JPS6364697A - 記憶装置 - Google Patents
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- JPS6364697A JPS6364697A JP61208526A JP20852686A JPS6364697A JP S6364697 A JPS6364697 A JP S6364697A JP 61208526 A JP61208526 A JP 61208526A JP 20852686 A JP20852686 A JP 20852686A JP S6364697 A JPS6364697 A JP S6364697A
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- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 26
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 abstract 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
アドレス・マルチプレクス方式を採用した記憶装置にお
いて、最初の1回は外部アドレスをセットし、その後カ
ウント・アップし、該カウンタ情報をアドレス信号とし
て、列デコーダに送出するニブル・カウンタを有し、且
つボンディング情報、フユーズの溶断情報またはアルミ
ニウム配線14報を入力し前記カウンタのアドレスを切
換える切り換え論理回路を有すること乙こより、容易に
多ピント構成を実現できるとともに、ニブル・アドレス
を切り換え可能にした。
いて、最初の1回は外部アドレスをセットし、その後カ
ウント・アップし、該カウンタ情報をアドレス信号とし
て、列デコーダに送出するニブル・カウンタを有し、且
つボンディング情報、フユーズの溶断情報またはアルミ
ニウム配線14報を入力し前記カウンタのアドレスを切
換える切り換え論理回路を有すること乙こより、容易に
多ピント構成を実現できるとともに、ニブル・アドレス
を切り換え可能にした。
本発明はアドレスマルチプレクス方式を採用した記憶装
置において、CASのトグル(τoggls)でデータ
が次々と入出力される連続ニブル・モード(Nibbl
e Mode )でのアドレス・カウンタに係るもので
、特に、ニブル・アドレスの切り換えに関する。
置において、CASのトグル(τoggls)でデータ
が次々と入出力される連続ニブル・モード(Nibbl
e Mode )でのアドレス・カウンタに係るもので
、特に、ニブル・アドレスの切り換えに関する。
ニブル(Nibble)とは、ハーフ・ハイドずなわち
4ビツトを意味する用語である(但し、本願において必
ずしも4ビツトに限定するものではな(ニブルなる言葉
をもっと広い意味で使用するものとする)。第10図(
B)のニブル・モードの動作は第10図(A)の従来素
子のページ・モード動作と類似している。1回のRAS
バー(反転信号、以下同じ)+入力に対して、複数回の
CASバー人力を行なうことにより、通常動作時よりも
速いスピードでメモリ・セルへの書込み・読出しを行な
うことが可能になる。
4ビツトを意味する用語である(但し、本願において必
ずしも4ビツトに限定するものではな(ニブルなる言葉
をもっと広い意味で使用するものとする)。第10図(
B)のニブル・モードの動作は第10図(A)の従来素
子のページ・モード動作と類似している。1回のRAS
バー(反転信号、以下同じ)+入力に対して、複数回の
CASバー人力を行なうことにより、通常動作時よりも
速いスピードでメモリ・セルへの書込み・読出しを行な
うことが可能になる。
第10図(A)のように、ページ・モード動作は、RA
Sバー信号をアクティブにする際に設定された「行」ア
ドレスに屈するメモリ・セルを、RASバーをアクティ
ブにしたまま、「列」アドレスとCASバー信号を次々
に入力することによってアクセスするものである。行ア
ドレスを変えることなく動作させるため、行選択のため
のアドレス選択時間およびリセット時間が不要となり、
高速のアクセスタイムとサイクルタイムが得られる。ま
た、1回のRASバー人力によって、アクセスできるメ
モリ・セルの数は、例えば、64にビット素子の場合2
56ビツトとなり、これらのセルに対してランダムに7
込み、続出しが行なえる。
Sバー信号をアクティブにする際に設定された「行」ア
ドレスに屈するメモリ・セルを、RASバーをアクティ
ブにしたまま、「列」アドレスとCASバー信号を次々
に入力することによってアクセスするものである。行ア
ドレスを変えることなく動作させるため、行選択のため
のアドレス選択時間およびリセット時間が不要となり、
高速のアクセスタイムとサイクルタイムが得られる。ま
た、1回のRASバー人力によって、アクセスできるメ
モリ・セルの数は、例えば、64にビット素子の場合2
56ビツトとなり、これらのセルに対してランダムに7
