JPS63201554A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
- Publication number
- JPS63201554A JPS63201554A JP62034078A JP3407887A JPS63201554A JP S63201554 A JPS63201554 A JP S63201554A JP 62034078 A JP62034078 A JP 62034078A JP 3407887 A JP3407887 A JP 3407887A JP S63201554 A JPS63201554 A JP S63201554A
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- JP
- Japan
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- light
- flow
- particle
- diffraction grating
- flow cell
- Prior art date
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- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、フローサイトメータ等を用いて、流体中の被
検粒子に光ビームを照射して被検粒子の解析をする場合
において、流体中の被検粒子の流速を検出し得る粒子解
析装置に関するものである。
検粒子に光ビームを照射して被検粒子の解析をする場合
において、流体中の被検粒子の流速を検出し得る粒子解
析装置に関するものである。
［従来の技術〕
フローサイトメータとは、高速で流れる細胞浮遊溶液、
即ちサンプル液に例えばレーザービームを照射し、その
散乱光・蛍光による光電信号を検出し、細胞の性質・構
造を解明する装置であり、細胞化学、免疫学、血液学、
腫瘍学、遺伝学等の分野で使用されている。
即ちサンプル液に例えばレーザービームを照射し、その
散乱光・蛍光による光電信号を検出し、細胞の性質・構
造を解明する装置であり、細胞化学、免疫学、血液学、
腫瘍学、遺伝学等の分野で使用されている。
このフローサイトメータ等に用いられる従来の粒子解析
装置では、フローセルの中央部の例えば２００ｇｍＸ２
００＃Ｌｍの微小な四角形断面を有する流通部内を、シ
ース液に包まれて通過する血球細胞などの被検粒子にレ
ーザービーム等の照射光を照射し、その結果として生ず
る前方及び側方散乱光により、被検粒子の形状・大きさ
φ屈折率等の粒子的性質を得ることが可能である。また
、蛍光剤により染色され得る被検粒子に対しては、照射
光とほぼ直角方向の側方散乱光から被検粒子の蛍光を検
出することにより、被検粒子を解析するための重要な情
報を求めることができる。
装置では、フローセルの中央部の例えば２００ｇｍＸ２
００＃Ｌｍの微小な四角形断面を有する流通部内を、シ
ース液に包まれて通過する血球細胞などの被検粒子にレ
ーザービーム等の照射光を照射し、その結果として生ず
る前方及び側方散乱光により、被検粒子の形状・大きさ
φ屈折率等の粒子的性質を得ることが可能である。また
、蛍光剤により染色され得る被検粒子に対しては、照射
光とほぼ直角方向の側方散乱光から被検粒子の蛍光を検
出することにより、被検粒子を解析するための重要な情
報を求めることができる。
従来、被検粒子がフローセルを流れる速度は散乱光のパ
ルス幅から決定することが可能であるが、スレッシュホ
ールドの設定、被検粒子の形状により正確な被検粒子速
度のモニタが難しいという欠点がある。
ルス幅から決定することが可能であるが、スレッシュホ
ールドの設定、被検粒子の形状により正確な被検粒子速
度のモニタが難しいという欠点がある。
従来においては、第３図（ａ）に示すようにフローセル
ｌの流通部１ａを流れる被検粒子Ｓは結像ビームＢを通
過させると、その散乱光は第３図（ｂ）に示すような波
形を出力する。この波形の幅は被検粒子Ｓの大きさによ
り変化するので、正確に被検粒子Ｓの流れの速度を判断
することが難しい、また、流量を直接測定する場合には
、流通部ｌａ内の中心と周辺ではサンプル流の速度が異
なるという現象も考慮しなくてはならない。
ｌの流通部１ａを流れる被検粒子Ｓは結像ビームＢを通
過させると、その散乱光は第３図（ｂ）に示すような波
形を出力する。この波形の幅は被検粒子Ｓの大きさによ
り変化するので、正確に被検粒子Ｓの流れの速度を判断
することが難しい、また、流量を直接測定する場合には
、流通部ｌａ内の中心と周辺ではサンプル流の速度が異
なるという現象も考慮しなくてはならない。
［発明の目的］
本発明の目的は、照射ビームをフローセル中で強度分布
を持たせ、その散乱光のピーク間隔を把えることにより
被検粒子の速度を測定し得る粒子解析装置を提供するこ
とにある。
を持たせ、その散乱光のピーク間隔を把えることにより
被検粒子の速度を測定し得る粒子解析装置を提供するこ
とにある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、流体中に
浮遊した被検粒子に光ビームを照射し、その散乱光或い
は蛍光等を把えて被検粒子の解析をする装置において、
照射光路内を照射する光ビームの光強度分布に２つ以上
に分離した強度分布を持たせる手段を有することを特徴
とする粒子解析装置である。
浮遊した被検粒子に光ビームを照射し、その散乱光或い
は蛍光等を把えて被検粒子の解析をする装置において、
照射光路内を照射する光ビームの光強度分布に２つ以上
に分離した強度分布を持たせる手段を有することを特徴
とする粒子解析装置である。
［発明の実施例］
本発明を第１図、第２図に図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
第１図において、２はレーザー光源であり、このレーザ
ー光源２から出射されたレーザービームＢの光軸に沿っ
て、ビームエキスパンダ３、回折格子４． 結［レンズ
