
に設けられたPチャンネル負荷MO8FETQ5.G6
及び上記差動増幅MO8FETQ7.Q8の共通ソース
と回路の接地電位点との間に設けられたNチャンネル型
のパワースイッチMO8FETQI 3とにより構成さ
れる。上記角       I荷MO8FETQ5.G
6は、電流ミラー形態にされることによって、アクティ
ブ負荷回路を構成する。上記差動増幅回路の他方は、上
記類似のNチャンネル差動槽@MO8FETQI 1.
Ql 2とPチャンネル負荷MO8FETQ9.QIO
Kより構成され、上記差動増幅MO8FETQI 1゜
G12の共通ソースは、上記一方の差動増幅MO8FE
TQ7.Q8の共通ソースと共通化され、上記パワース
イッチMO8FETQ13によりその動作の制御が行わ
れる。このMO8FETQ13のゲートには、メインア
ンプの動作タイミング信号φmaが供給される。
上記一方の差動増幅回路における反転入力端子としての
NチャンネルMO8FETQ7のゲートと、他方の差動
増幅回路における非反転入力端子としてのNチャンネル
MO8FETQI 1のゲートは、上記共通相補データ
線CDOに結合されている。また、上記一方の差動増幅
回路における非反転入力端子としてのNチャンネルMO
8FETQ8のゲートと、他方の差動増幅回路における
反転入力端子としてのNチャンネyMO3FETQ12
のゲートは、上記共通相補データ線CDOに結合されて
いる。
初段差動増幅回路IStの一対の出力信号は、特に制限
されないが、同1図において点綴で囲まれた回路のよう
に、上記類似の回路によって構成された第2段差動増幅
回路2ndの一対の入力端子忙供給される。この第2段
差動増幅回路における各回路素子は、上記初段増幅回路
のそれと同様であるので、回路記号とその説明を省略す
る。
上記第2段差動増幅回路2ndの一対の出力信号は、ラ
ッチ回路FFに供給される。特に制限されないが、ラッ
チ回路FFは、2つのナンド(NAND)ゲート回路G
5.G6から構成される。ナントゲート回路G5及びG
6の一方の入力と出力とは交差結合されている。上記ナ
ントゲート回路G5.  ・G6の他方の入力には、上
記第2段差動増幅回路2ndの出力信号が供給される。
上記ナントゲート回路G5.G6のそれぞれの他方の入
力と電源電圧Vccとの間には、上記メインアンプの動
作タイミング信号φmaを受けるPチャンネルMO8F
ETQ14.G15がそれぞれ設けられて℃・る。ラッ
チ回路FFは、動作タイミング信号φmaのハイレベル
によって増幅回路AMPが動作状態圧され、かつ上記P
チャンネルMO8FETQI 4.G15がオフ状態に
されているなら、そのときの差動増幅回路2ndの増幅
出力信号の取り込みを行う。ラッチ回路FFは、また動
作タイミング信号φmaのロウレベルによって上記増幅
回路AMPが非動作状態にされかつ上記PチャンネルM
O8FETQ14.G15がオン状態にされているなら
、それにおけるナントゲート回路G5.G6の他方の入
力が電源電圧Vccのようなハイレベル(論理”1″)
に強制されるので、上記取り込んだ情報を保持する。
動作タイミング信号φmaは、第1図に示されたタイミ
ング発生回路TGから出力される。タイミング回路TG
の具体的構成は、後で第5図に基づいて説明される。
上記ラッチ回路FFの一対の出力信号は、出力選択回路
SLCを通して共通のデータ出力回路DOBの入力に伝
えられる。出力選択回路SLは2つの出力選択回路5L
CI及び5LC2からなる。上記ラッチ回路FFを構成
するナントゲート回路G5の出力信号を受ける一方の出
力選択回路5LCIは、PチャンネルMO8FETQ1
7とNチャンネルMO8FETQI 8により構成され
たCMOSインバータ回路と、このCMOSインバータ
回路に電源電圧VCC及び回路の接地電位を供給するた
めのPチャンネルMO8FETQI 6とNチャンネル
MO8FETQI 9とから構成されている。MO8F
ETQI 6とG19は、互いに逆相の信号によって駆
動され、そのスイッチ状態が互いに同じKされる。出力
選択回路5LCIは、それKおけるMO8FBTQI 
6及びG19がオン状態にされたなら、それに応じて動
作状態にされる。逆に、出力選択回路5LCIは、それ
におけるMO8FETQ16とG19がオフ状態にされ
たなら非動作状態にされその出力がハイインピーダンス
状態にされる。上記ラッチ回路FF       /を
構成するナントゲート回路G6の出力信号を受ける他方
の出力選択回路5LC2は、上記同様なCMOSインバ
ータ回路な構成するPチャンネルMO8FETQ21.