込み、続出しが行なえる。
これに対して、ニブル・モード動作は、1回のRASバ
ー人力によってアクセスできるセル数は4ビ・ノドと少
なくなるが、4ビツトをアクセスするのに、初めの1ビ
ツトを外部アドレスで決めるだけで、その(麦はCAS
バーを入力するだけで、シリアル且つサイクリックにア
クセスすること可能とする。従って、ページ・モード動
作のように各CASバー人力の際にアドレスを設定する
必要がないため、さらに高速の動作が可能になる。
ー人力によってアクセスできるセル数は4ビ・ノドと少
なくなるが、4ビツトをアクセスするのに、初めの1ビ
ツトを外部アドレスで決めるだけで、その(麦はCAS
バーを入力するだけで、シリアル且つサイクリックにア
クセスすること可能とする。従って、ページ・モード動
作のように各CASバー人力の際にアドレスを設定する
必要がないため、さらに高速の動作が可能になる。
ニブル・モードを行なう64にのD RA Mの書込み
、読出し部分の機能ブロック構成例を第110に示す。
、読出し部分の機能ブロック構成例を第110に示す。
ニブル4ビツトに対応して、4組のデータバスを配置し
、続出しの場合は4ビツトの蓄積データを、各々のデー
タ・バスを介して各センス・ラッチ84にラッチし、ラ
ッチされたデータをレジスタ83によって、次々に出力
バッファ81に転送して出力を出す。
、続出しの場合は4ビツトの蓄積データを、各々のデー
タ・バスを介して各センス・ラッチ84にラッチし、ラ
ッチされたデータをレジスタ83によって、次々に出力
バッファ81に転送して出力を出す。
一方、書込みの場合は、1個のデータイン・バッファ8
2の出力を各データ・ハスに接続された書込みバッファ
85に並列に入力し、順次書込みバッファ85を駆動し
てメモリ・セルに入力データを書込む。また、同時にセ
ンスラッチにも書込みデータをランチさせる。従って、
同一ニブル・モード動作内で蓄積データを書き換ること
もできる。或いは、書込んだ新しいデータを読出すこと
も可能である。
2の出力を各データ・ハスに接続された書込みバッファ
85に並列に入力し、順次書込みバッファ85を駆動し
てメモリ・セルに入力データを書込む。また、同時にセ
ンスラッチにも書込みデータをランチさせる。従って、
同一ニブル・モード動作内で蓄積データを書き換ること
もできる。或いは、書込んだ新しいデータを読出すこと
も可能である。
ところが、上記ニブル・モードを行なう従来方式では、
多ビット(パラレルのピント数)構成の場合、例えば、
4ビツト構成ではそのビット数の4倍の16組のデータ
・バス、センスラッチ、書込みバッファが必要になり、
大きな面積を必要とし、消費電力の増大になるという問
題点がある。
多ビット(パラレルのピント数)構成の場合、例えば、
4ビツト構成ではそのビット数の4倍の16組のデータ
・バス、センスラッチ、書込みバッファが必要になり、
大きな面積を必要とし、消費電力の増大になるという問
題点がある。
同様に、ニブル・モードにおいて、もっと多くのビット
数(シリアルのビット数)にしようとすることも困難で
ある。また、規格上半導体記士、9装置の品種で、ニブ
ル・アドレスが異なり互換性が要求されることがあるが
、従来のニブル回路ではその切り換えができなかった。
数(シリアルのビット数)にしようとすることも困難で
ある。また、規格上半導体記士、9装置の品種で、ニブ
ル・アドレスが異なり互換性が要求されることがあるが
、従来のニブル回路ではその切り換えができなかった。
本発明は、アドレス・マルチプレクス方式を採用した記
憶装置において、最初の1回は外部アドレスの列アドレ
スをセットし、列アドレス取込み信号のトグルでカウン
ト・アップし、該カウント情報をアドレス信号として、
列デコーダに直接もしくはアドレス・バッファを介して
送出するカウンタと、ボンディング情報、フユーズの溶
断情報またはアルミニウム配線情報等の切り換え情報を
入力し前記カウンタのアドレスを切換える切り換え論理
回路を有することを特徴とする記1.a装置を提供する
ものである。
憶装置において、最初の1回は外部アドレスの列アドレ
スをセットし、列アドレス取込み信号のトグルでカウン
ト・アップし、該カウント情報をアドレス信号として、
列デコーダに直接もしくはアドレス・バッファを介して
送出するカウンタと、ボンディング情報、フユーズの溶
断情報またはアルミニウム配線情報等の切り換え情報を
入力し前記カウンタのアドレスを切換える切り換え論理
回路を有することを特徴とする記1.a装置を提供する
ものである。
第1図(A)に本発明のニブル・カウンタの原理的説明
図を、第1図(B)にその動作波形図を示してあり、図
を参照して本発明の詳細な説明する。図中、1はニブル
・カウンタ、2はアドレス・バッファであり、ADDは
外部アドレス、また、φは外部アドレス信号の列アドレ
スをセットするクロック信号、φNBCはニブル・クロ
ック信号、φS引よ切り換え情報である。その動作は、
以下の如くである。