５．フローセル１、ストッパ６、集光レンズ７、光検出
器８が配置されている。フローセル１の上方には容器部
９が接続されており、容器部９の中央部にはフローセル
ｌに向けてサンプル液チューブ１０を介してサンプル液
１１が流入するようになっている。また、容器部９内に
は側方からシース液チューブ１２を介してシース液１３
が流入しサンプル液１１を包み込むようにされている。
ー光源２から出射されたレーザービームＢの光軸に沿っ
て、ビームエキスパンダ３、回折格子４． 結［レンズ
５．フローセル１、ストッパ６、集光レンズ７、光検出
器８が配置されている。フローセル１の上方には容器部
９が接続されており、容器部９の中央部にはフローセル
ｌに向けてサンプル液チューブ１０を介してサンプル液
１１が流入するようになっている。また、容器部９内に
は側方からシース液チューブ１２を介してシース液１３
が流入しサンプル液１１を包み込むようにされている。
なお、１４．１５はそれぞれサンプル液１１、シース液
１３を加圧する加圧チューブである。
１３を加圧する加圧チューブである。
フローセルｌはシース液１３とサンプル液１１を層流条
件で流すことにより、フローセル１の測光部の中心にサ
ンプル液１１を流すことができる。このとき、サンプル
液１１に加える圧力とシース液１３に加える圧力の相対
差によりサンプル流の径が決定される。また、全体的に
圧力を上昇することにより、流れの速度を制御すること
が可能である。更に、サンプル流の速度が判れば、圧力
制御等にフィードバックが可能な信号とすることができ
る。
件で流すことにより、フローセル１の測光部の中心にサ
ンプル液１１を流すことができる。このとき、サンプル
液１１に加える圧力とシース液１３に加える圧力の相対
差によりサンプル流の径が決定される。また、全体的に
圧力を上昇することにより、流れの速度を制御すること
が可能である。更に、サンプル流の速度が判れば、圧力
制御等にフィードバックが可能な信号とすることができ
る。
レーザー光源２からのレーザービームは、ビームエキス
パンダ３により適当なサイズに変形される０回折格子４
は開口型或いは位相型の何れでもよいが１回折格子４に
より回折されたレーザービームは、結像レンズ５でフロ
ーセル１内で複数に分離した強度分布を持つスペクトル
像として結像される。そして、ストッパ６により通常の
結像ビームの光を遮断し、散乱光のみが取り出され集光
レンズ７を介して、光検出器８に導光される。
パンダ３により適当なサイズに変形される０回折格子４
は開口型或いは位相型の何れでもよいが１回折格子４に
より回折されたレーザービームは、結像レンズ５でフロ
ーセル１内で複数に分離した強度分布を持つスペクトル
像として結像される。そして、ストッパ６により通常の
結像ビームの光を遮断し、散乱光のみが取り出され集光
レンズ７を介して、光検出器８に導光される。
第２図（ａ）は回折格子４によるフローセルｌ内での結
像ビームの強度分布を示し、Ｂｌ、 Ｂ２、Ｂ３のよう
な３つの光束に分離され、被検粒子Ｓがこの光束Ｂ１．
Ｂ２、Ｂ３を横切ることにより、第２図（ｂ）に示す
ような信号波形が光検出器８により得られる。このとき
、各波形のピーク間の時間ｔ１、ｔ２を容易に求めるこ
とができ、この値は被検粒子Ｓの大きさの違いには依存
しないので、正確な被検粒子Ｓの速度を結像ビームの空
間強度分布から割り出すことができる。
像ビームの強度分布を示し、Ｂｌ、 Ｂ２、Ｂ３のよう
な３つの光束に分離され、被検粒子Ｓがこの光束Ｂ１．
Ｂ２、Ｂ３を横切ることにより、第２図（ｂ）に示す
ような信号波形が光検出器８により得られる。このとき
、各波形のピーク間の時間ｔ１、ｔ２を容易に求めるこ
とができ、この値は被検粒子Ｓの大きさの違いには依存
しないので、正確な被検粒子Ｓの速度を結像ビームの空
間強度分布から割り出すことができる。
一般に、結像レンズ５の前側焦点面での物体のフーリエ
変換は、後側焦点面にそのスペクトル分布が現われる。
変換は、後側焦点面にそのスペクトル分布が現われる。
このとき、結像レンズ５がｆθレンズであればフーリエ
変換レンズとなる。
変換レンズとなる。
かくすることにより、被検粒子Ｓの速度を検出して、常
に一定の速度となるように加圧チューブ１４．１５によ
る圧力の自動制御が可能となる。
に一定の速度となるように加圧チューブ１４．１５によ
る圧力の自動制御が可能となる。
また、回折格子４はアフォーカル部に配置することによ
り、出し入れしても光路に変化が生ずることはない。
り、出し入れしても光路に変化が生ずることはない。
なお、上述の実施例では回折格子を用いたが、他の手段
例えばプリズムを用いて、光ビームに２つ以上に分離し
た光強度分布を持たせてもよい。
例えばプリズムを用いて、光ビームに２つ以上に分離し
た光強度分布を持たせてもよい。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、検出
部に照射される光ビームに２つ以上に分離した光強度分
布を持たせることにより、被検粒子の大きさによらず正
確な流速を測定することが可能となる。
部に照射される光ビームに２つ以上に分離した光強度分
布を持たせることにより、被検粒子の大きさによらず正
確な流速を測定することが可能となる。
図面第１図、第２図は本発明に係る粒子解析装置の一実
施例を示し、第１図はその構成図、第２図（ａ）は照射
ビームに光強度分布を与える構成図、（ｂ）はその波形
図であり、第３図（ａ）は従来例の説明図、（ｂ）は波
形図である。 符号ｌはフローセル、１ａは流通部、２はレーザー光源
、３はビームエキスパンダ、４は回折格子、５は結像レ
ンズ、６はストッパ、７は集光レンズ、８は光検出器、
９は容器部、１１はサンプル液、１３はシース液である
。 特許出願人 キャノン株式会社 １３図 （Ｑ） （ｂ）
施例を示し、第１図はその構成図、第２図（ａ）は照射
ビームに光強度分布を与える構成図、（ｂ）はその波形
図であり、第３図（ａ）は従来例の説明図、（ｂ）は波
形図である。 符号ｌはフローセル、１ａは流通部、２はレーザー光源
、３はビームエキスパンダ、４は回折格子、５は結像レ