NチャンネルMO8FETQ22及びそれらのMOSF
ETに動作電圧な供給するPチャンネルMO8FETQ
20.NチャンネルMO8FETQ23により構成され
ている。
出力選択回路5LC2の出力は、上記MO8FETQ2
0とG23がオフ状態にされると、ハイインピーダンス
状態にされる。
メインアンプMAOにおける出力選択回路5LC1及び
5LC2の出力端子は、第1図のメインアンプMAIな
いしM人3における出力選択回路のそれとともに、出力
回路DOBの一対の入力線CD5及びCD5忙それぞれ
共通接続されている。入力線CD5及びCD5は、メイ
ンアンプMAOないしMA3の共通の出力ラインを構成
しているとみなされても艮い。
以上構成のメインアンプMAOは、その動作力、タイミ
ング信号116ma及びデコーダDECの出力信号によ
って制御される。
すなわち、メインアンプMAOにおける増幅回路AMP
及びラッチ回路FFは、前述のように、動作タイミング
信号thna Kよってそれぞれの動作が制御される。
出力選択回路SLCは、デコーダDECの出力信号によ
ってその動作が制御される。デコーダDECは、各メイ
ンアンプに一対一対応される単位回路を持つ。デコーダ
DECKおける各単位回路は、マルチプレクサMPXか
ら供給される2ビツトの相補アドレス信号mxn及びm
ynの互いに異なる組み合せをデコードするように構成
される。
デコーダDECの、メインアンプMAOに対応される単
位回路は、第3図に示されているように、それぞれ偽レ
ベルのアドレス信号mxn及びmynが供給されるナン
トゲート回路G2及びG4から構成される。ナントゲー
ト回路G2は、後で説明する入力選択回路5LC3に対
応され、ナントゲート回路G4は出力選択回路SLCに
対応される。
なお、デコーダDECのメインアンプMAOに対応され
る単位回路は、ナントゲート回路G2.G4、ノアゲー
ト回路G1及びC7から構成されているとみなされて良
い。この場合、ナントゲート回路G12は、デコーダD
ECにおける共通回路を構成しているとみなされる。す
なわち、ナントゲート回路G12の出力は、メインアン
プMAIないしMA3のそれぞれに対応されるノアゲー
ト回路G7のそれぞれに供給される。
ナントゲート回路G4の出力は、アドレス信号mym 
とmynが共にハイレベルにされているなら、それに応
じてロウレベルの選択レベルにされる。この出力信号は
、出力選択回路SLの動作タイミング信号を形成するノ
アゲート回路G7の一方の入力に供給される。このノア
ゲート回路G7の他方の入力には、カラムアドレススト
ローブ信号CASに同期して形成される内部制御信号C
1と、センスアンプの動作タイミング信号φpaに基づ
いて形成されるロク系のタイミング信号RG2とを受け
るナントゲート回路G12の出力DSが供給される。こ
のノアゲート回路G7の出力は、一方においてCMOS
インバータ回路IV3によって反転された上で、出力選
択回路S L12)PチャンネルMO8FETQ16.
C20のゲートに供給される。上記ノアゲート回路G7
の出力は、他方において出力選択回路SLCのNチャン
ネルMO8FETQI 9 、C23のゲートに直接に
供給される。上記ナントゲート回路G12の出力DSは
、図示しないインバータ回路によって反転され、データ
出力回路DOBの入力ラインCD5及びCD5に設けら
れたPチャンネルMO8FETQ24.C25のゲート
に供給される。
入力ラインCD5及びCD5のレベルは、次のようにさ
れる。
すなわち、デコーダDECにおける共通回路であるナン
トゲート回路G12の出力DSは、メモリのアクセス開
始前及びロウアドレスストローブ信号RASによるメモ
リのアクセス開始の直後において、タイミング信号RG
2及びC1の少なく       F’とも一方のロウ
レベルによって、ハイレベルにされている。メインアン
プMAOないしMA3のそれぞれにおける出力選択回路
は、信号DSのハイレベルに応答して、相補アドレス信
号mxn及びmyn  にかかわらずに、高出力インピ
ーダンス状態にされる。MO8FETQ24及びC25
は、信号DSに対し反転されたレベルの信号DSによっ
て、オン状態にされている。従って、ラインCD5及び
CD5は、その両方がいわばリセットレベルのハイレベ
ルにされている。
ナントゲート回路G12の出力信号DSは、タイミング
信号RG2及びC1によって決定されるタイミング、言
い換えると、第1図のセンスアンプSA1及びSA2が
動作されかつカラムスイッチ回路C−8WI及びC−8
W2が動作された後の適当なタイミングにおいてロウレ
ベルにされる。
MO8FETQ24及びC25は、信号DSのロウレベ
ルに応答してオフ状態にされる。信号DSがロウレベル
にされると、ラインCD5及びCD5に結合された複数
の出力選択回路のうちの相補アドレス信号mxn及びm
ynに対応された1つが動作状態にされる。その結果、
ラインCD5及びCD50レベルは、動作状態にされた
出力選択回路によって決定されるようKなる。
第1図の入出力回路I10におけるデータ出力回路DO
Bは、その具体例が第3図に示されている。
データ出力回路DOBは、特に制限されないが、トライ
ステート回路から構成される。
すなわち、データ出力回路DOBは、上記メインアンプ
MAOを構成するラッチ回路FFと類似のナントゲート
回路G8 、C9により構成されたラッチ回路からなる
初段回路を持つ。ラッチ回路は、メインアンプMAOな
いしMA3から入力ラインCD5及びCD5に供給され
るデータ信号を取り込む。ラッチ回路は、また、入力ラ
