JPS61167838A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
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- JPS61167838A JPS61167838A JP60008101A JP810185A JPS61167838A JP S61167838 A JPS61167838 A JP S61167838A JP 60008101 A JP60008101 A JP 60008101A JP 810185 A JP810185 A JP 810185A JP S61167838 A JPS61167838 A JP S61167838A
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 47
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 63
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 abstract description 9
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 241000894006 Bacteria Species 0.000 description 1
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1434—Optical arrangements
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
- G01N15/1459—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals the analysis being performed on a sample stream
-
- G—PHYSICS
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- G01N15/1434—Optical arrangements
- G01N2015/1452—Adjustment of focus; Alignment
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
- G01N2021/6421—Measuring at two or more wavelengths
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、フローサイトメータ等において、測光用対物
レンズの合焦・合軸状態の判定を可能とした粒子解析装
置に関するものである。
レンズの合焦・合軸状態の判定を可能とした粒子解析装
置に関するものである。
［従来の技術］
フローサイトメータ等に用いられる従来の粒子解析装置
では、フローセルの中央部の例えば７０ｐｍＸ ２０
ＩＬｍの微小な矩形断面を有する流通部内を、シース液
に包まれて通過する血球細胞などの検体に照射光を照射
し、その結果化ずる前方及び側方散乱光により、検体の
形状・大きさ・屈折率等の粒子的性質を得ることが可能
である。また、蛍光剤により染色され得る検体に対して
は、照射光とほぼ直角方向の側方散乱光から検体の蛍光
を検出することによ番１、検体を解析するための重要な
情報を求めることができる。
では、フローセルの中央部の例えば７０ｐｍＸ ２０
ＩＬｍの微小な矩形断面を有する流通部内を、シース液
に包まれて通過する血球細胞などの検体に照射光を照射
し、その結果化ずる前方及び側方散乱光により、検体の
形状・大きさ・屈折率等の粒子的性質を得ることが可能
である。また、蛍光剤により染色され得る検体に対して
は、照射光とほぼ直角方向の側方散乱光から検体の蛍光
を検出することによ番１、検体を解析するための重要な
情報を求めることができる。
フローサイトメータ等において正確な測定を行うために
は、検体粒子以外の物体からの疑似信号が混入しないよ
うに、測光用対物レンズにより正確にｉｋ体粒子或いは
その極く近傍のみを集光させると共に、検体粒子の着れ
の軸と光軸とを正確に一致させなければならない、その
ために、対物レンズの焦点及び軸調整を行う必要がある
が、従来装置においては測定前に標準サンプルを流しな
がら、操作者が目視によＧ１手−で焦点１び軸調整を行
っているので、操作が繁雑である上に、操作者によって