図を、第1図(B)にその動作波形図を示してあり、図
を参照して本発明の詳細な説明する。図中、1はニブル
・カウンタ、2はアドレス・バッファであり、ADDは
外部アドレス、また、φは外部アドレス信号の列アドレ
スをセットするクロック信号、φNBCはニブル・クロ
ック信号、φS引よ切り換え情報である。その動作は、
以下の如くである。
■ 通常のサイクル(ノーマル・サイクル)時に、RA
Sバーが落ち次いでCASバーが落ちて外部アドレスA
DDの列アドレスをニブル・カウンタヘセットする。セ
ット動作は、アドレス・バッファへ列アドレスをセット
するクロックφで行なう。なお、(a)外部アドレスA
DDはアドレス・バッファ2を通してニブル・カウンタ
ヘセットしても、或いは(b)直接ニブル・カウンタへ
外部アドレスを入れるようにしてもよい。
Sバーが落ち次いでCASバーが落ちて外部アドレスA
DDの列アドレスをニブル・カウンタヘセットする。セ
ット動作は、アドレス・バッファへ列アドレスをセット
するクロックφで行なう。なお、(a)外部アドレスA
DDはアドレス・バッファ2を通してニブル・カウンタ
ヘセットしても、或いは(b)直接ニブル・カウンタへ
外部アドレスを入れるようにしてもよい。
■ アドレスセット後、φNBC印加時ニブル・カウン
タ1をカウント・アップする。
タ1をカウント・アップする。
■ 次に来るニブル・サイクルで、ニブル・カウンタ1
のアドレスを引き出し、列デコーダを動作させる。
のアドレスを引き出し、列デコーダを動作させる。
その際、(C)ニブル・カウンタ1のアドレスをアドレ
ス・バッファ2で増幅後列デコーダへ出力しても良く、
或いは、(d)ニブル・カウンタ1の出力を直接列デコ
ーダへ出力しても良い。
ス・バッファ2で増幅後列デコーダへ出力しても良く、
或いは、(d)ニブル・カウンタ1の出力を直接列デコ
ーダへ出力しても良い。
■ アドレス出力後は、ニブル・カウンタ1をφNBC
印加時カウント・アップする。
印加時カウント・アップする。
このように、ニブル・モードは入力した列1行アドレス
に関係するビットのデータがCASバーのトグルで次々
と出力される。例えば、IMWordXIBitのメモ
リではI’lA9 、CA9が変化したように見える。
に関係するビットのデータがCASバーのトグルで次々
と出力される。例えば、IMWordXIBitのメモ
リではI’lA9 、CA9が変化したように見える。
このRA9 、CA9がニブル・アドレスとなる。
一方、256Kx4のメモリではそのニブル・アドレス
はCAO、CAIと決っている。
はCAO、CAIと決っている。
そこで、本発明においては、このニブル・アドレスを同
一ニブル・カウンタで実現できるように、カウンタの各
ビットの出力をボンディング・オプション、ヒユーズ/
8断またはアルミニウム配線情報等(φ聞)で切り換え
る論理回路SWCを設けている。
一ニブル・カウンタで実現できるように、カウンタの各
ビットの出力をボンディング・オプション、ヒユーズ/
8断またはアルミニウム配線情報等(φ聞)で切り換え
る論理回路SWCを設けている。
上記本発明の構成によれば、■ データ・パス、センス
・ラッチ回路、書込みバッファ回路が少なくて済み、面
積的に有利である。特に、入出力の多ビット(入出力パ
ラレルのビット数)構成でその効果が顕著である。■
従来のニブル・モードはCASハ′−のトグルで4ビツ
ト出て(るが、ニブル・カウンタのビット数を増やすと
もっと多くのビ・ノド数(シリアルのビット数)を出力
することが可能である。■ ニブル・アドレスを切換え
ることができ、品種の切り換えが容易である。
・ラッチ回路、書込みバッファ回路が少なくて済み、面
積的に有利である。特に、入出力の多ビット(入出力パ
ラレルのビット数)構成でその効果が顕著である。■
従来のニブル・モードはCASハ′−のトグルで4ビツ
ト出て(るが、ニブル・カウンタのビット数を増やすと
もっと多くのビ・ノド数(シリアルのビット数)を出力
することが可能である。■ ニブル・アドレスを切換え
ることができ、品種の切り換えが容易である。
以下に本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。
。
第2図は本発明の実施例のニブル・モードによる書込み
および読出しを行なう全体的ブロック構成例を示し、図
中、1はニブル・カウンタ、2はアドレス・バッファで
あり、3はセル・アレイ、4は列デコーダ、5はセンス
・ランチ、6は書込みバッファ、7は出カバソファ、8
はデータ・バスである。また、SWCがニブル・アドレ
スの切り換え論理回路である。
および読出しを行なう全体的ブロック構成例を示し、図
中、1はニブル・カウンタ、2はアドレス・バッファで
あり、3はセル・アレイ、4は列デコーダ、5はセンス
・ランチ、6は書込みバッファ、7は出カバソファ、8
はデータ・バスである。また、SWCがニブル・アドレ
スの切り換え論理回路である。
第3図は実施例のアドレス・バッファ1とニブル・カウ
