JPS61156025A - 表示装置 - Google Patents
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- JPS61156025A JPS61156025A JP59276891A JP27689184A JPS61156025A JP S61156025 A JPS61156025 A JP S61156025A JP 59276891 A JP59276891 A JP 59276891A JP 27689184 A JP27689184 A JP 27689184A JP S61156025 A JPS61156025 A JP S61156025A
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は表示装置、特にアクティブマトリクス液晶表示
装置等の改善に関する。
装置等の改善に関する。
マトリクス加液晶表示装置等に多く用いられているアク
ティブマトリクス構造では、従来その画素が例えば第2
図(alの断面図、同図(blの平面図に示す如く構成
されている。
ティブマトリクス構造では、従来その画素が例えば第2
図(alの断面図、同図(blの平面図に示す如く構成
されている。
すなわち通常ガラス基板1上に、例えば非晶質もしくは
多結晶のシリコン(Si)、カドミウム・セレン(Cd
Se)、硫化カドミウム(CdS)等の薄膜半導体層2
を活性層として、ゲート電極3、ドレイン電極4、ソー
ス電極5を備えた電界効果トランジスタ素子が形成され
ている。
多結晶のシリコン(Si)、カドミウム・セレン(Cd
Se)、硫化カドミウム(CdS)等の薄膜半導体層2
を活性層として、ゲート電極3、ドレイン電極4、ソー
ス電極5を備えた電界効果トランジスタ素子が形成され
ている。
ゲート電極3とドレイン電極4はそれぞれノースライン
7.8で行方向又は列方向に相互に接続され、ソース電
極5にはドレイン電極4のノースライン8と同一層の導
体層9を介して表示電極6が接続されている。なお10
は絶縁膜であり、トランジスタ素子の保護、ハスライン
等の層間絶縁なとの効果を有する。
7.8で行方向又は列方向に相互に接続され、ソース電
極5にはドレイン電極4のノースライン8と同一層の導
体層9を介して表示電極6が接続されている。なお10
は絶縁膜であり、トランジスタ素子の保護、ハスライン
等の層間絶縁なとの効果を有する。
ガラス基板1に対向するガラス基板11上には透明平面
電極12が設けられ、表示電極6と平面電極12との間
に液晶13が保持される。
電極12が設けられ、表示電極6と平面電極12との間
に液晶13が保持される。
この液晶13の表示電極6、平面電極12の面上におけ
る分子配向を改善するために、表示電極6等の面上に例
えばポリイミド、ポリビニルアルコール等を薄く塗布し
た膜14を設け、その表面を回転するローラー等で一定
方向に摩擦する配向処理が多く行われている。しかしな
がら本従来例の構造では、トランジスタ素子の絶縁膜1
0、導体層9、パスライン8等が表示電極6より例えば
1〜2μm程度突出しており、これらの突出部分の近傍
では表示電極6上の膜14に摩擦が行われず、液晶分子
の配向を整える際にこの部分にしみ状の乱れを生ずる。
る分子配向を改善するために、表示電極6等の面上に例
えばポリイミド、ポリビニルアルコール等を薄く塗布し
た膜14を設け、その表面を回転するローラー等で一定
方向に摩擦する配向処理が多く行われている。しかしな
がら本従来例の構造では、トランジスタ素子の絶縁膜1
0、導体層9、パスライン8等が表示電極6より例えば
1〜2μm程度突出しており、これらの突出部分の近傍
では表示電極6上の膜14に摩擦が行われず、液晶分子
の配向を整える際にこの部分にしみ状の乱れを生ずる。
また電極面上の液晶配向処理として、例えば酸化シリコ
ン(Sin)等を80〜85度程度の低い入射角で表示
電極6上に蒸着することも行われるが、この処理方法で
も突出する部分により影となる領域があり同様の乱れを
生ずる。
ン(Sin)等を80〜85度程度の低い入射角で表示
電極6上に蒸着することも行われるが、この処理方法で
も突出する部分により影となる領域があり同様の乱れを
生ずる。
以上説明した如くアクティブマトリクス構造の表示装置
において、表示電極より突出する薄膜トランジスタ素子
等の部分が表示電極面の加工プロセスを阻害しているが
、表示装置の画素の微細化等に伴ってその影響がますま
す深刻となりその改善が強く要望されている。
において、表示電極より突出する薄膜トランジスタ素子
等の部分が表示電極面の加工プロセスを阻害しているが
、表示装置の画素の微細化等に伴ってその影響がますま
す深刻となりその改善が強く要望されている。
前記問題点は、絶縁性基板上に設けられた半導体薄膜を
活性層とする電界効果トランジスタ素子と、該電界効果
トランジスタ素子の一つの電極に接続された表示電極と
を備えて、該表示電極が該電界効果トランジスタ素子を
埋め込んで上面が平坦な絶縁膜上に形成されてなる本発
明による表示装置により解決される。・ 〔作 用〕 本発明によれば、電界効果トランジスタ素子上の絶縁膜
の上表面と同一の高さの絶縁膜を表示電極を形成する領
域にも設けて、上面が平坦なこの絶縁膜上に表示電極を
形成する。
活性層とする電界効果トランジスタ素子と、該電界効果
トランジスタ素子の一つの電極に接続された表示電極と
を備えて、該表示電極が該電界効果トランジスタ素子を
埋め込んで上面が平坦な絶縁膜上に形成されてなる本発
明による表示装置により解決される。・ 〔作 用〕 本発明によれば、電界効果トランジスタ素子上の絶縁膜
の上表面と同一の高さの絶縁膜を表示電極を形成する領
域にも設けて、上面が平坦なこの絶縁膜上に表示電極を
形成する。
この結果、表示電極面とその周囲との高さの差が殆ど解
消され、表示電極面上の加工処理を均一に実施すること
が可能となる。
消され、表示電極面上の加工処理を均一に実施すること
が可能となる。
以下本発明を第1図に主要部分の工程順模式側断面図を
示す実施例により具体的に説明する。
示す実施例により具体的に説明する。
第1図(al参照
ガラス基板1上に例えばクロム(Cr)、モリブデン(