佃人普が生じ、十分に正確な焦点及び光軸調整を行うこ
とが因難であるのが現状である。
は、検体粒子以外の物体からの疑似信号が混入しないよ
うに、測光用対物レンズにより正確にｉｋ体粒子或いは
その極く近傍のみを集光させると共に、検体粒子の着れ
の軸と光軸とを正確に一致させなければならない、その
ために、対物レンズの焦点及び軸調整を行う必要がある
が、従来装置においては測定前に標準サンプルを流しな
がら、操作者が目視によＧ１手−で焦点１び軸調整を行
っているので、操作が繁雑である上に、操作者によって
佃人普が生じ、十分に正確な焦点及び光軸調整を行うこ
とが因難であるのが現状である。
また、測定中に焦点）び光軸の移動が生じた場合に、そ
の確認が不可能なため、測定途中に疑似信号が混入した
か否かを判別でＳず、データの信輔性についての不安が
ある。
の確認が不可能なため、測定途中に疑似信号が混入した
か否かを判別でＳず、データの信輔性についての不安が
ある。
更に、ノズルやフローセル等な交換するごとに焦点及び
光軸調整を必要とし、測定に手間が掛かる欠点がある。
光軸調整を必要とし、測定に手間が掛かる欠点がある。
また、蛍光測定を行う場合に微弱な蛍光信号を増強する
必要があるが、そのために蛍光を検出する光電検出器を
７オトマルにすること・蛍光剤の発光効率を向上させる
こと・照射光源のパワーを増大させること拳対物レンズ
の集光効率を向上させること等が考えられている。蛍光
剤の発光能率は現在のところ盛んに研究されており、照
射光源のパワーの増大は製造コストを無視すれば相当に
大きくすることができるが１反面で極端にパワーを増大
させ過ぎると検体粒子を傷付けることにもなり良い方法
とは云い難い。
必要があるが、そのために蛍光を検出する光電検出器を
７オトマルにすること・蛍光剤の発光効率を向上させる
こと・照射光源のパワーを増大させること拳対物レンズ
の集光効率を向上させること等が考えられている。蛍光
剤の発光能率は現在のところ盛んに研究されており、照
射光源のパワーの増大は製造コストを無視すれば相当に
大きくすることができるが１反面で極端にパワーを増大
させ過ぎると検体粒子を傷付けることにもなり良い方法
とは云い難い。
測光用対物レンズの集光効率の向上は、対物レンズの開
口数を上げれば達成されるが、その代償として、焦点深
度が浅くなるという逆効果を伴うことになる。焦点深度
が浅くなれば、検体流通部と測光用対物レンズとの間の
距離が僅かに移動しただけでも、検体粒子からの信号だ
けてなく、他の物体からの信号が混入してしまい、正確
な測定を行うことができない、このように、従来装置で
は焦点及び光軸調整が繁雑である上に、十分な蛍光信号
強度が得られず、解析精度が向上しないという欠点を有
している。
口数を上げれば達成されるが、その代償として、焦点深
度が浅くなるという逆効果を伴うことになる。焦点深度
が浅くなれば、検体流通部と測光用対物レンズとの間の
距離が僅かに移動しただけでも、検体粒子からの信号だ
けてなく、他の物体からの信号が混入してしまい、正確
な測定を行うことができない、このように、従来装置で
は焦点及び光軸調整が繁雑である上に、十分な蛍光信号
強度が得られず、解析精度が向上しないという欠点を有
している。
［発明の目的］
本発明の目的は、測光用対物レンズの合焦・合軸状態の
検出を行うことにより、焦点及び光軸調整を容易にしか
も正確に行い得ると共に、十分な蛍光信号強度を得るこ
とによって測定精度を向上させ得る粒子解析装置を提供
することにある。
検出を行うことにより、焦点及び光軸調整を容易にしか
も正確に行い得ると共に、十分な蛍光信号強度を得るこ
とによって測定精度を向上させ得る粒子解析装置を提供
することにある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、フローセ
ル内の流通部を流れる検体粒子に光ビームを照射する照
射光学系と、光ビームが検体粒子によって散乱された散
乱光を測定する測光光学系とを備え、該測光光学系内に
測光用対物レンズの合焦・合軸状態を検出する焦点・光
軸検出手段を設け、該焦点・光軸検出手段の光学系に前
記測光用対物レンズを使用したことを特徴とする粒子解
析装置である。
ル内の流通部を流れる検体粒子に光ビームを照射する照
射光学系と、光ビームが検体粒子によって散乱された散
乱光を測定する測光光学系とを備え、該測光光学系内に
測光用対物レンズの合焦・合軸状態を検出する焦点・光
軸検出手段を設け、該焦点・光軸検出手段の光学系に前
記測光用対物レンズを使用したことを特徴とする粒子解