ンタ3の1アドレス分(A D D BとNBC)の詳
細回路図である。ニブル・モードでは、初めの1ビツト
は外部アドレスADDで決めてやる必要がある。そこで
本実施例で新に追加したニブル・カウンタ1には初めの
1ビツトのアドレスを取り込む機能が必要であり、NB
Cにこれを備えている。第3図中、アドレス・バッファ
2にはFFが備えられ、クロックφLE(ランチ・イネ
ーブル)で、外部からのアドレスを閉じ込める。一方、
ニブル・カウンタ1にはFFが2個備えられ、マスタF
FおよびスレーブFFとして交互に動作する。外部から
のアドレスADDがトランジス旺)にデータセットされ
る。この際、最初の1回だけデータセットされるように
φ^Lをコントロールする。その後は、トランスファー
ゲートの制御クロックφTを上げて、ニブル・カウンタ
1の情うに、アドレス出力後、CLK端子に加わるクロ
ックでカウント・アップし、そのカウンタ情報Q、Qバ
ーを出力していく。
ンタ3の1アドレス分(A D D BとNBC)の詳
細回路図である。ニブル・モードでは、初めの1ビツト
は外部アドレスADDで決めてやる必要がある。そこで
本実施例で新に追加したニブル・カウンタ1には初めの
1ビツトのアドレスを取り込む機能が必要であり、NB
Cにこれを備えている。第3図中、アドレス・バッファ
2にはFFが備えられ、クロックφLE(ランチ・イネ
ーブル)で、外部からのアドレスを閉じ込める。一方、
ニブル・カウンタ1にはFFが2個備えられ、マスタF
FおよびスレーブFFとして交互に動作する。外部から
のアドレスADDがトランジス旺)にデータセットされ
る。この際、最初の1回だけデータセットされるように
φ^Lをコントロールする。その後は、トランスファー
ゲートの制御クロックφTを上げて、ニブル・カウンタ
1の情うに、アドレス出力後、CLK端子に加わるクロ
ックでカウント・アップし、そのカウンタ情報Q、Qバ
ーを出力していく。
実際には、アドレス・バッファ2およびニブル・カウン
タ1の1ビット分(A D D BおよびMBC)をニ
ブル・モードにおいて外部アドレスを七ので、ニブル・
クロックφNBC印加時に、NANDゲートで前の情報
をもとに桁上げするかどうかを決めている。
タ1の1ビット分(A D D BおよびMBC)をニ
ブル・モードにおいて外部アドレスを七ので、ニブル・
クロックφNBC印加時に、NANDゲートで前の情報
をもとに桁上げするかどうかを決めている。
第5図は第3図の回路で必要なタイミングφLE、$A
L、 φIJBC,φTをRA S バーおよびCAS
バーからを発生するためのクロ7り発生回路を示す。
L、 φIJBC,φTをRA S バーおよびCAS
バーからを発生するためのクロ7り発生回路を示す。
第6図は第5図のクロック発生回路のタイミング・チャ
ートであり、第5図の回路のノード■〜[相]のうち■
、■、■および各タイミング信号の動作波形を示してい
る。
ートであり、第5図の回路のノード■〜[相]のうち■
、■、■および各タイミング信号の動作波形を示してい
る。
第6図のタイミング・チャートを参照しながら、本実施
例の動作を説明する。
例の動作を説明する。
+1)CASバーが下がると■と■のL−L時間を捉え
て、山形波形φALを作る。このφALで外部アドレス
をアドレス・バッファに取り込み、φLEでラッチする
。このアドレスはA、Aバーへ出力され、初めの1ビ・
ノドの列アドレスとなる。
て、山形波形φALを作る。このφALで外部アドレス
をアドレス・バッファに取り込み、φLEでラッチする
。このアドレスはA、Aバーへ出力され、初めの1ビ・
ノドの列アドレスとなる。
(2) φLEが一度入ると、■が下がりしレベルな
り、■がHレベルになって、φAしは■のRASバーで
リセットされない限り、φALは出す、1回のみ動作す
る。このφALでニブル・カウンタのスレーブFFにデ
ータをセットする。
り、■がHレベルになって、φAしは■のRASバーで
リセットされない限り、φALは出す、1回のみ動作す
る。このφALでニブル・カウンタのスレーブFFにデ
ータをセットする。
(3) φTは逆に■で活性化されるので、2回目以
降のCASバーのトグルで出るようになる。
降のCASバーのトグルで出るようになる。
(4) ニブル・カウンタのクロ、りφNBC+、=
φALとのOR波形を遅延させ、ψTのHレベル部分で
スレーブFFデータをマスタFFへ転送し、Lレベル部
分で逆にマスタFFデータをスレーブFFに送る。
φALとのOR波形を遅延させ、ψTのHレベル部分で
スレーブFFデータをマスタFFへ転送し、Lレベル部
分で逆にマスタFFデータをスレーブFFに送る。
(5)上記の際、第4図に示すニブル・カウンタ接続の
ように前段のカウンタ出力とφNBCのN A NDを
ニブル・カウンタNBCのCLK端子のクロックとする
ことでカウントア゛ンプして行く。
ように前段のカウンタ出力とφNBCのN A NDを
ニブル・カウンタNBCのCLK端子のクロックとする
