JPS61104654A - GaAs集積回路 - Google Patents

GaAs集積回路

Info

Publication number
JPS61104654A
JPS61104654A JP22730784A JP22730784A JPS61104654A JP S61104654 A JPS61104654 A JP S61104654A JP 22730784 A JP22730784 A JP 22730784A JP 22730784 A JP22730784 A JP 22730784A JP S61104654 A JPS61104654 A JP S61104654A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
correction
gaas
resistance value
resistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22730784A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryuichiro Yamamoto
隆一郎 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP22730784A priority Critical patent/JPS61104654A/ja
Publication of JPS61104654A publication Critical patent/JPS61104654A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/08Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
    • H01L27/0802Resistors only

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はG a A sを材料とした半導体集積回路に
関し、特にG a A s結晶層を抵抗体とした半導体
集積回路に関する。
(従来の技術およびその問題点) G a A sをI料とした集積回路は電子移動J膨が
8iに比べて大きく、高速動作が期待できることから注
目奮あつめており、活発な研究が進められている。
従来、0aAs集積回路においてショットキー障壁接合
ゲート型電界効果トランジスタ(以下PETと略記する
)および抵抗体の能1層はウェハー内的−性にすぐれて
いるといわれるイオン注入技術を利用して形成されてい
る。しかし、イオン注入技術による能動ノー形成におい
て、シート抵抗値の再現性は必ずしも充分ではないため
、FETと抵抗体の能動層を別工程で形成する場合など
FET能動層のシート抵抗が設計値通りに形成されてい
ながら抵抗体能動層のシート抵抗が設計値からはずれて
しまうことが起り、その結果回路としてr”h賛の特性
が得られず製品歩留シの低下全招くという欠点があった
。またこの場合、製造工程も最初から始めなければなら
ず最終製品を得るために要する時間的損失も大きいとい
う欠点があった。
本発明の目的は、上d己欠点′f:除去し、イオン注入
の結果得られた抵抗シート抵抗値が設計よりずれた場合
、修正工程を施すことによりパターンを追加し抵抗体抵
抗値全修正しうるG a A s半導体集積回路を提供
することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明によれば、G a A s結晶層を能動領域にす
るFETとG a A s結晶層を抵抗領域とする抵抗
体が、同一の半絶縁性G a A s基板上に形成され
てなる半導体集積回路において、mfJ記抵抗体に近接
してその抵抗体と同形状あるいは異なる形状の他の抵抗
値修正用抵抗体がすくなくともひとつ以上配置されてお
り、抵抗体に修正用抵抗体を適宜接続することによシ所
望の抵抗値を得るようにしたことを特徴とするG a 
A s集積回路が得られる。
(実施例) 以下本発明について図面を用いて説明する。図は本発明
の一実施例を説明するためのもので、抵抗体部分の平面
図を示したものである。したがって、図にはU a A
 s基板やその上に形成されるFE Tは省略して示し
ていない。
抵抗体能動層1の両端に一対のオーム性電極2が設けら
れている抵抗体3に近接して抵抗値修正用抵抗体4を俵
数個配置する。これら修正用抵抗体4の両端にも一対の
オーム性電極5が形成されている。谷オーム性電極5上
にはスルーホール6が形成され、このスルーホール6を
介して第2層配線7とオーム性電極2が接続される構成
になっている。抵抗体3の抵抗値が設計値と比較して大
きい方向にずれている場合、その程度に合わせて修正J
11抵抗体40個数を選択し、修正用抵抗体4のオーム
性電極5を抵抗体3のオーム性電極2と接続パターン形
成工程によりT i / A uからなる接続パターン
8で互いに接続する。
(発明の効果) 以上の説明から明らかな様に本発明によれば、集積[す
1路の製造工程全最初からやりなおすことなく集積回路
に使用された抵抗体の抵抗値の修正が可能となり、製品
歩留りの低下が回避できかつ最終製品までに要する時間
的損失も最小に抑えることができるオロ点が得られる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明による集積回路に使用される抵抗体の平面図
である。 1・・・・・・抵抗体能動層、2.5・・・・・・オー
ム性電極、3・・・・・・抵抗体、4・・・・・・抵抗
値修正用抵抗体、6・・・・・・スルーホール、7・・
・・・・第2層配線、8・・・・・・接続用パターン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  GaAs結晶層を能動領域にするショットキー障壁接
    合ゲート型電界効果トランジスタとGaAs結晶層を抵
    抗領域とする抵抗体が同一の半絶縁性GaAs基板上に
    形成されてなる半導体集積回路において、該抵抗体に近
    接して該抵抗体と同形状あるいは異なる形状の抵抗値修
    正用抵抗体がすくなくともひとつ以上配置されているこ
    と特徴とするGaAs集積回路。
JP22730784A 1984-10-29 1984-10-29 GaAs集積回路 Pending JPS61104654A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22730784A JPS61104654A (ja) 1984-10-29 1984-10-29 GaAs集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22730784A JPS61104654A (ja) 1984-10-29 1984-10-29 GaAs集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS61104654A true JPS61104654A (ja) 1986-05-22

Family

ID=16858754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22730784A Pending JPS61104654A (ja) 1984-10-29 1984-10-29 GaAs集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61104654A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63166256A (ja) * 1986-12-26 1988-07-09 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63166256A (ja) * 1986-12-26 1988-07-09 Toshiba Corp 半導体装置およびその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6230360A (ja) 超高周波集積回路装置
JPS61104654A (ja) GaAs集積回路
KR0163833B1 (ko) 반도체 장치의 제조방법
JPS63127575A (ja) 多セル型マイクロ波電界効果トランジスタ
JP2828974B2 (ja) 化合物半導体集積回路の製造方法
JPS6120363A (ja) GaAs集積回路
JPH01109770A (ja) 半導体装置の製造方法
JP4084436B2 (ja) 化合物半導体装置の特性の制御方法
JPH0364963A (ja) 半導体装置
JPS61117865A (ja) バイポ―ラトランジスタの製法
JPS60257162A (ja) GaAs半導体集積回路
JPS5892272A (ja) 負帰還型GaAsマイクロ波モノリシツク増幅回路装置
JPH01241867A (ja) ヘテロ接合バイポーラトランジスタおよびその製造方法
JPH07273296A (ja) 半導体装置
JPS58107677A (ja) 半導体装置
JPS6130298Y2 (ja)
KR100269394B1 (ko) 반도체소자제조방법
JPH0677019A (ja) 抵抗の形成方法
JP2735403B2 (ja) 半導体装置
JPS60260159A (ja) 半導体装置
JPH02299243A (ja) 電界効果トランジスタ
JPH03125434A (ja) ショットキゲート電界効果トランジスタ及びその製造方法
JPH01134975A (ja) 半導体集積回路装置
JPH05275456A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPS5976437A (ja) 半導体装置