析装置である。
［発明の実施例］
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図は粒子解析装置の構成図であり、フローセルｌの
中央部の紙面に垂直な流通部２内を検体粒子Ｓが通過し
、この流れと直交する方向にレーザー光源３が配置され
ている。このレーザー光源３から出射されたレーザー光
りの光軸０上で検体粒子Ｓに対してレーザー光源３側に
、２組のシリンドリカルレンズを直交させて成る結像レ
ンズ４が配置されている。また、検体粒子Ｓに対してレ
ーザー光源３と反対側の光軸Ｏ上に、遮光板５、集光レ
ンズ６、光電検出器７が順次に配列されている。
中央部の紙面に垂直な流通部２内を検体粒子Ｓが通過し
、この流れと直交する方向にレーザー光源３が配置され
ている。このレーザー光源３から出射されたレーザー光
りの光軸０上で検体粒子Ｓに対してレーザー光源３側に
、２組のシリンドリカルレンズを直交させて成る結像レ
ンズ４が配置されている。また、検体粒子Ｓに対してレ
ーザー光源３と反対側の光軸Ｏ上に、遮光板５、集光レ
ンズ６、光電検出器７が順次に配列されている。
また、レーザー光りの光軸０及び検体粒子Ｓの流れの中
心方向とそれぞれほぼ直交する方向に。
心方向とそれぞれほぼ直交する方向に。
測光用対物レンズ８を含むオートフォーカス・オートア
ライメントユニット（以下ＡＦ＠ＡＡユニットと云う）
９、絞り板１０、集光レンズ１１、グイクロイックミラ
ー等から成る波長選別手段１２．１３．１４が順次に配
列され、光軸に対して斜設されたこれらの波長選別手段
１２．１３．１４により反射される方向の光路上に、バ
リヤフィルタ１５・光電検出器１６、バリヤフィルタ１
７・光電検出器１６、バリヤフィルタ１９・光電検出器
２０がそれぞれ配置されている。そして、これらの光電
検出器１６．１８．２０には、例えば微弱光を増倍して
検出することが可能なフォトマルが使用されている。
ライメントユニット（以下ＡＦ＠ＡＡユニットと云う）
９、絞り板１０、集光レンズ１１、グイクロイックミラ
ー等から成る波長選別手段１２．１３．１４が順次に配
列され、光軸に対して斜設されたこれらの波長選別手段
１２．１３．１４により反射される方向の光路上に、バ
リヤフィルタ１５・光電検出器１６、バリヤフィルタ１
７・光電検出器１６、バリヤフィルタ１９・光電検出器
２０がそれぞれ配置されている。そして、これらの光電
検出器１６．１８．２０には、例えば微弱光を増倍して
検出することが可能なフォトマルが使用されている。
従って、レーザー光源３から出射されたレーザー光りは
、２組のシリンドリカルレンズを直交させた結像レンズ
４により任意の長径・短径の結像ビームに成形され、流
通部２内を流れる検体粒子Ｓに照射される。検体粒子Ｓ
に照射され散乱された散乱光のうち、前方散乱光は遮光
板５によって検体粒子Ｓが無い位置を通過した照射光が
取り除かれ、集光レンズ６を介して光電検出器７に集光
され、検体粒子Ｓの性状が測定される。
、２組のシリンドリカルレンズを直交させた結像レンズ
４により任意の長径・短径の結像ビームに成形され、流
通部２内を流れる検体粒子Ｓに照射される。検体粒子Ｓ
に照射され散乱された散乱光のうち、前方散乱光は遮光
板５によって検体粒子Ｓが無い位置を通過した照射光が
取り除かれ、集光レンズ６を介して光電検出器７に集光
され、検体粒子Ｓの性状が測定される。
また、各種蛍光剤により染色された検体粒子Ｓについて
は、側方散乱光としてＡＦ・ＡＡユニット９内の測光用
対物レンズ８を介して絞り板１０に集光される。側方散
乱光及び蛍光は、検体粒子Ｓに共役な位置に設置された
この絞り板１０を通過させることにより、雑音の少ない
測光信号を得ることができる。絞り板１０を通過後の光
束を集光レンズ１１により平行光束とし、適当な分光特
性を持たせた波長選別手段１２によって側方散乱光と蛍
光とに分光し、側方散乱光はバリヤフィルタ１５及び光
電検出器１６で検出され、検体粒子Ｓ内部の顆粒性が観
測できる。一方、蛍光は波長選別手段１２を通過し、波
長音別手段１３によって例えば緑色蛍光と赤色蛍光とに
分光され、緑色蛍光はバリヤフィルタ１７を介して光電
検出器１８で検出され、赤色蛍光は波長選別手段１４と
バリヤフィルタ１９を介して光電検出器２０で検出され
、検体粒子Ｓの生化学的性質が観測される。
は、側方散乱光としてＡＦ・ＡＡユニット９内の測光用
対物レンズ８を介して絞り板１０に集光される。側方散
乱光及び蛍光は、検体粒子Ｓに共役な位置に設置された
この絞り板１０を通過させることにより、雑音の少ない