インCD5及びCD5がリセットレベルにされているな
ら、以前のデータ信号を保持する。
このラッチ回路の出力信号は、それぞれす/ドグ−1回
路GIOとCMOSインバータ回路IV5及びナントゲ
ート回路GllとCMOSインバータ回路IV6を介し
てプツシニブル形態のNチャンネル出力’MO8FET
Q26及びNチャンネル出力MO3FETQ27のゲー
トに伝えられる。
上記ナントゲート回路GIO,Gllの他方の入力には
、動作タイミング信号DOEが供給される。
動作タイミング信号DOEは、ロウアドレスストローブ
信号RAS、カラムアドレスストローブ信号CAS及び
ライトエネイブル信号WEに応答され、後で説明するよ
うな出力タイミングにおいてハイレベルにされる。
今、タイミング信号DOEがハイレベル(論理′1”)
なら、これに応じてナントゲート回路GIO,Gllが
開かれる。これに応じて、初段回路から出力されている
信号は、これらゲート回路GIO,Gll、CMOSイ
ンバータ回路IV5゜IV6及び出力MO8FETQ2
6 、Q27を介して外部端子り。utへ送出される。
上記タイミング信号DOEが回路の接地電位のようなロ
ウレベルなら、ノアゲート回路GIO,Gllの出力は
共にハイレベルになる。これに応じてインバータ回路I
V5 、IV6の出力は共にロウレベルにされ、出力M
O8FETQ26とQ27は共にオフ状態にされる。そ
の結果、出力はハイインピーダンス状態にされる。なお
、この実施例に従うと、上記外部出力端子り。utは、
後述するデータ入力回路DIRの入力端子が結合される
外部入力端子Dinに対し独立にされているが、必要な
ら外部入力端子Dinと共に1つの共通の外部端子とさ
れてもよい。
データ出力回路DOBとともに第1図の入出力回路I1
0を構成するデータ入力回路DIBは、外部入力端子D
inに供給された書き込みデータ信号に応答してそれと
同相の書き込み信号と逆相の書き込み信号、すなわち相
補信号、を共通書き込み線CD6及びCD6に出力する
。共通書き込み線CD6及びCD6は、第3図に示され
たメインアンプMAOだけでなく、第1図に示されたメ
インアンプMALないしMA3にも結合される。
フイ7アy7−MA(Nよ、□3よオゎえよう    
−に、共通書き込み線CD6と共通データ線CDOとの
間、及び共通書き込み線CD6と共通データ線CDOと
の間にそれぞれ設けられたデータ書き込み用のNチャン
ネル伝送ゲートMO8FETQ1及びQ2を持つ。メイ
ンアンプMAOは、また、特に制限されないが、共通デ
ータ線CDO及びCDOと電源端子VCCとの間に設け
られたNチャンネル負荷MO8FETQ3 、Q4を持
つ。負荷MO8FETQ3及びQ4は、比較的小さなコ
ンダクタンスを持つようにされる。
上記データ入力回路DIRの出力信号を伝える伝送ゲー
トMO8FETQI 、Q2のゲートには、次のノアゲ
ート回路G1とナントゲート回路G2とにより構成され
たデコーダDECの出力選択信号が供給される。ナント
ゲート回路G2の入力には上記同様なアドレス信号mx
n 、mynと書き込み制御信号WYPが供給される。
このナントゲート回路G2の出力は、ノアゲート回路G
1の1つの入力に供給される。このノアゲート回路G1
の他方の入力には、反転の内部カラムアドレスストロー
ブ信号C1が供給される。特に制限されないが、タイミ
ング発生回路TGから出力される書き込み制御信号WY
Pは、外部から供給されるライトエネイブル信号WEに
対し、逆相にされる。
かつ相補アドレス信号mxn及びmynがメインアンプ
MAOを指示するレベルにされたなら、すなわちアドレ
ス信号mxnとmynが共にハイレベルにされたなら、
ナントゲート回路G2の出力は、それに応じてロウレベ
ルにされる。ノアゲート回路G1の出力は、カラムアド
レスストローブ信号CASと同相で変化する内部カラム
系タイミング信号C1がロウレベルにされるとそれに応
じてハイレベルにされ、伝送ゲー)MO8FETQ 1
* Q 2は、ノアゲート回路G1のハイレベル出力に
応じてオン状態にされる。その結果として、外部入力端
子Dinから供給された書き込み信号が共通相補データ
線CDO、CDOに伝えられる。
なお、読み出し動作においては、制御信号WYPがロウ
レベルにされるので、ナントゲート回路G2の出力は、
アドレス信号i及び革の状態にかかわらずにハイレベル
にされる。これにより、ノアゲート回路G1の出力がロ
ウレベルにされるため、上記伝送ゲートMO8FETQ
I 。
Q2はオフ状態にされる。
上記ノアゲート回路G1の出力は、CMOSインバータ
回路IVIにより反転されてNチャンネルMO8FET
Q3 、Q4のゲートに伝えられる。
したがって、上記書き込み動作以外の時に、これらのM
O8FETQ3 、Q4はオン状態にされ、共通相補デ
ータ線CDO、CDOに実質的に一定のバイアスレベル
を与える。このようなMO8FETQ3 、Q4のオン
状態によって、読み出し動作等において共通相補データ
線CDO、CDOの信号振幅が実質的に制限されるから
、メモリセルからの読み出し信号に対して高速に応答さ
せることができる。
第4図には、タイミング発生回路TGに含まれる2ビツ
トのバイナリ−カウンタの一実施例の回路図が示されて
いる。なお、特に制限されないが、繭記アドレスカウ/
りC0UNTもこの実施例回路と類似の回路によって構
成することができる。
2ビツトのパイナリーカクンタを構成する初段回路FF
Oは、同図に点線で囲まれた次の各回路により構成され
ており、リセット入力端子TI。
歩進パルス入力端子T2.カウント動作制御端子T3.