ことでカウントア゛ンプして行く。
次に第7図ないし第9図を用いて、本発明の実施例のニ
ブル・アドレスの切り換えを行なう構成部分を説明する
。
ブル・アドレスの切り換えを行なう構成部分を説明する
。
第7図はAOlAlのニブル・アドレスを牝、A3に切
換える例である。この実施例では、最初にニブル・カウ
ンタにセットするのは、外部アドレスのうちニブル・ア
ドレスと決められている特定のビットAO,AIおよび
A2.A3のみとし、他の外部アドレスのビットは別に
蓄える(例えば別に設けるレジスタ等)又は外部アドレ
スは取込んでも良いがアドレスは変化しないようにして
いる。
換える例である。この実施例では、最初にニブル・カウ
ンタにセットするのは、外部アドレスのうちニブル・ア
ドレスと決められている特定のビットAO,AIおよび
A2.A3のみとし、他の外部アドレスのビットは別に
蓄える(例えば別に設けるレジスタ等)又は外部アドレ
スは取込んでも良いがアドレスは変化しないようにして
いる。
先に示したように外部より入力したアドレスADDはア
ドレス・バッファ2を通して、ニブル・カウンタ1に蓄
えられる。φNBCはこのカウンタをカウント・アップ
するためのクロックをボンディングまたはフユーズの溶
断等の情報等(φ蛋)により、AO,AIに供給するか
、A2. A3に供給するか切り換え論理回路SWC<
アンド回路ao”’−25)により分けてやる。ポンデ
ィング情報=「H」とすると、AO,AlへφNBGが
供給されて活性化され、CASバーのトグルで第7図の
真理表のようにφNBCが順に■〜■と印加されるとA
O,AIのみ変化し、この情報がアドレス・バッファを
通して列アドレスとなる。その時、A2. A3は変化
しない。
ドレス・バッファ2を通して、ニブル・カウンタ1に蓄
えられる。φNBCはこのカウンタをカウント・アップ
するためのクロックをボンディングまたはフユーズの溶
断等の情報等(φ蛋)により、AO,AIに供給するか
、A2. A3に供給するか切り換え論理回路SWC<
アンド回路ao”’−25)により分けてやる。ポンデ
ィング情報=「H」とすると、AO,AlへφNBGが
供給されて活性化され、CASバーのトグルで第7図の
真理表のようにφNBCが順に■〜■と印加されるとA
O,AIのみ変化し、この情報がアドレス・バッファを
通して列アドレスとなる。その時、A2. A3は変化
しない。
ボンディング情報=「L」とすれば、逆にA2.A3が
活性化され、AO,Alは不活性となり、ニブル・アド
レスが変化したことになる。
活性化され、AO,Alは不活性となり、ニブル・アド
レスが変化したことになる。
第8図(A)は1Mビットのメモリに本発明を通用した
実施例の要部の全体的配置図であり、ボンディング・オ
プションで切換える例を示している。集積回路パフケー
ジのピンTとボンディング・パッドPADにアルミニウ
ム線、?lをボンディングし、ボンディング「有り」
「無」で論理の[IJ rOJを決める。その検出は
、ポンディングパッドPADと検出回路DTの入力端子
との接続点に一端が低位の電源に接続した抵抗素子Rの
他端を接続して行なう。パッケージのピンTが高位の電
源電位VCCとすると、ボンディングすれば、検出回路
DTには、高位の電源電位VCCが供給され、出力が「
1」となり、ボンディングされないと抵抗素子Rで低位
の電源電位Vssに引くので検出回路DTの出力電位は
VssrOJになる。
実施例の要部の全体的配置図であり、ボンディング・オ
プションで切換える例を示している。集積回路パフケー
ジのピンTとボンディング・パッドPADにアルミニウ
ム線、?lをボンディングし、ボンディング「有り」
「無」で論理の[IJ rOJを決める。その検出は
、ポンディングパッドPADと検出回路DTの入力端子
との接続点に一端が低位の電源に接続した抵抗素子Rの
他端を接続して行なう。パッケージのピンTが高位の電
源電位VCCとすると、ボンディングすれば、検出回路
DTには、高位の電源電位VCCが供給され、出力が「
1」となり、ボンディングされないと抵抗素子Rで低位
の電源電位Vssに引くので検出回路DTの出力電位は
VssrOJになる。
第8図(B)に図(A>のパッケージのピンTを含む外
観を示し、アドレス・マルチプレクスではRAとCAと
は同じ1本のピンを共用し、例えばRAOとCAOとは
時分割で八〇というピンに入る。RA9 、CA9を取
り込むとは9番目のT9ピンからきたアドレスを2回に
分けてニブル・カウンタに入力することを意味する。第
8図(B)において、ニブル・カウンタ1はCAO−C
A9 、およびRA9の11ビツトがピンTo=T9か
ら入ってくる。このニブル・カウンタ1はφNBCでカ
ウント・アップする。
観を示し、アドレス・マルチプレクスではRAとCAと
は同じ1本のピンを共用し、例えばRAOとCAOとは
時分割で八〇というピンに入る。RA9 、CA9を取
り込むとは9番目のT9ピンからきたアドレスを2回に