Mo)等を用いて、ゲート電極3及びそのパスライン(
図示されない)のパターンを形成し、二酸化シリコン(
SiO□)等によりゲート絶縁膜3aを設ける。
Mo)等を用いて、ゲート電極3及びそのパスライン(
図示されない)のパターンを形成し、二酸化シリコン(
SiO□)等によりゲート絶縁膜3aを設ける。
次いで化学気相成長方法等により、例えば非晶質もしく
は多結晶シリコン(Si)よりな゛る薄膜半導体層2を
厚さ0.1〜0.5μm程度に形成し、その上に例えば
アルミニウム(AI)によってドレイン電極4及びソー
ス電極5を設けて、従来構造と同様に電界効果トランジ
スタ素子が形成される。
は多結晶シリコン(Si)よりな゛る薄膜半導体層2を
厚さ0.1〜0.5μm程度に形成し、その上に例えば
アルミニウム(AI)によってドレイン電極4及びソー
ス電極5を設けて、従来構造と同様に電界効果トランジ
スタ素子が形成される。
第1図(b)参照
絶縁膜10として例えばポリイミドを厚さlIIm程度
に、電界効果トランジスタ素子上及びドレイン電極4に
接続されるパスライン形成領域のみならず表示電極を形
成する領域にも、その上表面を平坦にして被着する。こ
の絶縁膜10には他の有機材料等を用いてもよく、形成
方法としてはスピンコード法などを適用することができ
る。
に、電界効果トランジスタ素子上及びドレイン電極4に
接続されるパスライン形成領域のみならず表示電極を形
成する領域にも、その上表面を平坦にして被着する。こ
の絶縁膜10には他の有機材料等を用いてもよく、形成
方法としてはスピンコード法などを適用することができ
る。
絶縁膜10上に表示電極6を例えばインジウム錫酸化物
(通常Sn/In比5%程度)等で形成する。
(通常Sn/In比5%程度)等で形成する。
第1図(C1参照
絶縁膜10に開口を設けて、例えば旧等によりトレイン
パスライン8及び導体層9を形成する。
パスライン8及び導体層9を形成する。
本実施例の表示電極6の周囲にはこれより僅かに高い導
体層9があるのみで、表示電極6の面上に例えばポリイ
ミド等を薄く塗布した配向処理膜14を設け、その表面
を一定方向に摩擦する配向処理を十分に実施することが
出来る。
体層9があるのみで、表示電極6の面上に例えばポリイ
ミド等を薄く塗布した配向処理膜14を設け、その表面
を一定方向に摩擦する配向処理を十分に実施することが
出来る。
他方従来技術によりガラス基板11上に透明平面電極1
2と配向処理膜14を設け、上述のプロセスが完了した
ガラス基板1に対向して配置して、その間に液晶13を
保持させて本実施例が完成する。
2と配向処理膜14を設け、上述のプロセスが完了した
ガラス基板1に対向して配置して、その間に液晶13を
保持させて本実施例が完成する。
以上説明した本実施例では、表示電極の液晶配向処理が
十分に行われて良好な表示が得られ、またトランジスタ
素子及び各配線等の絶縁も良好である。
十分に行われて良好な表示が得られ、またトランジスタ
素子及び各配線等の絶縁も良好である。
上述の説明はマトリクス形液晶表示装置を対象としてい
るが、本発明はマトリクス形に限定されるものではなく
、更に液晶表示装置に類似する他の表示装置に適用して
同様の効果を得ることができる。
るが、本発明はマトリクス形に限定されるものではなく
、更に液晶表示装置に類似する他の表示装置に適用して
同様の効果を得ることができる。
以上説明した如く本発明によれば、アクティブ形表示装
置の製造プロセス中の障害が除去され、良好な表示性能
を実現することが可能となる。
置の製造プロセス中の障害が除去され、良好な表示性能
を実現することが可能となる。
第1図(a)乃至FC+は本発明の実施例を示す工程順
断面図、 第2図(alは従来例を示す断面図、 第2図(b)は従来例を示す平面図である。 図において、 ■及び11はガラス基板、 2は薄膜半導体層、 3はゲート電極、 3aはゲート絶縁膜、 4はドレイジ電極、 5はソース電極、 6は表示電極、 8はドレインハスライン、 9は導体層、 10は絶縁膜、 12は透明平面電極、 13は液晶、 14は配向処理膜を示す。 第 1 組 茅2 箇 (し)
断面図、 第2図(alは従来例を示す断面図、 第2図(b)は従来例を示す平面図である。 図において、 ■及び11はガラス基板、 2は薄膜半導体層、 3はゲート電極、 3aはゲート絶縁膜、 4はドレイジ電極、 5はソース電極、 6は表示電極、 8はドレインハスライン、 9は導体層、 10は絶縁膜、 12は透明平面電極、 13は液晶、 14は配向処理膜を示す。 第 1 組 茅2 箇 (し)
Claims (1)
- 絶縁性基板上に設けられた半導体薄膜を活性層とする電
界効果トランジスタ素子と、該電界効果トランジスタ素
子の一つの電極に接続された表示電極とを備えて、該表
示電極が該電界効果トランジスタ素子を埋め込んで上面
が平坦な絶縁膜上に形成されてなることを特徴とする表
示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59276891A JPS61156025A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59276891A JPS61156025A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61156025A true JPS61156025A (ja) | 1986-07-15 |
Family
ID=17575835
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59276891A Pending JPS61156025A (ja) | 1984-12-27 | 1984-12-27 | 表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61156025A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02211428A (ja) * | 1989-02-13 | 1990-08-22 | Nec Corp | 液晶表示装置用アクティブマトリクス基板 |