キャリー入力端子T4.キャリー出力端子T5、及び計
数値出力端子T6及びT7を持っている。CMOSイン
バータ回路IVI 1は、その出力信号が帰還用のCM
OSインバータ回路IV1.0を介してその入力に帰還
される。これによりCMOSインバータ回路IVI 1
とIVI Oは、マスターフリップフロップを構成する
。特に制限されないが、インバータ回路IVIOは、M
O3FETQ30を介してインバータ回路IVIIの入
力に供給される信号レベルが制御されないようにするた
めに、比較的小さい相互コンダクタンスを持つPチャン
ネルMO8FETとNチャンネルMO8FETから構成
される。上記類似のCMOSインバータ回路IVI 3
とIVI 2によりスレーブフリ・プ7°・プが構成さ
する・上記−r 、1. p       /−フリッ
プフロップの出力であるCMOSインバータ回路IVI
 1の出力信号は、Nチャンネル伝送ゲートMO8FE
TQ32を介してスレーブフリップフロップの入力であ
るCMOSインバータ回路IV13の入力に伝えられる
。このスレーブフリップフロップの中力であるCMOS
インバータ回路IVI 3のCMO8信号は、CMOS
インバータ回路IVI 4とPチャンネル伝送ゲー)M
O8FETQ30を介してマスターフリップフロップ9
入力であるCMOSインバータ回路IVI 1の入力に
帰還される。上記マスター7リツプフロツプの入力であ
るCMOSインバータ回路IVIIの入力と回路の接地
電位点との間には、リセット用のNチャンネルMO8F
ETQ31が設けられている。なお、カウンタFFOを
上記アドレスカウンタC0UNTとして使用する場合、
伝送ゲー)MO8FETQ31を介して入力アドレス信
号が供給される。
上記伝送ゲートMO8FETQ30とQ32のゲートに
は、ナントゲート回路G20の出力信号が供給される。
このナントゲート回路G20の1つの入力すなわち歩進
パルスもしくはクロック入力端子T2には、上記カラム
系タイミング信号C1が供給され、1つの入力端子すな
わち動作制御端子T3にはロウ系タイミング信号R1が
供給される。ナントゲート回路G20の残りの1つの入
力端子すなわちキャリー入力端子T4は、回路FFOが
カウンタCNT3の初段回路であるので電源電圧VCC
に等しいようなハイレベルに維持される。このキャリ一
端子T4のハイレベル信号とスレーブフリップフロップ
の出力信号とは、ナントゲート回路G21に供給される
。このナントゲート回路G21の出力はCMOSインバ
ータ回路IV18及び出力端子T4を介して反転され、
次段の回路FFIのキャリー入力端子へ送出される。
回路FFOにおける上記マスターフリップフロップの出
力は、特に制限されないが、直列形態のCMOSインバ
ータ回路Iv15〜Iv17を介して計数出力として送
出される。すなわち、CMOSインバータ回路IV16
の出力から反転の計数出力SOが、CMOSインバータ
回路IVI ?+7)出力から非反転の計数出力S1が
形成される。
次段回路FFIは、上記初段回路FFOと同一の回路に
より構成される。ただし、それにおけるキャリー入力端
子には、上記初段回路FFOにより形成されたキャリー
信号caOが供給される。
タイミング発生回路TGは、この2ビツトのバイナリ−
カウンタ回路の計数出力so 、so及びsl、slの
組み合せにより、前述し、また後述するような拡張ニブ
ルモードにおけるメインアンプのタイミング信号φma
、データ線選択タイミング信号φy等を形成する。
第5図には、上記タイミング発生回路TGに含まれるメ
インアンプの動作タイミング信号φmaとデータ選択タ
イミング信号φyを形成するタイミング発生回路の回路
図が示されている。
上記ロウ系のタイミング信号RG2と第4図に示したバ
イナリ−カウンタCNT3によって形成された計数出力
信号sO,slとは、ナントゲート回路G22の入力に
供給される。このナントゲート回路G22の出力は、前
記書き込み信号WYPとともにノアゲート回路G25に
入力される。
ノアゲート回路G25の出力は、複数段の縦続接続され
た遅延回路としてのCMOSインバータ回路IV23〜
IV26に供給される。これに応じて、カラム選択タイ
ミング信号φyに対して適当にタイミング調整されたメ
インアンプの動作タイミンク信号φmaがCMOSイン
バータ回路IV26から出力される。
また、上記パイナリーカクンタの計数出力信号sO,s
lと前記書き込み制御信号WYPとは、ナントゲート回
路G23の入力に供給される。このナントゲート回路G
23の出力は、CMOSインバータ回路IV21によっ
て反転され、上記ノアゲートG25の出力とともにノア
ゲート回路G24の入力に供給される。このノアゲート
回路G24の出力信号は、CMOSインバータ回路IV
22を介して反転され、データ線選択タイミング信号φ
yとして送出される。
次に、第6図に示したタイミング図を参照して、   
  −動作の読み出し動作の一例を説明する。
ロウアドレスストローブ信号RASが第6図人に示され
たようにロウレベルにされると、それに応じてタイミン
グ信号φcr  (図示しない)がノ1イレベルにサレ
る。ロウアドレスバッファR−ADBは、タイミング信
号φcrがノーイレペルにされると、それに応じて、外
部端子から供給されているロウアドレス信号を取り込む
。上記アドレス信号のうち、最上位ビットのアドレス信
号圧は、前述のように、アドレスカウンタC0UNTに
含まれる2ビツトのバイナリ−アドレスカウンタCNT
1に初期値として取り込まれる。ロウアドレスデコーダ
R−DCRI 、R−DCR2は、上記ロウアドレスバ
ッファR−ADBに取り込まれたアドレス信号のうちの
残りのアドレス信号φyとに応答してメモリアレイM−
ARYI、M−ARY2におけるワード線とダミーワー
ド線の選択動作を行う。次に、タイミング信号φpa及
びφpaが発生されることによってセンスアンプSAが
動作状態にされ、メモリセルからの読み出されたデータ
信号が増幅される(図示せず)。センスアンプの動作タ
イミングに同期してロウ系のタイミング信号RG2はハ
イレベルに立ち上がる。
なお、上記第4図に示した2ビツトのバイナリ−カウン
タCNT3に供給される信号R2は、予めのチップ非選
択期間におけるロウアドレス信号RASのハイレベルに
応答してハイレベルにされている。従って、カウンタC
NT3はチップ非選択期間において、予めリセット状態
にされ、その計数出力sOと81はともにロウレベル(
したがって、sOと31はハイレベル)にされている。
次に、カラムアドレスストローブ信号CASがロウレベ
ルにされると、それに応じてタイミング信号φCC(図
示しない)がハイレベルにされ、上記外部端子から供給
されたカラムアドレス信号が、カラムアドレスバッファ
C−ADBK取り込まれる。前述のように、タイミング
信号φCCは、アドレスカウンタC0UNTの初期値設
定制御信号とされる。従って、タイミング信号φCCが
発生されると、ロウアドレスバッファR−ADBから予
め出されているアドレス信号axn及びカラムアドレス
バッファC−ADBから出力されるアドレス信号ayO
〜aynは、アドレスカウンタC0UNTに初期値とし
て保持される。
マルチプレクサMPXの動作制御のためのタイミング信
号φmpx(図示しない)は、前述のようにカラムアド
レスストローブ信号CASのt初のロウレベルへの変化
に応答されずに、ロウレベルに維持される。タイミング
