JPH02173997A - メモリ装置 - Google Patents

メモリ装置

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JPH02173997A
JPH02173997A JP63328259A JP32825988A JPH02173997A JP H02173997 A JPH02173997 A JP H02173997A JP 63328259 A JP63328259 A JP 63328259A JP 32825988 A JP32825988 A JP 32825988A JP H02173997 A JPH02173997 A JP H02173997A
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JP
Japan
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data
memory
data transfer
ras
ram
Prior art date
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Pending
Application number
JP63328259A
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English (en)
Inventor
Michiharu Yomo
四方 道治
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH02173997A publication Critical patent/JPH02173997A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、デュアルポート構成のメモリ装置に関するも
のである。
従来の技術 従来、デュアルポート構成のメモリ装置は、第3図に示
すような回路を主要要素として構成されている。すなわ
ち、第3図において、VCCは電源であり、コンデンサ
C1とMOSトランジスタQ6がダイナミック型メモリ
セル、コンデンサC2とトランジスタQ7.Q8がダミ
ーセル、トランジスタQ1.Q2および一対のデータ線
DL、DLが感知増幅器、トランジスタQ3.Q4.Q
5がデータ線DL、DLの予備充電回路をそれぞれ構成
し、これらがデュアルポート構成のメモリにおけるラン
ダムアクセスメモリポートの主要部分となる。
ここでメモリセルは、データ線DL、DLに関してそれ
ぞれ複数個接続されており(第3図ではデータIDL上
の他のメモリセル及びデータ4111DL上のメモリセ
ルは省略し、データ線DL上の一個のメモリセルのみ示
しである)、さらに第3図の回路が複数個配列されるこ
とで行及び列の形で配列されたメモリセルマトリクスが
構成される。なおダミーセルは一対のデータ線DL、D
L上に各−個接続される。(第3図ではデータ線DL上
のダミーセルのみ表示しである。)データ線DL。
DL上に配列された複数個のメモリセルの中から1個が
選択、すなわち、第3図の行デコーダによりアドレス入
力に対応したワード線(例えば第3図のφwし)がハイ
レベルとなり、メモリセルのデータがデータ線(DL)
へ転送される。この時、選択されたメモリセルが接続さ
れたデータ線と対になるデータ線(DL)上のダミーセ
ルも同時に選択(φDWがハイレベル)されており、対
応するデータ線(DL>にデータが転送される。ダミー
セルのコンデンサC2は、メモリセルのコンデンサCI
の1/2の容量になっており、両コンデンサC1,C2
の容量差に応じてデータ線DL、DL間に生じた電位差
を感知増幅器により増幅する。その結果、データfiD
L、DLは一方が電源電位(Vcc)程度、他方が基準
電位(Ov)となり、メモリセルからのデータ読み出し
に関する一連の動作が完了する。以上のようにして、メ
モリセルからデータ線DL、DLに読み出されたデータ
をさらに第3図では省略しであるデータバスへ転送し、
データ出力バッファ等を介してデータ出力端子へ出力す
れば、ランダムアクセスメモリポートの読み出し動作が
行なえる。書き込み動作の場合には、データ入力端子の
データをデータ人力バッファ、データバスを経由して第
3図のデータ線DL、DLへ転送し、これをさらにメモ
リセルへ転送する。
次に、デュアルポート構成のメモリにおける、ランダム
アクセスメモリポート(以下でRAMポートと略称)に
対する他方のポートであるシリアルアクセスメモリポー
ト(以下でSAMボートと略称)は、第3図のトランジ
スタQ目、Q12で構成されるデータレジスタを主要部
分として構成される。このデータレジスタは、RAMボ
ートの各感知増幅器すなわちメモリセルマトリクスの各
列に対応して設けられており、SAMボートにおけるデ
ータの入出力は、前述のRAMボートにおける感知増幅
器のデータ線DL、DL上のデータをデータ出力端子へ
読み出す方法およびデータ入力端子のデータをデータl
*DL、DLへ書き込む方法と同様の方法を、SAMポ