分けてニブル・カウンタに入力することを意味する。第
8図(B)において、ニブル・カウンタ1はCAO−C
A9 、およびRA9の11ビツトがピンTo=T9か
ら入ってくる。このニブル・カウンタ1はφNBCでカ
ウント・アップする。
ド×1のメモリの場合には、前述のようにPADと外部
ピンTとをボンディングしない。この場合、下位ビット
のRA9 、CA9がニブル・アドレスであり、カウン
ト・アップの信号φNBCは順次くるが、CA9でとめ
て上位ビットは動かず、CASElと指示したように下
位2ビツトのみが変化する。
ピンTとをボンディングしない。この場合、下位ビット
のRA9 、CA9がニブル・アドレスであり、カウン
ト・アップの信号φNBCは順次くるが、CA9でとめ
て上位ビットは動かず、CASElと指示したように下
位2ビツトのみが変化する。
なお、IMビット×1のメモリではI?A9はニブルと
決っているので、行アドレスで選ばれるのは、RAO〜
RASの2”=512だけであり、一方、列側は、C^
0〜CA9、とRA9 (Cへ10に見える)の2目
= 2048という長方形のメモリ構成になる。256
KX4の場合には、PADとピンTをボンディングする
。ボンディングしたという情報φ舖がここのカウント・
アップの信号の切り換え論理回路SWCに入って(る。
決っているので、行アドレスで選ばれるのは、RAO〜
RASの2”=512だけであり、一方、列側は、C^
0〜CA9、とRA9 (Cへ10に見える)の2目
= 2048という長方形のメモリ構成になる。256
KX4の場合には、PADとピンTをボンディングする
。ボンディングしたという情報φ舖がここのカウント・
アップの信号の切り換え論理回路SWCに入って(る。
今度は図中、下位の2ピッ1−(CA9 、RA9)は
動かないで、上位の2ビツト(CAO,CA1)だけが
CASE2と指示するように変化する。
動かないで、上位の2ビツト(CAO,CA1)だけが
CASE2と指示するように変化する。
なお、上記CASE1.CASE2において、残りのビ
ットは常に最初にセットされたのと同じ情報1例えば「
0」が出される。
ットは常に最初にセットされたのと同じ情報1例えば「
0」が出される。
第9図に本発明の実施例のニブル・カウンタと切り換え
論理回路の具体的構成例を示す。256KX 4.IM
X 1のニブル・アドレス(JEDEC:標準化委員会
で決められている)を同一ニブル・カウンタで実現する
ため各N A N Dゲート(0〜11)に上記で示し
たようにボンディング情報等により発生するφx4.φ
x1なるクロックを入れるようにしている。256 K
X 4のメモリの場合ではφx4=rHJでCAO,
CAIを出し、IMX1では、φxl=rHj(その時
φx4=rLJ)でRA9 。
論理回路の具体的構成例を示す。256KX 4.IM
X 1のニブル・アドレス(JEDEC:標準化委員会
で決められている)を同一ニブル・カウンタで実現する
ため各N A N Dゲート(0〜11)に上記で示し
たようにボンディング情報等により発生するφx4.φ
x1なるクロックを入れるようにしている。256 K
X 4のメモリの場合ではφx4=rHJでCAO,
CAIを出し、IMX1では、φxl=rHj(その時
φx4=rLJ)でRA9 。
CA9を出せばよい。
以上の構成によれば、同じ1Mビットのメモリを実現す
るのにIMビット×1と256にビット×4とを単にボ
ンディング・パッドPADへのボンディングの有無で切
換えることが可能になる。
るのにIMビット×1と256にビット×4とを単にボ
ンディング・パッドPADへのボンディングの有無で切
換えることが可能になる。
なお、本発明は特許請求の範囲の範囲内において種々変
更可能であり、例えばボンディング情報と同様にヒユー
ズの溶断情報或いはアルミニウム配線情報(特定の端子
等にアルミニウム配線がなされているか否か)でニブル
・カウンタの動作を切り換えることができる。
更可能であり、例えばボンディング情報と同様にヒユー
ズの溶断情報或いはアルミニウム配線情報(特定の端子
等にアルミニウム配線がなされているか否か)でニブル
・カウンタの動作を切り換えることができる。
〔発明の効果〕
以上のように従来は、ニブル・モードにおいて、ニブル
・カウンタがどの4ビツトを出すか決ってしまうのに対
し、この発明では、ボンディングか自由に決めることが
できるという利点がある。
・カウンタがどの4ビツトを出すか決ってしまうのに対
し、この発明では、ボンディングか自由に決めることが
できるという利点がある。
さらに、ニブル・カウンタのビット数を増やすだけでニ
ブル・モードにおいてもっと多くのビット数(シリアル
ビット数)を出力することが可能となる利点があり、さ
らに多ビツト構成(入出力のパラレルピント数)におい
て従来よりデータ・バス、センス・ランチ回路、書込み
バ、7フア回路が少なくて済み、面積的に有利である。
ブル・モードにおいてもっと多くのビット数(シリアル
ビット数)を出力することが可能となる利点があり、さ