測光信号を得ることができる。絞り板１０を通過後の光
束を集光レンズ１１により平行光束とし、適当な分光特
性を持たせた波長選別手段１２によって側方散乱光と蛍
光とに分光し、側方散乱光はバリヤフィルタ１５及び光
電検出器１６で検出され、検体粒子Ｓ内部の顆粒性が観
測できる。一方、蛍光は波長選別手段１２を通過し、波
長音別手段１３によって例えば緑色蛍光と赤色蛍光とに
分光され、緑色蛍光はバリヤフィルタ１７を介して光電
検出器１８で検出され、赤色蛍光は波長選別手段１４と
バリヤフィルタ１９を介して光電検出器２０で検出され
、検体粒子Ｓの生化学的性質が観測される。
なお、蛍光を選別する波長選別手段１３．１４としては
、緑赤二色のグイクロイックミラーが使用されているが
、例えば波長を連続的に分光できる分光プリズム或いは
回折格子等の波長遺５１１１ ｆ一段を用いてもよい、
また、光源３と結像レンズ４との間に、ビームエキスパ
ンダ又はビームコンプレッサ等のビーム径可変手段を挿
入することもできる。
、緑赤二色のグイクロイックミラーが使用されているが
、例えば波長を連続的に分光できる分光プリズム或いは
回折格子等の波長遺５１１１ ｆ一段を用いてもよい、
また、光源３と結像レンズ４との間に、ビームエキスパ
ンダ又はビームコンプレッサ等のビーム径可変手段を挿
入することもできる。
ここで、微弱光の集光効率を上げ、なおかつ正確に合焦
・合軸状態を得ることのできるＡＦ・ＡＡユニット９に
ついて、第２図、第３図により説明する。第２図（ａ）
はＡＦ−ＡＡユニット９を側方から見た構成図であり、
第２図（ｂ）は上方から見た構成図である。このＡＦ−
ＡＡユニ９ト９内のフローセルｌ側には測光用対物レン
ズ８が設置され、後方下部には焦点・光軸検出用光源２
１が対物レンズ８の光軸にほぼ垂直に光を照射するよう
に設置され、光源２１の光路中に開口絞り２２．２．３
が順次に配置され、光源２１の光路中の対物レンズ８の
光軸近傍に反射ミラー２４が配置されている。更に、Ａ
Ｆ・ＡＡユニット９内の後方上部の対物レンズ８の光軸
近傍に反射ミラー２５が設置され、反射ミラー２５の上
部の対物しンズ８の光軸に対して開口絞り２２とほぼ対
称な位置に４分割素子２６が配置されている。そして、
開口絞り２２及び４分割素子２６は、絞りｌＯと同様に
対物レンズ８の結像点に位置するようになっている。な
お、光源２１の投射光束Ｎ及び４分割素子２６への入射
光束Ｎは、第２図（ａ）の側面図で見ると対物レンズ８
の測光光束Ｍの上下部を、また（ｂ）の平面図で見ると
測光光束Ｍの中央部を通過するように反射ミラー２４．
２５は調整されている。従って、第２図（Ｃ）の対物レ
ンズ８の光軸を中心とした断面図で見ると、測光光束Ｍ
はその上下部が合焦・合軸用層光束Ｎで削られることに
なるが、この程度では測光の精度に殆ど影響を及ぼすこ
とはない。
・合軸状態を得ることのできるＡＦ・ＡＡユニット９に
ついて、第２図、第３図により説明する。第２図（ａ）
はＡＦ−ＡＡユニット９を側方から見た構成図であり、
第２図（ｂ）は上方から見た構成図である。このＡＦ−
ＡＡユニ９ト９内のフローセルｌ側には測光用対物レン
ズ８が設置され、後方下部には焦点・光軸検出用光源２
１が対物レンズ８の光軸にほぼ垂直に光を照射するよう
に設置され、光源２１の光路中に開口絞り２２．２．３
が順次に配置され、光源２１の光路中の対物レンズ８の
光軸近傍に反射ミラー２４が配置されている。更に、Ａ
Ｆ・ＡＡユニット９内の後方上部の対物レンズ８の光軸
近傍に反射ミラー２５が設置され、反射ミラー２５の上
部の対物しンズ８の光軸に対して開口絞り２２とほぼ対
称な位置に４分割素子２６が配置されている。そして、
開口絞り２２及び４分割素子２６は、絞りｌＯと同様に
対物レンズ８の結像点に位置するようになっている。な
お、光源２１の投射光束Ｎ及び４分割素子２６への入射
光束Ｎは、第２図（ａ）の側面図で見ると対物レンズ８
の測光光束Ｍの上下部を、また（ｂ）の平面図で見ると
測光光束Ｍの中央部を通過するように反射ミラー２４．
２５は調整されている。従って、第２図（Ｃ）の対物レ
ンズ８の光軸を中心とした断面図で見ると、測光光束Ｍ
はその上下部が合焦・合軸用層光束Ｎで削られることに
なるが、この程度では測光の精度に殆ど影響を及ぼすこ
とはない。
開口絞り２２を通過した光源２１からの光束は、開口絞
り２３によって反射ミラー２４に入射する光束に絞られ
た後に１反射ミラー２４によって投射光束Ｎとして対物
レンズ８側に反射され。
り２３によって反射ミラー２４に入射する光束に絞られ