信号φmpxがロウレベルにされていることによって、
カラムアドレスバッファC−ADBに取り込まれたアド
レス信号ayO−ayn及びロウアドレスバッファR−
ADBに取り込まれたアドレス信号axnは、マルチプ
レクサMPXを介してカラムアドレスデコーダC−DC
R及びメインアンプのデコーダDECに供給される。
データ線選択タイミング信号φy及びメインアンプの動
作タイミング信号φmaは、前述の回路(第5図)によ
って、同期してハイレベルにされる。
すなわち、カラムアドレスストローブ信号CASがロウ
レベルにされた後に最初に形成されるタイミンク信号φ
maは、上記バイナリ−カウンタCNT3が上記のよう
にリセットされているから、上記ロウ系のタイミング信
号RG2のハイレベルに同期してハイレベルにされる。
データ線選択タイミング信号φyは、上記バイナリ−カ
ウンタの計数出力so、slがいずれもロウレベルにさ
れているから、上記第5図に示した回路により、上記最
初のタイミンク信号φmaに同期して発生させられる。
上記タイミング信号φyにより、カラムスイッチ回路C
−8WI及びC−8W2が動作され、メモリセルから読
み出されたデータ信号が共通相補データ線CDOないし
CD3に与えられる。タイミング信号φmaにより4個
のメインアンプMA O−MA 3が一斉に動作状態に
される。
すなわち共通相補データ線CDO、CD0−CD3゜C
D3に現れたメモリセルからの読み出しデータ信号が増
幅される。                    
IメインアンプMAO〜MA3によって増幅されたデー
タ信号は次のようにして外部端子り。utへ転送される
すなわち、予めアドレスバッファR−ADB及びC−A
DBに取り込まれたアドレス信号axmとaynがハイ
レベルなら、メインアンプMAOの出力が次のようにし
て最初に選択される。すなわち、タイミング信号DS(
図示せず)は、ロウ系タイミング信号C1の最初のハイ
レベル期間(ロウアドレスストローブ信号CASが最初
にロウレベルにされた期間O)において、上記ロウ系の
タイミング信号RG2が発生された後にロウレベルにさ
れる。タイミング信号DSがロウレベルにされることに
より、第3図のノアゲート回路G7の出力カハイレベル
にされ、Nチャンネル間08FETQ19 、Q23と
CMOSインバータ回路IV3により反転されたハイレ
ベルによりPチャンネルMO8FETQ16.Q20が
共にオン状態にされる。これに応じてラッチ回路FFの
出力がデータ出力回路DOBに入力ラインCD5及びC
D5に供給され、最初のデータ信号DOがタイミング信
号DOEに従って外部端子り。utへ送出される。
次に、カラムアドレスストローブ信号CASがハイレベ
ルにされると、これに応じて内部信号C1が第6図Cに
示されたようにロウレベルに変化される。したがって、
第4図に示したバイナリ−カウンタCNT3に供給され
る反転の内部信号C1はハイレベルとなり、これに応じ
てNチャンネルMO8FETQ32がオフ状態にされ、
NチャンネルMO8FETQ30がオン状態にされる。
これにより、スレーブ側の出力信号がCMOSインバー
タ回路IV14によって反転されてマスター側に帰還さ
れる。その結果、計数出力sOがハイレベルに変化され
る。このような計数動作による出力sOの変化によって
、上記メインアンプの動作タイミング信号φmaとデー
タ線選択タイミング信号φyはロウレベルにされる。こ
れによりメインアンプMA O−MA 3は非動作状態
にされ、カラムスイッチ回路C−8WI及びC−8W2
はオフ状態にされる。しかしながら、メインアンプMA
 O−MA 3に含まれるラッチ回路FFは、それぞれ
におけるPチャンネルMO8FETQ14゜Q15等が
上記タイミング信号φmaのロウレベルによってオン状
態にされるので、上記取り込んだ記憶情報を保持してい
る。
この実施例に従うと、前述のように、ロウアドレススト
ローブ信号RASがロウレベルの状態で、カラムアドレ
スストローブ信号CASがハイレベルにされると、ニブ
ルモードとみなして、マルチプレクサMPXを自動的に
アドレスカウンタC0UNT側に切り換えるように構成
される。マルチプレクサMPXの動作制御のためのタイ
ミング信号φmpxは、ロウアドレスストローブ信号R
ASのハイレベルによりリセットされ、上記のような条
件でセットされるラッチ回路によって形成することがで
きる。なお、このような内部論理回路に代えて、上記マ
ルチプレクサMPXの切り換え制御が外部から供給する
所定の制御信号により行われるようにされてもよい。
アドレスカウンタCNT1は、内部信号C1がロウレベ
ルにされると、それに応じてその内容が歩進される。す
なわち、アドレス信号cynとcxnに従7T已力 選択回路が制御され、上記ラッ≠回路FFに保持された
4ビツトのデータ信号Do−D3が連続的に読み出され
る。このような動作は、実質的に従来のニブルモードと
同様である。
バイナリ−カウンタの計数出力SOと51が共にハイレ
ベルにされる第4ビツト目のデータ信号D3を出力させ
るときに、アドレス信号cyo〜cyn−1を形成する
アドレスカウンタCNT2は、前述のように、カウンタ
CNT3の出力sOとslの同時のハイレベルに応答し
て1だけ歩進される。
それとともに、データ線選択タイミング信号φyは、第
6図Hに示されたように再びハイレベルにされる。これ
に応じてカラムアドレスデコーダC−DCRがタイミン
グ信号φyVc同期して次のカラムアドレスyi+1の
選択信号を形成するので、カラムスイッチの切り換えが
行われる。
7、、、、ヨ6゜。。ゎえ9カ3゜ヵ、ヵ、4  −ア
ドレスストローブ信号CASが再びハイレベルに変化さ
れると、バイナリ−カウンタCNT3の計数出力が再び
初期値にされる。これに応じてメインアンプの動作タイ
ミング信号φmaが再び発生され、上記読に切り換えら
れたデータ線からの読み出しデータ信号の増幅動作及び
ラッチ回路FFの取り込み及び出力選択回路の切り換え
動作が行われる。カラムアドレスストローブ信号CAS
が再びロウレベル(期間4)Kされると、それに応じて
複数の出力選択回路の1つが動作状態にされ、5ビツト
目のデータ信号D4が外部端子り。utに出力される。
以下同様にして第6ビツト目から第8ビツト目のデータ
信号D5〜D7を得ることができる。この場合、上記第
5ビツトの目の読み出しデータ信号D4は、カラム選択
動作が既に行われていることにより、単にメインアンプ
の増幅動作に要する時間しか遅れないから、極めて高速
に出力させることができる。
以下同様にして、カラムアドレスストローブ信号CAS
に同期して、連続的にデータの高速読み出しを行うこと
ができる。
なお、ロウアドレスストローブ信号RASをハイレベル
にすることによって、全ての回路がリセットされる。し
たがって、1ビツトの単位でデータの読み出しを行う場
合、1ビツトのデータ信号を読み出した後に、ロウアド
レスストローブ信号RASとカラムアドレスストローブ
信号CASがハイレベルにされればよい。
第7図には、書き込み動作の一例のタイミング図が示さ
れている。
書き込み動作においては、ライトイネーブル信号WEの
ロウレベルによって、内部制御信号′wYPがハイレベ
ルにされる。したがって、書き込み動作の時には、デー
タ線選択タイミング信号φyが発生され、メインアンプ
の動作タイミング信号φmaは、発生されない。これに