らに多ビツト構成(入出力のパラレルピント数)におい
て従来よりデータ・バス、センス・ランチ回路、書込み
バ、7フア回路が少なくて済み、面積的に有利である。
第1図(A)、 (B)は本発明の概要を示すブロッ
ク図および動作波形図、 第2図は本発明の実施例の全体的構成例を示す図、 第3図は本発明の実施例におけるニブル・カウンタとア
ドレス・バッファの部分を示す詳細回路図、 第4図は実施例のニブル・カウンタの接続図、第5図は
実施例のクロック発生回路図、第6図は実施例のタイミ
ング・チャート第7図は本発明のニブル・アドレス切り
換え回路構成例を示す図、 第8図(A)は実施例のニブル・アドレス切り換えの要
部構成の配室を示す図、第8図(B)は実施例の築積回
路パンケージの外観図、第9図は本発明のニブル・アド
レス切り換え回路の他の例を示す回路図、 第10図は従来例として示したページ・モード動作およ
びニブル・モード動作の波形図、第11図は従来例のニ
ブル・モード動作を行なう入出力部ブロック図である。 1・・・ニブル・カウンタ、2−・・アドレス・バッフ
ァADD−・−外部アドレス、φNBC−ニブル・クロ
ック信号、φ連〜・・切り換え情報、3−セル・アレイ
、4−・−列デコーダ、5−センス・ラッチ、6・−書
込みバッファ、7・・・出カバソファ、8−データ・バ
ス、a g 〜a 3 ・−A N D回路S W C
−一切り換え論理回路 特許出願人 富士通株式会社(タト1b)代理人 弁理
士 玉蟲久五部(外1名)列デコーダへ 本発明の概要説明図 第 1 図 A A 実施例のアドレスバッフγとニブル ヵウンク第 3
図 CASE 2 1 ニブルカラ/り 本発明の実施例の全体的構成説明9 第 8 図 従来例の動作波形図 第 10 図
ク図および動作波形図、 第2図は本発明の実施例の全体的構成例を示す図、 第3図は本発明の実施例におけるニブル・カウンタとア
ドレス・バッファの部分を示す詳細回路図、 第4図は実施例のニブル・カウンタの接続図、第5図は
実施例のクロック発生回路図、第6図は実施例のタイミ
ング・チャート第7図は本発明のニブル・アドレス切り
換え回路構成例を示す図、 第8図(A)は実施例のニブル・アドレス切り換えの要
部構成の配室を示す図、第8図(B)は実施例の築積回
路パンケージの外観図、第9図は本発明のニブル・アド
レス切り換え回路の他の例を示す回路図、 第10図は従来例として示したページ・モード動作およ
びニブル・モード動作の波形図、第11図は従来例のニ
ブル・モード動作を行なう入出力部ブロック図である。 1・・・ニブル・カウンタ、2−・・アドレス・バッフ
ァADD−・−外部アドレス、φNBC−ニブル・クロ
ック信号、φ連〜・・切り換え情報、3−セル・アレイ
、4−・−列デコーダ、5−センス・ラッチ、6・−書
込みバッファ、7・・・出カバソファ、8−データ・バ
ス、a g 〜a 3 ・−A N D回路S W C
−一切り換え論理回路 特許出願人 富士通株式会社(タト1b)代理人 弁理
士 玉蟲久五部(外1名)列デコーダへ 本発明の概要説明図 第 1 図 A A 実施例のアドレスバッフγとニブル ヵウンク第 3
図 CASE 2 1 ニブルカラ/り 本発明の実施例の全体的構成説明9 第 8 図 従来例の動作波形図 第 10 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 アドレス・マルチプレクス方式を採用した記憶装置にお
いて、 最初の1回は外部アドレスの列アドレスをセットし、列
アドレス取込み信号のトグルでカウント・アップし、該
カウント情報をアドレス信号として、列デコーダに直接
もしくはアドレス・バッファを介して送出するカウンタ
と、 ボンディング情報、フユーズの溶断情報またはアルミニ
ウム配線情報等の切り換え情報を入力し前記カウンタの
アドレスを切換える切り換え論理回路を有することを特
徴とする記憶装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61208526A JPS6364697A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 記憶装置 |
DE8787112567T DE3780551T2 (de) | 1986-09-04 | 1987-08-28 | Speichereinrichtung unter verwendung von adressenmultiplex. |
EP87112567A EP0262413B1 (en) | 1986-09-04 | 1987-08-28 | Memory device employing address multiplexing |
US07/090,988 US4807192A (en) | 1986-09-04 | 1987-08-31 | Memory device employing address multiplexing |