ートのデータレジスタのノードDR,DRと、SAMボ
ートの入出力端子(第3図では省略)に関して適用する
ことで行なわれる。さらに、第3図におけるデータ転送
用トランジスタQ9 、 Q+oを介してRAMボート
のメモリセルからSAMポートのデータレジスタへのデ
ータ転送またはSAMボートのデータレジスタからRA
Mボートのメモリセルへのデータ転送が行なえ、これに
より、RAMボートから入力したデータをSAMボート
に転送後SAMボートから出力する等の複雑な動作が実
現できることになる。
第4図は、RAMボートからSAMボートへのデータ転
送に関連して第3図の回路を駆動するクロック発生回路
のブロック図であり、第5図は、RAMボートからSA
Mボートへのデータ転送の際の第4図の各クロックの動
作波形の模式図である。第3図、第4図、第5図を参照
しながら従来のデュアルポート構成の半導体メモリ装置
におけるRAMボートからSAMボートへのデータ転送
動作を説明すると以下のようになる。まず、データ転送
の際にも第3図におけるデータ転送トランジスタQs、
Q+oデータレジスタ(トランジスタQ + + +Q
12)を除いたRAMポート部分は、RAMボートのデ
ータ読み出しの時と同じ動作をする。すなわち、第4図
の1.2.3の各クロック発生器及び外部制御信号RA
Sにより発生されるクロックφw、Th^、φPは、第
5図に示すように、時刻t1にRASがロウレベルにな
るとφPがロウレベルになり、第3図のデータ線DL、
DLの予備充電が終了し、次に時刻t2にφ冒がハイレ
ベルになり、行デコーダが活性化してワード線の選択が
行なわれ、メモリセルおよびダミーセルからデータ線へ
データが転送され、さらに時刻t3にφS^がロウレベ
ルになることで感知増幅器が動作し、データ線DL、D
Lの電位が前述のようにメモリセルのデータに対応して
片方がハイレベル(約vc0)片方がロウレベル(Ov
)に決まる。最後に、時刻t5に、RASがハイレベル
になるとφ8がロウレベル、φsaがハイレベル、φP
がハイレベルとなり、データ線DL、DLは予備充電状
態となる。メモリセルからデータレジスタへのデータ転
送は以上のようにして、データ線DL、DL上に発生し
た電位をデータ転送トランジスタQs、 Q+。
を通してデータレジスタへ転送することで行なわれる。
第4図のDTは、データ転送を指定する外部制御信号で
あり、第5図に示すようにRASの立ち下がり(時刻1
+ )において、このDTがロウレベルであれば、第4
図のラッチ(4)によりクロックLDTがハイレベルと
なり、このサイクルはデータ転送サイクルとなる。LD
Tがハイレベルになった場合には次のDTの立ち上がり
(第5図の時刻td時に、φDTがハイレベルとなり、
第3図のトランジスタQs、Q+oが導通状態となり、
前述のRAMボートの動作によりすでにメモリセルのデ
ータに対応して電位が決まっているデータ線からデータ
レジスタヘデータが転送される。時刻t5にRASがハ
イレベルになると、φDTはロウレベルとなり、データ
転送が終了、データレジスタはラッチ状態となる。
発明が解決しようとする課題 上記のような従来の回路方式では、RAMボートの読み
出し動作の中にRAMボートからSAMボートへのデー
タ転送という新たな動作を割り込ませる必要から以下の
ようなタイミング上の制約が発生する。まず、RAMの
制御信号RASがハイレベルからロウレベルに立ち下が
り、行デコーダによるワード線の選択、メモリセルから
データ線へのデータ転送、感知増幅器によるデータ線の
データの増幅までの一連の動作が完了して始めてSAM
のデータレジスタへのデータ転送が可能になることから
、RASの立ち下がりからDTの立ち上がりまでの時間
(第5図の1+−14)をある一定の時間以上とする必
要がある。
次に、DTの立ち上がりからRASの立ち上がりまでの
時間(第5図のt4〜ts)に関して、従来の回路では
RASの立ち上がりでデータ転送用クロックφDTをリ
セットしてデータ転送を終了させているため、データレ
ジスタへの充分なデータ転送に必要なφDTのパルス幅
を確保するために、これもある一定の時間以上とする必
要がある。
さらに、RAMのデータ線(DL、DL)の予備充電時
間の確保のため、RASの立ち上がりから次のサイクル
のRASの立ち下がりまでの時間(第5図のt5から次
のサイクルのtlまでの時間)についても−室以上の時
間が必要である。以上のように、従来のデュアルポート
構成のメモリ装置では、RAMボートの外部制御信号で
あるRASとデータ転送の外部制御信号であるDTに関
して、RAMボートからSAMボートへのデータ転送の
際に、RASの立ち下がり、DTの立ち上がり、RAS
の立ち上がりの3者の相互間のタイミングに関し全ての
組み合わせについである一定時間以上を必要とするとい
う制約が生ずる。この制約は、特にメモリを短い動作周
期で使用する場合に、外部制御信号のRASやDTを発
生するメモリ駆動システムの設計を繁雑なものとし、さ
らに、メモリ装置自体の回路設計についてもタイミング
余裕の確保のためにデータ転送の所要時間短縮等の工夫