た後に１反射ミラー２４によって投射光束Ｎとして対物
レンズ８側に反射され。
対物レンズ８の下部によって屈折された後に、フローセ
ルｌの流通部２の前面及び後面で反射される。そして、
反射光束Ｎは対物レンズ８にようで再び屈折された後に
反射ミラー２５によって反射され、４分割素子２６Ｉ：
に開口絞り２２の２つの像Ｂとして結像される。
ルｌの流通部２の前面及び後面で反射される。そして、
反射光束Ｎは対物レンズ８にようで再び屈折された後に
反射ミラー２５によって反射され、４分割素子２６Ｉ：
に開口絞り２２の２つの像Ｂとして結像される。
第３図は■、■、■、Ｗの４素子面から慮る４分割素子
２６上における開口絞り２２の２つの光像Ｂと、流通部
２の暢２ａとの関係を示しており、対物レンズ８が合焦
時には、開口絞り２２の流通部２の前面及び後面で反射
された２つの光像Ｂが、面Ｉ、■と菌属、■とにそれぞ
れ同一の犬きさで結像されるように調整されている。従
って、４分割素子２６の面１．ｎ、■、■の出力衛それ
ぞれＰｌ、 Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４とすると、面■、■と面
厘、■の出力、即ち（ｐｌ＋Ｐ２）と（Ｐ３十Ｐ４）と
が等しいか否かによって合焦の判別が可能である。
２６上における開口絞り２２の２つの光像Ｂと、流通部
２の暢２ａとの関係を示しており、対物レンズ８が合焦
時には、開口絞り２２の流通部２の前面及び後面で反射
された２つの光像Ｂが、面Ｉ、■と菌属、■とにそれぞ
れ同一の犬きさで結像されるように調整されている。従
って、４分割素子２６の面１．ｎ、■、■の出力衛それ
ぞれＰｌ、 Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４とすると、面■、■と面
厘、■の出力、即ち（ｐｌ＋Ｐ２）と（Ｐ３十Ｐ４）と
が等しいか否かによって合焦の判別が可能である。
また、合軸していない場合には１合焦・合軸用光束Ｎは
流通部２の中央からずれ、流通部２の幅２ａからはみだ
す部分が生じ、このはみだした部分においては反射が生
ずることはない、第３図（ａ）では面Ｉ及び面■の斜線
部分、（Ｃ）では面■及び面Ｉの斜線部分だけ光量が減
少し、面Ｉ、Ｗと面ＩＩ、Ｉの出力、即ち（Ｐ１＋Ｐ４
）と（Ｐ２ ＋ Ｐ３）とが等しいか否かによって合軸
の判別が可能である。第３図（ｂ）は合焦・合軸状態の
４分割素子２６上の光像Ｂの位置を示しており１合焦条
件Ｐｌ十Ｐ２＝ Ｐ３＋ Ｐ４、及び合軸条件Ｐ１＋Ｐ
４−Ｐ２＋Ｐ３を同時に満足する合焦・合軸条件はＰ１
＝Ｐ２＝Ｐ３＝Ｐ４となり、４分割素子２６の各出力の
大小を比較することにより１合焦・合軸しているか否か
を判別することができる。
流通部２の中央からずれ、流通部２の幅２ａからはみだ
す部分が生じ、このはみだした部分においては反射が生
ずることはない、第３図（ａ）では面Ｉ及び面■の斜線
部分、（Ｃ）では面■及び面Ｉの斜線部分だけ光量が減
少し、面Ｉ、Ｗと面ＩＩ、Ｉの出力、即ち（Ｐ１＋Ｐ４
）と（Ｐ２ ＋ Ｐ３）とが等しいか否かによって合軸
の判別が可能である。第３図（ｂ）は合焦・合軸状態の
４分割素子２６上の光像Ｂの位置を示しており１合焦条
件Ｐｌ十Ｐ２＝ Ｐ３＋ Ｐ４、及び合軸条件Ｐ１＋Ｐ
４−Ｐ２＋Ｐ３を同時に満足する合焦・合軸条件はＰ１
＝Ｐ２＝Ｐ３＝Ｐ４となり、４分割素子２６の各出力の
大小を比較することにより１合焦・合軸しているか否か
を判別することができる。
また、これらの各出力が等しくない場合でも、（Ｐ１＋
Ｐ２）と（Ｐ３＋Ｐ４）との大小関係、（Ｐ１＋Ｐ４）
と（Ｐ２＋Ｐ３）との大小関係を調べることにより、近
方或いは遠方の何れに合焦しているか、又は左右何れの
方向に光軸がずれているかを判別することができ、直ち
に修正をすることが可能である。
Ｐ２）と（Ｐ３＋Ｐ４）との大小関係、（Ｐ１＋Ｐ４）
と（Ｐ２＋Ｐ３）との大小関係を調べることにより、近
方或いは遠方の何れに合焦しているか、又は左右何れの
方向に光軸がずれているかを判別することができ、直ち
に修正をすることが可能である。
このように、実施例では容易にしかも正確に焦点ル＾ｈ
せスーンがヤまスため６正確かピントを保持させたまま
測光用対物レンズ８の開口数を上げ、光学系の集光効率
を向上させて、測定信号強度を増大させることができる
ことになる。
せスーンがヤまスため６正確かピントを保持させたまま
測光用対物レンズ８の開口数を上げ、光学系の集光効率
を向上させて、測定信号強度を増大させることができる
ことになる。
なお、合焦・合軸用光源２１の波長は、測光用レーザー
