JPS6244649A - 粒子解析装置 - Google Patents

粒子解析装置

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JPS6244649A
JPS6244649A JP60184794A JP18479485A JPS6244649A JP S6244649 A JPS6244649 A JP S6244649A JP 60184794 A JP60184794 A JP 60184794A JP 18479485 A JP18479485 A JP 18479485A JP S6244649 A JPS6244649 A JP S6244649A
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JP
Japan
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light
photoelectric detector
lens
flow
scattered
Prior art date
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Pending
Application number
JP60184794A
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English (en)
Inventor
Yuji Ito
勇二 伊藤
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS6244649A publication Critical patent/JPS6244649A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、フローサイトメータ等において、散乱光の連
続的な受光角信号を得ることを可能とした粒子解析装置
に関するものである。
[従来の技術] フローサイトメータ等に用いられる粒子解析装置では、
フローセルの中央部の例えば200 ILmX200J
Lmの微小な断面を有する流通部内を、シース液に包ま
れて通過する血球細胞などの検体に照射光を照射し、そ
の結果生ずる前方及び側方散乱光により、検体の形状・
大きさ・屈折率等の粒子的性質を得ることが可能である
。また、蛍光剤により染色され得る検体に対しては、照
射光とほぼ直角方向の側方散乱光から検体の蛍光を検出
することにより、検体を解析するための重要な情報を求
めることができる。
第3図は従来のこの種の装置の前方散乱光に対する測光
系の構成図であり、(a)は単−受光角測光型、(b)
は2受光角測光型である。即ち、(a)においては図示
しないレーザ光源からのレーザ光Lがフローセルlの流
通部2に照射されるようになっており、流通部2内の検
体粒子によって散乱された前方散乱光の光軸上には、順
次に遮光板3及び開口絞り4.集光レンズ5、光電検出
器6が配置されている。前方散乱光のうち検体粒子によ
り散乱されなかったレーザ光りの直進成分は遮光板3に
よって取り除かれ、開口絞り4によって適当な受光角に
絞られ、集光レンズ5を介して光電検出器6により検出
される0通常の粒子解析装置ではこの単一受光角測定型
が採用されているが、散乱頂角による強度分布の差異を
検出することが不可能であり、積分的な情報しか得るこ
とができない。
(b)に示す光学系は(a)を改良したものであり、集
光レンズ5の前にリング状の二重スリットを有する輪帯
間ロアが配され、集光レンズ5の後方に小ミラー8が配
置され、この小ミラー8の反射側に光電検出器9が配置
されている0輪帯間ロアにより集光レンズ5の瞳を2分
割することにより、輪帯間ロアの内側スリットを通過し
た前方散乱光を小ミラー8を介して光電検出器9により
検出し、輪帯間ロアの外側スリットを通過した散乱光を
光電検出器6により検出するようになっている。即ち、
この場合は2受光角により測光することができ、(a)
に示した方式に比較して情報量を増加させることができ
る。しかし、(a) 、 (b)の何れの方式にせよ、
1つ或いは2つの定められた散乱頂角内の光のみを拾う
ことしかできず、十分な情報量を得られるまでには至っ
ていない。
[発明の目的] 本発明の目的は、集光レンズの瞳を結像する結像レンズ
を備え、分割型光電検出器により連続的に受光角信号を
検出することにより、多くの情報が得られる粒子解析装
置を提供することにある。
[発明の概要] 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、フローセ
ル内の流通部を流れる検体粒子に照射された光ビームの
前記検体粒子によって散乱された散乱光を測定する測光
光学系を備え、該測光光学系は前記散乱光を集光する集
光レンズと、入射光量をセグメントごとに出力する分割
型光電検出器と、前記集光レンズの瞳を前記光電検出器
と共役にする結像光学系とを有することを特徴とする粒
子解析装置である。
[発明の実施例] 本発明を第・1図、第2図に図示の実施例に基づいて詳
細に説明する。
第1図は光学系の配置図であり、(a)はその平面図、
(b)は側面図を示している。フローセル1の中央部の