を凝らす必要が生ずるという不都合を生ずる。
このように従来のデュアルポート構成のメモリ装置では
、RAMボートからSAMボートへのデータ転送の際の
外部制御信号相互間のタイミング上の制約が多(、使い
やすさ、メモリ装置駆動回路やメモリ装置自体の回路の
設計の簡素化に対する障害が発生するという問題点があ
った。
本発明は、上記従来の問題点を解消するもので、外部制
御信号のタイミングに関する制約の少ない、使いやすい
デュアルポート構成のメモリ装置を提供することを目的
とする。
課題を解決するための手段 本発明は、デュアルポート構成にして、行及び列の形で
マトリクス状に配列された複数個のメモノセルと、前記
メモリセルマトリクス中の任意のメモリセルに対して単
独または複数の制御クロック入力に同期したデータの読
み出しおよび書き込みを行なう手段と、前記メモリセル
マトリクスの各列に対応して設けられた複数個のデータ
レジスタと、前記メモリセルマトリクス中の任意の行に
対応するメモリセルのデータを前記データレジスタに転
送する手段とを有してなり、前記メモリセルから前記デ
ータレジスタへのデータ転送中は前記制御クロック入力
を無効とする手段を有するメモリ装置である。
作用 上記の本発明によれば、例えばRAMボートとSAMボ
ートを有するデュアルポート構成のメモリ装置における
、RAMボートからSAMボートへのデータ転送の際の
、外部制御クロック入力信号間のタイミング上の制約が
少な(、使用上および内部動作上の両面においてタイミ
ング余裕度の大きなメモリ装置を提供することになる。
実施例 第1図は本発明の実施例におけるデュアルポート構成の
メモリ装置のRAMボートからSAMボートへのデータ
転送の際に使用されるクロック信号の発生回路のブロッ
ク図であり、第2図は第1図の回路における各クロック
信号の電圧波形を模式的に示したものである。第2図で
、実線の波形はデータ転送時、破線の波形はデータ転送
時以外の場合である。本実施例において、第1図の回路
で発生されるクロック信号が駆動するRAMボート、S
AMボートの主要部分の回路は、従来例の説明の際に示
した第3図の回路と同一である。
第1図において、1,2.3.4でそれぞれ示されるφ
冒、φS^、φp、LDTのクロック発生器及びφDT
の発生回路は、第4図の従来例と同一である。第1図の
回路が従来例と異なる点は、データ転送時にDTの立ち
上がりに同期して、発生するクロックφDTから、クロ
ック発生器5により新たなりロックφDT・が発生され
ることと、クロック発生器1,3.ラッチ4の入力信号
としてRASではなくRAS、φ、、LDT、φDT・
を入力として各々1個ずつのNAND、OR,AND回
路で構成される論理回路の出力信号RAS’が用いられ
ている点である。以上のような回路により次の動作が実
現される。すなわち、第2図に示すように、時刻t1に
おいてRASがロウレベルに立ち下がると、RAS ’
もロウレベルとなりRAMボートのデータ線予備充電用
クロックφPがリセット、次いで時刻t2に行デコーダ
駆動クロックφW、がハイレベル感知増幅器駆動クロッ
クφS^が時刻t3にロウレベルとなり、それぞれ活性
化される。
このとき、RASの立ち下がり時にDTがロウレベルと
なっており、LDTは、時刻t1 にハイレベルとなる
。ここまでの動作は、φP、φ讐の起動がRAS’であ
る点を除いて従来例と基本的に同等である。ここで、第
1図のノードAは、時刻t1において、LDTがハイレ
ベルとなり、さらに時刻t2においてφWがハイレベル
になった時点でロウレベルとなっている。次に時刻t4
において、RASがハイレベルに立ち上がる。このとき
、前述のようにノードAがロウレベルであるため、RA
SとノードAとの論理積で与えられるRAS’はロウレ
ベルのままである。このRAS ’は、時刻t5にDT
がハイレベルに立ち上がりφDT、次いでφDT・が起
動されてノードAがハイレベルになった時点(時刻t6
)で始めてハイレベルに立ち上がる。RAS’がハイレ
ベルになれば、φPが活性化、φw、6^がリセットさ
れ、LDT。
φP、φP・がロウレベルにリセットされて、データ転
送が終了、RAMボートのデータ線が予備充電状態とな
って一連の動作が終了する。以上で説明したように、第
1図の回路により、RAMボートの駆動クロックφW、
φS^、φPの起動をRASでなくRAS’とし、さら
にこのRAS ’の立ち上がりを、RAMボートからS
AMボートへのデータ転送の際には、データ転送トラン
ジスタ及びデータレジスタ駆動用クロックφDTより起
動されるクロックφDT・により制御することになる。
すなわち、RASの立ち下がり時にD Tがロウレベル
であり、そのサイクルがデータ転送サイクルであると認
識した(LDTがハイレベルとなる)場合には、DTが
立ち上がってから行なわれるデータ転送動作が完了する
時刻、すなわちφDT・がハイレベルになる時刻(但し
、<6DTからφDT・の遅延時間を適切な値に設定す
る必要がある。)までRASの入力を無効とすることに
なる。これにより、従来の回路で生じていたDTの立ち
上がりからRASの立ち上がりまでの時間に関して一定