より、第3図に示したデータ入力回路DIRの入力にカ
ラムアドレスストローブ信号CASに同期させて時系列
的に供給された書き込みデータは、それと同期して上記
読み出し動作の場合と同様に形成されたアドレスカウン
タの出力によって切り換えられる伝送ゲー)MO8FE
TQI 、Q2を介して各共通相補データ線に伝えられ
ることによって、連続的な書き込み動作を行うことがで
きる。この場合には、4ピツト毎にカラムアドレスの切
り換えを行うものであるが、書き込み動作にあっては、
フルスイング(5VとOv)の書き込み信号を共通相補
データ線、カラムスイッチMO8FET及びデータ線を
通してメモリセルに伝えるものであるので、極めて高速
に書き込みを行うことができる。したがって、カラム切
り換え動作を予め行うことなく、上記のような連続的な
書き込み動作を読み出し動作と同じ動作サイクルで行う
ことができる。
なお、第7図に示したタイミング図においては、ロウ系
のタイミング信号RAS等は前記第6図と同様であるの
で、省略されている。
〔効果〕
(1)  パラレルに読み出した信号をラッチ回路に保
持させておいて、それをアドレスストローブ信号に同期
させてシリアルに送出させるとき、保持情報の全ビット
をシリアルに出力させる前に内部に設けたカウンタ回路
により形成したタイミング信号によりカラムアドレス信
号の歩進動作と、データ線の選択動作の切り換えを行う
ことによって、高速に連続的なニブル読み出し動作を実
現できるという効果が得られる。
(2)上記連続的な読み出し動作は、内蔵のカウンタに
よってタイミング信号及びアドレス信号を形成するもの
であるので、外部からは初期アドレス信号とクロックと
してのカラムアドレスストローブ信号を供給するのみで
良いから、極めて簡便に高速の連続読み出しを行うこと
ができるという効果が得られる。
(3)上記(1) 、 (2)により、1つのワード線
に設ゆられたメモリセルの全ての読み出し動作を簡単に
、かつ高速に行うことができるから、画像処理用の画素
データの記憶装置に適したダイナミック型RAMを得る
ことができるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施      −
例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。例えば
、メモリアレイは、上記2つのメモリアレイに分割する
ものの他、4分割して各マット毎に前記のような書き込
み/読み出し動作を実現する入出力回路を設けるもので
あってもよい。
また、上記複数ビットは、4ビツトの他8対の共通相補
データ線に対して8対の入出力回路を設けて、8ビツト
づつのデータを連続的に書き込み又読み出すようにする
もの等であってもよい。
東に、カラムデコーダに供給するアドレス信号は全て外
部端子から供給するものでありてもよい。
例えば、第5図に示したタイミング図において、4ビツ
ト目のデータ読み出しのためのカラムアドレスストロー
ブ信号CAS (3)に同期して、外部から次に選択す
べきデータ線を指示するアドレス信号を供給するもので
あってもよい。この場合には、任意のアドレス指定によ
って連続的なニブルモードを行わせることができる。
また、各回路の具体的回路は種々の実施形態を取ること
ができるものである。
〔利用分野〕
この発明は、ダイナミック型RAMに広く利用できるも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例を示す内部構成ブロック
図、 第2図は、センスアンプ、プリチャージ回路。 メモリアレイ及びカラムスイッチ回路の具体的回路図、 第3図は、メインアンプ及び入出力回路の具体的な回路
図、 第4図は、カウンタの回路図、 第5図は、タイミング発生回路の一部の回路の回路図、 第6図及び第7図は、第1図の実施例の動作を説明する
ためのタイミング図である。 M−ARYl 、M−ARY2・・・メモリアレイ、S
AI 、SA2・・・センスアンプ、R−ADB・・・
ロウアドレスバッファ、C−8W工、C−5W2・・・
カラムスイッチ、C−ADB・・・カラムアドレスバッ
ファ、R−DCRI 、R−DCR2・・・ロウデコー
ダ、C−DCR・・・カラムデコーダ、DEC・・・デ
コーダ、C0UNT・・・アドレスカウンタ、MAO〜
MA3・・・メインアンプ、TG・・・タイミング発生
回路、Ilo・・・入出力回路、FF・・・ラッチ回路
、DOB・・・データ出力回路、DIB・・・データ入
力回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数の共通データ線に読み出された信号を増幅して
    保持する複数のメインアンプと、カラムアドレスストロ
    ーブ信号の変化に応答して上記複数のメインアンプの出
    力を時系列的に出力させるメインアンプ制御回路と、上
    記複数のメインアンプからの時系列的な読み出し動作の
    途中において、歩進動作を行う内蔵のアドレスカウンタ
    によって形成されたアドレス信号に従つてカラムスイッ
    チの切り換えを行うカラム選択回路とを具備することを
    特徴とするダイナミック型RAM。 2、上記アドレスカウンタの初期値は、外部端子からア
    ドレス信号により設定されるものであることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載のダイナミック型RAM。 3、上記複数のメインアンプの出力は、共通のデータ出
    力回路を介して時系列的に送出されるものであることを
    特徴とする特許請求の範囲第1又は第2項記載のダイナ
    ミック型RAM。 4、カラム系選択回路は、CMOSスタティック型回路
    により構成されるものであることを特徴とする特許請求
    の範囲第1、第2又は第3項記載のダイナミック型RA
    M。 5、上記アドレスカウンタの歩進動作とカラムスイッチ
    の切り換え動作は、書き込みモードの時には複数の共通
    データ線に対する書き込み動作が終了した後の最初のカ
    ラムアドレスストローブ信号により行われるものである
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1、第2、第3又は
    第4項記載のダイナミック型RAM。
JP60009046A 1985-01-23 1985-01-23 ダイナミツク型ram Expired - Lifetime JPH0652632B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60009046A JPH0652632B2 (ja) 1985-01-23 1985-01-23 ダイナミツク型ram
US06/820,326 US4758995A (en) 1985-01-23 1986-01-21 Semiconductor memory
KR1019860000382A KR940001493B1 (ko) 1985-01-23 1986-01-22 반도체 메모리
US07/214,542 US4899312A (en) 1985-01-23 1988-07-01 Semiconductor memory
US07/440,878 US4984217A (en) 1985-01-23 1989-11-24 Semiconductor memory

