JPS61104654A - GaAs集積回路 - Google Patents
GaAs集積回路Info
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- JPS61104654A JPS61104654A JP22730784A JP22730784A JPS61104654A JP S61104654 A JPS61104654 A JP S61104654A JP 22730784 A JP22730784 A JP 22730784A JP 22730784 A JP22730784 A JP 22730784A JP S61104654 A JPS61104654 A JP S61104654A
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- JP
- Japan
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- resistor
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- gaas
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- resistors
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- Pending
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- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
- H01L27/0802—Resistors only
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はG a A sを材料とした半導体集積回路に
関し、特にG a A s結晶層を抵抗体とした半導体
集積回路に関する。
関し、特にG a A s結晶層を抵抗体とした半導体
集積回路に関する。
(従来の技術およびその問題点)
G a A sをI料とした集積回路は電子移動J膨が
8iに比べて大きく、高速動作が期待できることから注
目奮あつめており、活発な研究が進められている。
8iに比べて大きく、高速動作が期待できることから注
目奮あつめており、活発な研究が進められている。
従来、0aAs集積回路においてショットキー障壁接合
ゲート型電界効果トランジスタ(以下PETと略記する
)および抵抗体の能1層はウェハー内的−性にすぐれて
いるといわれるイオン注入技術を利用して形成されてい
る。しかし、イオン注入技術による能動ノー形成におい
て、シート抵抗値の再現性は必ずしも充分ではないため
、FETと抵抗体の能動層を別工程で形成する場合など
FET能動層のシート抵抗が設計値通りに形成されてい
ながら抵抗体能動層のシート抵抗が設計値からはずれて
しまうことが起り、その結果回路としてr”h賛の特性
が得られず製品歩留シの低下全招くという欠点があった
。またこの場合、製造工程も最初から始めなければなら
ず最終製品を得るために要する時間的損失も大きいとい
う欠点があった。
ゲート型電界効果トランジスタ(以下PETと略記する
)および抵抗体の能1層はウェハー内的−性にすぐれて
いるといわれるイオン注入技術を利用して形成されてい
る。しかし、イオン注入技術による能動ノー形成におい
て、シート抵抗値の再現性は必ずしも充分ではないため
、FETと抵抗体の能動層を別工程で形成する場合など
FET能動層のシート抵抗が設計値通りに形成されてい
ながら抵抗体能動層のシート抵抗が設計値からはずれて
しまうことが起り、その結果回路としてr”h賛の特性
が得られず製品歩留シの低下全招くという欠点があった
。またこの場合、製造工程も最初から始めなければなら
ず最終製品を得るために要する時間的損失も大きいとい
う欠点があった。
本発明の目的は、上d己欠点′f:除去し、イオン注入
の結果得られた抵抗シート抵抗値が設計よりずれた場合
、修正工程を施すことによりパターンを追加し抵抗体抵
抗値全修正しうるG a A s半導体集積回路を提供
することにある。
の結果得られた抵抗シート抵抗値が設計よりずれた場合
、修正工程を施すことによりパターンを追加し抵抗体抵
抗値全修正しうるG a A s半導体集積回路を提供
することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明によれば、G a A s結晶層を能動領域にす
るFETとG a A s結晶層を抵抗領域とする抵抗
体が、同一の半絶縁性G a A s基板上に形成され
てなる半導体集積回路において、mfJ記抵抗体に近接
してその抵抗体と同形状あるいは異なる形状の他の抵抗
値修正用抵抗体がすくなくともひとつ以上配置されてお
り、抵抗体に修正用抵抗体を適宜接続することによシ所
望の抵抗値を得るようにしたことを特徴とするG a
A s集積回路が得られる。
るFETとG a A s結晶層を抵抗領域とする抵抗
体が、同一の半絶縁性G a A s基板上に形成され
てなる半導体集積回路において、mfJ記抵抗体に近接
してその抵抗体と同形状あるいは異なる形状の他の抵抗
値修正用抵抗体がすくなくともひとつ以上配置されてお
り、抵抗体に修正用抵抗体を適宜接続することによシ所
望の抵抗値を得るようにしたことを特徴とするG a
A s集積回路が得られる。
(実施例)
以下本発明について図面を用いて説明する。図は本発明