流通部2内を、高速層流となったシース液に包まれて流
体力学的焦点合わせの行われた検体粒子Sが、(a)で
は紙面に垂直に、(b)では紙面に沿って通過するよう
にされている。検体粒子Sの流れと直交する方向にレー
ザ光源10が配着されており、このレーザ光源10から
出射されたレーザ光りの光軸O1上には結像レンズ11
が配され、レーザ光りは流通部2を照射するようになっ
ている。また、検体粒子Sによって前方散乱されたレー
ザ光りの前方散乱光側には、遮光板12、集光レンズ1
3、トーリック面を有する結像レンズ14、分割型の一
次元光電検出器15が順次に配列されている。更に、検
体粒子Sの流れの中心軸とレーザ光りの光軸O1に対し
て、それぞれほぼ直交する方向の光軸02上には、集光
レンズ16及び光電検出器17が配置されている。
ところで、前方散乱光はレーザ光りの波長に対する検体
粒子Sの大きさ・内部の均一性・屈折率或いは複素屈折
率等の光学的特性によって決まる強度分布を有している
。従って、前方散乱頂角の各値に対する散乱光の角度利
得が正確に判ると、更に詳しい検体粒子Sの解析が可能
となる0例えば、大粒子では一般に散乱光の角度利得は
一定角内で多くの振動があり、単に前方散乱光の精分の
みでは正確な検体粒子Sの解析は難しく、その角度分布
に応じて情報が得られると解析の自由度も増加する。即
ち、前方散乱光から多くの情報を得ようとすれば、より
多くの角度頂角の光信号を拾うことが望ましい。
本実施例によれば、検体粒子Sによって散乱されなかっ
たレーザ光りの直進成分は遮光板12により取り除かれ
、集光レンズ13、結像レンズ14を介して光電検出器
15に導かれるが、このとき第1図(a)においては結
像レンズ14は集光レンズ13の瞳を光電検出器15に
投影する作用を有し、(b)においては結像レンズ14
は光束を光電検出器15に結像するように配置されてい
るので、光電検出器15の各セグメントが散乱頂角に対
応することになり、前方散乱光の連続的な受光角信号を
検出することができることになる。
なお、流通部2からの側方散乱光は集光レンズ16、光
電検出器17により検体粒子Sの顆粒性が観測されるよ
うになっている。検体粒子Sに蛍光染色を施した場合に
は、集光レンズ16の後方に図示しない波長選別手段等
を配置し、検体粒子Sの生化学的性質が観測されるよう
になってい1    る。
第2図は第2の実施例の主要部の構成図であり、結像レ
ンズ14の後方近傍に2個のプリズム18a、18bが
配され、各プリズム18a。
18bに対応した位置の瞳結像面に2個の光電検出器1
9a、19bが配置されている。なお、プリズムを3個
とし、瞳結像面を120°ずつに分割し3個の光電検出
器を配してもよいし、更に数多くのプリズム及び光電検
出器を設置してもよい、何れにせよ、各光電検出器19
a、19bの半径方向の距離が等しいものを、同一頂角
の信号として検出するようになっている。このようにプ
リズム18a、18bを配置することにより、結像レン
ズ14は放射状に複数個配された光電検出器19a、1
9bに前方散乱光を結像することができ、角度に応じた
より平均的な信号を得ることができる。
なお、実施例においては前方散乱光について適用するこ
とを説明したが、側方散乱光についても適用が可能であ
る。
[発明の効果] 以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、散乱
光の集光レンズの瞳を光電検出器と共役にする結像レン
ズを設け、光電検出器の各セグメントを散乱頂角に対応
させることにより、散乱光の連続的な受光角信号を検出
することができ、詳細な検体粒子の解析を可能としてい
る。
【図面の簡単な説明】
図面第1図、第2図は本発明に係る粒子解析装置の実施
例を示し、第1図は第1の実施例の光学的構成図、第2
図は第2の実施例の構成図であり、第3図(a)は従来
の単−受光角測光型の構成図、(b)は2受光角測光型
の構成図である。 符号1はフローセル、2は流通部、10はレーザ光源、
12は遮光板、13は集光レンズ、14は結像レンズ、
15.19は光電検出器、18はプリズムであるe

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、フローセル内の流通部を流れる検体粒子に照射され
    た光ビームの前記検体粒子によって散乱された散乱光を
    測定する測光光学系を備え、該測光光学系は前記散乱光
    を集光する集光レンズと、入射光量をセグメントごとに
    出力する分割型光電検出器と、前記集光レンズの瞳を前
    記光電検出器と共役にする結像光学系とを有することを
    特徴とする粒子解析装置。 2、前記光電検出器はアレイ状とした特許請求の範囲第
    1項に記載の粒子解析装置。 3、前記結像光学系の近傍に複数個のプリズムを配し、
    該プリズムに対応した前記光電検出器を配置した特許請
    求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。
JP60184794A 1985-08-22 1985-08-22 粒子解析装置 Pending JPS6244649A (ja)

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