US5771083A (en) * | 1995-10-16 | 1998-06-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate and liquid crystal display device |
US5831708A (en) * | 1995-09-28 | 1998-11-03 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display with a scanning line having a ring shaped redundant section and method for fabricating the same |
US5953084A (en) * | 1995-08-11 | 1999-09-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transmission type liquid crystal display device having capacitance ratio of 10% or less and charging rate difference of 0.6% or less |
US5995178A (en) * | 1995-10-16 | 1999-11-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix liquid crystal panel and method for repairing defect therein |
US6034747A (en) * | 1995-09-27 | 2000-03-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate and display device incorporating the same |
US6072559A (en) * | 1996-03-12 | 2000-06-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix display device having defect repair extension line beneath each pixel |
US6175393B1 (en) | 1995-09-28 | 2001-01-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active-matrix type liquid crystal display device and method of compensating for defective pixel |
US6191832B1 (en) | 1996-07-19 | 2001-02-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix display device and methods for correcting defect thereof |
US6204907B1 (en) * | 1995-09-27 | 2001-03-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5683781A (en) * | 1979-12-10 | 1981-07-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Image display unit and production thereof |
JPS56130787A (en) * | 1980-03-18 | 1981-10-13 | Tokyo Shibaura Electric Co | Liquid crystal display element |
JPS6145221A (ja) * | 1984-08-09 | 1986-03-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像表示用装置及びその製造方法 |
JPS6141223B2 (ja) * | 1981-03-18 | 1986-09-13 | Mosuko* Nauchino Isusuredo* Lab Ekusuperimentarunoii Kurinichesukoi Hirurugii Guraza Esu Kurinikoi |
-
1984
- 1984-12-27 JP JP59276891A patent/JPS61156025A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5683781A (en) * | 1979-12-10 | 1981-07-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Image display unit and production thereof |
JPS56130787A (en) * | 1980-03-18 | 1981-10-13 | Tokyo Shibaura Electric Co | Liquid crystal display element |
JPS6141223B2 (ja) * | 1981-03-18 | 1986-09-13 | Mosuko* Nauchino Isusuredo* Lab Ekusuperimentarunoii Kurinichesukoi Hirurugii Guraza Esu Kurinikoi | |
JPS6145221A (ja) * | 1984-08-09 | 1986-03-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像表示用装置及びその製造方法 |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02211428A (ja) * | 1989-02-13 | 1990-08-22 | Nec Corp | 液晶表示装置用アクティブマトリクス基板 |