ンズ、６はストッパ、７は集光レンズ、８は光検出器、
９は容器部、１１はサンプル液、１３はシース液である
。 特許出願人 キャノン株式会社 １３図 （Ｑ） （ｂ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、流体中に浮遊した被検粒子に光ビームを照射し、そ
の散乱光或いは蛍光等を把えて被検粒子の解析をする装
置において、照射光路内を照射する光ビームの光強度分
布に２つ以上に分離した強度分布を持たせる手段を有す
ることを特徴とする粒子解析装置。 ２、前記手段は回折格子とした特許請求の範囲第１項に
記載の粒子解析装置。 ３、前記回折格子は開口型又は位相型とした特許請求の
範囲第２項に記載の粒子解析装置。 ４、前記回折格子は光ビームのアフォーカル部に配置し
た特許請求の範囲第２項に記載の粒子解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62034078A JPS63201554A (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | 粒子解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62034078A JPS63201554A (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | 粒子解析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63201554A true JPS63201554A (ja) | 1988-08-19 |
Family
ID=12404225
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62034078A Pending JPS63201554A (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63201554A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0290037A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-29 | Noboru Nakatani | レーザ多焦点法による粒子の速度，径，屈折率の同時測定システム |
| US5999256A (en) * | 1992-02-12 | 1999-12-07 | Cambridge Consultants Limited | Particle measurement system |
| WO2002012858A1 (en) * | 2000-08-04 | 2002-02-14 | Oxford Lasers Limited | Improved particle imaging method and apparatus |
| US6655532B1 (en) | 1993-03-30 | 2003-12-02 | Fujitsu Limited | Vertical installation system in which information processing apparatuses are installed |
| KR100416245B1 (ko) * | 1995-05-24 | 2004-06-11 | 아 베 익스 | 유체특히혈액분석광학적검사장치 |
| CN104034648A (zh) * | 2013-03-05 | 2014-09-10 | 天津炜辐医疗科技有限公司 | 用于衍射成像流式细胞仪的流体动力学聚焦装置 |
| JP2022001888A (ja) * | 2020-08-25 | 2022-01-06 | ソニーグループ株式会社 | フローサイトメトリーシステム、及び粒子分析方法 |
-
1987
- 1987-02-17 JP JP62034078A patent/JPS63201554A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0290037A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-29 | Noboru Nakatani | レーザ多焦点法による粒子の速度，径，屈折率の同時測定システム |
| US5999256A (en) * | 1992-02-12 | 1999-12-07 | Cambridge Consultants Limited | Particle measurement system |
| US6655532B1 (en) | 1993-03-30 | 2003-12-02 | Fujitsu Limited | Vertical installation system in which information processing apparatuses are installed |
| KR100416245B1 (ko) * | 1995-05-24 | 2004-06-11 | 아 베 익스 | 유체특히혈액분석광학적검사장치 |
| WO2002012858A1 (en) * | 2000-08-04 | 2002-02-14 | Oxford Lasers Limited | Improved particle imaging method and apparatus |
| CN104034648A (zh) * | 2013-03-05 | 2014-09-10 | 天津炜辐医疗科技有限公司 | 用于衍射成像流式细胞仪的流体动力学聚焦装置 |
| JP2022001888A (ja) * | 2020-08-25 | 2022-01-06 | ソニーグループ株式会社 | フローサイトメトリーシステム、及び粒子分析方法 |
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