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60009046A JPH0652632B2 (ja) 1985-01-23 1985-01-23 ダイナミツク型ram

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61170994A true JPS61170994A (ja) 1986-08-01
JPH0652632B2 JPH0652632B2 (ja) 1994-07-06

Family

ID=11709698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60009046A Expired - Lifetime JPH0652632B2 (ja) 1985-01-23 1985-01-23 ダイナミツク型ram

Country Status (3)

Country Link
US (2) US4758995A (ja)
JP (1) JPH0652632B2 (ja)
KR (1) KR940001493B1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6364698A (ja) * 1986-09-04 1988-03-23 Fujitsu Ltd 記憶装置
JPS6364697A (ja) * 1986-09-04 1988-03-23 Fujitsu Ltd 記憶装置
JPH02177089A (ja) * 1988-12-27 1990-07-10 Nec Corp メモリ回路用の書き込みドライバ回路
WO1992013348A1 (en) * 1991-01-22 1992-08-06 Fujitsu Limited Semiconductor storing device
US7043617B2 (en) 1994-12-23 2006-05-09 Micron Technology, Inc. System supporting multiple memory modes including a burst extended data out mode

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0652632B2 (ja) * 1985-01-23 1994-07-06 株式会社日立製作所 ダイナミツク型ram
US4984217A (en) * 1985-01-23 1991-01-08 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory
JPS63184184A (ja) * 1987-01-26 1988-07-29 Tokyo Keiki Co Ltd メモリパツケ−ジシステム
US4931999A (en) * 1987-07-27 1990-06-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Access circuit for a semiconductor memory
JPH0760595B2 (ja) * 1988-01-12 1995-06-28 日本電気株式会社 半導体メモリ
US5053652A (en) * 1988-01-28 1991-10-01 Hitachi, Ltd. High speed sensor system using a level shift circuit
JP2507529B2 (ja) * 1988-03-31 1996-06-12 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
DE3928902C2 (de) * 1988-08-31 1996-01-25 Mitsubishi Electric Corp Halbleiterspeicher und Verfahren zum Betreiben desselben und Verwendung desselben in einem Video-RAM
KR910008101B1 (ko) * 1988-12-30 1991-10-07 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 소자의 피드백형 데이타 출력 회로
JPH0814985B2 (ja) * 1989-06-06 1996-02-14 富士通株式会社 半導体記憶装置
US5276856A (en) * 1989-09-28 1994-01-04 Pixel Semiconductor, Inc. Memory controller flexible timing control system and method
JPH0430388A (ja) * 1990-05-25 1992-02-03 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体記憶回路
DE4118804C2 (de) * 1990-06-08 1996-01-04 Toshiba Kawasaki Kk Serienzugriff-Speicheranordnung
JPH0469894A (ja) * 1990-07-09 1992-03-05 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
DE4114744C1 (ja) * 1991-05-06 1992-05-27 Siemens Ag, 8000 Muenchen, De
EP0513451B1 (en) * 1991-05-16 1997-07-23 International Business Machines Corporation Memory device
US5297092A (en) * 1992-06-03 1994-03-22 Mips Computer Systems, Inc. Sense amp for bit line sensing and data latching
US5384503A (en) * 1992-09-09 1995-01-24 Shu; Lee-Lean SRAM with current-mode read data path
KR960006271B1 (ko) * 1993-08-14 1996-05-13 삼성전자주식회사 고속동작을 위한 입출력라인구동방식을 가지는 반도체메모리장치
US6525971B2 (en) 1995-06-30 2003-02-25 Micron Technology, Inc. Distributed write data drivers for burst access memories
US5526320A (en) 1994-12-23 1996-06-11 Micron Technology Inc. Burst EDO memory device
US7681005B1 (en) 1996-01-11 2010-03-16 Micron Technology, Inc. Asynchronously-accessible memory device with mode selection circuitry for burst or pipelined operation