光源３の出射光の波長や蛍光の波長と分離することが好
ましいので、赤外光を使用することが好適である。
光源３の出射光の波長や蛍光の波長と分離することが好
ましいので、赤外光を使用することが好適である。
また、４分割素子２６の出力信号によって駆動される機
構を設け、４分割素子２６のそれぞれの所定位置に開口
絞り２２の開口が結像されるまで、ＡＦ−ＡＡユニット
９を駆動機構により光軸上を探索移動させ、合焦・合軸
した前述の信号により駆動機構を停止させるようにすれ
ば、自動的に合焦ｅ合軸状態が得られ、更に操作性が良
くなる。
構を設け、４分割素子２６のそれぞれの所定位置に開口
絞り２２の開口が結像されるまで、ＡＦ−ＡＡユニット
９を駆動機構により光軸上を探索移動させ、合焦・合軸
した前述の信号により駆動機構を停止させるようにすれ
ば、自動的に合焦ｅ合軸状態が得られ、更に操作性が良
くなる。
ＡＦ・ＡＡユニット９の駆動機構が停止した状態の信号
、或いは合焦・合軸時の４分割素子２６の出力信号によ
り、粒子解析装置の測定開始信号を発するようにすれば
、測光用対物レンズ８が合焦Φ合軸していないときには
、不正確な測定が行われないで済む、更に、４分割素子
２６の所定位置に開口絞り２３の開口が結像したことを
知らせる合焦・合軸信号を表示する手段を設けることも
でき、手動でＡＦ＠ＡＡユニット９を操作する場合には
、合焦信号が出力した時点で測定を始めるようにすれば
よい、また、ＡＦｅＡＡユニット９を駆動させる代りに
、ＡＦ−ＡＡユニット９の信号によりフローセル１を手
動又は自動で駆動して、焦点参光軸調整を行うことも可
能である。
、或いは合焦・合軸時の４分割素子２６の出力信号によ
り、粒子解析装置の測定開始信号を発するようにすれば
、測光用対物レンズ８が合焦Φ合軸していないときには
、不正確な測定が行われないで済む、更に、４分割素子
２６の所定位置に開口絞り２３の開口が結像したことを
知らせる合焦・合軸信号を表示する手段を設けることも
でき、手動でＡＦ＠ＡＡユニット９を操作する場合には
、合焦信号が出力した時点で測定を始めるようにすれば
よい、また、ＡＦｅＡＡユニット９を駆動させる代りに
、ＡＦ−ＡＡユニット９の信号によりフローセル１を手
動又は自動で駆動して、焦点参光軸調整を行うことも可
能である。
なお実施例においては、側方散乱光の測光光学系内にＡ
Ｆ−ＡＡユニット９を設置した場合を説明したが、前方
散乱光用の測光光学系においても、遮光板５と集光レン
ズ６との間にＡＦ・ＡＡユニットを配置し、同様の効果
を得ることができる。このようなＡＦ−ＡＡユニットを
側方・前方の両側光光学系に設置すれば、更に良好な結
果が得られることは当然である。
Ｆ−ＡＡユニット９を設置した場合を説明したが、前方
散乱光用の測光光学系においても、遮光板５と集光レン
ズ６との間にＡＦ・ＡＡユニットを配置し、同様の効果
を得ることができる。このようなＡＦ−ＡＡユニットを
側方・前方の両側光光学系に設置すれば、更に良好な結
果が得られることは当然である。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置光学系は
、測光光学系内に焦点・光軸検出手段を設置することに
よって、測光用対物レンズの焦点・光軸調整を容易にか
つ正確に行うことを可能とし、測定精度を向上させ対物
レンズの開口数を増すこともでき、これによって蛍光測
光強度を向上させ高精度な解析を可能としている。
、測光光学系内に焦点・光軸検出手段を設置することに
よって、測光用対物レンズの焦点・光軸調整を容易にか
つ正確に行うことを可能とし、測定精度を向上させ対物
レンズの開口数を増すこともでき、これによって蛍光測
光強度を向上させ高精度な解析を可能としている。
また所望によっては、焦点・光軸検出手段を駆動する機
構を設け、全自動的に焦点・光軸調整を行うことも可能
となり、更に合焦・合軸信号の表示機構を設けることに
よって、手動でも容易に焦点・光軸調整を行うことを可
能とし、また合焦・合軸状態にのみ装置が可動する機構
を設けて、測定を更に容易にすることもできる。
構を設け、全自動的に焦点・光軸調整を行うことも可能
となり、更に合焦・合軸信号の表示機構を設けることに
よって、手動でも容易に焦点・光軸調整を行うことを可
能とし、また合焦・合軸状態にのみ装置が可動する機構
を設けて、測定を更に容易にすることもできる。
図面は本発明に係る粒子解析装置の一実施例を示し、第
１図は光学系の構成図、第２図（ａ）はＡＦ＠ＡＡユニ
ットを側方から見た光学系配置図、（ｂ）は上方から見