US6052162A (en) * | 1995-08-11 | 2000-04-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transmission type liquid crystal display device with connecting electrode and pixel electrode connected via contact hole through interlayer insulating film and method for fabricating |
US6433851B2 (en) | 1995-08-11 | 2002-08-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transmission type liquid crystal display having a transparent colorless organic interlayer insulating film between pixel electrodes and switching |
US5953084A (en) * | 1995-08-11 | 1999-09-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transmission type liquid crystal display device having capacitance ratio of 10% or less and charging rate difference of 0.6% or less |
US6195138B1 (en) | 1995-08-11 | 2001-02-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transmission type liquid crystal display having an organic interlayer elements film between pixel electrodes and switching |
US6097452A (en) * | 1995-08-11 | 2000-08-01 | Sharp Kabushiki Kaishi | Transmission type liquid crystal display having an organic interlayer elements film between pixel electrodes and switching |
US6204907B1 (en) * | 1995-09-27 | 2001-03-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof |
US6034747A (en) * | 1995-09-27 | 2000-03-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate and display device incorporating the same |
US6441879B2 (en) | 1995-09-27 | 2002-08-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display device |
US6175393B1 (en) | 1995-09-28 | 2001-01-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active-matrix type liquid crystal display device and method of compensating for defective pixel |
US5831708A (en) * | 1995-09-28 | 1998-11-03 | Sharp Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display with a scanning line having a ring shaped redundant section and method for fabricating the same |
US6462792B1 (en) | 1995-09-28 | 2002-10-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active-matrix liquid crystal display device and method for compensating for defective display lines |
US5995178A (en) * | 1995-10-16 | 1999-11-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix liquid crystal panel and method for repairing defect therein |
US5771083A (en) * | 1995-10-16 | 1998-06-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate and liquid crystal display device |
US6072559A (en) * | 1996-03-12 | 2000-06-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix display device having defect repair extension line beneath each pixel |
US6191832B1 (en) | 1996-07-19 | 2001-02-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix display device and methods for correcting defect thereof |
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