JP3768608B2 (ja) * 1996-01-30 2006-04-19 株式会社日立製作所 半導体装置および半導体記憶装置
US6401186B1 (en) 1996-07-03 2002-06-04 Micron Technology, Inc. Continuous burst memory which anticipates a next requested start address
US6981126B1 (en) * 1996-07-03 2005-12-27 Micron Technology, Inc. Continuous interleave burst access
US6167486A (en) 1996-11-18 2000-12-26 Nec Electronics, Inc. Parallel access virtual channel memory system with cacheable channels
US5856947A (en) * 1997-08-27 1999-01-05 S3 Incorporated Integrated DRAM with high speed interleaving
US7103742B1 (en) 1997-12-03 2006-09-05 Micron Technology, Inc. Burst/pipelined edo memory device
KR100278653B1 (ko) 1998-01-23 2001-02-01 윤종용 이중 데이터율 모드 반도체 메모리 장치
US6708254B2 (en) 1999-11-10 2004-03-16 Nec Electronics America, Inc. Parallel access virtual channel memory system
US6563743B2 (en) * 2000-11-27 2003-05-13 Hitachi, Ltd. Semiconductor device having dummy cells and semiconductor device having dummy cells for redundancy
US6649425B2 (en) * 2001-04-04 2003-11-18 Sun Microsystems, Inc. Method to reduce leakage during a semi-conductor burn-in procedure
KR100680457B1 (ko) * 2004-05-31 2007-02-08 주식회사 하이닉스반도체 난드 플래시 메모리 소자의 데이터 출력 회로 및 이를이용한 데이터 출력 방법
US7643371B2 (en) * 2006-12-28 2010-01-05 Spansion Llc Address/data multiplexed device

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4567579A (en) * 1983-07-08 1986-01-28 Texas Instruments Incorporated Dynamic memory with high speed nibble mode
US4618947B1 (en) * 1984-07-26 1998-01-06 Texas Instruments Inc Dynamic memory with improved address counter for serial modes
JPH0652632B2 (ja) * 1985-01-23 1994-07-06 株式会社日立製作所 ダイナミツク型ram

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6364698A (ja) * 1986-09-04 1988-03-23 Fujitsu Ltd 記憶装置
JPS6364697A (ja) * 1986-09-04 1988-03-23 Fujitsu Ltd 記憶装置
JPH0444354B2 (ja) * 1986-09-04 1992-07-21 Fujitsu Kk
JPH02177089A (ja) * 1988-12-27 1990-07-10 Nec Corp メモリ回路用の書き込みドライバ回路
WO1992013348A1 (en) * 1991-01-22 1992-08-06 Fujitsu Limited Semiconductor storing device
US5323355A (en) * 1991-01-22 1994-06-21 Fujitsu Limited Semiconductor memory device
US7043617B2 (en) 1994-12-23 2006-05-09 Micron Technology, Inc. System supporting multiple memory modes including a burst extended data out mode

Also Published As

Publication number Publication date
KR940001493B1 (ko) 1994-02-23
US4758995A (en) 1988-07-19
US4899312A (en) 1990-02-06
JPH0652632B2 (ja) 1994-07-06
KR860006106A (ko) 1986-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61170994A (ja) ダイナミツク型ram
JPS60136086A (ja) 半導体記憶装置
US4984217A (en) Semiconductor memory
JPH0664907B2 (ja) ダイナミツク型ram
JPH0241105B2 (ja)
JPH0736269B2 (ja) 半導体記憶装置
KR950006301B1 (ko) 반도체기억장치
JPH05101646A (ja) デユアルポートメモリ
JP2624680B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH0766663B2 (ja) ダイナミツク型ram
JPS60197997A (ja) 半導体記憶装置
JPS6346697A (ja) 半導体メモリ
JPS621182A (ja) 半導体記憶装置
JPS63183687A (ja) 半導体記憶装置
JPS60211692A (ja) 半導体記憶装置
JP2578400B2 (ja) ダイナミツク型ram
JP3344630B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH04238193A (ja) 半導体記憶装置
JP2725597B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH07109708B2 (ja) ダイナミツク型ram
JPH10241367A (ja) 半導体記憶装置
JPS62281197A (ja) ダイナミツク型ram
JPS61104396A (ja) 半導体集積回路装置
JPS60136090A (ja) 半導体記憶装置
JPS61217987A (ja) ダイナミツク型ram