た光学系配ｌ１図、（Ｃ）は測光光束と合焦・合軸用検
知用光束との関係の説明図、第３図（ａ）〜（０）は４
分割素子上の光像の説明図である。 符号１はフローセル、２は流通部、３はレーザー光源、
４は結像レンズ、８は測光用対物レンズ、９はＡＦ・Ａ
Ａユニット、１０は絞り板、１１は集光レンズ、１２，
１３．１４は波長選別手段、１５．１７．１９はバリヤ
フィルタ。 １６．１８．２−０は光電検出器、２１は光源。 ２２．２３は開口絞り、２４．２５は反射ミラー、２６
は４分割素子である。 特許出願人 キャノン株式会社 ｔ〜２１
１図は光学系の構成図、第２図（ａ）はＡＦ＠ＡＡユニ
ットを側方から見た光学系配置図、（ｂ）は上方から見
た光学系配ｌ１図、（Ｃ）は測光光束と合焦・合軸用検
知用光束との関係の説明図、第３図（ａ）〜（０）は４
分割素子上の光像の説明図である。 符号１はフローセル、２は流通部、３はレーザー光源、
４は結像レンズ、８は測光用対物レンズ、９はＡＦ・Ａ
Ａユニット、１０は絞り板、１１は集光レンズ、１２，
１３．１４は波長選別手段、１５．１７．１９はバリヤ
フィルタ。 １６．１８．２−０は光電検出器、２１は光源。 ２２．２３は開口絞り、２４．２５は反射ミラー、２６
は４分割素子である。 特許出願人 キャノン株式会社 ｔ〜２１
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、フローセル内の流通部を流れる検体粒子に光ビーム
を照射する照射光学系と、光ビームが検体粒子によって
散乱された散乱光を測定する測光光学系とを備え、該測
光光学系内に測光用対物レンズの合焦・合軸状態を検出
する焦点・光軸検出手段を設け、該焦点・光軸検出手段
の光学系に前記測光用対物レンズを使用したことを特徴
とする粒子解析装置。 ２、前記焦点・光軸検出手段は前記測光用対物レンズを
介して前記流通部の２つの面に投光し、前記流通部から
の２つの反射光を前記測光用対物レンズを介して光電検
出器により受光するようにした特許請求の範囲第１項に
記載の粒子解析装置。 ３、前記流通部の２つの面からの反射光を検出する前記
光電検出器を４分割素子とした特許請求の範囲第２項に
記載の粒子解析装置。 ４、前記焦点・光軸検出手段は焦点・光軸検出用光束内
に少なくとも２個の開口絞りを有するようにした特許請
求の範囲第２項に記載の粒子解析装置。 ５、前記測光用対物レンズに関して検体粒子と共役な位
置に、前記開口絞りの一方と前記光電検出器とをそれぞ
れ配置した特許請求の範囲第４項に記載の粒子解析装置
。 ６、前記焦点・光軸検出手段を前記測光光学系の光軸に
沿って、前記流通部に対して相対的に移動可能にした特
許請求の範囲第１項に記載の粒子解析装置。 ７、前記焦点・光軸検出手段を合焦・合軸状態に至るま
で自動的に探索移動する機構を設けた特許請求の範囲第
６項に記載の粒子解析装置。 ８、前記焦点・光軸検出手段は測光に使用する波長領域
外の波長域を使用するようにした特許請求の範囲第１項
に記載の粒子解析装置。 ９、前記焦点・光軸検出手段からの信号による合焦・合
軸状態表示手段を設けた特許請求の範囲第１項に記載の
粒子解析装置。 １０、前記測光用対物レンズが合焦・合軸状態にあると
きにのみ、測定を行い得るようにした特許請求の範囲第
１項に記載の粒子解析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60008101A JPH0638064B2 (ja) | 1985-01-19 | 1985-01-19 | 粒子解析装置 |
| US06/818,263 US4690561A (en) | 1985-01-18 | 1986-01-13 | Particle analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60008101A JPH0638064B2 (ja) | 1985-01-19 | 1985-01-19 | 粒子解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61167838A true JPS61167838A (ja) | 1986-07-29 |
| JPH0638064B2 JPH0638064B2 (ja) | 1994-05-18 |
Family