時間以上を必要とするという制約が解消し、データ転送
の際の外部制御クロック入力のタイミング上の制約は、
RASの立ち下がりからDTの立ち上がりまでの時間に
関するもの(RAMボートの感知増幅器動作完了までの
時間確保のため)と、DTの立ち上がりから次のサイク
ルのRASの立ち下がりまでの時間に関するもの(RA
Mボートのデータ線予備充電時間確保のため)の2点に
低減できる。
なお、本発明の詳細な説明に際しては、NチャネルMO
Sトランジスタを用いた回路を例示して説明を行なった
が、CMO8回路を用いた場合でも同様の基本構成を有
する回路が実現できることは言うまでもない。
発明の効果 本発明のメモリ装置によれば、デュアルポート構成のメ
モリにおけるデータ転送動作の際に、データ転送動作が
完了するまでの間、RA Mボートの外部制御クロック
信号の入力を無効とする回路を付加することで、RAM
ボートの外部制御クロック入力信号とデータ転送制御用
の外部クロック入力信号の間に生ずるタイミング上の制
約を大幅に低減でき、メモリの高速動作や、メモリ駆動
回路の簡素化を阻害するタイミング上の制約の少ないメ
モリ装置を得ることができ、その実用的効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例における半導体メモリ装置の内
部クロック発生回路のブロック図、第2図は第1図の回
路における各ノードの波形の模式図、第3図は従来例の
半導体メモリ装置の主要部分の回路図、第4図は従来例
の半導体メモリ装置の内部クロック発生回路のブロック
図、第5図は第4図の回路における各ノードの波形の模
式図である。 1〜5・・・・・・回路ブロック、RAS、DT、A。 RAS’、φWφP、φs^、LDT、φDT+φDT
 ’ D L 、D L + D R、D R* φ−
り、ψo w ”’ ”’回路ノード、Ql”Ql2・
・・・・・MOS トランジスタ、C1〜C2・・・・
・・コンデンサ。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 ほか1名博 図 1゜ 吟声■ 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. デュアルポート構成にして、行及び列の形でマトリクス
    状に配列された複数個のメモリセルと、前記メモリセル
    マトリクス中の任意のメモリセルに対して単独または複
    数の制御クロック入力に同期したデータの読み出しおよ
    び書き込みを行なう手段と、前記メモリセルマトリクス
    の各列に対応して設けられた複数個のデータレジスタと
    、前記メモリセルマトリクス中の任意の行に対応するメ
    モリセルのデータを前記データレジスタに転送する手段
    とを有してなり、前記メモリセルから前記データレジス
    タへのデータ転送中は前記制御クロック入力を無効とす
    る手段を有することを特徴とするメモリ装置。
JP63328259A 1988-12-26 1988-12-26 メモリ装置 Pending JPH02173997A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63328259A JPH02173997A (ja) 1988-12-26 1988-12-26 メモリ装置

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JP63328259A JPH02173997A (ja) 1988-12-26 1988-12-26 メモリ装置

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JPH02173997A true JPH02173997A (ja) 1990-07-05

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ID=18208223

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JP63328259A Pending JPH02173997A (ja) 1988-12-26 1988-12-26 メモリ装置

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JP (1) JPH02173997A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04153979A (ja) * 1990-10-15 1992-05-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04153979A (ja) * 1990-10-15 1992-05-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

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