KR8709797A KR910006110B1 (en) | 1986-09-04 | 1987-09-04 | Memory device using address multiplexing |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61208526A JPS6364697A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6364697A true JPS6364697A (ja) | 1988-03-23 |
JPH0444354B2 JPH0444354B2 (ja) | 1992-07-21 |
Family
ID=16557642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61208526A Granted JPS6364697A (ja) | 1986-09-04 | 1986-09-04 | 記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6364697A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6255835B1 (en) | 1998-06-29 | 2001-07-03 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Circuit for testing option of a semiconductor memory device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5956284A (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-31 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS5975494A (ja) * | 1982-10-25 | 1984-04-28 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS5975489A (ja) * | 1982-10-22 | 1984-04-28 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS605493A (ja) * | 1983-06-22 | 1985-01-12 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPS61170994A (ja) * | 1985-01-23 | 1986-08-01 | Hitachi Ltd | ダイナミツク型ram |
-
1986
- 1986-09-04 JP JP61208526A patent/JPS6364697A/ja active Granted
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5956284A (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-31 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS5975489A (ja) * | 1982-10-22 | 1984-04-28 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS5975494A (ja) * | 1982-10-25 | 1984-04-28 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS605493A (ja) * | 1983-06-22 | 1985-01-12 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPS61170994A (ja) * | 1985-01-23 | 1986-08-01 | Hitachi Ltd | ダイナミツク型ram |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6255835B1 (en) | 1998-06-29 | 2001-07-03 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Circuit for testing option of a semiconductor memory device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0444354B2 (ja) | 1992-07-21 |
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