ID=11683907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60008101A Expired - Lifetime JPH0638064B2 (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-19 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0638064B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63139234A (ja) * | 1986-12-02 | 1988-06-11 | Canon Inc | 光学装置 |
| EP0316885A2 (en) * | 1987-11-18 | 1989-05-24 | OMRON Corporation | Optical system for signal light detection in a flow particle analysis apparatus |
| JPH01207663A (ja) * | 1988-02-15 | 1989-08-21 | Canon Inc | 検体検査方法 |
| JPH0374347U (ja) * | 1989-11-21 | 1991-07-25 | ||
| JP2010019853A (ja) * | 1995-08-23 | 2010-01-28 | Beckman Coulter Inc | 毛管電気泳動装置のための光学的整合装置 |
| JP2017530347A (ja) * | 2014-09-05 | 2017-10-12 | マルバーン インストゥルメンツ リミテッド | 粒子特性評価方法及び装置 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5082882A (ja) * | 1973-11-26 | 1975-07-04 | ||
| JPS5322787A (en) * | 1976-08-16 | 1978-03-02 | Hitachi Ltd | Measuring apparatus for corpuscle |
| JPS5386298A (en) * | 1976-11-05 | 1978-07-29 | Leeds & Northrup Co | Measuring method and apparatus for volume and volumetric distribution of fine particles |
| JPS58138063U (ja) * | 1982-03-12 | 1983-09-17 | リオン株式会社 | 光散乱微粒子計測装置 |
| JPS59107238A (ja) * | 1982-12-10 | 1984-06-21 | Hitachi Ltd | 光散乱を用いた粒子測定装置 |
| JPS59184840A (ja) * | 1983-04-06 | 1984-10-20 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 液体中のダスト測定法及びその装置 |
-
1985
- 1985-01-19 JP JP60008101A patent/JPH0638064B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
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| EP0316885A2 (en) * | 1987-11-18 | 1989-05-24 | OMRON Corporation | Optical system for signal light detection in a flow particle analysis apparatus |
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| JP2010019853A (ja) * | 1995-08-23 | 2010-01-28 | Beckman Coulter Inc | 毛管電気泳動装置のための光学的整合装置 |
| JP2017530347A (ja) * | 2014-09-05 | 2017-10-12 | マルバーン インストゥルメンツ リミテッド | 粒子特性評価方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0638064B2 (ja) | 1994-05-18 |
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