の一実施例を説明するためのもので、抵抗体部分の平面
図を示したものである。したがって、図にはU a A
s基板やその上に形成されるFE Tは省略して示し
ていない。
の一実施例を説明するためのもので、抵抗体部分の平面
図を示したものである。したがって、図にはU a A
s基板やその上に形成されるFE Tは省略して示し
ていない。
抵抗体能動層1の両端に一対のオーム性電極2が設けら
れている抵抗体3に近接して抵抗値修正用抵抗体4を俵
数個配置する。これら修正用抵抗体4の両端にも一対の
オーム性電極5が形成されている。谷オーム性電極5上
にはスルーホール6が形成され、このスルーホール6を
介して第2層配線7とオーム性電極2が接続される構成
になっている。抵抗体3の抵抗値が設計値と比較して大
きい方向にずれている場合、その程度に合わせて修正J
11抵抗体40個数を選択し、修正用抵抗体4のオーム
性電極5を抵抗体3のオーム性電極2と接続パターン形
成工程によりT i / A uからなる接続パターン
8で互いに接続する。
れている抵抗体3に近接して抵抗値修正用抵抗体4を俵
数個配置する。これら修正用抵抗体4の両端にも一対の
オーム性電極5が形成されている。谷オーム性電極5上
にはスルーホール6が形成され、このスルーホール6を
介して第2層配線7とオーム性電極2が接続される構成
になっている。抵抗体3の抵抗値が設計値と比較して大
きい方向にずれている場合、その程度に合わせて修正J
11抵抗体40個数を選択し、修正用抵抗体4のオーム
性電極5を抵抗体3のオーム性電極2と接続パターン形
成工程によりT i / A uからなる接続パターン
8で互いに接続する。
(発明の効果)
以上の説明から明らかな様に本発明によれば、集積[す
1路の製造工程全最初からやりなおすことなく集積回路
に使用された抵抗体の抵抗値の修正が可能となり、製品
歩留りの低下が回避できかつ最終製品までに要する時間
的損失も最小に抑えることができるオロ点が得られる。
1路の製造工程全最初からやりなおすことなく集積回路
に使用された抵抗体の抵抗値の修正が可能となり、製品
歩留りの低下が回避できかつ最終製品までに要する時間
的損失も最小に抑えることができるオロ点が得られる。
図は本発明による集積回路に使用される抵抗体の平面図
である。 1・・・・・・抵抗体能動層、2.5・・・・・・オー
ム性電極、3・・・・・・抵抗体、4・・・・・・抵抗
値修正用抵抗体、6・・・・・・スルーホール、7・・
・・・・第2層配線、8・・・・・・接続用パターン。
である。 1・・・・・・抵抗体能動層、2.5・・・・・・オー
ム性電極、3・・・・・・抵抗体、4・・・・・・抵抗
値修正用抵抗体、6・・・・・・スルーホール、7・・
・・・・第2層配線、8・・・・・・接続用パターン。
Claims (1)
- GaAs結晶層を能動領域にするショットキー障壁接
合ゲート型電界効果トランジスタとGaAs結晶層を抵
抗領域とする抵抗体が同一の半絶縁性GaAs基板上に
形成されてなる半導体集積回路において、該抵抗体に近
接して該抵抗体と同形状あるいは異なる形状の抵抗値修
正用抵抗体がすくなくともひとつ以上配置されているこ
と特徴とするGaAs集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22730784A JPS61104654A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | GaAs集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22730784A JPS61104654A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | GaAs集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61104654A true JPS61104654A (ja) | 1986-05-22 |
Family
ID=16858754
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22730784A Pending JPS61104654A (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | GaAs集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61104654A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63166256A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Toshiba Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
-
1984
- 1984-10-29 JP JP22730784A patent/JPS61104654A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63166256A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Toshiba Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
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